JPWO2009041516A1 - ジッタ発生装置およびそれを用いるデバイス試験システムならびにジッタ発生方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Y(t)=sin[ωt+m・sin(pt)]
(ただし、mは変調指数、ωはキャリア角周波数、pは変調信号の角周波数)
と表すことができる。
Y(t)=sin[m・sin(pt)]・cos(ωt)
+cos[m・sin(pt)]・sin(ωt)
=I(t)・cos(ωt)+Q(t)・sin(ωt)
と表される。
I(t)=sin[m・sin(pt)]
Q(t)=cos[m・sin(pt)]
で表される信号を入力することにより、所望の変調周波数(p/2π)および所望の変調深さ(2mradp−p)又は(m/πUIp−p)を有する正弦波のジッタが付与された信号を生成することができる。
I(t)=sin[m・sin(pt)]
Q(t)=cos[m・sin(pt)]
で表される信号を入力する非特許文献1の方式で、所望の変調周波数と所望の変調深さを有する正弦波のジッタを付与するためには、例えば、図19の(a)〜(d)に示すような複雑な波形のI信号とQ信号(1周期分を図示)とを各別に発生する任意波形生成器が2台必要となる。
電圧制御発振手段(22e)と、
前記電圧制御発振手段(22e)から出力される信号の周波数を所定の分周比で分周する分周手段(22f、22k)と、
一方の端子に前記分周手段(22f、22k)からの出力が入力され、他方の端子に基準クロック信号(R)が入力され、前記分周手段(22f、22k)からの出力と前記基準クロック信号(R)との位相を比較してその位相差に応じた信号を出力する位相比較手段(22m)と、
前記位相比較手段(22m)からの出力信号より所定周波数成分を除去するフィルタ手段(22n)と、
第1の変調信号が印加されることにより、前記フィルタ手段(22n)を通過した信号に該第1の変調信号の振幅に応じた所定のジッタを付加して出力するとともに、前記ジッタが付加された出力信号により前記電圧制御発振手段(22e)から出力される信号の周波数を制御するジッタ付加手段(22d)と、
前記ジッタ付加手段(22d)で付加される前記所定のジッタを変動させるために、前記第1の変調信号が印加されることにより、該第1の変調信号の振幅に応じて、前記分周手段(22f、22k)の分周比を変動させる分周比変動手段(22h,22i,22j)と、
を備える位相同期ループ(PLL)に位相変調をかける構成のジッタ発生装置(20)であって、
前記第1の変調信号にレベル制御を施して前記ジッタ付加手段(22d)に印加する第1のレベル制御手段(22c)と、
前記第1の変調信号にレベル制御を施して前記分周比変動手段(22h,22i,22j)に印加する第2のレベル制御手段(22i)と、
前記ジッタ発生装置(20)で発生すべき所望のジッタに関するパラメータを設定するパラメータ設定手段(40)と、
ローカル信号入力端子と、2つの変調信号入力端子とを有し、前記2つの変調信号入力端子への入力状態に応じて、前記ローカル信号入力端子に入力される前記電圧制御発振手段(22e)から前記ジッタが付加されて出力されるローカル信号を通過させるとともに、前記ローカル信号入力端子に入力される前記電圧制御発振手段(22e)から前記ジッタが付加されないで出力される無変調のローカル信号に第2の変調信号に基づいて直交変調をかけて出力する直交変調器(31)と、
前記直交変調器(31)からの出力信号の振幅を一定に制限する振幅制限手段(35)と、
前記直交変調器(31)の前記2つの変調信号入力端子への入力状態を前記2つの変調信号入力端子の一方に0が入力されるとともに、他方に0以外の固定値が入力される第1の状態と、前記2つの変調信号入力端子の少なくとも一方に前記第2の変調信号が入力される第2の状態とに切り換え可能な切換手段(34)と、
前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づいた前記所望のジッタが付加された信号が最終的に前記振幅制限手段(35)から出力されるように前記PLLに位相変調をかける構成のジッタ発生装置(20)を制御するとともに、前記切換手段(34)を前記第1の状態または第2の状態とに切り換え制御することにより、前記切換手段(34)が前記第1の状態に切り換えられた場合には前記第1の変調信号の振幅が前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに適合する前記所望のジッタが前記電圧制御発振手段(22e)からの出力信号に付加された前記ローカル信号が前記直交変調器(31)を通過して前記振幅制限手段(35)に入力されるように前記第1のレベル制御手段(22c)および前記第2のレベル制御手段(22i)をそれぞれ制御し、前記切換手段(34)が前記第2の状態に切り換えられた場合には、前記電圧制御発振手段(22e)からの出力信号に前記ジッタが付加されないで前記直交変調器(31)に入力される前記無変調のローカル信号に前記第2の変調信号に基づいて直交変調をかけた出力が前記振幅制限手段(35)に入力されるように前記第1のレベル制御手段(22c)および前記第2のレベル制御手段(22i)をそれぞれ制御する制御部(41)と、
をさらに備えたことを特徴とするジッタ発生装置が提供される。
前記電圧制御発振手段(22e)と前記直交変調器(31)との間に、出力周波数が前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに適合するように前記制御部(41)によって制御される、周波数変換手段(25)を挿入したことを特徴とする第1の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記周波数変換手段(25)は、PLL構成を含むことを特徴とする第2の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記直交変調器(31)の前記2つの変調信号入力端子の一方に前記第2の変調信号が入力される前記第2の状態において、前記2つの変調信号入力端子の他方に直流信号を入力することを特徴とする第1の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記第1の変調信号として使用する第1の変調信号発生手段(22a)を備えることを特徴とする第1の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記第1の変調信号発生手段(22a)は、前記第1の変調信号の周波数が前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに適合するように前記制御部(41)によって制御される、ダイレクトデジタルシンセサイザ(DDS)構成の変調用信号発生器(22a)であることを特徴とする第5の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記第2の変調信号として使用する変調信号発生手段(32)を備えることを特徴とする第1の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記変調信号発生手段(32)は、正弦波信号発生器(32a)、三角波信号発生器(32b)、矩形波信号発生器(32c)、疑似ランダムパターン(PRBS)制御信号発生器(32d)およびホワイトノイズ発生器(32e)のいずれか1つまたはそれらのうち少なくとも2種類を重ね合わせた合成波信号を発生する手段を含むことを特徴とする第7の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
前記直交変調器(31)は、第3の状態で前記ローカル信号入力端子に前記電圧制御発振手段(22e)から入力されるローカル信号に前記2つの変調信号入力端子の一方および他方に任意波形発生器(38)から出力される2相の任意波形信号(I,Q)に基づいて直交変調をかけて前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づいたジッタが付加された信号として出力し、
前記切換手段(34)は、前記2つの変調信号入力端子の一方および他方に前記任意波形発生器(38)から前記2相の任意波形信号(I,Q)が入力される前記第3の状態とに切り換え可能であり、
前記制御部(41)は、前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づき前記切換手段(34)を前記第3の状態に切り換え制御することにより、前記切換手段(34)が前記第3の状態に切り換えられた場合には、前記電圧制御発振手段(22e)からの出力信号にジッタが付加されないように前記第1のレベル制御手段(22c)および前記第2のレベル制御手段(22i)をそれぞれ制御することを特徴とする第1の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
ローカル信号入力端子と、2つの変調信号入力端子とを有し、前記ローカル信号入力端子に前記電圧制御発振手段(22e)から入力されるローカル信号に前記2つの変調信号入力端子の一方および他方に任意波形発生器(52)から出力される2相の任意波形信号(I,Q)に基づいて直交変調をかけて前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づいたジッタが付加された信号として出力する第2の直交変調器(51)と、
前記第1および第2の状態で、前記振幅制限手段(35)からの出力信号を出力し、前記第3の状態で、前記第2の直交変調器(31)からの出力信号を出力するように切り換える第2の切換手段(34)とをさらに備え、
前記制御部(41)は、前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づき前記第2の切換手段(34)を前記第3の状態に切り換え制御することにより、前記第2の切換手段(34)が前記第3の状態に切り換えられた場合には、前記電圧制御発振手段(22e)からの出力信号にジッタが付加されないように前記第1のレベル制御手段(22c)および前記第2のレベル制御手段(22i)をそれぞれ制御することを特徴とする第1の態様に従うジッタ発生装置が提供される。
上限、下限のジッタ周波数と上限、下限のジッタ振幅とにより規定されたジッタマスクの範囲内のジッタが付与された信号を発生するジッタ発生方法であって、
前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が、前記下限周波数(f1)から前記上限周波数(f4)より低い周波数(f3)までの範囲で、且つジッタ振幅が基準(Jr)以上となる第1のジッタ領域(A)のジッタが付与された信号(S5)を発生する第1のジッタ発生部(21)を準備する段階と、
前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が、前記上限周波数(f4)から前記下限周波数(f1)までの範囲で、且つジッタ振幅が前記基準(Jr)以下となる前記第1のジッタ領域と重ならない第2のジッタ領域(B)のジッタが付与された信号(S7)を発生する第2のジッタ発生部(30)を準備する段階と、
前記ジッタマスクの範囲内で発生すべき所望のジッタに関するパラメータを設定するパラメータ設定手段(40)とを備え、
前記第1のジッタ発生部(21)は、前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づいて該第1のジッタ発生部(21)が前記第1のジッタ領域(A)のジッタが付与された信号(S5)を発生する際に、第1の変調用信号により位相変調が可能なPLL回路(22)によりジッタが付与された信号を生成し、前記第2のジッタ発生部(30)が前記第2のジッタ領域(B)のジッタが付与された信号(S7)を発生する際にジッタが付与されない無変調状態の信号を生成し、
前記第2のジッタ発生部(30)は、前記パラメータ設定手段(40)によって設定されたパラメータに基づいて前記第2のジッタ領域(B)のジッタが付与された信号(S7)を発生する際に、前記第1のジッタ発生部(21)の前記PLL回路(22)により生成されるジッタが付与されない無変調状態の信号に対して直交変調をかける直交変調手段(31)を用いることを特徴とするジッタ発生方法が提供される。
前記第2のジッタ発生部(30)を準備する段階は、
交流の変調用信号(m2)と所定電圧の直流信号(D)とを発生する変調用信号発生手段(32、33)を準備する段階と、
前記変調用信号が一方の相に入力され、前記直流信号が他方の相に入力されることにより、入力信号を直交変調する前記直交変調手段(31)を準備する段階と、
前記直交変調手段(31)の出力信号に対して振幅制限処理を行い、前記変調用信号に基づいて位相が変調された変調信号を出力する振幅制限手段(35)を準備する段階とを備えることを特徴とする第11の態様に従うジッタ発生方法が提供される。
前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が前記上限周波数(f4)より低い周波数(f3)未満でジッタ振幅が前記基準(Jr)以下で下限値(J3)以上の領域を前記第1のジッタ領域に含めることを特徴とする第11の態様に従うジッタ発生方法が提供される。
前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が前記上限周波数(f4)より低い周波数(f3)から前記上限周波数より低い周波数(f5)までの範囲を第3のジッタ領域(C)とし、該第3のジッタ領域(C)についてのジッタが付与された信号(S8)を発生する第3のジッタ発生部(50)を準備する段階とをさらに備えることを特徴とする第11の態様に従うジッタ発生方法が提供される。
前記第1乃至第10の態様のいずれかに従うジッタ発生装置(20)を用いるデバイス試験システムであって、
前記ジッタ発生装置(20)から出力された信号をクロック信号として受け、該クロック信号に基づいて位相が変調された所望パターンのデジタル信号列を発生するパルスパターン発生装置(61)と、
前記パルスパターン発生装置(61)によって発生された前記デジタル信号列を受けた測定対象物が出力するデジタル信号列のビット誤りを検出するビット誤り検出装置(62)とを備えたことを特徴とするデバイス試験システムが提供される。
図1は、本発明による第1の実施形態を適用したジッタ発生装置20ならびにジッタ発生方法の構成および動作を説明するためのブロック図である。
fs4=Na(fL±fs3)
で表される。
M=64のとき、100〜200MHz、
M=32のとき、200〜400MHz、
……
M=2のとき、3.2〜6.4GHz、
M=1のとき、6.4〜12.8GHz、
の範囲の信号S5が得られることになる。
+Vd・sin(ωt)(ただし、Kmは振幅係数、pは第2の変調用信号m2の角周波数)
上式をI−Q平面で表現したベクトル図を図6に示す。
この第2の実施形態では、例えば、図12に示すようなジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数がf3未満でジッタ振幅がJ2以下J3以上の領域を第1のジッタ領域Aに含め、PLL構成の第1のジッタ発生部21でジッタを付与するようにしてもよい。
また、第3の実施形態では、図13に示すようなジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数がf3から上限周波数より低い周波数f5までの範囲を第3のジッタ領域Cとし、この第3のジッタ領域Cについてのジッタ付与を、図18に示した非特許文献1に記載された特殊波形の信号による直交変調方式で行うことも可能である。
また、図14では、任意波形発生器38からの任意波形信号をスイッチ34′を介して第2のジッタ発生部30の直交変調器31に入力するようにしている。
前記各実施形態では、第2の変調用信号m2を発生する変調用信号発生器32として図19の(a)に示すような正弦波信号発生器32aを用いる第2のジッタ発生部30により、正弦波のジッタを信号に対して付与する場合を例にとり説明している。
また、この第6の実施形態では、第2の変調用信号m2を発生する変調用信号発生器32として図19の(c)に示すような矩形波信号発生器32cを用いる第2のジッタ発生部30により、矩形波のジッタを発生することができる。
次に、擬似ランダムパターン(以下、RBS:Pseudo Random Binary Sequence)を帯域制限して生成され、ジッタ振幅に対する度数の分布がガウス分布に近い、周期的無相関波のジッタ(BUJ:Bounded Uncorrelated Jitter)を発生させる本発明の第7の実施形態を説明する。
また、この第8の実施形態では、第2の変調用信号m2を発生する変調用信号発生器32として図19の(e)に示すように、ホワイトノイズを発生するランダムジッタ(RJ:Random Jitter)を発生させることが可能である。
さらに、この第9の実施形態では、第2の変調用信号m2を発生する変調用信号発生器32として図21に示すように、前記した正弦波信号発生器32a、三角波信号発生器32b、矩形波信号発生器32c、周期的無相関波のジッタ発生させるためのPRBS発生器21eと、フィルタ21fとからなるPRBS制御信号発生器32d、ノイズ発生器32g、合成器32hとを含み、正弦波信号、三角波信号、矩形波信号c、周期的無相関波のジッタ発生させるためのPRBS制御信号およびホワイトノイズのうち少なくとも2種類を合成器21hにより重ね合わせた合成信号を発生する合成信号発生器32iを第2のジッタ発生部30に用いるようにすることにより、それらの合成信号の波形に応じたジッタを発生させることができる。
図16は、第10の実施形態として上記した第1乃至第9の各実施形態のいずれかのジッタ発生装置20を用いたデバイス試験システム60の構成を示している。
Claims (15)
- 電圧制御発振手段と、
前記電圧制御発振手段から出力される信号の周波数を所定の分周比で分周する分周手段と、
一方の端子に前記分周手段からの出力が入力され、他方の端子に基準クロック信号が入力され、前記分周手段からの出力と前記基準クロック信号との位相を比較してその位相差に応じた信号を出力する位相比較手段と、
前記位相比較手段からの出力信号より所定周波数成分を除去するフィルタ手段と、
外部から供給される第1の変調信号が印加されることにより、前記フィルタ手段を通過した信号に該第1の変調信号の振幅に応じた所定のジッタを付加して出力するとともに、前記ジッタが付加された出力信号により前記電圧制御発振手段から出力される信号の周波数を制御するジッタ付加手段と、
前記ジッタ付加手段で付加される前記所定のジッタを変動させるために、前記第1の変調信号が印加されることにより、該第1の変調信号の振幅に応じて、前記分周手段の分周比を変動させる分周比変動手段と、
を備える位相同期ループ(PLL)に位相変調をかける構成のジッタ発生装置であって、
第1の変調信号にレベル制御を施して前記ジッタ付加手段に印加する第1のレベル制御手段と、
前記変調信号にレベル制御を施して前記分周比変動手段に印加する第2のレベル制御手段と、
前記ジッタ発生装置で発生すべき所望のジッタに関するパラメータを設定するパラメータ設定手段と、
ローカル信号入力端子と、2つの変調信号入力端子とを有し、前記2つの変調信号入力端子への入力状態に応じて、前記ローカル信号入力端子に入力される前記電圧制御発振手段から前記ジッタが付加されて出力されるローカル信号を通過させるとともに、前記ローカル信号入力端子に入力される前記電圧制御発振手段から前記ジッタが付加されないで出力される無変調のローカル信号に第2の変調信号に基づいて直交変調をかけて出力する直交変調器と、
前記直交変調器からの出力信号の振幅を一定に制限する振幅制限手段と、
前記直交変調器の前記2つの変調信号入力端子への入力状態を前記2つの変調信号入力端子の一方に0が入力されるとともに、他方に0以外の固定値が入力される第1の状態と、前記2つの変調信号入力端子の少なくとも一方に前記第2の変調信号が入力される前記第2の状態とに切り換え可能な切換手段と、
前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づいた前記所望のジッタが付加された信号が最終的に前記振幅制限手段から出力されるように前記PLLに位相変調をかける構成のジッタ発生装置を制御するとともに、前記切換手段を前記第1の状態または第2の状態とに切り換え制御することにより、前記切換手段が前記第1の状態に切り換えられた場合には前記第1の変調信号の振幅が前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに適合する前記所望のジッタが前記電圧制御発振手段からの出力信号に付加された前記ローカル信号が前記直交変調器を通過して前記振幅制限手段に入力されるように前記第1のレベル制御手段および前記第2のレベル制御手段をそれぞれ制御し、前記切換手段が前記第2の状態に切り換えられた場合には、前記電圧制御発振手段からの出力信号にジッタが付加されないで前記直交変調器に入力される前記無変調のローカル信号に前記第2の変調信号に基づいて直交変調をかけた出力が前記振幅制限手段に入力されるように前記第1のレベル制御手段および前記第2のレベル制御手段をそれぞれ制御する制御部と、
をさらに備えたことを特徴とするジッタ発生装置。 - 前記電圧制御発振手段と前記直交変調器との間に、出力周波数が前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに適合するように前記制御部によって制御される、周波数変換手段を挿入したことを特徴とする請求項1に記載のジッタ発生装置。
- 前記周波数変換手段はPLL構成を含むことを特徴とする請求項2に記載のジッタ発生装置。
- 前記直交変調器の前記2つの変調信号入力端子の一方に前記第2の変調信号が入力される前記第2の状態において、前記2つの変調信号入力端子の他方に直流信号を入力することを特徴とする請求項1に記載のジッタ発生装置。
- 前記第1の変調信号として使用する第1の変調信号発生手段を備えることを特徴とする請求項1に記載のジッタ発生装置。
- 前記第1の変調信号発生手段は、前記第1の変調信号の周波数が前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに適合するように前記制御部によって制御される、ダイレクトデジタルシンセサイザ(DDS)構成の変調用信号発生器であることを特徴とする請求項5に記載のジッタ発生装置。
- 前記第2の変調信号として使用する変調信号発生手段を備えることを特徴とする請求項1に記載のジッタ発生装置。
- 前記変調信号発生手段は、正弦波信号発生器、三角波信号発生器、矩形波信号発生器、疑似ランダムパターン(PRBS)制御信号発生器およびホワイトノイズ発生器のいずれか1つまたはそれらのうち少なくとも2種類を重ね合わせた合成波信号を発生する手段を含むことを特徴とする請求項7に記載のジッタ発生装置。
- 前記直交変調器は、第3の状態で前記ローカル信号入力端子に前記電圧制御発振手段から入力されるローカル信号に前記2つの変調信号入力端子の一方および他方に任意波形発生器から出力される2相の任意波形信号に基づいて直交変調をかけて前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づいた前記所望のジッタが付加された信号として出力し、
前記切換手段は、前記2つの変調信号入力端子の一方および他方に前記任意波形発生器から前記2相の任意波形信号が入力される前記第3の状態に切り換え可能であり、
前記制御部は、前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づき前記切換手段を前記第3の状態とに切り換え制御することにより、前記切換手段が前記第3の状態に切り換えられた場合には、前記電圧制御発振手段からの出力信号にジッタが付加されないように前記第1のレベル制御手段および前記第2のレベル制御手段をそれぞれ制御することを特徴とする請求項1に記載のジッタ発生装置。 - ローカル信号入力端子と、2つの変調信号入力端子とを有し、前記ローカル信号入力端子に前記電圧制御発振手段から入力されるローカル信号に前記2つの変調信号入力端子の一方および他方に任意波形発生器から出力される2相の任意波形信号に基づいて直交変調をかけて前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づいたジッタが付加された信号として出力する第2の直交変調器と、
前記第1および第2の状態で、前記振幅制限手段からの出力信号を出力し、前記第3の状態で、前記第2の直交変調器からの出力信号を出力するように切り換える第2の切換手段とをさらに備え、
前記制御部は、前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づき前記第2の切換手段を前記第3の状態に切り換え制御することにより、前記第2の切換手段が前記第3の状態に切り換えられた場合には、前記電圧制御発振手段からの出力信号にジッタが付加されないように前記第1のレベル制御手段および前記第2のレベル制御手段をそれぞれ制御することを特徴とする請求項1に記載のジッタ発生装置。 - 上限、下限のジッタ周波数と上限、下限のジッタ振幅とにより規定されたジッタマスクの範囲内のジッタが付与された信号を発生するジッタ発生方法であって、
前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が、前記下限周波数から前記上限周波数より低い周波数までの範囲で、且つジッタ振幅が基準以上となる第1のジッタ領域のジッタが付与された信号を発生する第1のジッタ発生部を準備する段階と、
前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が、前記上限周波数から前記下限周波数までの範囲で、且つジッタ振幅が前記基準以下となる前記第1のジッタ領域と重ならない第2のジッタ領域のジッタが付与された信号を発生する第2のジッタ発生部を準備する段階と、
前記ジッタマスクの範囲内で発生すべき所望のジッタに関するパラメータを設定するパラメータ設定手段を準備する段階とを備え、
前記第1のジッタ発生部は、前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づいて該第1のジッタ発生部が前記第1のジッタ領域のジッタが付与された信号を発生する際に、第1の変調用信号により位相変調が可能なPLL回路によりジッタが付与された信号を生成し、前記第2のジッタ発生部が前記第2のジッタ領域のジッタが付与された信号を発生する際にジッタが付与されない無変調状態の信号を生成し、
前記第2のジッタ発生部は、前記パラメータ設定手段によって設定されたパラメータに基づいて前記第2のジッタ領域のジッタが付与された信号を発生する際に、前記第1のジッタ発生部の前記PLL回路により生成されるジッタが付与されない無変調状態の信号に対して直交変調をかける直交変調手段を用いることを特徴とするジッタ発生方法。 - 前記第2のジッタ発生部を準備する段階は、
交流の変調用信号と所定電圧の直流信号とを発生する変調用信号発生手段を準備する段階と、
前記変調用信号が一方の相に入力され、前記直流信号が他方の相に入力されることにより、入力信号を直交変調する前記直交変調手段を準備する段階と、
前記直交変調手段の出力信号に対して振幅制限処理を行い、前記変調用信号に基づいて位相が変調された変調信号を出力する振幅制限手段を準備する段階とを備えることを特徴とする請求項11に記載のジッタ発生方法。 - 前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が前記上限周波数より低い周波数未満でジッタ振幅が前記基準以下で下限値以上の領域を前記第1のジッタ領域に含めることを特徴とする請求項11に記載のジッタ発生方法。
- 前記ジッタマスクの範囲内で、ジッタ周波数が前記上限周波数より低い第1の周波数から該第1の周波数よりも高く且つ前記上限周波数より低い周波数までの範囲を第3のジッタ領域とし、該第3のジッタ領域についてのジッタが付与された信号を発生する第3のジッタ発生部を準備する段階とをさらに備えることを特徴とする請求項11に記載のジッタ発生方法。
- 前記第1乃至第10の態様のいずれかに従うジッタ発生装置を用いるデバイス試験システムであって、
前記ジッタ発生装置から出力された信号をクロック信号として受け、該クロック信号に基づいて位相が変調された所望パターンのデジタル信号列を発生するパルスパターン発生装置と、
前記パルスパターン発生装置によって発生された前記デジタル信号列を受けた測定対象物が出力するデジタル信号列のビット誤りを検出するビット誤り検出装置とを備えたことを特徴とするデバイス試験システム。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001285043A (ja) * | 2000-03-30 | 2001-10-12 | Anritsu Corp | ジッタ発生装置 |
WO2003007578A1 (fr) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Anritsu Corporation | Instrument de mesure de la resistance a la gigue et procede permettant une mesure efficace et une evaluation adequate de la caracteristique de resistance a la gigue. |
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JP2001285043A (ja) * | 2000-03-30 | 2001-10-12 | Anritsu Corp | ジッタ発生装置 |
WO2003007578A1 (fr) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Anritsu Corporation | Instrument de mesure de la resistance a la gigue et procede permettant une mesure efficace et une evaluation adequate de la caracteristique de resistance a la gigue. |
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