KR100264860B1 - Circuit test method of bami subscriber - Google Patents

Abstract

본 발명은 교환기시스템에 관한 것으로, 특히 디지털 가입자인 BAMI(Basic Access Multiplexer Interface) 가입자 회로의 이상유무를 파악할 수 있는 디지털 가입자 회로시험 방법에 관한 것이다. 종래의 교환기시스템의 가입자 회로 시험은 기존의 디지털 가입자 중에서 BRI(Basic Rate Interface) 가입자에 대한 회로 시험만 가능하였고, BAMI 가입자에 대한 회로시험은 없었던 문제점을 해결하기 위하여 본 발명은 BAMI 디지털 가입자와 PMUX를 통해 접속하는 교환기시스템의 BAMI 디지털 가입자 회로를 시험하는 방법에 있어서, 교환국 운용자가 MMC를 통해 BAMI 디지털 가입자 회로 시험을 상위 MP로 요구하는 과정과, 상기 교환국 운용자로부터 상기 BAMI 가입자 회로시험이 요구될 시 상위 MP에서 하위 DP에 중계선 형태를 파악해서 D채널과 B채널에 대해서만 채널 시험을 수행하도록 요구하는 과정과, 이후 BAMI 가입자보드와 PMUX 간에 채널 시험을 수행하는 과정과, 상기 채널 시험 수행에 따라 상기 BAMI 가입자보드와 PMUX 보드의 회로 이상유무 상태를 판단하는 과정과, 시험 종료시 상기 BAMI 가입자보드와 PMUX 보드의 회로 이상유무 판단결과를 상기 교환국 운용자에게 리포트 해주는 과정으로 이루어짐을 특징으로 한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exchange system, and more particularly, to a digital subscriber circuit test method capable of detecting an abnormality of a basic access multiplexer interface (BAMI) subscriber circuit. The subscriber circuit test of the conventional switching system is only possible to test the circuit of the BRI (Basic Rate Interface) subscriber among the existing digital subscriber, the present invention is to solve the problem that there is no circuit test for the BAMI subscriber BAMI digital subscriber and PMUX A method of testing a BAMI digital subscriber circuit of an exchange system connected through a network, comprising: a process of an exchange operator requesting a BAMI digital subscriber circuit test to an upper MP through an MMC, and the BAMI subscriber circuit test from the exchange operator may be required. According to the process of requesting to perform channel test only for D channel and B channel by identifying the relay line type in the lower DP in the upper MP, then performing channel test between the BAMI subscriber board and PMUX, and performing the channel test. Determining whether there is a circuit abnormality state of the BAMI subscriber board and PMUX board And, the end of the test board and the subscriber BAMI abnormality determination result of PMUX circuit board featuring constituted by any process, which reports to the central office operators.

Description

디지털 가입자 회로시험 방법Digital subscriber circuit test method

본 발명은 교환기시스템에 관한 것으로, 특히 디지털 가입자인 BAMI(Basic Access Multiplexer Interface) 가입자 회로의 이상유무를 파악할 수 있는 디지털 가입자 회로시험 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exchange system, and more particularly, to a digital subscriber circuit test method capable of detecting an abnormality of a basic access multiplexer interface (BAMI) subscriber circuit.

종래의 교환기시스템에서 가입자 회로 시험은 기존의 디지털 가입자 중에서 BRI(Basic Rate Interface) 가입자에 대한 회로 시험만 가능하였고, BAMI 가입자에 대한 회로시험은 없었다. 단지, 상기 BAMI 가입자에 대한 시험은 교환기와 NT(Network Terminal)까지의 선로가 보이스(VOICE) 채널만 운송하는 일반 라인뿐이었다.In the conventional switching system, the subscriber circuit test was only possible for the circuit test of the Basic Rate Interface (BRI) subscriber among the existing digital subscribers, and there was no circuit test for the BAMI subscriber. The only test for the BAMI subscribers was the general line, where the lines to the switchboard and NT (Network Terminal) carry only VOICE channels.

그러나, 상기 BAMI 가입자는 상기 BRI 가입자와는 달리 교환기와 NT 사이에 PMUX라는 먹스장비가 하나 더 설치되는데, 종래에는 교환기에서 상기 PMUX 장비까지 디지털 중계선으로 연결되어 BRI 가입자 회로시험과 같은 기존의 가입자 회로 시험이 불가능하였다. 즉, 중계선이 계속 살아있으므로 인하여 BRI 가입자에서처럼 Layer1 Activation이 필요 없어 졌고, 또한 상기 PMUX단까지 E1 타입의 중계선으로 연결되어 PP인 디바이스 제어블록(DP)에서 상기 PMUX에 대해서 제어가 불가능하였다. 이와 같은 상태에서 PMUX 장비가 고장이라도 일으킬 경우 BAMI 가입자에 대해 통화서비스 불능의 상태가 된다.However, unlike the BRI subscriber, the BAMI subscriber has one more mux device called PMUX installed between the switch and the NT. Conventionally, the BAMI subscriber is connected to a digital relay line from the exchange to the PMUX device by using a digital relay line. The test was impossible. That is, since the relay line is still alive, Layer1 Activation is no longer necessary as in the BRI subscriber, and it is impossible to control the PMUX in the device control block DP, which is a PP connected to the E1 type relay line. In this state, even if the PMUX equipment fails, the call service is not available to the BAMI subscriber.

따라서 본 발명의 목적은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 BAMI 가입자에 대한 회로시험에 의해 PMUX 및 가입자 회로를 시험할 디지털 가입자 회로시험 방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a digital subscriber circuit test method for testing PMUX and subscriber circuits by circuit test for BAMI subscribers to solve the above problems.

본 발명의 다른 목적은 운용자 모니터링 장치에서 BAMI 가입자 회로시험을 MMC로 요구하고, 회로시험 결과를 모니터링하여 디지털 가입자 회로에 대한 이상유무를 파악할 수 있는 디지털 가입자 회로시험 방법을 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a digital subscriber circuit test method that can determine the abnormality of the digital subscriber circuit by monitoring the circuit test results by requesting the BAMI subscriber circuit test to the MMC in the operator monitoring device.

상기 목적을 달성하기 위해 본 발명은 BAMI 디지털 가입자와 PMUX를 통해 접속하는 교환기시스템의 BAMI 디지털 가입자 회로를 시험하는 방법에 있어서, 교환국 운용자가 MMC를 통해 BAMI 디지털 가입자 회로 시험을 상위 MP로 요구하는 과정과, 상기 교환국 운용자로부터 상기 BAMI 가입자 회로시험이 요구될 시 상위 MP에서 하위 DP에 중계선 형태를 파악해서 D채널과 B채널에 대해서만 채널 시험을 수행하도록 요구하는 과정과, 이후 BAMI 가입자보드와 PMUX 간에 채널 시험을 수행하는 과정과, 상기 채널 시험 수행에 따라 상기 BAMI 가입자보드와 PMUX 보드의 회로 이상유무 상태를 판단하는 과정과, 시험 종료시 상기 BAMI 가입자보드와 PMUX 보드의 회로 이상유무 판단결과를 상기 교환국 운용자에게 리포트 해주는 과정으로 이루어짐을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a method for testing a BAMI digital subscriber circuit of an exchange system connected to a BAMI digital subscriber through PMUX, and a process of requiring an exchange operator to test a BAMI digital subscriber circuit through an MMC as a higher MP. And, when the BAMI subscriber circuit test is requested from the exchange operator, requesting that the upper MP identify the relay line type in the lower DP to perform channel test only for the D channel and the B channel, and thereafter, between the BAMI subscriber board and the PMUX. Performing a channel test, determining a circuit abnormality state of the BAMI subscriber board and the PMUX board according to the channel test, and determining a circuit abnormality result of the BAMI subscriber board and the PMUX board at the end of the test. It is characterized by the process of reporting to the operator.

도 1은 본 발명에 따른 교환기시스템에서 BAMI 가입자 회로시험을 위한 구성도1 is a block diagram for a BAMI subscriber circuit test in an exchange system according to the present invention

도 2는 본 발명에 따른 BAMI 가입자 회로시험을 위한 흐름도2 is a flow chart for the BAMI subscriber circuit test according to the present invention

이하 본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기의 설명에서 구체적인 처리흐름과 같은 많은 특정 상세들이 본 발명의 보다 전반적인 이해를 제공하기 위해 나타나 있다. 이들 특정 상세들 없이 본 발명이 실시될 수 있다는 것은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다. 그리고 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, numerous specific details are set forth in order to provide a more thorough understanding of the present invention, such as specific processing flows. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be practiced without these specific details. Detailed descriptions of well-known functions and configurations that are determined to unnecessarily obscure the subject matter of the present invention will be omitted.

도 1은 본 발명에 따른 교환기시스템에서 BAMI 가입자 회로시험을 위한 구성도로서,1 is a configuration diagram for a BAMI subscriber circuit test in an exchange system according to the present invention,

본 발명에 따른 교환기시스템 200은 운용자 모니터링 장치 260, 메인프로세서(MP) 250, 디바이스 제어블록(DP) 240, 시험장비 230, T-스위치(TSW) 220, BAMI가입자보드(LT) 210을 구비한다.Switch system 200 according to the present invention includes an operator monitoring device 260, main processor (MP) 250, device control block (DP) 240, test equipment 230, T-switch (TSW) 220, BAMI subscriber board (LT) 210 .

상기 운용자 모니터링 장치 260은 운용자의 MMC를 통해 BAMI 가입자에 대한 회로시험을 상기 MP 250으로 요구하며, 상기 BAMI 가입자 회로시험에 따른 이상유무를 모니터링 한다.The operator monitoring device 260 requests a circuit test for the BAMI subscriber to the MP 250 through the MMC of the operator, and monitors the presence or absence of an abnormality according to the BAMI subscriber circuit test.

상기 메인프로세서(MP) 250은 상기 운용자 모니터링 장치 260으로부터 상기 BAMI 가입자에 대한 회로시험이 요구될 시 하위 PP인 상기 디바이스 제어블록(DP) 240으로 회로시험을 요구하며, 하위 PP로부터 올라온 상기 BAMI 가입자 회로시험 결과에 따라 회로 이상유무를 판단하여 그 결과를 상기 운용자 모니터링 장치 260으로 전달한다. 상기 MP 250은 LTTM(가입자 중계선 시험관리블록)과 DST(디지털 가입자 테스트 블록)을 구비하여 본 발명에 따른 BAMI 가입자 회로 시험을 담당한다.The main processor (MP) 250 requests a circuit test to the device control block (DP) 240, which is a lower PP, when a circuit test for the BAMI subscriber is requested from the operator monitoring device 260, and the BAMI subscriber raised from the lower PP. The circuit test result determines whether there is a circuit abnormality, and transmits the result to the operator monitoring device 260. The MP 250 is equipped with an LTTM (Subscriber Trunk Test Management Block) and a DST (Digital Subscriber Test Block) to perform the BAMI subscriber circuit test according to the present invention.

상기 디바이스 제어블록(DP) 240은 상기 MP 250에 의해 제어되며, 시험장비를 제어하며, 상기 MP 250으로부터 BAMI 가입자 회로에 대한 시험요구가 있을 경우 상기 시험장비 230으로 D채널과 B채널의 시험요구를 명령하고, 상기 시험장비 230으로부터 올라온 시그널을 가지고 시험 결과값을 상위의 MP 250으로 올려보낸다.The device control block (DP) 240 is controlled by the MP 250, and controls the test equipment, when there is a test request for the BAMI subscriber circuit from the MP 250, the test request of the D channel and the B channel to the test equipment 230 Command and send the test result value to the upper MP 250 with the signal from the test equipment 230.

상기 시험장비 230은 상기 DP 240의 회로시험 요구가 있을 경우 상기 T-스위치 220 및 가입자보드 210을 거쳐 PMUX 121에서 루프-백 되어 돌아오는 시험 시그널을 보낸다.The test equipment 230 transmits a test signal looped back from the PMUX 121 via the T-switch 220 and the subscriber board 210 when the circuit test request of the DP 240 is made.

상기 PMUX 121은 ISDN 가입자 101-103 과 접속된 NT 111-115와 교환기를 연결하며, 상기 교환기시스템의 BAMI가입자보드 210과 2B+D E1,T1 중계선을 형성한다. 상기 E1은 30B+D 채널을, 상기 T1은 23B+D 채널로 이루어진다.The PMUX 121 connects the switch with the NT 111-115 connected to the ISDN subscriber 101-103, and forms a 2B + D E1, T1 relay line with the BAMI subscriber board 210 of the switch system. The E1 consists of a 30B + D channel and the T1 consists of a 23B + D channel.

도 2는 본 발명에 따른 BAMI 가입자 회로시험을 위한 흐름도이다.2 is a flow chart for a BAMI subscriber circuit test in accordance with the present invention.

상술한 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.1 and 2 will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.

본 발명에 따른 디지털 가입자 회로시험 방법을 도 2를 참조하여 설명하면;Referring to Figure 2 the digital subscriber circuit test method according to the present invention;

먼저, 운용자 모니터링 장치 260에서 운용자가 상기 BAMI 가입자 회로시험을 MMC(Man Machine Communication)를 통해 MP 250의 LTTM으로 요구한다.(301) 이때, MMC로는 [TEST-SC-INST:DN(BAMI 가입자 전화번호)]와 같은 MMC 명령을 입력한다.First, in the operator monitoring device 260, the operator requests the BAMI subscriber circuit test to the LTTM of the MP 250 through MMC (Man Machine Communication). (301) In this case, the MMC uses [TEST-SC-INST: DN (BAMI subscriber phone). Number)].

그러면, 상기 MP 250의 LTTM은 DST로 BAMI 가입자 회로시험을 요구한다.(303)Then, the LTTM of the MP 250 requires a BAMI subscriber circuit test with the DST. (303)

상기 DST에서 DP(디바이스 제어블록) 240으로 BAMI 가입자 회로시험 요구 신호를 보내는데, 상기 BAMI 가입자 회로시험 요구시 D채널과 B채널만 시험하도록 요구한다.(305) 이때, 상기 MP 250은 디폴트 테스트 아이템(DEFAULT TEST ITEM)으로 D채널과 B채널을 시험 아이템으로 선정하며, 현재 시험금지 상태중인가를 파악하고, DP 240의 주소를 구하며 도시하지 않은 통화로계 장비상태 관리 블록(TDSL)으로 BAMI 가입자의 라인 상태를 체크한다. 상기 BAMI 가입자 라인상태가 아이들(IDLE)이거나 LINE_LOC_OUT 상태인 경우에 시험을 수행하기 위해서 DP 240의 현 상태를 체크한다. 상기 DP 240의 현 상태가 노말(NORMAL)한 경우 상기 DP 240에게 상기 BAMI 가입자 회로 시험 수행을 요구하면서 D채널과 B채널만 시험을 수행하라는 내용을 시그널에 삽입한다.The DST sends a BAMI subscriber circuit test request signal from the DST to the device control block (DP) 240, and requests only the D channel and the B channel to be tested when the BAMI subscriber circuit test request is made. (305) In this case, the MP 250 is a default test item. (DEFAULT TEST ITEM) selects D and B channels as test items, finds out whether the test is currently prohibited, obtains the address of DP 240, and uses BDS subscribers with TDSL Check line status. When the BAMI subscriber line state is idle or LINE_LOC_OUT state, the current state of the DP 240 is checked to perform the test. When the current state of the DP 240 is normal, the DP 240 requests the DP 240 to perform the BAMI subscriber circuit test and inserts the information to perform only the D and B channels in the signal.

이를 받은 상기 DP 240은 시험장비 230으로의 시험명령시 T-스위치 220을 통해 가입자 보드 210을 거쳐 PMUX 121단까지 시험 시그널을 보내고, 상기 PMUX 121에서 루프-백(LOOP-BACK) 시키도록 요구한다. 그러면 상기 시험장비 230에서 이를 인지하여 시험 시그널을 상기 DP 240의 명령대로 보내게 된다. 이때, 상기 시험장비 230에서 보내는 시험 시그널은 데이터 프레임에 의도적인 에러패턴을 실어서 보내게 된다. 이를테면 CRC(Cyclic Redundancy Check code) 검출용의 CMR, CMS 시험용 에러패턴 시그널이 된다.(309, 311)Upon receiving the test command, the DP 240 sends a test signal to the PMUX 121 stage via the T-switch 220 via the subscriber board 210 and requests to loop-back the PMUX 121. . The test equipment 230 recognizes this and sends a test signal according to the command of the DP 240. At this time, the test signal sent from the test equipment 230 is sent to put a deliberate error pattern on the data frame. For example, it becomes an error pattern signal for CMR and CMS test for detecting a cyclic redundancy check code (CRC) (309, 311).

이러한 시험 시그널이 T-스위치 220을 통해 상기 가입자보드 210을 거쳐 상기 PMUX 121까지 도달하면 상기 PMUX 121은 상기 DP의 명령대로 상기 서험장비 230으로부터 온 시험 시그널을 루프-백 시킨다.(313)When the test signal reaches the PMUX 121 via the subscriber board 210 through the T-switch 220, the PMUX 121 loops back the test signal from the test equipment 230 according to the DP command.

상기 PMUX 121은 루프-백 시킨 시험 시그널을 다시 가입자보드 210으로 보내며,(315) 상기 가입자 보드 210은 PMUX 121에서 루프-백 된 시험 시그널의 시험 결과값을 상기 DP 240으로 올려보낸다.(317)The PMUX 121 sends the loop-backed test signal back to the subscriber board 210 (315). The subscriber board 210 sends the test result value of the test signal looped back from the PMUX 121 to the DP 240. (317)

상기 가입자보드 210으로부터 시험 시그널의 시험결과값을 받은 상기 DP 240은 이를 상위 MP 250의 DST로 보낸다.(319)The DP 240 receiving the test result of the test signal from the subscriber board 210 sends it to the DST of the upper MP 250. (319)

상기 DST는 상기 DP 240으로부터 올라온 시험 시그널 결과값, 예를 들어 'OK/NOK'로 시험의 이상유무 판단결과를 운용자 모니터링 장치로 보내기 위해 포맷을 맞춰 모니터링 포맷 신호를 상기 LTTM으로 보낸다.(321) 이때, 상기 DST에서의 시험의 이상유무 판단은 상기 시험장비의 시험 시그널로 이용한 에러패턴인 CMR, CMS 시험용 CRC를 검출하여 판단한다. 이렇게 하여 상기 MP 250은 현재 DP 240이 PMUX 121을 제대로 제어하고 있는지, 아니면 루프-백이 시행이 안되어 상기 PMUX 121이 오류 동작중인지 고장중인지를 판단하는 것이다.The DST sends a monitoring format signal to the LTTM in a format to send a test signal result value from the DP 240, for example, 'OK / NOK', to the operator monitoring device to determine whether there is a test abnormality. At this time, the determination of the abnormality of the test in the DST is determined by detecting the error pattern CMR, CRC for CMS test used as a test signal of the test equipment. In this way, the MP 250 determines whether the DP 240 is properly controlling the PMUX 121 or if the loop-back is not executed and the PMUX 121 is in an error operation or a failure.

상기 LTTM은 상기 운용자 모니터링 장치 260으로 상기 BAMI 가입자 회로시험 결과값을 소정 포맷으로 맞추어 보내주면 상기 운용자 모니터링 장치 260에는 상기 BAMI 가입자 회로의 이상유무가 모니터링 된다.(323) 운용자는 이를 확인하여 상기 BAMI 가입자 회로의 이상유무를 파악하게 된다.The LTTM sends the BAMI subscriber circuit test result to the operator monitoring device 260 in a predetermined format and monitors the abnormality of the BAMI subscriber circuit in the operator monitoring device 260. (323) The operator checks the BAMI subscriber circuit test result. The abnormality of the subscriber circuit is identified.

도 2에서 상술한 본 발명은 시험항목 중에서 중계선에 대하여 시험할 수 있는 D채널과 B채널에 대해서만 시험을 수행할 수 있도록 하였다. 즉, 입력 파라미터 중 상기 D채널과 B채널의 아이템에 대해서만 시험을 진행하도록 하였고, 상위 MP단에서 하위 DP단에 중계선 형태를 파악해서 채널 시험을 수행할 수 있도록 요구한다. 상기 DP는 가입자보드(NT)와 PMUX 간에 채널 시험을 수행해서 상기 가입자보드와 PMUX 보드의 회로 상태를 파악하게 된다. 시험이 종료되면 전화국을 운용하는 교환국 운용자에게 시험결과를 리포트 해준다. 즉, 상기 PMUX단까지 채널 루프-백 시험을 수행해서 상기 PMUX가 정상적으로 루프-백 시켜 준다면 상기 PMUX 보드에 이상이 없음을 알 수 있다.The present invention described above in FIG. 2 allows the test to be performed only on the D channel and the B channel that can be tested on the relay line among the test items. That is, the test is performed only on the items of the D channel and the B channel among the input parameters, and it is required to identify the relay line form from the upper MP terminal to the lower DP terminal to perform the channel test. The DP performs a channel test between the subscriber board NT and the PMUX to determine the circuit state of the subscriber board and the PMUX board. At the end of the test, report the test results to the operator of the switching center operating the telephone station. That is, if the PMUX loops back normally by performing a channel loop-back test to the PMUX stage, it can be seen that there is no abnormality in the PMUX board.

한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구의 범위뿐 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Meanwhile, in the detailed description of the present invention, specific embodiments have been described, but various modifications are possible without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the scope of the following claims, but also by the equivalents of the claims.

상술한 바와 같이 본 발명은 교환기시스템의 디지털 가입자 중에서 중계선으로 연결된 BAMI 가입자의 회로 시험을 수행함에 의해 교환국 운용자가 PMUX단까지 이상유무에 따른 동작상태를 파악할 수 있는 이점이 있다.As described above, the present invention has the advantage that the operator of the exchange station can determine the operation state according to the abnormality to the PMUX stage by performing a circuit test of the BAMI subscriber connected by the relay line among the digital subscribers of the exchange system.

본 발명의 다른 효과로는 PSI 가입자에 대해서도 회로시험을 수행할 수 있는 효과가 있다.Another effect of the present invention is that the circuit test can be performed for the PSI subscriber.

Claims (5)

비에이엠아이(BAMI) 디지털 가입자와 피먹스(PMUX)를 통해 접속하는 교환기시스템의 비에이엠아이 디지털 가입자 회로를 시험하는 방법에 있어서,A method for testing a BAM digital subscriber circuit of an exchange system connected through a BAMI digital subscriber and a PMUX, 교환국 운용자가 엠엠씨(MMC)를 통해 비에이엠아이 디지털 가입자 회로 시험을 상위 메인프로세서(MP)로 요구하는 과정과,The exchange operator requesting the BMC digital subscriber circuit test to the upper main processor (MP) through the MMC; 상기 교환국 운용자로부터 상기 비에이엠아이 가입자 회로시험이 요구될 시 상위 메인프로세서에서 하위 디바이스 제어블록(DP)에 중계선 형태를 파악해서 디(D)채널과 비(B)채널에 대해서만 채널 시험을 수행하도록 요구하는 과정과,When the BMC subscriber circuit test is requested from the switching center operator, the upper main processor detects the relay line type in the lower device control block (DP) and performs the channel test only on the D and D channels. The required process, 이후 비에이엠아이 가입자보드와 피먹스 간에 채널 시험을 수행하는 과정과,Thereafter, the process of performing a channel test between the BM subscriber board and Pmux, 상기 채널 시험 수행에 따라 상기 비에이엠아이 가입자보드와 피먹스 보드의 회로 이상유무 상태를 판단하는 과정과,Determining whether there is a circuit abnormality between the BMB subscriber board and the PMUX board according to the channel test; 시험 종료시 상기 비에이엠아이 가입자보드와 피먹스 보드의 회로 이상유무 판단결과를 상기 교환국 운용자에게 리포트 해주는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 디지털 가입자 회로시험 방법.And at the end of the test, reporting to the operator of the switching center the result of determining whether there is a circuit abnormality between the BMB subscriber board and the PMUx board. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 비에이엠아이 가입자보드와 피먹스 간에 채널 시험은 소정의 CRC 검출용 에러패턴 시그널을 상기 비에이엠아이 가입자보드를 거쳐 상기 피먹스까지 보낸 후 상기 피먹스에서 다시 루프-백 시켜 돌아오도록 하는 것임을 특징으로 하는 디지털 가입자 회로시험 방법.The channel test between the BMB subscriber board and the PMUx is characterized in that a predetermined CRC detection error pattern signal is sent to the PMUX through the BMB subscriber board and then looped back from the PMUx to return. Digital subscriber circuit test method. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 비에이엠아이 가입자보드와 피먹스 보드의 회로 이상유무 판단은;Determining whether there is a circuit error between the BM subscriber board and the Pmux board; 상기 피먹스에서 루프-백 되어 돌아온 소정의 시알씨(CRC) 검출용 에러패턴 시그널을 검사하므로서 수행됨을 특징으로 하는 디지털 가입자 회로시험 방법.Digital subscriber circuit test method characterized in that performed by checking the error pattern signal for detecting a predetermined RLC (CRC) returned from the loopback. 비에이엠아이(BAMI) 디지털 가입자와 피먹스(PMUX)를 통해 접속하는 교환기시스템의 비에이엠아이 디지털 가입자 회로를 시험하는 방법에 있어서,A method for testing a BAM digital subscriber circuit of an exchange system connected through a BAMI digital subscriber and a PMUX, 교환국 운용자가 상기 비에이엠아이 가입자에 대한 회로시험 요구를 엠엠씨(MMC)를 통해 메인 프로세서로 요구하는 과정과,Requesting a circuit test request for the BMC subscriber to the main processor through MMC (MMC); 상기 비에이엠아이 가입자에 대한 회로시험을 요구받은 상기 메인 프로세서에서 디바이스 제어블록의 현 상태를 체크하여 정상일 경우 디(D)채널과 비(B)채널만 시험하도록 하는 내용의 상기 비에이엠아이 가입자 회로시험을 요구하는 과정과,The BAM subscriber circuit of the main processor, which is requested to test the BMB subscriber, checks the current state of the device control block and tests only the D (D) channel and the (B) channel when it is normal. The process of requiring testing, 상기 비에이엠아이 가입자 회로시험 요구가 있을 경우 상기 디바이스 제어블록은 시험장비를 제어하여 소정의 씨알씨(CRC) 검출용 에러패턴 시그널을 상기 피먹스까지 보낸 후 상기 피먹스에서 다시 루프-백 시켜 돌아오도록 하는 과정과,When there is a request for the BAM subscriber circuit test, the device control block controls the test equipment to send a predetermined CRC error pattern signal to the PMUx, and then loops back the PMOX again. The process of coming, 상기 디바이스 제어블록은 상기 피먹스에서 루프-백 되어 돌아온 소정의 CRC 검출용 에러패턴 시그널을 검사하여 상기 비에이엠아이 가입자 회로의 이상유무를 판단하는 과정과,Determining, by the device control block, whether there is an abnormality of the BM subscriber circuit by examining a predetermined CRC error pattern signal looped back from the PMUx; 상기 비에이엠아이 가입자 회로 이상유무 결과값을 상기 메인 프로세서로 전달하는 과정과,Transferring a result value of the abnormality of the BMC subscriber circuit to the main processor; 이후 상기 운용자 모니터링 장치에 비에이엠아이 가입자 회로시험의 이상유무 판단결과를 모니터링하는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 디지털 가입자 회로시험 방법.Thereafter, the operator monitoring device is a digital subscriber circuit test method comprising the process of monitoring the determination result of the abnormality of the BAM subscriber circuit test. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 메인 프로세서에서 운용자 모니터링 장치로 상기 비에이엠아이 가입자 회로시험의 이상유무 판단결과에 따른 모니터링값을 소정 포맷으로 맞추어 보내주는 과정을 더 구비함을 특징으로 하는 디지털 가입자 회로시험 방법.And transmitting a monitoring value according to a result of the determination of abnormality of the BMC subscriber circuit test in a predetermined format from the main processor to an operator monitoring device.