KR0164702B1 - Dc voltage test apparatus and its method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 DC 전압 검사기에 관한 것으로서, 특히 전자제품의 생산라인 및 A/S수리시에 각종 IC부품의 불량검사를 용이하게 할 수 있도록한 DC 전압 검사장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a DC voltage inspector, and more particularly, to a DC voltage inspector and a method for facilitating defect inspection of various IC components during production lines and after-sales repairs of electronic products.
본 발명은 IC부품의 데이터를 입력하고 측정할 IC를 설정하는 키입력부와, 프로그램에 의해 각부의 동작이 되도록 제어하는 마이콤과, IC부품의 전압을 측정할 수 있으며 측정값을 A/D변환부로 전달하는 측정부와, 저장부의 데이터와 측정부의 데이터를 비교하여 비교한 데이터를 마이콤에 츨력하는 비교부와, 마이콤의 출력신호에 의해 비교한 데이터를 디스플레이하는 LCD표시부로 구성되어 IC부품 측정시 측정데이터를 LCD화면에 디스플레이하고 측정한 IC부품이 불량이면 경보음을 발생하여 사용자가 편리하고 신속하게 IC부품을 측정할 수 있는 기술에 관한 것이다.According to the present invention, a key input unit for inputting data of an IC component and setting an IC to be measured, a microcomputer controlling the operation of each unit by a program, a voltage of the IC component can be measured, and the measured value is converted into an A / D conversion unit. It consists of a measuring part to be transmitted, a comparator which compares the data of the storage part with the data of the measuring part and outputs the data to the microcomputer, and an LCD display part which displays the data compared by the output signal of the microcomputer. The present invention relates to a technology that displays data on an LCD screen and generates an alarm sound when the measured IC component is defective, thereby allowing the user to conveniently and quickly measure the IC component.
Description
제1도는 본 발명에 따른 DC 전압 검사장치를 개략적으로 도시한 도면.1 is a view schematically showing a DC voltage inspection device according to the present invention.
제2도는 본 발명에 따른 DC 전압 검사방법의 동작흐름도.2 is a flow chart of the DC voltage test method according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 키입력부 20,60 : A/D변환부10: key input unit 20,60: A / D conversion unit
30 : 마이콤 40 : 저장부30: micom 40: storage
50 : 측정부 70 : 비교부50 measurement unit 70 comparison unit
80 : LDC 표시부 90 : 음성신호발생부80: LDC display unit 90: voice signal generator
본 발명은 DC 전압 검사기에 관한 것으로서, 특히 전자제품의 생산라인 및 A/S수리시에 각종 IC부품의 불량검사를 용이하게 할 수 있도록한 DC 전압 검사장치 및 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a DC voltage inspector, and more particularly, to a DC voltage inspector and a method for facilitating defect inspection of various IC components during production lines and after-sales repairs of electronic products.
일반적으로 전자제품의 생산라인에서 전자제품을 제조할 때 불량인 전자제품이 몇 개씩 발생하는데 불량난 전자제품의 대부분이 IC부품에 의해서 생기기 때문에 검사자는 제일먼저 불량난 전자제품에서 IC부품을 검사하며 IC부품을 검사하기 위해서는 DC전압 메타기로 또는 오실로스코프로 IC부품의 전압을 체크하여 체크한 전압이 IC부품 사양에 맞는지 확인하여 불량 유, 무를 확인한다.In general, when manufacturing electronic products in the production line of electronic products, several defective electronic products are generated. Since most of the defective electronic products are caused by IC components, the inspector first checks the IC components in the defective electronic products. To inspect IC parts, check the voltage of IC parts with DC voltage meter or oscilloscope to check if the checked voltage meets the specifications of IC parts.
그러나, 상기와 같이 IC부품검사를 하기위해서는 불량제품내에 있는 여러개의 IC부품의 정격전압을 기억하고 있어야되며 IC부품의 사양을 기억하지 못하면 검사자가 DC전압 메타기로 IC부품을 하나씩 체크하고 검사자가 IC부품사양을 기억하고 있지 않으면, IC부품사양목록책을 보면서 일일이 확인하여야 되기 때문에 검사속도가 늦어지고, 검사하기에 번거로운 문제가 있으며, 제품내에 IC부품이 많아서 IC부품사양을 일일이 기억하기 어려운 문제가 있다.However, in order to inspect the IC parts as described above, it is necessary to memorize the rated voltage of several IC parts in the defective product. If you don't remember the parts specification, you have to check the IC parts specification list one by one, so the inspection speed is slow and it is troublesome to inspect, and there are many IC parts in the product, which makes it difficult to memorize the IC parts specifications. have.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 검사할 IC부품의 사양을 입력하고 IC부품을 측정하면 IC부품에 이상이 있을 경우 경보음을 내며, LCD표시부를 통하여 측정데이터를 화면에 디스플레이하여 사용자가 IC부품을 간단히 측정할 수 있는 DC전압 검사장치 및 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.Therefore, in order to solve the above-mentioned problems, the present invention inputs the specification of the IC component to be inspected and measures the IC component, and if there is an error in the IC component, an alarm sounds and the measurement data is displayed on the screen. It is an object of the present invention to provide a DC voltage inspection device and method for displaying and easily measuring IC components by a user.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 DC 전압 검사장치에 있어서, IC부품으 데이터를 입력하고 측정할 IC를 설정하는 키입력부(10)와, 프로그램에 의해 각부의 동작이 되도록 제어하는 마이콤(30)과, IC부품의 전압을 측정할 수 있으며 측정값을 A/D변환부(60)로 전달하는 측정부(50)와, 저장부(40)의 데이터와 측정부(50)의 데이터를 비교하여 비교한 데이터를 마이콤(30)에 출력하는 비교부(70)와, 마이콤(30)의 출력신호에 의해 비교한 데이터를 디스플레이하는 LCD표시부(80)로 구성된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a key input unit (10) for inputting data of IC components and setting an IC to be measured in a DC voltage test device, and a microcomputer (30) for controlling the operation of each unit by a program. In addition, the voltage of the IC component can be measured, and the measurement unit 50 which transmits the measured value to the A / D conversion unit 60 and the data of the storage unit 40 and the data of the measurement unit 50 are compared. Comparing unit 70 for outputting the compared data to the microcomputer 30, and the LCD display unit 80 for displaying the data compared by the output signal of the microcomputer 30 is characterized in that the configuration.
상기 목적을 달성하기 위한 또 하나의 특징은 DC 전압 검사방법에 있어서, 키입력부(10)를 통하여 IC부품의 데이터를 입력하면 저장부(40)에 데이터를 저장하고, 측정할 IC부품을 설정하는 제1단계와, IC부품을 측정하여 측정값과 저장부(40)에 있는 데이터에서 설정된 데이터값을 찾아 비교하는 제2단계와, 상기 제2단계에서 측정한 데이터값과 설정한 데이터값이 일치하면 LCD표시부(80)를 통하여 비교한 데이터를 디스플레이하는 제3단계와, 키입력부(10)를 통하여 다음 측정할 IC부품이 설정되어 있는지 판단하여 설정이 있으면 단계(104)로 진행하여 측정하는 제4단계와, 상기 제4단계에서 설정이 없으면 측정부(50)를 통하여 전달되는 측정한 데이터값이 있는지 판단하여 데이터값이 없으면 끝내는 제5단계로 이루어진 것을 특징으로 한다.Another feature for achieving the above object is in the DC voltage inspection method, when inputting the data of the IC component through the key input unit 10 to store the data in the storage unit 40, and to set the IC component to measure The first step, the second step of measuring the IC component to find and compare the data value set in the measured value and the data in the storage unit 40, and the data value measured in the second step and the data value set equal The third step of displaying the data compared through the LCD display unit 80 and the IC component to be measured next through the key input unit 10 are set. In step 4, if there is no setting in the fourth step, it is determined that there is a measured data value transmitted through the measuring unit 50, and if there is no data value, the fifth step ends.
이하 본 발명의 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings of the present invention will be described in detail.
제1도는 본 발명에 따른 구성을 개략적으로 도시한 도면으로서, 키입력부(10), A/D변환부(20, 60), 마이콤(30), 저장부(40), 측정부(50), 비교부(70), LCD표시부(80) 및 음성신호발생부(90)로 구성되며, 상기 키입력부(10)는 세트에 부착된 키메트릭스를 통하여 사용자가 여러개의 IC부품에 관한 데이터를 입력하고, IC부품을 설정하면 입력한 데이터를 A/D변환부(20)로 전달한다.1 is a diagram schematically showing a configuration according to the present invention, and includes a key input unit 10, an A / D conversion unit 20 and 60, a microcomputer 30, a storage unit 40, a measurement unit 50, Comparing unit 70, LCD display unit 80 and voice signal generation unit 90, the key input unit 10 is a user inputs data about a plurality of IC components through the key metrics attached to the set When the IC component is set, the input data is transferred to the A / D converter 20.
상기 A/D변환부(20)는 키입력부(10)로부터 전달되는 아날로그 데이터값을 디지탈 변환하여 마이콤(30)에 전달한다.The A / D converter 20 digitally converts an analog data value transmitted from the key input unit 10 and transmits the digital data to the microcomputer 30.
상기 마이콤(30)은 프로그램에 의해 각부가 동작되도록 제어하며, A/D변환부(20)의 IC부품 데이터를 전달받아 저장부(40)에 전달하고, A/D변환부(60)로부터 전달되는 측정데이터를 전달받아 비교부(70)를 통하여 측정값과 저장값을 비교하게하며, 비교한 출력데이터를 LCD표시부(80)로 전달하고 측정값과 저장된 값이 다르면 음성데이터를 음성신호발생부(90)로 전달한다.The microcomputer 30 controls each unit to be operated by a program, receives the IC component data of the A / D conversion unit 20, transfers the data to the storage unit 40, and transfers the data from the A / D conversion unit 60. Receives the measured data to be compared to the measured value and the stored value through the comparison unit 70, and transmits the compared output data to the LCD display unit 80, if the measured value and the stored value is different voice signal generation unit Pass in 90.
상기 저장부(40)는 마이콤으로부터 데이터를 전달받아 저장하고 저장된 데이터를 마이콤의 제어신호에 의해 비교부로 전달한다.The storage unit 40 receives and stores the data from the microcomputer and transmits the stored data to the comparator by the control signal of the microcomputer.
상기 측정부(50)는 IC부품을 측정하기 용이하게 되어 있으며, 측정한 값을 A/D변환부(60)로 전달하고, A/D변환부(60)는 IC부품을 측정한 아날로그값을 디지탈변환하여 마이콤(30)에 전달한다.The measuring unit 50 makes it easy to measure the IC component, and transmits the measured value to the A / D converter 60, and the A / D converter 60 transmits the analog value of the IC component. The digital conversion is transferred to the microcomputer 30.
상기 비교부(70)는 마이콤의 제어신호에 의하여 A/D변환기(60)로 전달되는 측정값과 저장부(40)에 저장된 값을 상호비교하여 비교한 데이터를 마이콤(30)에 전달한다.The comparison unit 70 compares the measured value transmitted to the A / D converter 60 and the value stored in the storage unit 40 according to the control signal of the microcomputer, and transmits the compared data to the microcomputer 30.
상기 LCD표시부(80)는 마이콤으로부터 측정한값과 저장된값을 비교한 데이터를 전달받아 LCD화면에 데이터를 디스플레이하고, 측정한 값과 저장된 값이 서로 틀리면(즉, 불량이면) 음성신호발생부(90)는 마이콤으로 부터 음성데이터를 전달받아 음성신호를 발생하며 스피커를 통하여 사용자에게 IC부품의 불량 유/무를 알려준다.The LCD display unit 80 receives data obtained by comparing the measured value with the stored value from the microcomputer and displays the data on the LCD screen. When the measured value and the stored value are different from each other (that is, if it is bad), the voice signal generator ( 90) generates a voice signal by receiving voice data from the microcomputer and informs the user whether the IC component is defective or not through the speaker.
제2도는 본 발명에 따른 동작흐름도로서, 단계(101)에서 사용자에 의한 IC부품의 데이터를 입력하면 단계(102)에서 마이콤(30)은 데이터를 저장부(40)에 저장하고 단계(103)에서 사용자에 의해 측정할 IC부품을 키입력부(10)를 통하여 설정하고, 단계(104)에서 측정부(50)를 통하여 IC부품을 측정하면 A/D변환부를 통하여 전달되는 측정데이터를 읽고 단계(105)에서 저장된 데이터중 설정된 데이터와 측정된 데이터를 비교부(70)를 통하여 비교하여 측정값과 저장된 값이 일치하면 비교한 데이터를 단계(107)에서 LCD표시부에 디스플레이하고, 측정값과 저장된 값이 일치하지 않으면 단계(106)로 진행되어 경보음(예를들어, 이 IC는 불량입니다. 또는 삐 등)을 발생하여 스피커를 통하여 사용자에게 전달하고, 단계(107)로 진행되어 LCD표시부(80)를 통하여 비교한 데이터를 디스플레이한다.2 is an operation flowchart according to the present invention. When the data of the IC component is input by the user in step 101, the microcomputer 30 stores the data in the storage unit 40 in step 102 and 103. In step 104, the IC component to be measured by the user is set through the key input unit 10, and when the IC component is measured through the measuring unit 50 in step 104, the measurement data transmitted through the A / D conversion unit is read and the step ( The measured data and the measured data among the data stored in 105 are compared through the comparing unit 70, and if the measured value and the stored value match, the compared data is displayed on the LCD display in step 107, and the measured value and the stored value. If this does not match, the process proceeds to step 106 where an alarm sound (e.g., the IC is bad or a beep, etc.) is generated and transmitted to the user through the speaker, and the process proceeds to step 107 where the LCD display 80 ) To compare the data The displays.
단계(108)에서 다음 측정할 IC부품의 설정이 있는지 판단하여 다음 IC부품의 설정이 있으면 단계(104)로 진행하여 측정하고, 다음 IC부품의 설정이 없으면 단계(109)에서 다음 측정한 데이터값이 있는지 판단하여 데이터값이 있으면 단계(104)로 진행하여 측정하고 일정 시간 데이터값이 없으면 단계(110)로 진행하여 끝낸다.In step 108, it is determined whether there is a setting of the next IC component to be measured. If there is a setting of the next IC component, the process proceeds to step 104, and if there is no setting of the next IC component, the next measured data value in step 109. If it is determined whether there is a data value, the process proceeds to step 104 and if there is no data value for a predetermined time, the process proceeds to step 110 and ends.
이상에서 설명한 바와같이, 본 발명은 IC부품 측정시 측정데이터를 LCD화면에 디스플레이하고 측정한 IC부품이 불량이면 경보음을 발생하여 사용자가 어디에서나 편리하고 신속하게 IC부품을 측정할 수 있는 탁월한 효과가 있다.As described above, the present invention displays the measurement data on the LCD screen when measuring IC components and generates an alarm when the measured IC component is defective, so that the user can conveniently and quickly measure the IC component anywhere. There is.
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