JPS6370178A - Tester - Google Patents

Tester

Info

Publication number
JPS6370178A
JPS6370178A JP61213794A JP21379486A JPS6370178A JP S6370178 A JPS6370178 A JP S6370178A JP 61213794 A JP61213794 A JP 61213794A JP 21379486 A JP21379486 A JP 21379486A JP S6370178 A JPS6370178 A JP S6370178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
printed circuit
circuit board
input
microcomputer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61213794A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shuji Yamakawa
修司 山川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP61213794A priority Critical patent/JPS6370178A/en
Publication of JPS6370178A publication Critical patent/JPS6370178A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable automatic testing of a printed circuit board without requiring expertism, by reading out a test data previously stored in an auxiliary memory with respect to operating conditions inputted through an input unit. CONSTITUTION:A keyboard 4 is used as indicated on a screen of a CRT display 3 to input printed circuit board testing conditions into a microcomputer 5. The conditions inputted are displayed on the CRT display device 3 simultaneously. According to the testing conditions inputted, the microcomputer 5 takes a printed circuit board data to be tested out of a floppy disc 1. An input/output circuit is built up with a DI/DO changeover unit in a printed circuit board testing unit 6 according to the data thus taken out. Then, when a printed circuit board is inserted, an indication is outputted on a screen of the CRT display device 3 to start a test and upon the ending of the test, the results are outputted to a printer 2.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は試験装置、特に入出カブリント基板の検証試験
をするための試験装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Field of Application) The present invention relates to a testing device, and particularly to a testing device for performing a verification test on input/output covert boards.

(従来の技術) プリン1一基板の検証試験を行なうためには、各プリン
ト基板の専用試験装置、又は入力、出力を手で設定する
ユニバーサル試験装置を使用して行なっていた。゛ そして、ユニバーサル試験装置は第6図に示されるよう
に、試験をしようとするプリン1一基板をプリント基板
を入れる部分7に挿入し、前記装着したプリント基板の
種類に応じて入力、出力ピンを設定するボード8にてピ
ンを設定し、入力設定用スイッチ10の操作によって出
力データ表示用ランプ9を確認するようになっている。
(Prior Art) In order to perform a verification test on a printed circuit board, a dedicated test device for each printed circuit board or a universal test device in which inputs and outputs are manually set are used.゛Then, as shown in Fig. 6, the universal testing device inserts the printed circuit board 1 to be tested into the printed circuit board insertion part 7, and connects the input and output pins according to the type of the installed printed circuit board. A pin is set on a board 8 for setting, and an output data display lamp 9 is checked by operating an input setting switch 10.

なお、11は電源スィッチである。Note that 11 is a power switch.

(発明が解決しようとする問題点) 上記した従来装置において、前者の専用試験装置では、
プリント基板の種類毎に1台づつ試験装置が必要であり
、又、復習のユニバーサル試験装置では、各プリント基
板のシーケンスを児て、入力、出力を手で設定し、試験
者が入力設定により出力結果を確認しなければならず、
専門的知識が必要であった。
(Problems to be Solved by the Invention) Among the conventional devices described above, the former dedicated test device has the following problems:
One test device is required for each type of printed circuit board, and with the universal test device described in the review, the tester creates the sequence for each printed circuit board, sets the input and output by hand, and the tester can set the input and output according to the input settings. I have to check the results,
Specialized knowledge was required.

本発明は上記問題点を解決するためになされたものであ
り、専門的な知識を要でることなく、各種のプリントは
板の試験が可能な試験装置を提供することを目的として
いる。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a testing device capable of testing various printed boards without requiring specialized knowledge.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明を実施例に対応する第1図によって説明すると、
動作条件を入力する入力装置4と、操作手順を表示する
表示装置3と、動作条件が格納されている補助記憶装置
1と、試験結果を出力する出力装置2と、プリント基板
の試験条件を入出力する試験ユニット6と、演c1処即
するマイクロコンピュータ5とから構成される。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention will be explained with reference to FIG. 1 corresponding to an embodiment.
An input device 4 for inputting operating conditions, a display device 3 for displaying operating procedures, an auxiliary storage device 1 for storing operating conditions, an output device 2 for outputting test results, and an input device for inputting test conditions for printed circuit boards. It is composed of a test unit 6 for outputting data, and a microcomputer 5 for performing a test c1.

(作用) 従って、入力装置4を介して動作条件を入力すると、前
記入力に対して補助記憶装置1内に予め格納されている
試験データが読出され、これによってプリント基板の試
験が開始され、その結果が出力装置2に出力される。
(Function) Therefore, when operating conditions are input through the input device 4, test data stored in advance in the auxiliary storage device 1 is read out in response to the input, and thereby a test of the printed circuit board is started. The results are output to the output device 2.

(実施例) 以下図面を参照して実施例を説明する。(Example) Examples will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明による試験装置の一実施例の機能ブロッ
ク構成図である。
FIG. 1 is a functional block diagram of an embodiment of a test device according to the present invention.

第1図に示されるように、本試験装置はマイクロコンピ
ュータ5とプリント基板試験ユニツ[・6及びマイクロ
コンピュータ5とバスによって接続されたフロッピーデ
ィスク1、プリンター2、CR■表示装買3、キーボー
ド4から構成されている。
As shown in FIG. 1, this test equipment includes a microcomputer 5, a printed circuit board test unit [6], a floppy disk 1, a printer 2, a CR display device 3, and a keyboard 4 connected to the microcomputer 5 by a bus. It consists of

′ここで、各プリント基板の入出力データはフロッピー
ディスク1に記憶されており、マンマシンインターフェ
イスはCRT表示装置3及びキーボード4を使用して設
定操作を行なうと同時に、試験結果をプリンター2に出
力するものである。
'Here, the input/output data of each printed circuit board is stored on the floppy disk 1, and the man-machine interface performs setting operations using the CRT display device 3 and keyboard 4, and at the same time outputs the test results to the printer 2. It is something to do.

なお、フロッピーディスク1はプリント基板のデスl−
パターンを格納する。プリンター2はプリント基板のテ
スト結果を印字する。キーボード4はマイクロコンピュ
ータ5に動作条件を入力するために、又、CRT表示装
置3はテスト状態の表示をするためのマンマシンインタ
ーフェイス[である。
Note that the floppy disk 1 is located on the printed circuit board.
Store the pattern. The printer 2 prints the test results of the printed circuit board. The keyboard 4 is a man-machine interface for inputting operating conditions to the microcomputer 5, and the CRT display 3 is for displaying test conditions.

プリント基板試験ユニット6は、マイクロコンピュータ
5の制御により、プリン1一基板にテストデータを被試
験基板接続コネクタ12より出力し、被試験基板の動作
結果を入力する。
Under the control of the microcomputer 5, the printed circuit board testing unit 6 outputs test data to the printed circuit board 1 through the test board connecting connector 12, and inputs the operation results of the test board.

そして、全体的な作用としては、CRT表示装置3の画
面指示によりキーボード4を使用してプリント基板試験
条件をマイクロコンピュータ5に入力する。入力された
条件は、同時にCRT表示装置3に表示される。
The overall operation is to input printed circuit board test conditions into the microcomputer 5 using the keyboard 4 according to instructions on the screen of the CRT display device 3. The input conditions are displayed on the CRT display device 3 at the same time.

マイクロコンピュータ5は入力された試験条件により、
フロッピーディスク1より試験対象のプリント基板デー
タを取出す。取出したデータにより、プリント基板試験
ユニツ]・6内のOr/Do切替ユニットで入出力回路
を構成する。
The microcomputer 5 operates according to the input test conditions.
Retrieve the printed circuit board data to be tested from floppy disk 1. Based on the retrieved data, configure the input/output circuit with the Or/Do switching unit in the printed circuit board test unit 6.

次に、プリント基板を挿入するCRT表示装置3の画面
に指示が出力され、試験が開始される。
Next, an instruction is output on the screen of the CRT display device 3 into which the printed circuit board is inserted, and the test is started.

試験が終了すると、結果がプリンター2に出力される。When the test is completed, the results are output to the printer 2.

第2図は本装置の右する動作モードを示す図であり、自
動試験モード、エージング試験モード及び新基板登録モ
ードがある。
FIG. 2 is a diagram showing the operating modes of this device, including an automatic test mode, an aging test mode, and a new board registration mode.

第3図は自動試験モードのフローチャー1・である。先
ず、試験づべきプリント基板の名称をキーボード4によ
り入力し、ステップ31にて、これを確認する。ステッ
プ32では、この入力されたプリント基板が既に登録さ
れたものであるか否かを判断し、σ録済みのものであれ
ば、ステップ33へ移って、このプリント基板に対する
入出力データをフロッピーディスク1よりlc出して、
ステップ34にて試験回路を構成する。ステップ35で
は、自動的に試験を開始し、ステップ36にて試験結果
を出力する。
FIG. 3 is a flowchart 1 of the automatic test mode. First, the name of the printed circuit board to be tested is input using the keyboard 4, and this is confirmed in step 31. In step 32, it is determined whether the input printed circuit board has already been registered, and if it has been registered, the process moves to step 33, where the input/output data for this printed circuit board is transferred to a floppy disk. Take out lc from 1,
A test circuit is configured in step 34. In step 35, the test is automatically started, and in step 36, the test result is output.

第4図はエージング試験モードのフローチャートである
。プリント基板名称をキーボード4により入力し、試験
を開始するまで(ステップ41〜45)は、第3図の場
合と同様である。但し、この場合の試験データの読出し
及び試験回路の構成は、エージングについたちのである
。ステップ4Gにて、不良があるか否かを判断し、不良
があればステップ48でプリンターに出力し、ステップ
47にて試験を中断するか否かを判断する。
FIG. 4 is a flowchart of the aging test mode. The steps from inputting the printed circuit board name using the keyboard 4 to starting the test (steps 41 to 45) are the same as in the case of FIG. 3. However, the reading of test data and the configuration of the test circuit in this case are sensitive to aging. In step 4G, it is determined whether or not there is a defect. If there is a defect, it is output to the printer in step 48, and in step 47 it is determined whether or not to interrupt the test.

第5図は新基根登録モードのフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart of the new root registration mode.

ステップ51でプリント基板名称をキーボード4により
入力し、これに対する入力ビンNα、出力ピンNαをス
テップ52にて同様に入力する。そしてステップ53に
て、入力データパターンをキーボードにより入力し、試
験回路を構成する。
In step 51, the name of the printed circuit board is input using the keyboard 4, and in step 52, the input bin Nα and output pin Nα are similarly input. Then, in step 53, an input data pattern is input using the keyboard to configure a test circuit.

次に、試験済みのプリント基板をセラl−L、自動試験
を実行することにより得られる出力データをステップ5
5.56にて入力データと同様にフロッピーディスクに
格納することで、新基板のσ録を行なう。
Next, in step 5, the tested printed circuit board is transferred to the cellar L-L, and the output data obtained by executing the automatic test is
At step 5.56, the new board is recorded by storing it on a floppy disk in the same way as the input data.

なお、フロッピーディスクには入力ビンNα、出力ピン
NO1入力信号パターン及び正常な出カバターンが格納
(記+!1)される。
Note that the input bin Nα, the output pin NO1 input signal pattern, and the normal output pattern are stored on the floppy disk.

ゝ枯1し、入カバターンは殆んど峙間的インクリメント
データとなる。CPuはこの作成された入カバターンと
出カバターンを比較することで、被試験プリント基板の
試験を行なう。
As a result, most of the input cover turns become intermittent increment data. The CPU tests the printed circuit board under test by comparing the created input cover pattern and output cover pattern.

プリント基板試験ユニットはCPUの指令データ(入力
ビンNo、出力ビンNα)により、プリント)j板の入
出力回路を自動的に構成する。
The printed circuit board test unit automatically configures the input/output circuit of the printed circuit board according to the command data (input bin number, output bin Nα) of the CPU.

[発明の効果] 以上説明した如く、本発明によればマイクロコンピュー
タを使用したことにより、従来技術員が手で行なってい
た部分及びシーケンス図により行なっていた試験が自動
的に行なえるようになった。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, by using a microcomputer, it is now possible to automatically perform tests that were conventionally performed manually by engineers and using sequence diagrams. .

又、試験のレベルが一定になり、シーケンスがわからな
くても、試験が行なえるようになった。
In addition, the level of the test has become constant, and it is now possible to take the test even if you do not understand the sequence.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による試験装置の一実施例の機能ブロッ
ク構成図、第2図は本装置の右する動作モードを示ず図
、第3図は自動試験モードの70−ヂヤート、第4図は
エージング試験モードのフローチャート、第5図は新塁
板σ録モードのフローチ1/ −t”、第6図は従来の
試験装置の外形図である。 1・・・フロッピーディスク  2・・・プリンター3
・・・CRT表示装置     4・・・キーボード5
・・・マイクロコンピュータ
Fig. 1 is a functional block diagram of an embodiment of the test device according to the present invention, Fig. 2 is a diagram not showing the operating modes of this device, Fig. 3 is a 70-diameter diagram in automatic test mode, and Fig. 4 5 is a flowchart of the aging test mode, FIG. 5 is a flowchart of the new baseboard σ recording mode, and FIG. 6 is an outline drawing of the conventional test equipment. 1...Floppy disk 2...Printer 3
... CRT display device 4 ... Keyboard 5
・・・Microcomputer

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  各種のプリント基板の検証試験を行なう試験装置にお
いて、動作条件を入力する入力装置と、操作手順を表示
する表示装置と、動作条件が格納されている補助記憶装
置と、試験結果を出力する出力装置と、プリント基板の
試験条件を入出力する試験ユニットと、演算処理するマ
イクロコンピュータとを備え、前記各種のプリント基板
に応じて自動試験することを特徴とする試験装置。
Test equipment that performs verification tests on various printed circuit boards includes an input device for inputting operating conditions, a display device for displaying operating procedures, an auxiliary storage device for storing operating conditions, and an output device for outputting test results. 1. A test device comprising: a test unit for inputting and outputting test conditions for printed circuit boards; and a microcomputer for performing arithmetic processing, and for automatically testing according to the various types of printed circuit boards.
JP61213794A 1986-09-12 1986-09-12 Tester Pending JPS6370178A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61213794A JPS6370178A (en) 1986-09-12 1986-09-12 Tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61213794A JPS6370178A (en) 1986-09-12 1986-09-12 Tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6370178A true JPS6370178A (en) 1988-03-30

Family

ID=16645159

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61213794A Pending JPS6370178A (en) 1986-09-12 1986-09-12 Tester

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6370178A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009259862A (en) * 2008-04-11 2009-11-05 Nec Corp Equipment unit attaching and detaching device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009259862A (en) * 2008-04-11 2009-11-05 Nec Corp Equipment unit attaching and detaching device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6120816B2 (en)
JPH09159726A (en) Scan test apparatus
JPS6370178A (en) Tester
JPH0577143A (en) Failure diagnosis device for automated line
JPS6151578A (en) Fault diagnostic system of electronic circuit device
JPS6329277A (en) Testing device for logic integrated circuit
JP2908142B2 (en) Microcomputer automatic inspection equipment
JPH1165873A (en) Inspecting device for electronic control unit
JPS62159243A (en) Automatic test device for electronic computer
JP2924392B2 (en) Microcomputer system
JPS61221837A (en) Computer checking method
JPH03293570A (en) Apparatus for judging testing possibility of logical circuit board
GB2184555A (en) Assembling a module library for the generation of a PCB test program
JPS62260234A (en) Trouble diagnosing device
JPH05181781A (en) Input/output control device
JPS6014377B2 (en) Logical device test method
JPH03282830A (en) Circuit test system
JPH0226748B2 (en)
JPH02124477A (en) Fault analyzer
JPS6166171A (en) In-circuit ic tester
JPH0743431A (en) Displaying method for signal name of device pin of sample ic
JPS5875254A (en) One-chip microcomputer system
JPH0844583A (en) Diagnostic system for information processor
JP2001101022A (en) Automatic diagnostic device
JPS6144373A (en) Apparatus for testing semiconductor circuit