JPWO2017018140A1 - 車載制御装置、車載集積回路 - Google Patents
車載制御装置、車載集積回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2017018140A1 JPWO2017018140A1 JP2017531106A JP2017531106A JPWO2017018140A1 JP WO2017018140 A1 JPWO2017018140 A1 JP WO2017018140A1 JP 2017531106 A JP2017531106 A JP 2017531106A JP 2017531106 A JP2017531106 A JP 2017531106A JP WO2017018140 A1 JPWO2017018140 A1 JP WO2017018140A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- reference signal
- semiconductor circuit
- output
- vehicle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 213
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 53
- 230000032683 aging Effects 0.000 claims description 11
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 8
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/02—Ensuring safety in case of control system failures, e.g. by diagnosing, circumventing or fixing failures
- B60W50/0205—Diagnosing or detecting failures; Failure detection models
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2856—Internal circuit aspects, e.g. built-in test features; Test chips; Measuring material aspects, e.g. electro migration [EM]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B60R16/00—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for
- B60R16/02—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for electric constitutive elements
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B60R16/00—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for
- B60R16/02—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for electric constitutive elements
- B60R16/023—Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for electric constitutive elements for transmission of signals between vehicle parts or subsystems
- B60R16/0231—Circuits relating to the driving or the functioning of the vehicle
- B60R16/0232—Circuits relating to the driving or the functioning of the vehicle for measuring vehicle parameters and indicating critical, abnormal or dangerous conditions
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/02—Ensuring safety in case of control system failures, e.g. by diagnosing, circumventing or fixing failures
- B60W50/0225—Failure correction strategy
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/02—Ensuring safety in case of control system failures, e.g. by diagnosing, circumventing or fixing failures
- B60W50/029—Adapting to failures or work around with other constraints, e.g. circumvention by avoiding use of failed parts
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/08—Interaction between the driver and the control system
- B60W50/14—Means for informing the driver, warning the driver or prompting a driver intervention
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31703—Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31721—Power aspects, e.g. power supplies for test circuits, power saving during test
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
- H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
- H01L21/82—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components
- H01L21/822—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components the substrate being a semiconductor, using silicon technology
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/02—Ensuring safety in case of control system failures, e.g. by diagnosing, circumventing or fixing failures
- B60W50/0205—Diagnosing or detecting failures; Failure detection models
- B60W2050/021—Means for detecting failure or malfunction
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/02—Ensuring safety in case of control system failures, e.g. by diagnosing, circumventing or fixing failures
- B60W50/0205—Diagnosing or detecting failures; Failure detection models
- B60W2050/0215—Sensor drifts or sensor failures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60W—CONJOINT CONTROL OF VEHICLE SUB-UNITS OF DIFFERENT TYPE OR DIFFERENT FUNCTION; CONTROL SYSTEMS SPECIALLY ADAPTED FOR HYBRID VEHICLES; ROAD VEHICLE DRIVE CONTROL SYSTEMS FOR PURPOSES NOT RELATED TO THE CONTROL OF A PARTICULAR SUB-UNIT
- B60W50/00—Details of control systems for road vehicle drive control not related to the control of a particular sub-unit, e.g. process diagnostic or vehicle driver interfaces
- B60W50/02—Ensuring safety in case of control system failures, e.g. by diagnosing, circumventing or fixing failures
- B60W50/029—Adapting to failures or work around with other constraints, e.g. circumvention by avoiding use of failed parts
- B60W2050/0292—Fail-safe or redundant systems, e.g. limp-home or backup systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Transportation (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
Description
図1は、本発明の実施形態1に係る半導体集積装置1の構成を示すブロック図である。半導体集積装置1は、例えば車両に搭載され、車載機器を制御するために用いる信号を出力する装置である。半導体集積装置1は、入力回路100、基準信号発生器200、入力切替回路300、半導体回路400、初期値格納回路500、差分演算回路600、補正値格納回路700、書込回路S3、書込回路S4、を備える。
補正値=Y1−Y2 ・・・(A1)
以上のように、本実施形態1に係る半導体集積装置1によれば、半導体回路400の特性が経年変動しても、半導体集積装置1の出荷時点における初期状態と同等の特性をもって出力801を出力することができる。したがって半導体集積装置1は、出荷時点における初期性能を維持することができる。
図5は、本発明の実施形態2に係る車載制御装置U1の構成を示すブロック図である。車載制御装置U1は、実施形態1で説明した半導体集積装置1、コントローラ900、電磁負荷駆動回路902、電磁負荷903、負荷電流モニタ回路904を備える。
以上のように、本実施形態2に係る車載制御装置U1によれば、半導体回路400の特性が経年変動しても、出荷前と同等の精度で出力801を得ることができる。これにより、コントローラ900の不具合やこれにともなう車両/車載機器の誤動作などを抑制することができる
図7は、本発明の実施形態3に係る車載制御装置の構成を示すブロック図である。図7に示す車載制御装置は、検出回路IC(Integrated Circuit)1、コントローラIC2を備える。検出回路IC1は、実施形態1で説明した半導体集積装置1を備える。コントローラIC2は、実施形態2で説明したコントローラ900を備える。これら回路をそれぞれIC内に集約することにより、車載制御装置の信号線を少なくして装置を小型化することができる。
図8は、本発明の実施形態4に係る車載制御装置の構成を示すブロック図である。図8に示す車載制御装置は、検出回路IC3、コントローラIC4を備える。検出回路IC3は、実施形態1で説明した構成のうち、入力回路100、基準信号発生器200、入力切替回路300、半導体回路400の一部(例えば増幅回路404)を備える。コントローラIC4は、半導体回路400の残り(例えばAD変換器405)、初期値格納回路500、差分演算回路600、補正値格納回路700、補正回路800、書込回路S3、書込回路S4を備え、さらに実施形態2で説明したコントローラ900を備える。本実施形態4に係る車載制御装置は、実施形態1〜3と同様の効果を発揮することができる。
図9は、本発明の実施形態5に係る半導体集積装置1の構成を示すブロック図である。本実施形態5に係る半導体集積装置1は、実施形態1で説明した構成に加えて温度モニタ回路503とセレクタ回路505を備える。また初期値格納回路500は、複数の初期値(Y1_1〜Y1_n)を格納することができる。その他の構成は概ね実施形態1と同様であるため、以下では差異点を中心に説明する。
以上のように、本実施形態5に係る半導体集積装置1は、動作時の温度に対応する補正値を用いて、半導体回路400の出力を補正することができる。これにより、特性変動量の温度依存性を補正することができる。
図13は、本発明の実施形態6に係る半導体集積装置1の構成を示すブロック図である。本実施形態6に係る半導体集積装置1は、実施形態1で説明した構成に加えて第2基準信号発生器202を備える。第2基準信号発生器202は、基準信号発生器200とは異なる信号レベルを有する第2基準信号203を出力する。入力切替回路300は、実施形態1で説明した構成に加えて切替回路S5を備える。初期値格納回路500は、2つの初期値(Y1およびY1')を格納することができる。差分演算回路600は、上記構成に関連して後述する補正値を求める。その他の構成は概ね実施形態1と同様であるため、以下では差異点を中心に説明する。
オフセット変動量=Y1−Y2 ・・・(A2)
ゲイン変動量=(Y2−Y2')/(Y1−Y1') ・・・(A3)
図17は、本発明の実施形態7に係る半導体集積装置1の構成を示すブロック図である。本実施形態7に係る半導体集積装置1は、自ら信号を生成して出力する装置であり、半導体回路400、初期値格納回路500、差分演算回路600、補正値格納回路700、書込回路S3、書込回路S4、を備える。
以上のように、本実施形態7に係る半導体集積装置1は、実施形態1と同様に、半導体回路400と補正値格納回路700の特性が経年変動しても、出荷時における出力407の特性を維持することができる。また実施形態1と同様に、初期値格納回路500、差分演算回路600、書込回路S3、書込回路S4の動作を停止させることにより、これら回路の経年劣化を抑制することもできる。
図21は、本発明の実施形態8に係る半導体集積装置1の構成を示すブロック図である。本実施形態8に係る半導体集積装置1は、入力回路100、基準信号発生器200、入力切替回路300、半導体回路400、初期値格納回路500、差分演算回路600、閾値発生回路702、判定回路703、書込回路S3、を備える。入力回路100、基準信号発生器200、入力切替回路300、初期値格納回路500、差分演算回路600、書込回路S3の機能は実施形態1と概ね同様であるので、以下ではその他構成に関する差異点について説明する。
以上のように、本実施形態8に係る半導体集積装置1は、判定回路703によって半導体回路400の経年劣化を検出することができる。さらに検出結果に基づき、(a)半導体回路400の異常を車両の運転者に対して通知する、(b)異常ログを記録する、(c)フェールセーフ処理を実施する(例えば車載機器や車両の制御を一時停止する)、などの措置を取ることができる。
本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換える事が可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について他の構成の追加・削除・置換をすることができる。
Claims (15)
- 車両が搭載する車載機器の動作を制御する車載制御装置であって、
前記制御のために用いられる出力値を出力する半導体回路、
前記半導体回路の入力値として基準信号を生成する基準信号発生部、
前記基準信号発生部が前記基準信号を前記半導体回路に対して入力したとき前記半導体回路が出力する第1出力値と、前記半導体回路が前記第1出力値を出力した時点より後の時点において前記基準信号発生部が前記基準信号を前記半導体回路に対して入力したとき前記半導体回路が出力する第2出力値との間の差分を求める比較部、
を備えることを特徴とする車載制御装置。 - 前記比較部が求めた前記差分に基づき前記半導体回路からの出力値を補正する補正部を備える
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、前記第1出力値を格納する初期値格納部を備え、
前記比較部は、前記初期値格納部が格納している前記第1出力値と、前記車載制御装置が起動した時点において前記半導体回路が出力する前記第2出力値との間の前記差分を求め、
前記補正部は、前記比較部が求めた前記差分に基づき、前記車載制御装置が起動した後の時点において前記半導体回路が出力する出力値を補正する
ことを特徴とする請求項2記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、
前記基準信号発生部が前記半導体回路に対して前記基準信号を出力しない間は前記基準信号発生部の動作を停止させることにより前記基準信号発生部の経年劣化を抑制する、経年劣化抑制部を備える
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記経年劣化抑制部は、
前記基準信号発生部に対する電源供給を停止するか、または前記基準信号発生部が備えるスイッチング素子を駆動することを停止することにより、前記基準信号発生部の動作を停止させる
ことを特徴とする請求項4記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、前記車載機器の動作を制御するための制御演算を実施する演算部を備え、
前記基準信号発生部と前記演算部との間には、前記演算部から発生する熱が前記基準信号発生部に対して伝搬することを抑制する断熱部が配置されている
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記半導体回路は、アナログ信号を出力する回路として構成されており、
前記車載制御装置は、前記半導体回路が出力するアナログ信号をデジタル信号に変換するAD変換器を備え、
前記比較部は、前記AD変換器がデジタル信号に変換した前記第1および第2出力値の間の前記差分を求める
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、
前記半導体回路の温度を測定する温度モニタ、
前記第1出力値と、前記半導体回路が前記第1出力値を出力したときの前記半導体回路の温度とのペアを1以上格納する初期値格納部、
前記初期値格納部が格納している各前記ペアのうち、前記温度モニタの測定結果に対応するものを選択するセレクタ、
を備え、
前記比較部は、前記セレクタが選択した前記ペアが有する前記第1出力値と、前記第2出力値との間の前記差分を求める
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、
前記半導体回路の入力値として第2基準信号を生成する第2基準信号発生部、
前記第1出力値を格納するとともに、前記第2基準信号発生部が前記第2基準信号を前記半導体回路に対して入力したとき前記半導体回路が出力する第3出力値を格納する、初期値格納部、
を備え、
前記比較部は、
前記第2出力値と、前記半導体回路が前記第3出力値を出力した時点より後の時点において前記第2基準信号発生部が前記第2基準信号を前記半導体回路に対して入力したとき前記半導体回路が出力する第4出力値との間の第2差分を求め、
前記第1出力値と前記第3出力値との間の第3差分を求め、
前記半導体回路が前記第1出力値を出力してから前記第2出力値を出力するまでの間における前記半導体回路のゲインの変動量、または前記半導体回路が前記第3出力値を出力してから前記第4出力値を出力するまでの間における前記半導体回路のゲインの変動量を、前記第2差分と前記第3差分の比に基づき求める
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記補正部は、
前記比較部が求めた前記差分に基づき前記半導体回路からの出力値を補正する補正値を出力し、
前記半導体回路は、
前記補正部が出力する前記補正値にしたがって出力値を調整する調整部を備える
ことを特徴とする請求項2記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、
前記比較部が求めた前記差分が所定閾値を超えたか否かを判定しその結果を出力する判定器を備える
ことを特徴とする請求項1記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、
前記比較部が求めた前記差分が所定閾値を超えた旨を前記判定器が判定したとき、前記制御の中止、フェールセーフ処理、異常ログの記録、前記車両の運転者に対する報知、のうち少なくともいずれかを実行する
ことを特徴とする請求項11記載の車載制御装置。 - 前記車載制御装置は、前記車載機器を制御するための制御演算処理を実行する演算部を備え、
前記補正部は、前記演算部の内部に実装されている
ことを特徴とする請求項2記載の車載制御装置。 - 前記半導体回路、前記比較部、および前記経年劣化抑制部は、同一の半導体集積回路内に実装されている
ことを特徴とする請求項4記載の車載制御装置。 - 車両に搭載される車載集積回路であって、
出力値を出力する半導体回路、
前記半導体回路の入力値として基準信号を生成する基準信号発生部、
前記基準信号発生部が前記基準信号を前記半導体回路に対して入力したとき前記半導体回路が出力する第1出力値と、前記半導体回路が前記第1出力値を出力した時点より後の時点において前記基準信号発生部が前記基準信号を前記半導体回路に対して入力したとき前記半導体回路が出力する第2出力値との間の差分を求める比較部、
を備えることを特徴とする車載集積回路。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015149170 | 2015-07-29 | ||
JP2015149170 | 2015-07-29 | ||
PCT/JP2016/069959 WO2017018140A1 (ja) | 2015-07-29 | 2016-07-06 | 車載制御装置、車載集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017018140A1 true JPWO2017018140A1 (ja) | 2017-11-16 |
JP6499760B2 JP6499760B2 (ja) | 2019-04-10 |
Family
ID=57884320
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017531106A Active JP6499760B2 (ja) | 2015-07-29 | 2016-07-06 | 車載制御装置、車載集積回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10821994B2 (ja) |
EP (1) | EP3330858B1 (ja) |
JP (1) | JP6499760B2 (ja) |
CN (1) | CN107851056B (ja) |
WO (1) | WO2017018140A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017018140A1 (ja) * | 2015-07-29 | 2017-02-02 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 車載制御装置、車載集積回路 |
CN109856525A (zh) * | 2018-11-07 | 2019-06-07 | 宁波大学 | 一种基于查找表的电路老化检测传感器 |
WO2020110414A1 (ja) * | 2018-11-30 | 2020-06-04 | パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカ | 車両ログ送信装置、車両ログ解析システムおよび車両ログ送受信方法 |
JP2021167739A (ja) * | 2020-04-09 | 2021-10-21 | ミネベアミツミ株式会社 | 集積回路 |
US11427140B2 (en) * | 2020-04-20 | 2022-08-30 | Geotab Inc. | Shared vehicle I/O expander |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6394174A (ja) * | 1986-10-09 | 1988-04-25 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JP2005244771A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | A/d変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法 |
JP2008276702A (ja) * | 2007-05-07 | 2008-11-13 | Famco:Kk | 基準電圧生成装置 |
JP2011147084A (ja) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車載制御装置 |
JP2011217007A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Honda Motor Co Ltd | Ad変換回路、及び、誤差補正方法 |
WO2012157155A1 (ja) * | 2011-05-16 | 2012-11-22 | パナソニック株式会社 | 参照電圧安定化回路およびそれを備えた集積回路 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4430735A (en) * | 1981-05-26 | 1984-02-07 | Burroughs Corporation | Apparatus and technique for testing IC memories |
US5598161A (en) * | 1992-12-18 | 1997-01-28 | Sony Corporation | Analog-to-digital converter having reduced circuit area |
US7650210B2 (en) * | 1995-06-07 | 2010-01-19 | Automotive Technologies International, Inc. | Remote vehicle diagnostic management |
JP3846925B2 (ja) * | 1995-12-22 | 2006-11-15 | パイオニア株式会社 | トラッキングエラー信号の波形制御装置 |
KR100390242B1 (ko) * | 1999-06-29 | 2003-07-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 입력 버퍼 |
JP2001339282A (ja) * | 2000-05-30 | 2001-12-07 | Advantest Corp | 可変遅延回路及び半導体回路試験装置 |
JP2002076879A (ja) * | 2000-09-04 | 2002-03-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US7205854B2 (en) * | 2003-12-23 | 2007-04-17 | Intel Corporation | On-chip transistor degradation monitoring |
CN101010594A (zh) * | 2004-08-30 | 2007-08-01 | 松下电器产业株式会社 | 带有抖动测量功能的半导体集成电路 |
JP2006187153A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置、半導体回路、dc−dcコンバータ、dc−dcコンバータの制御回路及びdc−dcコンバータの制御方法 |
TWI288999B (en) * | 2005-03-01 | 2007-10-21 | Realtek Semiconductor Corp | Switching regulator |
US7471161B2 (en) * | 2005-09-30 | 2008-12-30 | Intel Corporation | Signal degradation monitoring |
US7861010B2 (en) * | 2006-05-08 | 2010-12-28 | Panasonic Corporation | Operation monitor system, semiconductor apparatus, and information collection apparatus |
JP4925171B2 (ja) | 2006-05-18 | 2012-04-25 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路およびその診断方法 |
US8339159B2 (en) * | 2008-08-13 | 2012-12-25 | Hynix Semiconductor Inc. | Input buffer circuit of semiconductor apparatus |
WO2011055611A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | ローム株式会社 | 信号伝達回路装置、半導体装置とその検査方法及び検査装置、並びに、信号伝達装置及びこれを用いたモータ駆動装置 |
JPWO2011122365A1 (ja) * | 2010-03-29 | 2013-07-08 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路の経年劣化診断回路および経年劣化診断方法 |
JP2011216620A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Renesas Electronics Corp | 半導体集積回路装置 |
JP5610847B2 (ja) * | 2010-05-26 | 2014-10-22 | 三菱電機株式会社 | 角速度推定装置及びコンピュータプログラム及び角速度推定方法 |
JP2012227774A (ja) * | 2011-04-20 | 2012-11-15 | Sony Corp | アナログデジタル変換器および信号処理システム |
JP6223171B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2017-11-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 蓄電装置の制御システム、蓄電システム、及び電気機器 |
JP2015204608A (ja) * | 2014-04-16 | 2015-11-16 | 富士電機株式会社 | 物理量センサ装置および物理量センサ装置の調整方法 |
WO2017018140A1 (ja) * | 2015-07-29 | 2017-02-02 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 車載制御装置、車載集積回路 |
JP6862900B2 (ja) * | 2017-02-22 | 2021-04-21 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体 |
-
2016
- 2016-07-06 WO PCT/JP2016/069959 patent/WO2017018140A1/ja active Application Filing
- 2016-07-06 EP EP16830245.3A patent/EP3330858B1/en active Active
- 2016-07-06 JP JP2017531106A patent/JP6499760B2/ja active Active
- 2016-07-06 CN CN201680025210.3A patent/CN107851056B/zh active Active
- 2016-07-06 US US15/569,152 patent/US10821994B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6394174A (ja) * | 1986-10-09 | 1988-04-25 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JP2005244771A (ja) * | 2004-02-27 | 2005-09-08 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | A/d変換回路、電流計測回路、充放電量計測回路および誤差補正方法 |
JP2008276702A (ja) * | 2007-05-07 | 2008-11-13 | Famco:Kk | 基準電圧生成装置 |
JP2011147084A (ja) * | 2010-01-18 | 2011-07-28 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車載制御装置 |
JP2011217007A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Honda Motor Co Ltd | Ad変換回路、及び、誤差補正方法 |
WO2012157155A1 (ja) * | 2011-05-16 | 2012-11-22 | パナソニック株式会社 | 参照電圧安定化回路およびそれを備えた集積回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3330858A1 (en) | 2018-06-06 |
WO2017018140A1 (ja) | 2017-02-02 |
CN107851056B (zh) | 2021-03-23 |
CN107851056A (zh) | 2018-03-27 |
EP3330858B1 (en) | 2022-05-25 |
EP3330858A4 (en) | 2019-03-27 |
US10821994B2 (en) | 2020-11-03 |
JP6499760B2 (ja) | 2019-04-10 |
US20180141566A1 (en) | 2018-05-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6499760B2 (ja) | 車載制御装置、車載集積回路 | |
JP5529214B2 (ja) | 試験装置用の電源装置およびそれを用いた試験装置 | |
US20180003745A1 (en) | Method for diagnosing state of capacitor in modular converter | |
US11411387B2 (en) | Over/under voltage detection circuit | |
US11888321B2 (en) | Power conversion apparatus and method for controlling output impedance of power conversion apparatus | |
JP2019092335A (ja) | 電源制御システムおよび方法 | |
US20130159734A1 (en) | Power Management Methods for System on a Chip | |
JP3677767B1 (ja) | ヒータ電力制御回路およびこれを用いたバーイン装置 | |
US9625520B2 (en) | Latch-up test device and method for testing wafer under test | |
JP5608328B2 (ja) | 定電流回路、及び試験装置 | |
US20180029554A1 (en) | Method and device for maintaining an actuator for an airbag control device | |
US20130271117A1 (en) | Power up detecting system | |
JP2020005334A (ja) | 電流検出回路および電源装置 | |
JP6420960B2 (ja) | 電子制御装置 | |
JP4896173B2 (ja) | 試験装置 | |
JP2010127720A (ja) | 動特性検査装置 | |
JP2020046261A (ja) | 零相変流器の健全性診断方法及びパワーコンディショナ | |
EP4160841A1 (en) | Dynamic latch-up protection | |
US8729920B2 (en) | Circuit and method for RAS-enabled and self-regulated frequency and delay sensor | |
JP2022171506A (ja) | 電源装置及びその補正方法 | |
JP6158546B2 (ja) | 電子装置および電子装置の監視方法 | |
KR20240088198A (ko) | Fet와 온도센서를 이용한 과전류 진단 문턱값 보정 장치 및 방법 | |
JP2012233720A (ja) | テスタコントローラおよびコンピュータプログラム | |
JP2010122149A (ja) | Dcモジュールおよびそれを用いた半導体試験装置 | |
JP2006023081A (ja) | バーンイン装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170731 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180821 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180918 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190305 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190315 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6499760 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |