JPS6383679A - テストパタン発生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明はテストパタン発生装置に係り、特にテストバ
クンを乱数法と、アルゴリズム法で発生するテストパタ
ン発生装置に関する。

（従来の技術） テストパタン発生は主に乱数法とアルゴリズム法に大別
できるが、近年では、第４図のフローに見られるように
時間的高速の乱数法と確実性のあるアルゴリズム法を組
合せ、それらを切換える事によりテストパタン発生の効
率を上げている。

この切換えの基準として従来より故障検出率や、発生パ
タン数、あるいは一定の切換時間を設定して切換えてい
るが、これらの方法では被試験装置が乱数法に有利でも
、アルゴリズム法に有利でも関係なく乱数法とアルゴリ
ズム法を切換え速度的に遅くなってしまう。

（発明が解決しようとする問題点） 本発明は、上記切換法と異なり、乱数法とアルゴリズム
法とでテストパタン発生にががる時間を予測し、その時
点に、その被試験装置に対して、より有利なテストパタ
ン発生装置を選択することが可能でテストパタン発生を
高速に効率的に行うことのできるテストパタン発生装置
を提供することを目的とする。

Ｅ発明の構成〕 （問題点を解決するための手段） 本発明の装置は、テストパタンを発生すべき被試験装置
の内部情報を用い、次パタン発生にかかる時間を、乱数
法アルゴリズム法例々について発生時間予測装置によっ
て予測し乱数法とアルゴリズム法のうち、より速くテス
トパタンを発生できる方法をテストパタン発生装置切換
制御装置によって選択してテストパタンの発生を行うも
のである。

（作用） すなわち、乱数法とアルゴリズム法で、１〜２のパタン
を発生し、それにより、設定されるテストパタン発生速
度のパラメータを使って乱数法、アルゴリズム法個々に
ついて、次パタンの発生時間を予測する次パタン発生時
間予測装置、及び、予測された時間の内、速い方を選択
して乱数法によるテストパタン発生装置とアルゴリズム
発生装置とを切換えることにより、時間的に最適化され
たテストパタン発生が行われることになる。

（実施例） 以下、本発明の概要を図面を用いて、詳細に説明する。

第１図は、本発明のフローである。

工程１によって、試験的に乱数法テストパタン発生装置
ａとアルゴリズム法テストパタン発生装置すで、テスト
パタンか発生された後、工程２の次パタン発生時間予測
回路によりパタン発生時間を予測する為の種々のパラメ
ータがセットされ、乱数法、アルゴリズム法の次パタン
発生時間を予測する。

第２図は、第１図工程２の内容例であるが、工程２−１
は、パラメータのセット、工程２−２は乱数法の発生時
間予測、工程２−３はアルゴリズム法の発生時間予測で
ある。

第１図に戻って、工程３はテストパタン発生装置切換制
御装置で工程２から出力された予測時間（乱数法２−３
．アルゴリズム法２−４）を比較し、乱数法とアルゴリ
ズム法の内、速い方を選択するものである。第３図は第
１図工程３の内容例で、３−１は比較器、３−２は装置
選択装置であり、そこから回線３−３．３−４を通して
各々、乱数法テストパタン装置ａ、アウルゴリズム法テ
ストパタン発生装置すに接続されている。

第５図は、本発明の一実施例の構成図である。

５−１の乱数法テストパタン発生装置と５−２のアルゴ
リズム法テストパタン発生装置は５−３のコントローラ
で制御され、テストパタン発生法を選択しながら繰り返
しテストパタンを発生する。

すなわち、５−３のコントローラは、本発明のテストパ
タン発生装置切換制御装置と次パタン発生時間予測装置
の機能を合わせもったものである。

このコントローラを作動させる為に、５−４の制御用ソ
フトが用いられる。

第６図は、５−４の１制御用ソフトの一例である。

２〜３行目で試験的にパタン発生後、４行目（ＰＡＲＭ
　　５ＥＴ）でパラメータを決定し、５〜６行目で発生
時間の予測を行い７〜８行目のＩＦ文で、テストパタン
発生法を選択している。

５〜１０行目は繰り返しになっていて、９行目のＩＦ文
で、全故障のチェックが終了した時点で、第５図５−５
の出力が終了される。

［発明の効果コ 本発明によれば、被試験装置に応じたテストパタン発生
方式を選択でき、発生毎に、その方法を発生速度を基準
に選択できるため、従来より高速にテスト発生を行うこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のフロー図、第２図は次パタン発生時間
予測回路の内容例を示す図、第３図はテストパタン発生
装置切換装置の内容例を示す図、第４図は従来のテスト
パタン発生フロー図、第５図は本発明のテストパタン発
生装置の一実施例を示す図、第６図は第５図の装置を制
御する為のソフト例を示す図である。 １・・・試験的な乱数法、アルゴリズム法によるテスト
パタンの発生・故障シミュレーション２・・・次パタン
発生時間予測装置 ３・・・テストパタン発生切換制御装置４・・テストパ
タン発生、故障シミュレーション１−１．４−４・・・
全故障を網羅したかどうかの判断 １−３．３−３・・・乱数法テストパタン発生装置から
のデータバス １−４．３−４・・・アルゴリズム法テストパタン発生
装置からのデータバス ａ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・乱数法テ
ストパタン発生装置ｂ・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・アルゴリズム法テストパタン発生装置 ２−１・・・・・・・・・・・・・・・パラメータのセ
ット２−２・・・・・・・・・・・・・・・乱数法次パ
タン発生時間予測回路 ２−３・・・・・・・・・・・・・・・アルゴリズム法
次パタン発生時間予測回路 ３−１・・・・・・・・・・・・・・・比較器３−２・
・・・・・・・・・・・・・・装置選択装置４−１・・
・・・・・・・・・・・・・乱数法テストパタン発生・
故障シミュレーション ４−２・・・・・・・・・・・・・・・検出率が低下し
たかどうかの判断・ ４−３・・・・・・・・・・・・・・・アルゴリズム法
テストパタン発生・故障シミュレーション ５−１・・・・・・・・・・・・・・・乱数法テストパ
タン発生装置５−２・・・・・・・・・・・・・・・ア
ルゴリズム法テストパタン発生装置

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 乱数によるテストパタン発生装置とアルゴリズムによる
   テストパタン発生装置と次パタン発生時間予測装置とテ
   ストパタン発生装置切換制御装置とを備え、テストパタ
   ン発生途中で乱数によるテストパタン発生装置とアルゴ
   リズムによるテストパタン発生装置の発生時間を次パタ
   ン発生時間予測装置を用いて比較し、速い方の装置をテ
   ストパタン発生装置切換制御装置によって選択すること
   を特徴とするテストパタン発生装置。