JPWO2011010623A1 - ガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びにマーク付きガラス部材 - Google Patents
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Abstract
ガラス部材の品質管理方法は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング工程を有する。
Description
本発明は、ガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びにマーク付きガラス部材に関する。
近年、液晶パネル(LCD)、有機ELパネル(OLED)、プラズマディスプレイパネル、フィールドミッション等の表示パネルの大型化、薄板化が進行しており、高品質が要求される表示パネル用のガラス基板の大型化、薄板化が進行している。これにより、欠陥のないガラス基板の製造が困難となっている。
一方、特許文献1には、ガラス基板の所定位置に品質情報(欠陥情報)や識別情報を示すマークを施す技術が記載されている。品質情報には、欠陥の個数、大きさ、深さ、位置等が含まれている。ガラス基板をその品質情報と共に後工程(客先を含む)に供給することにより、供給先において、欠陥が含まれるガラス基板を効率よく使用することができる。
しかしながら、上記特許文献1に記載の技術では、品質情報に基づいてガラス基板を使用する際に、ガラス基板の基準位置(例えば、先端側の一角)からの距離を計測するので、基準位置から遠いほど計測誤差が大きくなる。このため、ガラス基板の大型化により、欠陥の位置を正確に把握できないことがあった。
特に、最近では、長尺の可撓性(フレキシブル性)のガラス基板をロール状に巻き取って後工程に供給することが提案されており、この場合、ガラス基板の長手方向寸法が30m以上になることがある。ガラス基板の長手方向寸法が30m以上になると、上記問題が顕在化する。
表示パネルの製造コストに占めるガラス基板のコストの割合は低いので、表示パネルの製造後にガラス基板の欠陥による不良が見つかると、無駄が多い。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、欠陥が含まれるガラス部材を効率よく使用できるガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びに、マーク付きガラス部材を提供することを目的とする。
上記目的を解決するため、本発明のガラス部材の品質管理方法は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング工程を有する。
尚、ガラス部材は、ロール状であってもよいし、板状であってもよく、その形状に限定はない。また、ガラス部材は、厚さが0.3mm以下であってもよく、可撓性(フレキシブル性)を有してよい。但し、本発明は、厚さ0.3mm以下のロール状のガラス部材に適用された場合に、特に優れた効果を発揮する。
また、本発明のガラス部材の品質管理装置は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング装置を有する。
また、本発明のマーク付きガラス部材は、ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークが施されたものである。
本発明によれば、欠陥が含まれるガラス部材を効率よく使用できるガラス部材の品質管理方法及び品質管理装置、並びに、マーク付きガラス部材を提供することができる。
以下、図面を参照し、本発明を実施するための形態について説明する。尚、本実施形態では、本発明を高品質が要求される表示パネル用のガラス基板に適用した場合について説明するが、本発明を太陽電池用のガラス基板やハードディスク用のガラス基板等の電子デバイス用のガラス基板に適用してもよいし、建築用ガラス板、自動車用ガラス板等の一般のガラス板に適用してもよい。
図1は、ガラス基板の製造方法を示す工程図である。
最初に、ガラス原料をガラス溶解層に投入し溶解する(ステップS11)。溶解した溶融ガラスは、ガラス溶解層内の下流側に移動し、清澄槽に流出する。
続いて、清澄槽内の溶融ガラスに含まれる気泡を脱泡し、清澄を行う(ステップS12)。
続いて、清澄後の溶融ガラスを板状に成形する(ステップS13)。成形方法としては、例えばフュージョン法やフロート法を用いる。フュージョン法では、清澄後の溶融ガラスが、断面くさび状の成形体の両側面に沿って流下し成形体の下縁部直下で合流して一体化し、下方に引き延ばされ板状となる。また、フロート法では、清澄後の溶融ガラスが、フロート槽内の溶融金属(例えば、溶融錫)上に流出し、溶融金属の平滑な表面によって板状となる。
最後に、成形された板状ガラスを徐冷し(ステップS14)、ガラス基板を製造する。ステップS14の徐冷後に、必要に応じて、ガラス基板を切断、研磨、洗浄してもよい。尚、ガラス基板の切断は、後述のステップS23の後に行ってもよい。
次に、ガラス基板の品質管理方法について図2を参照して簡単に説明する。
図2は、本発明の第1実施形態であるガラス基板の品質管理方法を示す工程図である。
マーキング工程(ステップS21)では、ガラス基板の所定位置に基準マークを施す。基準マークは、ガラス基板の供給先において、該所定位置から所定範囲内におけるガラス基板の欠陥の位置を検出する際の基準点となるマークである。尚、上記所定範囲内は、欠陥の位置を検出する方法等に応じて適宜設定されるが、10m以内が好ましく、3m以内がより好ましい。
検査工程(ステップS22)では、ガラス基板の品質を検査する。検査する項目は、例えば、欠陥の有無、位置(大きさを含む)、種類である。欠陥の種類としては、例えば、異物、泡、表面傷等がある。
本実施形態の検査工程(ステップS22)では、マーキング工程で施された基準マークを基準点として、該基準点から所定範囲内(例えば、10m以内(好ましくは3m以内))の欠陥の有無、位置(大きさを含む)、種類を検出する。
記録工程(ステップS23)では、マーキング工程で施された基準マークの識別情報と、検査工程で検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する。
本実施形態の記録工程(ステップS23)では、検査工程で検出に用いられた基準マークの識別情報と、検査工程で検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する。
記録媒体は、紙や光記録媒体、磁気記録媒体の他、ガラス基板であってもよい。ガラス基板に記録する場合、ガラス基板の所定位置にガラス基板の品質情報(欠陥の位置情報、基準マークの識別情報を含む)を示すマークを施す。これにより、ガラス基板の供給先において、ガラス基板10の品質情報の読み取りが可能となる。
ガラス基板の品質情報は、紙等の記録媒体で供給されてもよいし、インターネットを介して供給されてもよい。このようにガラス基板の品質情報をガラス基板と別々に供給する場合、ガラス基板を識別するための識別情報(IDコード)をガラス基板にマーキングし、品質情報と識別情報とをセットで供給する。
このようにして基準マークを施したガラス基板をその品質情報と共に後工程(客先を含む)に供給する。これにより、従来であれば、一枚のガラス基板の一部に欠陥を含むために欠陥修正や廃棄処分していたガラス基板であっても、欠陥以外の部分が使用可能なガラス基板としてそのまま出荷できる。このため、生産効率の低下や資源の無駄も改善される。この効果は、ガラス基板の大きさが大きいほど顕著である。
このガラス基板の供給先では、品質情報に含まれる欠陥の位置や種類に基づいて使用領域を適切に選択することができる。これにより、ガラス基板の供給先においても、生産効率の改善、コストの低減を図ることができる。
また、このガラス基板の供給先では、ガラス基板に施された基準マークと品質情報とに基づいて、欠陥の位置を正確に検出することができる。
従来のガラス基板では、品質情報に基づいてガラス基板を使用する際に、ガラス基板の基準位置(例えば、先端側の一角)からの距離を計測するので、基準位置から遠いほど計測誤差が大きくなるという問題があり、欠陥の位置を正確に検出できないことがある。特に、ガラス基板の長手方向寸法が30m以上である場合、上記問題が顕在化する。
これに対し、本実施形態では、品質情報に含まれる欠陥の位置が該欠陥の位置から所定範囲内にある基準マークに対して示されているので、基準マークと品質情報に基づいて欠陥の位置を正確に検出することができ、ガラス基板を効率よく使用することができる。この効果は、ガラス基板の大きさが大きいほど顕著であり、ガラス基板の長手方向寸法が30m以上である場合に特に顕著である。
次に、ガラス基板の品質管理装置について図3を参照して説明する。
図3は、本発明の第1実施形態であるガラス基板の品質管理装置を示す模式図である。
図3に示す例では、ガラス基板の品質管理装置は、搬送装置12、マーキング装置14、及び検査装置16を備える。
搬送装置12は、図1のステップS14の徐冷後のガラス基板10を搬送する装置である。例えば、搬送装置12は、ガラス基板10を搬送するローラ12a、ローラ12aを回転駆動する駆動装置12b、ガラス基板10の搬送速度を検出する速度センサ12c等から構成される。速度センサ12cは、例えばローラ12aの回転速度を検出する回転速度センサであってよく、検出結果を所定時間毎にマーキング装置14に出力する。
マーキング装置14は、ガラス基板10の所定位置にマークを施す手段である。例えば、マーキング装置14は、ガラス基板10の所定位置にレーザを照射しガラス基板10を加工してマークを描く装置であって、図3に示すように、レーザ発振器14a、移動装置14b、位置検出センサ14c、制御装置14d等から構成される。
レーザ発振器14aは、搬送装置12に対して移動可能に支持されており、制御装置14dによる制御下で、ガラス基板10の表面に向けてレーザ光を発振する。レーザ発振器14aとしては、例えば半導体レーザ、YAGレーザ、CO2レーザ等が用いられる。
移動装置14bは、制御装置14dによる制御下で、レーザ発振器14aを搬送装置12に対して移動させる装置であって、例えば電動モータ等を含む。
位置検出センサ14cは、搬送装置12に対するレーザ発振器14aの位置を検出するセンサであって、例えば移動装置14bの電動モータの回転数を検出する回転数センサ等で構成される。
制御装置14dは、マイクロコンピュータ等で構成され、速度センサ12cや位置検出センサ14cからの出力信号等に基づいて、レーザ発振器14aや移動装置14bの出力を制御してマークを描く。
尚、本実施形態のマーキング装置14は、ガラス基板10の所定位置にレーザを照射しガラス基板10を加工してマークを描く手段であるとしたが、本発明はこれに限定されない。例えば、マーキング装置14は、ガラス基板10の表面の所定位置に、インクを吐出してマークを印刷する装置であってもよいし、蒸着やスパッタ等によりマークを形成する装置であってもよい。これらのうち、レーザ照射により描かれたマークは、ガラス基板10を加工して描かれるので、耐薬品性、耐熱性に優れている。
図4は、本発明の第1実施形態であるマーク付きガラス基板を部分的に示す平面図である。図4において、マーキング装置14により施された基準マークM1、M2を誇張して描いている。
図4に示す例では、基準マークM1、M2が、ガラス基板10に千鳥状に配置されている。
第1の基準マークM1は、ガラス基板10の縁部10aに、ガラス基板10の長手方向に複数設けられている。複数の第1の基準マークM1は、例えば図4に示すように等ピッチで設けられてもよいし、不等ピッチで設けられてもよい。
第1の基準マークM1は、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10の欠陥の位置を検出する際の基準点となるマークである。第1の基準マークM1は、図形、文字、数字、記号、又はこれらの組合せ等で表される。例えば、第1の基準マークM1は、図形と識別符号との組合せで表されてもよい。
識別符号は、複数の第1の基準マークM1を識別するための符号であって、例えば図4に示すようにローマ数字で表される。識別符号が第1の基準マークM1に含まれる場合、ガラス基板10が長手方向途中で切断された場合でも、複数の第1の基準マークM1を識別することが可能である。
尚、複数の第1の基準マークM1を識別するため、ガラス基板10の所定位置(例えば、ガラス基板10の先端側の一角)からの累計の第1の基準マークM1の設置数をカウントしてもよいし、ガラス基板10の所定位置からの概算距離を計測してもよい。
第2の基準マークM2は、ガラス基板10の一側面10bからガラス基板10の幅方向に所定ピッチで設けられており、ガラス基板10の長手方向に複数設けられている。
第2の基準マークM2は、第1の基準マークM1と同様に、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10の欠陥の位置を検出する際の基準点となるマークであって、図形等で表される。例えば、第2の基準マークM2は、図4に示すように図形のみで表されてもよい。
第1及び第2の基準マークM1、M2は、同一図形で表されてもよいし、異なる図形で表されてもよい。また、第1及び第2の基準マークM1、M2は、同一色で表されてもよいし、異なる色で表されてもよい。
第1及び第2の基準マークM1、M2の大きさは、目視可能な大きさであってもよいし、目視困難な大きさであってもよい。
第1及び第2の基準マークM1、M2を施す位置としては、ガラス基板10の供給先における不使用領域が好適である。ここで、不使用領域とは、最終製品とならない領域の他、最終製品となっても第1及び第2の基準マークM1、M2が問題とならない領域をいう。
図5は、供給先におけるマーク付きガラス基板10の使用領域(例えば、薄膜トランジスタやカラーフィルターを形成する領域)及び不使用領域の一例を示す平面図である。図5において、使用領域T1を点模様で示し、不使用領域T2を白色のままで示す。
図5に示す例では、第1の基準マークM1を施す位置は、ガラス基板10の縁部10aやガラス基板10の側面10bが好ましい。また、第2の基準マークM2を施す位置は、隣り合う使用領域T1の間に設定される不使用領域T2が好ましい。
尚、図5に示す例では、基準マークM1、M2がガラス基板10に千鳥状に配置されるとしたが、本発明はこれに限定されない。例えば、基準マークM1、M2がガラス基板10に行列状に配置されてもよいし、基準マークM1のみがガラス基板10に配置されてもよい。要は、複数の基準マークM1、M2のうち少なくとも1つの基準マークが後述の撮像装置16aにより撮像される画像中に含まれていればよい。このように、基準マークM1、M2を施す位置は、検査装置16の種類等に応じて適宜設定されてよい。
検査装置16は、ガラス基板10の品質を検査する装置である。検査する項目は、例えば、欠陥の有無、位置(大きさを含む)、種類等である。欠陥の種類としては、例えば、異物、泡、表面傷等がある。欠陥の位置や種類を含む品質情報は、記録媒体に記録される。
例えば、検査装置16は、図5に示すように、CCDカメラ等の撮像装置16a、マイクロコンピュータ等の画像処理装置16b等から構成される。撮像装置16aは、搬送装置12の上方に設置されており、搬送装置12により搬送されるガラス基板10を所定範囲毎に順次撮像する。撮像された画像データは、画像処理装置16bに順次出力される。
図6は、撮像装置16aにより撮像された画像の一例を示す模式図である。図6において、第1及び第2の基準マークM1、M2、並びに、ガラス基板10の欠陥D1、D2を誇張して描いている。
最初に、画像処理装置16bは、撮像装置16aにより撮像された画像を画像処理して、画像中の欠陥の有無、位置(大きさを含む)、種類の他、画像中の第1、第2の基準マークM1、M2の位置を検出する。
続いて、画像処理装置16bは、画像中に欠陥の存在を検出すると、画像中に第1の基準マークM1及び第2の基準マークM2の両方あるいは少なくとも一方を基準点とする2次元座標系を設定する。
図7は、図6の画像に設定される2次元座標系の一例を示す模式図である。
図7に示す例では、第1の基準マークM1を原点とし、第1の基準マークM1を通りガラス基板10の側面10bと直交する方向をY軸とし、Y軸と直交する方向(ガラス基板10の側面10bと平行な方向)をX軸とする2次元座標系を設定する。
同様に、第2の基準マークM2を原点とし、第2の基準マークM2を通りガラス基板10の側面10bと直交する方向をY軸とし、Y軸と直交する方向(ガラス基板10の側面10bと平行な方向)をX軸とする2次元座標系を設定する。
続いて、画像処理装置16bは、設定した2次元座標系における欠陥の位置座標を検出する。1つの欠陥について、複数の2次元座標系における位置座標を検出してもよい。
最後に、画像処理装置16bは、欠陥の位置情報(位置座標データ)の検出に用いた基準マークM1、M2を識別するためのマーク識別情報と、検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する。
マーク識別情報は、基準マークM1、M2に含まれる識別符号(例えば、ローマ数字)、基準マークM1、M2とガラス基板10の基準位置(例えば、先端側の一角)との間のガラス基板10の長手方向における概算距離、ガラス基板10の基準位置からの累計の基準マークM1、M2の設置数等を含む。
尚、画像処理装置16bは、欠陥の位置を検出すると、品質情報(欠陥の位置情報、及び基準マークのマーク識別情報を含む)をマーキング装置14に出力してもよい。
マーキング装置14は、画像処理装置16bから品質情報を受信すると、ガラス基板10の所定位置(例えば、欠陥の位置を検出する際の基準点となった第1のマークM1及び第2のマークM2の両方あるいは少なくとも一方の近傍(領域P、Q))に品質情報を示す品質マークを施す。
品質マークは、図形、文字、数字、記号、バーコード、QRコード、又はこれらの組合せ等で表される。これにより、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10に施された品質マークから品質情報を読み取ることが可能である。
尚、品質マークは、ガラス基板10の欠陥の位置に対応するガラス基板10の縁部10aや側面10bに施されてもよいし、ガラス基板10の欠陥の位置に施されてもよい。これにより、ガラス基板10の欠陥Dの位置(大きさを含む)を容易に検出することができる。
以上説明したように、本実施形態によれば、品質情報に含まれる欠陥の位置が該欠陥の位置から所定範囲内にある基準マークに対して示されているので、欠陥の位置を正確に検出することができ、ガラス基板10を効率よく使用することができる。この効果は、ガラス基板10の大きさが大きいほど顕著である。
また、本実施形態によれば、基準マークM1、M2がガラス基板10の長手方向に複数設けられているので、ガラス基板10の長手方向寸法が30m以上である場合にも、基準マークM1、M2と品質情報に基づいて欠陥の位置を正確に検出することができる。
また、本実施形態によれば、複数の基準マークM1が識別可能に表されているので、ガラス基板10をその長手方向途中で切断した場合でも、基準マークM1を識別することができる。
尚、本実施形態では、画像処理装置16b及びマーキング装置14の両方あるいは少なくとも一方が本発明の記録装置に相当する。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。
図8は、本発明の第2実施形態であるガラス基板の品質管理方法を示す工程図である。
上記第1実施形態では、ガラス基板10の所定位置に基準マークM1、M2を施し(ステップS21)、該基準マークM1、M2を基準点として該基準点から所定範囲内(例えば、10m以内(好ましくは3m以内))にあるガラス基板10の欠陥の位置を検査装置16により検出した(ステップS22)。
これに対し、本実施形態では、ガラス基板10の欠陥の位置を検出し(ステップS31)、検出した欠陥の位置から所定範囲内(例えば、10m以内(好ましくは3m以内))に基準マークを施す(ステップS32)。
図9は、本発明の第2実施形態であるマーク付きガラス基板を部分的に示す平面図である。図9において、図3のマーキング装置14により施された基準マークM3、及び、ガラス基板10の欠陥D3を誇張して描いている。
第3の基準マークM3は、第1及び第2の基準マークM1、M2と同様に、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10の欠陥の位置を検出する際に基準点となるマークである。第3の基準マークM3は、図形、文字、数字、記号、又はこれらの組合せ等で表される。例えば、第3の基準マークM3は、図形と識別符号との組合せで表されてもよい。この識別符号は、複数の第3の基準マークM3を識別するための符号であって、例えば図9に示すようにローマ数字で表される。
第3の基準マークM3を施す位置は、図3の検査装置16により検出された欠陥D3の位置から所定範囲内(例えば、10m以内(好ましくは3m以内))に設定される。これにより、第1実施形態と異なり、所定範囲内に欠陥が無い領域では基準マークM3が無い。このため、基準マークM3がガラス基板10の供給先において欠陥となるのを抑制することができる。
第3の基準マークM3を施す位置は、ガラス基板10の供給先において撮像される画像中に第3の基準マークM3と欠陥D3とが含まれるように設定されることが好ましい。また、第3の基準マークM3を施す位置は、ガラス基板10の使用効率の観点から、ガラス基板10の供給先における不使用領域T2であることが好ましい。これらの条件を満たす位置としては、例えば図9に示すように欠陥D3に対応する(欠陥D3とガラス基板10の幅方向に対向する)ガラス基板10の縁部10aや側面10bが挙げられる、この場合、第3の基準マークM3は、品質情報(欠陥の位置)を示す品質マークの役割も果たす。
図10は、図9の変形例を示す平面図である。図10において、図3のマーキング装置14により施された基準マークM3、及び、ガラス基板10の欠陥D3〜D5を誇張して描いている。
図10に示すように、一の欠陥D3の近傍に他の欠陥D4、D5が存在しているような場合、複数の欠陥D3〜D5の位置から所定範囲内に第3の基準マークM3を1つだけ施してもよい。言い換えると、第3の基準マークM3を施す位置は、隣の(最近の)第3の基準マークM3から所定距離以上離れた位置に設定されてもよい。これにより、基準マークM3の設置数を更に減らすことができる。
このようにして、ガラス基板10の所定位置に基準マークM3を施すと共に(ステップS32)、欠陥の位置に対する基準マークM3の相対位置を計測する。この計測は、例えば、速度センサ12cや位置検出センサ14c等からの出力信号に基づいて行われる。
続いて、基準マークM3を基準点とする欠陥の位置情報を作成し、作成した欠陥の位置情報を基準マークM3の識別情報と対応付けて記録媒体に記録する(ステップS33)。記録媒体は、紙や光記録媒体、磁気記録媒体の他、ガラス基板10であってもよい。
本実施形態においても、第1実施形態と同様に、品質情報に含まれる欠陥の位置が該欠陥の位置から所定範囲内にある基準マークM3に対して示されているので、ガラス基板10の供給先において、欠陥の位置を正確に検出することができ、ガラス基板10を効率よく使用することができる。この効果は、ガラス基板10の大きさが大きいほど顕著であり、ガラス基板10の長手方向寸法が30m以上である場合に特に顕著である。
また、本実施形態によれば、基準マークM3をガラス基板10の欠陥の位置から所定範囲内に施すので、所定範囲内に欠陥が無い領域では基準マークM3が無い。このため、基準マークM3がガラス基板10の供給先において欠陥となるのを抑制することができる。
図11は、図9の別の変形例を示す平面図である。図11において、図3のマーキング装置14により施された基準マークM4、及び、ガラス基板10の欠陥D3を誇張して描いている。
第4の基準マークM4は、第1及び第2の基準マークM1、M2と同様に、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10の欠陥の位置を検出する際に基準点となるマークである。第4の基準マークM4は、図形、文字、数字、記号、又はこれらの組合せ等で表される。例えば、第4の基準マークM4は、図形と識別符号との組合せで表されてもよい。この識別符号は、複数の第4の基準マークM4を識別するための符号であって、例えば図9に示すようにローマ数字で表される。
第4の基準マークM4は、図3の検査装置16により検出された欠陥D3の位置に施され、品質情報(欠陥の位置)を示す品質マークの役割も果たす。これにより、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10から欠陥の位置情報を読み取ることができるので、図9の記録工程(ステップS33)が無くてもよい。
第4の基準マークM4は、欠陥D3の種類に応じて識別可能に表されてよい。例えば、第4の基準マークM4は、欠陥D3の種類毎に、異なる色で表されてもよいし、異なる識別符号で表されても良い。これにより、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10から欠陥の種類に関する情報を読み取ることができる。
尚、図11に示す第4の基準マークM4、及び、図9に示す第3の基準マークM3の両方をガラス基板10に施してもよい。
尚、本実施形態では、画像処理装置16b及びマーキング装置14の両方あるいは少なくとも一方が本発明の記録装置に相当する。
次に、本発明の第3実施形態について説明する。
最初に、ガラス基板の品質管理装置について図12を参照して説明する。
図12は、本発明の第3実施形態であるガラス基板の品質管理装置を示す模式図である。図12において、図3と同一構成については同一符号を付して説明を省略する。
上記第1実施形態では、マーキング装置14は、ガラス基板10の所定位置にレーザを照射しガラス基板10を加工してマークを描く装置であって、図3に示すように、レーザ発振器14a、移動装置14b、位置検出センサ14c、制御装置14d等により構成される。
これに対し、本実施形態では、マーキング装置14Aは、ガラス基板10の表面の所定位置にインクを吐出してマークを印刷する装置であって、レーザ発振器14aの代わりに、インクヘッド14eを有する。
インクヘッド14eは、搬送装置12に対して移動可能に支持されており、制御装置14dによる制御下で、ガラス基板10の表面にインクを吐出する。
インクの材料としては、特に限定されないが、ガラス基板10の表面から除去可能な材料が好適である。そのような材料としては、例えば洗浄により除去可能な水性インクが挙げられる。これにより、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10の表面を傷つけることなく、ガラス基板10の表面からマークを消去することが可能となる。従って、ガラス基板10の供給先において、ガラス基板10を更に効率よく使用することができる。
次に、ガラス基板10の供給先における、ガラス基板10の品質管理方法について図13を参照して説明する。
図13は、図2に続く、ガラス基板10の品質管理方法を示す工程図である。
先ず、欠陥の位置と、使用領域T1とを照合する(ステップS41)。この照合は、図5に示すようなパターンを用いて行う。図5に示すようなパターンは、複数用意されてよく、使用領域T1にある欠陥の数が最も少ないパターンを選択する。これにより、ガラス基板10を効率よく使用することができる。
続いて、ステップS41で選択された最適なパターンの不使用領域T2に、ガラス基板10の欠陥の位置を検出する際に基準点となる基準マークを新たに施す(ステップS42)。この基準マークは、供給元において既に施された基準マークを基準点として施される。これに伴い、新たな基準マークを基準点とする欠陥の位置を算出する。この基準マークは、例えばレーザを照射しガラス基板10を加工して描かれてよい。
最後に、供給元において施されたマークを消去する(ステップS43)。
このようにして、ガラス基板10の供給先において、供給元で施されたマークの位置を簡単に変更することができ、ガラス基板10を更に効率よく使用することができる。
尚、本実施形態では、供給先においてマークの位置を変更するとしたが、供給元において供給先の変更等に応じてマークの位置を変更してもよい。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に制限されることはなく、本発明の範囲を逸脱することなく、上述の実施形態に種々の変更及び置換を加えることができる。
本出願を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
本出願は、2009年7月24日出願の日本特許出願(特願2009-173438)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
本出願は、2009年7月24日出願の日本特許出願(特願2009-173438)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
10 ガラス基板
12 搬送装置
14 マーキング装置
16 検査装置
12 搬送装置
14 マーキング装置
16 検査装置
Claims (26)
- ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング工程を有するガラス部材の品質管理方法。
- 前記施された前記基準マークを基準点とし、該基準点から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査工程と、
前記検出に用いられた前記基準マークの識別情報と前記検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録工程とを更に有する請求項1に記載のガラス部材の品質管理方法。 - ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査工程を更に有し、
前記マーキング工程では、前記検出された欠陥の位置から所定範囲内に前記基準マークを施す請求項1に記載のガラス部材の品質管理方法。 - 前記施された基準マークの識別情報と前記施された基準マークを基準点とする欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録工程を更に有する請求項3に記載のガラス部材の品質管理方法。
- 前記マーキング工程では、前記欠陥の位置に対応する前記ガラス部材の縁部又は側面に、前記基準マークを施す請求項3又は4に記載のガラス部材の品質管理方法。
- 前記マーキング工程では、前記欠陥の位置に前記基準マークを施す請求項3〜5のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理方法。
- 前記基準マークは、前記ガラス部材の表面に、前記ガラス部材の表面から除去可能な材料で形成される請求項1〜6のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理方法。
- 前記ガラス部材の表面から除去可能な材料は、洗浄により除去可能なインクである請求項7に記載のガラス部材の品質管理方法。
- 前記ガラス部材は、表示パネル用のガラス基板である請求項1〜8のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理方法。
- ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークを施すマーキング装置を有するガラス部材の品質管理装置。
- 前記施された前記基準マークを基準点とし、該基準点から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査装置と、
前記検出に用いられた前記基準マークの識別情報と前記検出された欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録装置とを更に有する請求項10に記載のガラス部材の品質管理装置。 - ガラス部材の欠陥の有無及び位置を検出する検査装置を更に有し、
前記マーキング装置は、前記検出された欠陥の位置から所定範囲内に前記基準マークを施す請求項10に記載のガラス部材の品質管理装置。 - 前記施された基準マークの識別情報と前記施された基準マークを基準点とする欠陥の位置情報とを対応付けて記録媒体に記録する記録装置を更に有する請求項12に記載のガラス部材の品質管理装置。
- 前記マーキング装置は、前記欠陥の位置に対応する前記ガラス部材の縁部又は側面に、前記基準マークを施す請求項12又は13に記載のガラス部材の品質管理装置。
- 前記マーキング装置は、前記欠陥の位置に前記基準マークを施す請求項12〜14のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理装置。
- 前記基準マークは、前記ガラス部材の表面に、前記ガラス部材の表面から除去可能な材料で形成される請求項10〜15のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理装置。
- 前記ガラス部材の表面から除去可能な材料は、洗浄により除去可能なインクである請求項16に記載のガラス部材の品質管理装置。
- 前記ガラス部材は、表示パネル用のガラス基板である請求項10〜17のいずれか一項に記載のガラス部材の品質管理装置。
- ガラス部材の所定位置に、該所定位置から所定範囲内における前記ガラス部材の欠陥の位置を検出する際の基準点となる基準マークが施されたマーク付きガラス部材。
- 前記ガラス部材は、長手方向寸法が30m以上であって、
前記基準マークは、前記ガラス部材の長手方向に複数設けられる請求項19に記載のマーク付きガラス部材。 - 前記複数の基準マークがそれぞれ識別可能に表される請求項20に記載のマーク付きガラス部材。
- 前記所定位置は、前記ガラス部材の欠陥の位置に対応する前記ガラス部材の縁部又は側面に設定される請求項19に記載のマーク付きガラス部材。
- 前記所定位置は、前記ガラス部材の欠陥の位置に設定される請求項19に記載のマーク付きガラス部材。
- 前記基準マークは、前記ガラス部材の表面に、前記ガラス部材の表面から除去可能な材料で形成される請求項19〜23のいずれか一項に記載のマーク付きガラス部材。
- 前記ガラス部材の表面から除去可能な材料は、洗浄により除去可能なインクである請求項24に記載のマーク付きガラス部材。
- 前記ガラス部材は、表示パネル用のガラス基板である請求項19〜25のいずれか一項に記載のマーク付きガラス部材。
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