KR0171761B1 - 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치 - Google Patents

소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치 Download PDF

Info

Publication number
KR0171761B1
KR0171761B1 KR1019950038868A KR19950038868A KR0171761B1 KR 0171761 B1 KR0171761 B1 KR 0171761B1 KR 1019950038868 A KR1019950038868 A KR 1019950038868A KR 19950038868 A KR19950038868 A KR 19950038868A KR 0171761 B1 KR0171761 B1 KR 0171761B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
test
unit
clock
memory
Prior art date
Application number
KR1019950038868A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970025268A (ko
Inventor
김정헌
Original Assignee
유기범
대우통신주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 유기범, 대우통신주식회사 filed Critical 유기범
Priority to KR1019950038868A priority Critical patent/KR0171761B1/ko
Publication of KR970025268A publication Critical patent/KR970025268A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0171761B1 publication Critical patent/KR0171761B1/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q1/00—Details of selecting apparatus or arrangements
    • H04Q1/18—Electrical details
    • H04Q1/20—Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/04—Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing
    • H04Q11/08—Time only switching
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q2213/00—Indexing scheme relating to selecting arrangements in general and for multiplex systems
    • H04Q2213/13036—Serial/parallel conversion, parallel bit transmission
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q2213/00—Indexing scheme relating to selecting arrangements in general and for multiplex systems
    • H04Q2213/13214—Clock signals
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q2213/00—Indexing scheme relating to selecting arrangements in general and for multiplex systems
    • H04Q2213/13393—Time slot switching, T-stage, time slot interchanging, TSI

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 스위치장치는, 스위칭부와 시험부로 크게 구분되며, 이 스위칭부(100)는 종래와 거의 유사한 구성으로 이루어지고, 상기 시험부(200)는 상기 클럭발생부(101)로부터 소정의 클럭을 입력받아 소정 클럭을 분배하는 클럭수신부(201); 시험데이타 생성부(202); 시험데이타 선택부(203); 시험데이타를 저장하는 메모리(206); 상기 데이타 선택부(203)에 의해 선택된 데이타를 상기 직/병렬 변환 다중화부(104)로 출력함과 아울러 상기 메모리(206)에 저장하는 시험데이타 출력부(104); 시험데이타 입력부(207); 시험데이타 비교기(208); 표시부(209); 시험제어부(205)로 구성되어 소용량 교환기의 스위치보드에 디지탈 데이타 시험기능이 구비됨으로써 유지보수가 용이하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치
제1도는 소용량 전전자교환기에 있어서 종래의 스위치장치를 도시한 블럭도이고,
제2도는 본 발명에 따라 시험기능이 구비된 스위치장치를 도시한 블럭도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
100 : 스위치장치 101 : 클럭발생부
102 : 제어메모리 및 유지보수부 103 : 음성메모리
104 : 직/병렬 다중화부 105 : 병/직렬 역다중화부
106 : 시험장치 인터페이스부 107 : 시험장치(SNTU)
200 : 디지탈 데이타 시험부 201 : 클럭수신부
202 : 시험데이타 생성부 203 : 시험데이타 선택부
204 : 시험데이타 출력부 205 : 시험제어부
206 : 메모리 207 : 시험데이타 입력부
208 : 시험데이타 비교기 209 : 표시부
본 발명은 소용량 디지탈 전전자교환기의 스위치네트웍에 관한 것으로, 특히 스위치 네트웍을 통한 데이타 전송을 측정하기 위하여 종래의 스위치보드에 시험기능이 구비되도록 한 개선된 스위치장치에 관한 것이다.
일반적으로 디지탈 전전자교환기의 스위치에는 타임스위치(T)와 스페이스 스위치(S)가 있는데, 타임스위치(T)는 가입자의 정보를 메모리에 저장시킨 후 통화로를 서로 연결시켜주기 위해 타임슬롯을 서로 교환하는 역할을 하는 반면, 스페이스 스위치(S)는 타임스위치에서 오는 정보를 하이웨이라는 스트림으로 묶어 하이웨이 교환을 해주는 역할을 한다. 대용량 교환기에서는 스위치를 타임스위치만으로 구성하면 복잡한 하드웨어가 요구될 뿐만 아니라 메모리의 속도에 따른 제약이 있기 때문에 스페이스 스위치를 중간에 둔 T-S-T 구조로 되어 있다.
그러나 소용량 교환기에서는 스위치용량이 작아도 되므로 통상 타임스위치만으로 구현된다.
제1도는 소용량 전전자교환기에 있어서 종래의 스위치장치를 도시한 블럭도로서, 이 스위치장치는 망동기보드로부터 기준동기신호를 입력받아 소정의 클럭을 발생하는 클럭발생부(101)와; 제어메모리 및 유지보수부(102); 음성메모리(103); 집선장치로부터 서브하이웨이의 직렬데이타를 입력받아 병렬데이타로 변환하여 다중화한 후 상기 음성메모리(103)에 순차적으로 저장하는 직/병렬 다중화부(104); 상기 음성메모리(103)에 저장된 음성데이타를 랜덤하게 독출하여 역다중화한 후 병렬데이타를 직렬데이타로 변환하여 집선장치로 출력하는 병/직렬 역다중화부(105)로 구성되어 있고, 이러한 장치를 대용량의 교환기에서 사용중인 시험장치( SNTU)를 사용하여 시험하기 위해서는 SNTU를 스위치장치에 연결하기 위한 시험장치 인터페이스부가 부가되야 한다.
즉, 종래의 경우에는 스위치 네트워크를 측정하기 위해 디지탈 트랜스미션 아날라이져(예컨대, HP3764)를 이용 스위치 네트웍크와 인터페이스하여 측정하거나 기존 교환기에 사용되는 디지탈 데이타 전송 측정장치(SNTU)를 이용하기 위해서는 소용량 시스템에 적합하게 조정하여 사용하여야 한다. 그러나 이 두가지 모두 소용량 시스템과 인터페이스를 위한 별도의 보드 또는 작업을 하여야 하므로 사용상 어려움이 많다.
즉, 소용량 교환기의 스위치 네트웍을 테스트하기 위해서는 디지탈 데이타 전송 측정장비인 디지탈 트랜스미션 아날라이져(HP2764등)와 이를 네트웍크에 연결할 수 있는 인터페이스가 필요하고, 종래의 대용량 교환기에서 사용되어 온 디지탈 데이타 전송 측정장비 사용시 소용량 교환기에 적합하게 인터페이스를 수정하거나 별도의 조치가 필요하다.
따라서 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해소하여 별도의 장치없이 스위치 네트웍상에서 바로 테스트가 가능하도록 디지탈 데이타 전송 시험회로가 내장된 스위치장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 장치는, 망동기로부터 기준클럭을 입력받아 클럭을 발생하고, 집선장치로부터 입력되는 직렬 PCM 데이타를 병렬로 변환한 후 다중화하여 메인 프로세서로부터 입력되는 제어데이타에 따라 제어메모리 및 유지보수부에 의해 타임슬롯교환하여 병렬데이타를 직렬로 변환한 후 역다중화하여 집선장치측으로 보내도록 된 디지탈 전전자교환기의 스위치장치에 있어서, 상기 클럭발생부로부터 소정의 클럭을 입력받아 소정 클럭을 분배하는 클럭수신부; 상기 클럭수신부의 클럭을 이용하여 랜덤 데이타 및 고정데이타를 발생하는 시험데이타 생성부; 상기 시험데이타 생성부에서 발생된 랜덤 데이타나 고정데이타중 하나를 선택하는 데이타 선택부; 데이타를 저장하는 메모리; 상기 데이타 선택부에 의해 선택된 데이타를 상기 직/병렬 변환 다중화부로 출력함과 아울러 상기 메모리에 저장하는 데이타 출력부; 상기 병/직렬 변환 및 역다중화부로부터 수신된 시험데이타를 입력받는 데이타 입력부; 상기 메모리에 저장된 시험패턴과 상기 데이타 입력부로부터 입력된 시험패턴을 비교하여 에러를 검출하는 비교기; 시험결과를 표시하기 위한 표시부; 및 상기 제어메모리 및 유지보수부로부터 제어데이타를 입력받아 리드 라이트신호를 상기 메모리로 출력하고, 인에이블신호를 클럭수신부와 데이타선택부와, 데이타출력부로 출력하며, 상기 비교기로부터 시험결과 데이타를 입력받아 상기 표시부에 표시하도록 제어하는 시험제어부가 구비되는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 자세히 설명하기로 한다.
본 발명에 따른 스위치장치는 제1도에 도시된 바와 같이, 스위칭부와 시험부로 크게 구분되며, 이 스위칭부(100)는 종래와 거의 유사한 구성으로 이루어지고, 상기 시험부(200)는 상기 클럭발생부(101)로부터 소정의 클럭을 입력받아 소정 클럭을 분배하는 클럭수신부(201); 상기 클럭수신부(201)의 클럭을 이용하여 랜덤 데이타 및 고정데이타를 발생하는 시험데이타 생성부(202); 상기 시험데이타 생성부(202)에서 발생된 랜덤 데이타나 고정데이타중 하나를 선택하는 데이타 선택부(203); 시험데이타를 저장하는 메모리(206); 상기 데이타 선택부(203)에 의해 선택된 데이타를 상기 직/병렬 변환 다중화부(104)로 출력함과 아울러 상기 메모리(206)에 저장하는 시험데이타 출력부(104); 상기 병/직렬 변환 및 역다중화부로부터 수신된 시험데이타를 입력받는 시험데이타 입력부(207); 상기 메모리에 저장된 시험패턴과 상기 시험데이타 입력부(207)로부터 입력된 시험패턴을 비교하여 에러를 검출하는 비교기(208); 시험결과를 표시하는 표시부(209); 상기 제어메모리 및 유지보수부(102)로부터 제어데이타를 입력받아 리드 라이트(R/W)신호를 상기 메모리(206)로 출력하고, 인에이블신호(CS1,SEL,EN)를 클럭수신부와 데이타선택부와, 데이타출력부로 각각 출력하고, 상기 비교기(208)로부터 시험결과 데이타를 입력받아 상기 표시부(209)에 표시하도록 제어하는 시험제어부(205)로 구성되어 있다.
이어서, 상기와 같이 구성되는 본 발명의 장치가 동작하는 것을 설명한다.
제2도에 있어서, 클럭수신부(201)는 디지탈 데이타 시험회로의 기본 클럭이 되는 8KHz와 4MHz 클럭을 스위치부의 클럭발생부(101)로부터 입력받고, 시험데이타 생성부(202)는 상기 클럭수신부의 클럭을 이용하여 랜덤 데이타나 고정 데이타를 발생한다. 이와 같이 생성된 고정 시험데이타나 랜덤 시험데이타는 시험제어부(205)의 제어에 따라 시험데이타 선택부(203)에서 선택된 후 시험데이타 출력부(204)를 통해 스위치부의 다중화단(104)으로 입력된다. 이때 시험데이타 출력부(204)는 나중에 되돌아 온 시험데이타와 비교하기 위해 송신된 시험데이타를 메모리(206)에 저장하는데, 64Kbps 단위로 쓰여지며 상위 5비트는 32프레임을, 하위 5비트는 32채널을 식별하는데 사용된다.
한편, 스위치부의 다중화부(207)로 입력된 시험데이타는 스위칭 경로를 따라 집선장치등으로 송출되어 시험하고자 하는 루프를 따라 다시 역다중화단(105)에서 시험부(200)측으로 출력된다. 이때 시험하고자 하는 경로에 이상이 있으면, 최초에 송신했던 시험데이타가 왜곡되어 수신되고, 정상이면 송신했던 시험데이타와 동일한 데이타가 수신될 것이다.
시험데이타 입력부(207)는 스위치부의 역다중화부(105)로부터 피드백된 시험데이타를 입력받아 비교기(208)로 출력하고, 비교기(208)는 메모리(206)에 저장된 송신시험데이타 패턴과 수신된 시험데이타 패턴을 비교하여 일치하면 시험경로가 정상인 것을 시험제어부(205)로 알려주고, 일치하지 않으면 시험경로에 이상이 있는 것을 알려준다.
시험제어부(205)는 비교기(208)의 출력에 따라 시험경로의 이상여부를 판단한 후, 표시부(209)의 LED를 점등 혹은 소등시킨다. 예컨대, 정상이면 녹색 LED를 점등시키고, 이상이 발생하면 적색 LED를 점등시키므로써 운용자가 시험결과를 인식할 수 있도록 한다.
메모리 읽기도 쓰기와 마찬가지로 상위 5비트와 하위 5비트로 선택하고, 채널 인에이블신호로 메모리를 인에이블시키는데, 입력된 데이터에서 채널선택하여 시작 채널신호를 발생하고, 이에 따라 채널인에이블이 되고, 계수값이 31일 때 채널 끝이므로 채널인에이블신호를 디스에이블시킨다.
이러한 시험제어는 메인 프로세서(미도시)가 스위치보드의 제어메모리 및 유지보수부(102)를 통해 시험제어부(205)를 제어하므로써 달성된다.
즉, 종래의 스위치보드의 제어메모리 및 유지보수부(102)에 디지탈 데이타 시험기능을 추가시켜 메인 프로세서로부터 직접 제어를 받아 시험부에 제어신호를 보내면 시험제어부(205)에서는 시험데이타 선택부 및 출력부(203,204), 클럭수신부(201)에 인에이블신호를 만들어 이에 따라 시험부를 동작시킨다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 따라 소용량 교환기의 스위치보드에 디지탈 데이타 시험기능이 구비됨으로써 유지보수가 용이하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Claims (1)

  1. 망동기로부터 기준클럭을 입력받아 클럭을 발생하고, 집선장치로부터 입력되는 직렬 PCM 데이타를 병렬로 변환한 후 다중화하여 메인 프로세서로부터 입력되는 제어데이타에 따라 제어메모리 및 유지보수부(102)에 의해 타임슬롯 교환하여 병렬데이타를 직렬로 변환한 후 역다중화하여 집선장치측으로 보내도록 된 디지탈 전전자교환기의 스위치장치에 있어서, 상기 클럭발생부로부터 소정의 클럭을 입력받아 소정 클럭을 분배하는 클럭수신부(201); 상기 클럭수신부(201)의 클럭을 이용하여 랜덤 데이타 및 고정데이타를 발생하는 시험데이타 생성부(202); 상기 시험데이타 생성부(201)에서 발생된 랜덤 데이타나 고정데이타중 하나를 선택하는 데이타 선택부(203); 데이타를 저장하는 메모리(206); 상기 데이타 선택부에 의해 선택된 데이타를 상기 직/병렬 변환 다중화부로 출력함과 아울러 상기 메모리에 저장하는 시험데이타 출력부(204); 상기 병/직렬 변환 및 역다중화부로부터 수신된 시험데이타를 입력받는 시험데이타 입력부(207); 상기 메모리에 저장된 시험패턴과 상기 데이타 입력부로부터 입력된 시험패턴을 비교하여 에러를 검출하는 시험데이타 비교기(208); 시험결과를 표시하기 위한 표시부(209); 및 상기 제어메모리 및 유지보수부로부터 제어데이타를 입력받아 리드 라이트신호를 상기 메모리로 출력하고, 인에이블신호를 클럭수신부와 데이타선택부와, 데이타출력부로 출력하며, 상기 비교기로부터 시험결과 데이타를 입력받아 상기 표시부에 표시하도록 제어하는 시험제어부(205)가 구비되는 것을 특징으로 하는 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치.
KR1019950038868A 1995-10-31 1995-10-31 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치 KR0171761B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950038868A KR0171761B1 (ko) 1995-10-31 1995-10-31 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950038868A KR0171761B1 (ko) 1995-10-31 1995-10-31 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970025268A KR970025268A (ko) 1997-05-30
KR0171761B1 true KR0171761B1 (ko) 1999-03-30

Family

ID=19432437

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950038868A KR0171761B1 (ko) 1995-10-31 1995-10-31 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0171761B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000038027A (ko) * 1998-12-03 2000-07-05 김영환 전전자 교환기의 망동기 시험 장치 및 그 제어 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR970025268A (ko) 1997-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5058104A (en) Tdm demultiplexer with dedicated maintenance channels to indicate high-speed line faults to low speed circuits
US5640401A (en) Communication circuit fault detector
US6034947A (en) Cross connection system for time-division multiplexed signal
US7944876B2 (en) Time slot interchange switch with bit error rate testing
JPH0795236A (ja) パケット交換試験方法及びその装置
EP0443029B1 (en) Signal generator and signal receiver based on synchronous multiplex transmission system
JPH07135673A (ja) クロスコネクト装置
KR0171761B1 (ko) 소용량 전전자교환기에 있어서 시험기능이 구비된 스위치장치
US5446781A (en) Testing of subscriber lines in a digital switch
KR950035476A (ko) 전전자 교환기의 하이웨이 레이트 변환장치
KR0141291B1 (ko) 소용량 전전자 교환기의 가입자 집선장치
KR0147508B1 (ko) 개선된 타임스위치/리이크 인터페이스장치
KR0130416B1 (ko) 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 장치
JPH05224669A (ja) 信号合成・分離装置
KR100286224B1 (ko) 전전자 교환기의 스위치 네트워크 비트에러 검출장치
KR960002681B1 (ko) 브이.씨.i(vci) 신호사상 장치
JP2000068967A (ja) 多重化装置における試験用回路
KR100388963B1 (ko) 듀얼포트 램을 이용한 데이터버스 공유회로
KR950005070A (ko) Pcm 데이타 수신 및 검출 시험장치
KR900006966B1 (ko) Dm/tdm방식의 시스템에서 인밴드 신호 검출회로
JPH08233911A (ja) ビット誤り測定用パターン発生器及びビット誤り測定器及びこれを使用したビット誤り測定装置
JPH03283836A (ja) 音声多重変換装置
KR970056416A (ko) 종합 정보 통신망 및 비디오 코덱 정합 회로
KR19980015122A (ko) 국부 서비스 인터페이스 장치의 타임 스위치 링크 데이타 루프 백 회로(circuit for loop-back test in switch)
KR19980015128A (ko) 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치(apparatus for on line test in switch)

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee