JPS6365952U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6365952U JPS6365952U JP15922686U JP15922686U JPS6365952U JP S6365952 U JPS6365952 U JP S6365952U JP 15922686 U JP15922686 U JP 15922686U JP 15922686 U JP15922686 U JP 15922686U JP S6365952 U JPS6365952 U JP S6365952U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- chamber
- preliminary chamber
- electron beam
- preliminary
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
Description
第1図は本考案の一実施例を示す断面図、第2
図は従来の構成を示す断面図である。 1:対物レンズ、2:試料室、4:ステージ、
5:移動台、6:試料、7:ホルダー、8:ノズ
ル、9:パイプ、10a:制御バルブ、10c:
元栓、11:ガス供給源、12:圧力計、13:
制御回路、14:2次電子検出器、15:反射電
子検出器、17:予備室、18:筒状体、19:
移動ブロツク、20:ピニオン、21:ラツク、
22:カム、23:取手、24:反射電子検出器
、25:2次電子検出器、27:排気管、29:
高真空ポンプ、30:粗引ポンプ。
図は従来の構成を示す断面図である。 1:対物レンズ、2:試料室、4:ステージ、
5:移動台、6:試料、7:ホルダー、8:ノズ
ル、9:パイプ、10a:制御バルブ、10c:
元栓、11:ガス供給源、12:圧力計、13:
制御回路、14:2次電子検出器、15:反射電
子検出器、17:予備室、18:筒状体、19:
移動ブロツク、20:ピニオン、21:ラツク、
22:カム、23:取手、24:反射電子検出器
、25:2次電子検出器、27:排気管、29:
高真空ポンプ、30:粗引ポンプ。
Claims (1)
- 試料室、その中に置かれた試料移動機構、該試
料移動機構上に載置された観察試料、試料への電
子線照射により該試料から散乱する電子線を検出
する検出器を備えた装置において、試料室内に予
備室を設置し、この予備室の底面の内少なくとも
試料と対向する部分は解放となし、上面には電子
線の通過孔を形成し、該予備室を試料室外から少
なくとも電子線軸と直角な方向に移動させる機構
を備え、該予備室内に任意なガスを導入する手段
及び該予備室内を排気する手段を設けると共に予
備室内に前記試料からの散乱電子線を検出する検
出器を設置してなる走査電子顕微鏡等における試
料装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15922686U JPS6365952U (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15922686U JPS6365952U (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6365952U true JPS6365952U (ja) | 1988-04-30 |
Family
ID=31083459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15922686U Pending JPS6365952U (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6365952U (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010061990A (ja) * | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Japan Science & Technology Agency | 電子顕微鏡用試料ホルダ。 |
JP2010518583A (ja) * | 2007-02-06 | 2010-05-27 | エフ・イ−・アイ・カンパニー | 高圧荷電粒子ビーム・システム |
JP2011258451A (ja) * | 2010-06-10 | 2011-12-22 | Hitachi High-Technologies Corp | 走査電子顕微鏡 |
-
1986
- 1986-10-17 JP JP15922686U patent/JPS6365952U/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010518583A (ja) * | 2007-02-06 | 2010-05-27 | エフ・イ−・アイ・カンパニー | 高圧荷電粒子ビーム・システム |
JP2010061990A (ja) * | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Japan Science & Technology Agency | 電子顕微鏡用試料ホルダ。 |
JP2011258451A (ja) * | 2010-06-10 | 2011-12-22 | Hitachi High-Technologies Corp | 走査電子顕微鏡 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6365952U (ja) | ||
JPH0320858U (ja) | ||
JPH0546202Y2 (ja) | ||
JPH0482842U (ja) | ||
JPS63100827U (ja) | ||
JPS6423869U (ja) | ||
JPH0748367B2 (ja) | 荷電粒子線装置におけるガス導入機構 | |
JPH0322351U (ja) | ||
JP3659333B2 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JPH0166745U (ja) | ||
JPS6440156U (ja) | ||
JPH0548357Y2 (ja) | ||
JPS6312153U (ja) | ||
JPH0388258U (ja) | ||
JPH01118399U (ja) | ||
JPS62186363U (ja) | ||
JPH0288159U (ja) | ||
JPH0443850U (ja) | ||
JPH0295860U (ja) | ||
JPH0235344A (ja) | 表面分析装置 | |
JPS6284926U (ja) | ||
JPS569957A (en) | Combined unit of ion gun, electron gun and analyzer in auger electron spectroscope | |
JPH0211159U (ja) | ||
JPH01179351U (ja) | ||
JPS6438752U (ja) |