JPS6361940A - Chemical analyzer - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To enable high-efficiency processing even if an analyzing element for end point measurement and analyzing element for rate measurement are randomly disposed by providing a holding means, etc., capable of arranging said analyzing elements in arbitrary sequence. CONSTITUTION:The analyzing element 2 for BUN measurement to be subjected to photometric processing in accordance with an end point method BUN upon lapse of the specified time after dropping of a sample and the analyzing element 2 for GPT measurement to be subjected to photometric processing in accordance with a rate method (GPT) are arranged in arbitrary sequence to a disk 33. A memory means stores either of the methods to which either of the elements 2 conforms. A time management means manages the time necessary for the respective elements 2 to make photometric processing in a photometric part 6 after the sample is dropped in a sample dropping part 12. A driving motor 35 moves the disk 33 to oppose the element 2 to be used and a photometric instrument 6 each other upon timing out of the time set by the time management means. The timing for photometry when the items of the BUN method and the GPT method are desired to be measured is thereby successfully taken and the satisfactory mixed processing of the analyzing elements 2 confirming to said methods is permitted.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は１反応試薬が含浸された展開層及び／または
反応試薬層を有する分析素子に対して血液又は血清等の
サンプルを滴下して一定の温度条件下で試薬に反応せし
め、その反応による色の濃度変化を測定し、当該液体試
料における特定の成分の含有の有無或いはその含有量又
は酵素の活性値等を化学的に分析する化学分析装置に関
するものである。Detailed Description of the Invention [Industrial Field of Application] This invention involves dropping a sample such as blood or serum onto an analytical element having a developing layer and/or a reactive reagent layer impregnated with one reaction reagent. Chemical analysis involves reacting a reagent under temperature conditions of It is related to the device.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

従来、この種の化学分析装置は一定数の分析素子の受入
部を有する保持手段と、該保持手段に保持された分析素
子を測光し、その測定値をディスプレイに表示したり、
記録紙に印字できるようになっている。しかして、この
ような化学分析装置における分析素子の保持手段として
は通常９周縁部に分析素子の受入部を等配列膜したディ
スクを用い、該ディスクはその受入部の等配角度ごとに
間歇回転できるように構成されるとともに、装置として
は該ディスクの停止位置に対応して分析素子挿入部、排
出部、サンプル滴下部及び測光部を設けたものが考えら
れる。前記ディスクは■素子挿入部より必要な数の分析
素子を挿入するとき、■挿入された各分析素子にサンプ
ル滴下部よりサンプルを滴下するとき、■サンプル滴下
から一定時間経過した分析素子から順に測光部へ搬送し
て測光するとき、■測光すべき全部の分析素子が測光さ
れた後、排出部より装置外に排出するときにその都度回
転駆動される。これら■〜■の操作のうちオペレータは
■の素子挿入作動と、■の滴下操作だけを行えば、あと
は装置が■の測光及び■の排出を自動で行うこととなり
便利であるが。Conventionally, this type of chemical analyzer includes a holding means having a receiving part for a certain number of analytical elements, and a photometer of the analytical elements held in the holding means, and displays the measured value on a display.
It can be printed on recording paper. Therefore, as a holding means for analytical elements in such a chemical analysis device, a disk is usually used which has receiving parts for the analytical elements arranged around its periphery in an evenly arranged film, and the disc is rotated intermittently at each of the evenly arranged angles of the receiving parts. It is conceivable that the apparatus be constructed such that it can be used, and that the apparatus is provided with an analytical element insertion section, an ejection section, a sample dripping section, and a photometry section corresponding to the stopping position of the disk. The disk performs photometry in order of: ■ When inserting the required number of analytical elements from the element insertion part, ■ When dropping a sample onto each inserted analytical element from the sample dripping part, and ■ Starting from the analytical element after a certain period of time has passed since the sample was dropped. When conveying to the section for photometry, (1) After all the analytical elements to be photometered have been photometered, they are rotated each time when they are discharged from the discharge section to the outside of the apparatus. Of these operations (1) to (2), the operator only has to perform the element insertion operation (2) and the dropping operation (2), and the device then automatically performs the photometry (2) and the discharge (2), which is convenient.

■のサンプルの滴下操作には最初にサンプルを滴下した
分析素子の測光時間に制限があるために厳格な時間的制
約が要求される。特にサンプル滴下から一定時間経過後
にエンドポイント法に従って測光処理されるエンドポイ
ント測定用分析素子と、レイト法に従って異なる時間に
少な（とも二回に亘って測光処理されるレイト測定用分
析素子とを混合処理する場合にはサンプル滴下操作は、
サンプル滴下した最初の分析素子について測光するまで
の時間内、即ち一つの分析素子がサンプル滴下からエン
ドポイント法に従って測光されるまでの猶予時間やレイ
ト法の第１回目の測光までの猶予時間さらにはレイト法
の第２回目以降の測光猶予時間を考慮しなければ１例え
ば、サンプル滴下と測光、或いはエンドポイント法に従
う測光とレイト法に従う測光のタイミングがダブルこと
になり、−回に測定できる分析素子の個数に限界が出来
るという問題があった。Strict time constraints are required for the sample dropping operation (2) because there is a limit to the photometry time of the analytical element to which the sample is first dropped. In particular, it is possible to mix an analytical element for end point measurement, which is photometrically processed according to the endpoint method after a certain period of time has elapsed from the sample drop, and an analytical element for late measurement, which is photometrically processed at different times (in both cases, twice) according to the late method. When processing, the sample dropping operation is
Within the time until photometry is performed on the first analytical element onto which a sample has been dropped, that is, the grace time from sample dropping to the time when one analytical element is photometered according to the end point method, or the grace time until the first photometry using the late method. If the delay time for photometry after the second time of the late method is not taken into consideration, for example, the timing of sample dropping and photometry, or the timing of photometry according to the end point method and photometry according to the late method will be doubled, and the analytical element that can be measured at - times There was a problem that there was a limit to the number of .

従って、従来ではエンドポイント法用分析素子とレイト
法用分析素子の混合処理を可能にするために分析素子の
保持手段を各法の分析素子毎に別個に設けるとともに、
その停止位１に対応して設けられる素子挿入部、排出部
、サンプル滴下部及び測光部をも別個にして並列処理で
きるように構成したものが知られているが、この装置は
単に二つの分析装置を一体化しただけであり、従って、
その構造が大型化・複雑化するとともにコスト高になる
という問題がある。Therefore, in the past, in order to enable mixed processing of endpoint method analytical elements and late method analytical elements, analytical element holding means were provided separately for each analytical element for each method, and
A device is known in which the element insertion section, ejection section, sample dripping section, and photometry section provided corresponding to stop position 1 are also separated and configured so that they can be processed in parallel. The device is simply integrated, and therefore,
There are problems in that the structure becomes larger and more complex, and the cost also increases.

また、オペレータは一つの分析素子がエンドポイント法
に従う分析素子か、レイト法に従う分析素子かを判断し
て二つの素子挿入部のいずれかに挿入しなければならな
ず１作業が非常に煩わしくなっている。In addition, the operator has to judge whether an analytical element follows the end point method or the late method and inserts it into one of the two element insertion sections, making the task extremely cumbersome. ing.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は上記の点に鑑み、エンドポイント法及びレイ
ト法の分析素子の混合処理を簡易な構成により可能にし
た化学分析装置を提供することを目的としている。また
、他の目的は一度に測定処理できる分析素子の数を増す
ことであり、更に他の目的はレイト法に従う第２回目以
上の測光も時間的ロスがなく行えるようにしたことであ
り、更に他の目的はエンドポイント及びレイト法の分析
素子が全くランダムに配列させた状態で、しかもモード
切替操作なしでもその高効率な処理が可能な化学分析装
置を提供することをにある。In view of the above-mentioned points, it is an object of the present invention to provide a chemical analysis apparatus that allows mixing processing of analytical elements for the end point method and the late method with a simple configuration. Another purpose is to increase the number of analytical elements that can be measured at one time, and another purpose is to make it possible to perform second and subsequent photometry measurements according to the late method without any time loss. Another object of the present invention is to provide a chemical analysis device that can perform highly efficient processing even when the endpoint and late method analysis elements are arranged completely randomly and without a mode switching operation.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

上記の目的を達成するため、この発明はサンプル滴下か
ら一定時間経過後にエンドポイント法に従って測光処理
されるエンドポイント測定用分析素子とレイト法に従っ
て異なる時間に少なくとも二回に亘って測光処理される
レイト測定用分析素子とを任意の順序で配列できる保持
手段と、それぞれの分析素子が前記いずれの法に従うも
のかの記憶手段と、前記各分析素子に対してサンプル滴
下部でサンプル滴下してから測光処理までに必要な時間
を管理する時間管理手段と、該時間管理手段で設定され
た時間に達したときに前記保持手段及び／又は測光手段
を移動して対象となる分析素子と前記測光手段を対向さ
せる付勢手段とを備えるように構成したものである。In order to achieve the above object, the present invention provides an analytical element for endpoint measurement that performs photometric processing according to the endpoint method after a certain period of time has elapsed from sample dropping, and a late analytical element that performs photometric processing at least twice at different times according to the rate method. a holding means for arranging analytical elements for measurement in any order; a storing means for storing which method each analytical element complies with; and a photometric method after dropping a sample onto each analytical element at a sample dropping part. a time management means for managing the time required for processing; and a time management means for moving the holding means and/or the photometry means to separate the target analytical element and the photometry means when the time set by the time management means is reached. It is configured to include opposing biasing means.

〔実施例〕〔Example〕

次に、この発明を添付図面に示す実施例に基づいて説明
する。Next, the present invention will be described based on embodiments shown in the accompanying drawings.

第１図は装置の外観図、第２図は分析素子の分解斜視図
、第３図は保持手段であるディスクを示す図、第４図は
第３図の■−ＩＶ線に沿った断面図である。Fig. 1 is an external view of the device, Fig. 2 is an exploded perspective view of the analytical element, Fig. 3 is a view showing the disk that is the holding means, and Fig. 4 is a sectional view taken along line ■-IV in Fig. 3. It is.

図において、１は装置本体で、該装置本体１には第２図
に示すような分析素子２が適用される。該分析素子２は
中央部の凹所に測光用の透孔２１ａを有するマウントベ
ース２１の凹所に試薬を有するフィルム２３を装填し、
その上から中央部にサンプル滴下用の透孔２２ａを有す
るマウントカバー２２を重ね、ベース及びカバーを超音
波溶接等の接着手段により接着し、がっ、マウントカバ
ー２２の表面に分析項目等を判別するためのコード２４
を例えば５ビツトで表示してなる。この分析素子２はマ
ウントカバー２２側を上にして装置本体１の前面に設け
た素子挿入口１１から内部に挿入することにより。In the figure, 1 is an apparatus main body, and an analytical element 2 as shown in FIG. 2 is applied to the apparatus main body 1. The analytical element 2 has a mount base 21 having a through hole 21a for photometry in a central recess, and a film 23 containing a reagent is loaded into the recess of the mount base 21.
A mount cover 22 having a through hole 22a for dropping a sample is placed on top of the mount cover 22 in the center, and the base and cover are adhered by adhesive means such as ultrasonic welding. Code 24 to do
For example, it is displayed in 5 bits. This analytical element 2 is inserted into the inside of the apparatus main body 1 through the element insertion opening 11 provided on the front surface of the apparatus main body 1 with the mount cover 22 side facing upward.

第３図に示すように本体１内に設置した素子挿入ローラ
４１を介してインキュベーション手段３の中に搬入され
る。この素子挿入ローラ４１は上下に対向し、その一方
がモータ４２に連繋している。このモータ４２は分析素
子２を挿入することが可能なときにのみ回転し、処理能
力以上の分析素子が挿入されることを禁止できるように
制御されるようになっている。As shown in FIG. 3, the device is carried into the incubation means 3 via the device insertion roller 41 installed in the main body 1. The element insertion rollers 41 are vertically opposed to each other, and one of them is connected to a motor 42. This motor 42 rotates only when it is possible to insert the analytical elements 2, and is controlled so as to prohibit insertion of more analytical elements than the processing capacity.

前記インキュベーション手段３は第４図に示す如く保熱
液体３０を収容し、該保熱液体３０により一定温度に保
持される恒温盤３１と、該恒温盤°３１上に設置した軸
３２に軸支され２分析素子２を周方向に搬送させる機能
を有するディスク（保持手段）３３とにより構成されて
いる。この分析素子２の保持手段であるディスク３３の
上方には一定の空隙を介して保温用のカバー３４が設け
られている。As shown in FIG. 4, the incubation means 3 contains a heat retaining liquid 30 and is supported by a constant temperature plate 31 which is maintained at a constant temperature by the heat retaining liquid 30, and a shaft 32 installed on the constant temperature plate 31. 2 and a disk (holding means) 33 having a function of transporting the analytical element 2 in the circumferential direction. A heat-retaining cover 34 is provided above the disk 33, which is a holding means for the analytical element 2, with a certain gap in between.

前記ディスク３３はその周縁部に素子受入部３３１を有
する。該素子受入部３３１は第３図に示す如く等角度に
形成されているとともに。The disk 33 has an element receiving portion 331 at its periphery. The element receiving portion 331 is formed at equal angles as shown in FIG.

外周部を開放し、上面に設けた開孔３３１ａには密閉手
段としての気密用蓋３３２が嵌着されている。この気密
用Ｍ３３２は挿入された分析素子を上面から弾性的に押
える機能を備えている。また、ディスク３３の周縁部に
は素子受入部３３１の設置領域間に放射状の溝３３３が
形成されている。この放射状の溝３３３にはディスク３
３の外周縁上に回転中心を持つ回転円盤３３４の下面の
偏心位置に植設した一つのピン３３６が該回転円盤３３
４の矢印方向の回転により保合・離脱するようになって
いる。即ち。An airtight lid 332 serving as a sealing means is fitted into an opening 331a provided on the upper surface with the outer periphery open. This airtight M332 has a function of elastically pressing the inserted analysis element from the top surface. Furthermore, radial grooves 333 are formed in the peripheral edge of the disk 33 between the installation areas of the element receiving portions 331. This radial groove 333 has a disk 3
One pin 336 implanted at an eccentric position on the lower surface of a rotating disk 334 having a center of rotation on the outer peripheral edge of the rotating disk 33
It is designed to engage and disengage by rotating in the direction of the arrow 4. That is.

ディスク３３は回転円盤３３４のピン３３６が放射状の
溝３３３に係合してから離脱する半回転で一ピッチ矢印
方向に送られ、ピン３３６が離脱してから次の散状の溝
３３３に係合するまでの間は静止する間欠回転を受ける
ようになっている。この回転円盤３３４はその外周に形
成した斜歯ギア３３５を介して駆動モータ３５に連繋し
た斜歯ギア３４１に噛合し、該駆動モータ３５が図示し
ない制御部からの信号により駆動することにより回転を
受け、その回転を前述の如くディスク３３に伝達する。The disk 33 is sent in the direction of the arrow by one pitch in half a rotation in which the pin 336 of the rotating disk 334 engages with the radial groove 333 and then disengages, and after the pin 336 disengages, it engages with the next scattered groove 333. Until then, it remains stationary and undergoes intermittent rotation. This rotating disk 334 meshes with a helical gear 341 connected to a drive motor 35 via a helical gear 335 formed on its outer periphery, and the drive motor 35 rotates by being driven by a signal from a control section (not shown). The rotation is transmitted to the disk 33 as described above.

なお、３３７はディスク３３の停止位置を安定させるた
めのクリックストップ機構である。Note that 337 is a click stop mechanism for stabilizing the stopping position of the disk 33.

前記素子受入部３３１は本実施例では第５図示の如く■
〜［相］の符号で示すように２０個設けられている。そ
して各素子受入部３３１のうち。In this embodiment, the element receiving portion 331 is arranged as shown in the fifth figure.
There are 20 units, as shown by the symbols ˜[phase]. And of each element receiving section 331.

［相］はキャリブレーションのために空けられ９分析素
子２は■番地〜［相］番地に都合１９個挿入することと
なる。この■〜［相］番地はディスク３３の上面に表示
した番地コード（図示せず）と。[Phase] is left open for calibration, and a total of 19 nine analytical elements 2 are inserted at addresses ① to [Phase]. These ① to [phase] addresses are the address codes (not shown) displayed on the top surface of the disk 33.

その読み取り装置及び記憶装置とにより記憶されるよう
になっている。そして、装置本体１の適所に設けたパワ
ースイッチ１７のＯＮによりディスク３３が後記する残
留分析素子の排出処理を行うために空回転した後、■番
地の素子受入部３３１を装置本体１の前面に設けた素子
挿入口１１に対応した位置に移動する。この■番地の素
子受入部３３１に最初の分析素子２を挿入し、その挿入
を本体側に設けたセンサー（図示せず）が検出すると、
挿入終了信号を制御部に出力する。この出力信号を受領
した制御部は前記駆動モータ３５を作動して前述した如
くディスク３３を−ピッチ送り、■番地の素子受入部３
３１を素子挿入口１１に対応させ２次の分析素子２の挿
入を可能にする。その際、先に■番地に挿入された分析
素子２は−ピッチ送られた位置Ｓにおいてコード読取り
装置（例えば。The information is stored by the reading device and the storage device. Then, by turning on the power switch 17 provided at a suitable position in the main body 1 of the apparatus, the disk 33 rotates idly in order to discharge residual analytical elements as described later, and then the element receiving part 331 at the address ■ is placed in the front of the main body 1 of the apparatus. It moves to a position corresponding to the provided element insertion opening 11. When the first analytical element 2 is inserted into the element receiving part 331 at address ■, and a sensor (not shown) provided on the main body side detects the insertion,
Outputs an insertion end signal to the control unit. Upon receiving this output signal, the control section operates the drive motor 35 to feed the disk 33 by -pitch as described above, and sends the disk 33 to the element receiving section 3 at the address ■.
31 corresponds to the element insertion opening 11 to enable insertion of the secondary analysis element 2. At this time, the analysis element 2 previously inserted at the address ■ is sent to the code reading device (for example) at the position S where it has been moved by -pitch.

赤外線ホトセンサーを用いて５ビツトで読取るようにし
ている）と対向して一時停止し、該コード読取り装置に
より前記分析項目等の情報がコード２４から読取られ２
図示しない記憶手段に記憶されるようになっている。斯
様な動作が所定数の分析素子に対して順次繰り返される
。The code reading device reads the information such as the analysis items from the code 24.
The information is stored in a storage means (not shown). Such operations are sequentially repeated for a predetermined number of analysis elements.

前記素子受入部３３１に挿入される分析素子２の挿入可
能な間隔は第６図の符号１０１にて示した第１タイマー
により設定される。この第１タイマー１０１の設定時間
はオペレータが挿入口１１に分析素子を挿入するのに必
要な充分な時間を見込んで２例えば１分のように設定で
きる。この設定された時間内に次の分析素子が挿入され
れば上述の如き動作が繰り返されることとなるが、設定
時間内に素子が挿入されないときはタイマー１０１のタ
イムアツプに基づく挿入終了信号が制御部に送られ、制
御部では以後の挿入は無いとして素子挿入ローラ４１の
作動を中止させる。これは分析項目に必要な数の分析素
子の挿入が完了したことを何らかの形で制御系に伝達し
なければ次の処理ステップに移行できないので、それを
自動的に行うことを意味する。前記挿入終了信号が検知
された後１次段の処理動作に移行する。換言すれば、こ
のようにして素子受入部３３１の１９個所のうち必要な
数の分析素子２が挿入され、前記第１タイマーがタイム
アンプすると、制御部はディスク３３を駆動し２分析素
子２が挿入されないで空けである［相］番地を測光部６
へ搬送し、該測光部６でキャリブレーションを行った後
、■番地の素子受入部３３１に挿入された分析素子２か
ら順にサンプル滴下部１２に搬送する。The interval at which the analysis element 2 can be inserted into the element receiving section 331 is set by a first timer indicated by reference numeral 101 in FIG. The setting time of the first timer 101 can be set to 2 minutes, for example, 1 minute, taking into account the sufficient time required for the operator to insert the analysis element into the insertion port 11. If the next analytical element is inserted within this set time, the above operation will be repeated. However, if no element is inserted within the set time, an insertion end signal based on the time-up of the timer 101 will be sent to the control unit. The control section determines that there will be no further insertion and stops the operation of the element insertion roller 41. This means that the process cannot proceed to the next processing step unless the control system is informed in some way that the required number of analysis elements have been inserted into the analysis item, so this is done automatically. After the insertion end signal is detected, the process moves to the first stage processing operation. In other words, when the necessary number of analytical elements 2 are inserted into the 19 locations of the element receiving section 331 and the first timer times the time, the control section drives the disk 33 so that the two analytical elements 2 The [phase] address that is not inserted and is empty is detected by the photometry section 6.
After carrying out calibration in the photometry section 6, the analytical elements 2 inserted into the element receiving section 331 at address (2) are sequentially transported to the sample dropping section 12.

なお、前記第１タイマー１０１のタイムアツプにより次
段の処理動作を促す代わりに、挿入完了用の専用釦を設
けておき、該釦操作で行うようにすることもできる。Incidentally, instead of prompting the next processing operation by the time-up of the first timer 101, a dedicated button for completing the insertion may be provided and the operation of the button may be performed.

前記サンプル滴下部１２にはディスク３３より外側に滴
下孔１２ａが配置され、この滴下孔１２ａに対して分析
素子２の透孔２２ａを位置付けるために素子往復動手段
５が構成されている。該素子往復動手段５は第３図及び
第４図に示す如く奥端と前部に係止ビン５１ａ、５１ｂ
を有する移動板５１と、該移動板５１に一端を連結した
レバー５２と、該レバー５２の他端にプランジャー５３
′を連結したソレノイド５３とからなる。前記レバー５
２は軸５４を支点に回動可能となっており、ソレノイド
５３が通電により第３図に示す如くプランジャー５３′
をバネ５５に抗して吸引すると、移動板５１が矢印ａ方
向に移動し、該移動板５１上に設けた係止ピン５１ａ、
５１ｂ間に位置する分析素子２を引き、その透孔２２ａ
を滴下孔１２ａの真下に持ってくる。このレバー５２の
一端（移動板５１に連結した部分）は平時は滴下孔１２
ａの真下にあり、該滴下孔１２ａを閉塞するシャッタ５
６を形成している。このシャッタ５６は上面を例えば赤
色に着色しておき１滴下孔１２ａを閉じているときは、
それが外部から明確になるようにしておくと便利である
。A dropping hole 12a is arranged outside the disk 33 in the sample dropping portion 12, and an element reciprocating means 5 is configured to position the through hole 22a of the analytical element 2 with respect to the dropping hole 12a. As shown in FIGS. 3 and 4, the element reciprocating means 5 has locking pins 51a and 51b at the rear end and front part.
a lever 52 having one end connected to the moving plate 51, and a plunger 53 at the other end of the lever 52.
' is connected to the solenoid 53. The lever 5
2 is rotatable around a shaft 54, and when the solenoid 53 is energized, it moves the plunger 53' as shown in FIG.
When the movable plate 51 is sucked against the spring 55, the movable plate 51 moves in the direction of the arrow a, and the locking pin 51a provided on the movable plate 51,
Pull the analysis element 2 located between 51b and open the through hole 22a.
and bring it directly below the drip hole 12a. One end of this lever 52 (the part connected to the moving plate 51) is connected to the drip hole 12 during normal times.
a shutter 5 that is located directly below the drip hole 12a and closes the drip hole 12a.
6 is formed. The upper surface of the shutter 56 is colored red, for example, and when the one-dropping hole 12a is closed,
It is convenient to make this clear from the outside.

前記移動板５１は恒温盤３１の上面に形成された溝３１
ａ内を移動可能に配置され、その溝３１ａは分析素子２
の移動に支障がない幅となっている。The movable plate 51 is a groove 31 formed on the upper surface of the constant temperature plate 31.
The groove 31a is disposed so as to be movable within the analytical element 2.
The width is such that it does not hinder movement.

前記素子往復動手段５は最初のサンプル滴下のときは本
体１の操作パネル１３上の滴下開始スイッチ１４を押す
ことによりソレノイド５３の作動で前述の如く分析素子
２を滴下孔１２ａの真下に引くように駆動されるが２次
のサンプル滴下からは自動で引くようになっている。ま
た、サンプル滴下後に滴下終了スイッチ１５を押して前
記ソレノイド５３を非通電状態にすると、前記バネ５５
の作用によりレバー５２は矢印ａ方向と反対方向に復帰
し、サンプル滴下された分析素子２を元の素子受入部３
３１に戻すようになっている。しかして、前記滴下終了
スイッチ１５を押してサンプル滴下された分析素子２が
元の素子受入部３３１に戻され、前記シャッタ５６が閉
じた場合にはこれと同時的に第６図に示す第２タイマー
１０２．第３タイマー１０３、第４タイマー１０４がそ
れぞれ作動するようになっている。また、前記素子往復
動手段５の引き作動（シャフタ５６の開作動）に連動し
て第５タイマー１０５が作動するようになっている。When dropping a sample for the first time, the element reciprocating means 5 operates so that when the dropping start switch 14 on the operation panel 13 of the main body 1 is pressed, the solenoid 53 is actuated to pull the analytical element 2 directly below the dropping hole 12a as described above. However, from the second sample drop onwards, it is automatically pulled down. Further, when the dropping end switch 15 is pressed after dropping the sample to de-energize the solenoid 53, the spring 55
Due to the action of
It is set to return to 31. When the dropping end switch 15 is pressed and the analytical element 2 onto which the sample has been dropped is returned to the original element receiving section 331, and the shutter 56 is closed, the second timer shown in FIG. 6 is simultaneously activated. 102. A third timer 103 and a fourth timer 104 are each activated. Further, a fifth timer 105 is operated in conjunction with the pulling operation of the element reciprocating means 5 (opening operation of the shaft 56).

前記第２タイマー１０２は各分析素子に対する滴下終了
から後記する測光までの時間を管理するもので、各素子
受入部３３１と同数（実施例では１９個）設置されてい
る。この第２タイマーの管理時間は２例えば分析素子が
エンドポイント法に従う性質のものであれば滴下終了か
ら７分に設定され、また、レート法に従うものであれば
、その第１回目の測光を滴下終了から７分、第２回目の
測光を１１分に設定されている。ここでレート法の第１
回目の測光時間をエンドポイント法の測光時間と同じ７
分にしたのは分析素子２のフィルム２３上の展開層に含
浸した試薬或いは試薬層中の試薬の特性により決定され
るが、実験上２サンプル滴下から７分にすると妨害物質
の影響が少な（精度が向上するためである。また、レー
ト法の第１回目の測光時間をエンドポイント法の測光時
間である７分に合わせることにより、混合処理の場合に
ディスクの一方向回転に従って■番地から順に通しで測
光できることとなり好都合となる。The second timer 102 is used to manage the time from the end of dropping onto each analytical element until photometry, which will be described later, and is installed in the same number as each element receiving section 331 (19 in the embodiment). The control time of this second timer is set to 2. For example, if the analytical element follows the end point method, it is set to 7 minutes from the end of dropping, and if it follows the rate method, the first photometry is performed. Seven minutes from the end, the second photometry is set to 11 minutes. Here, the first rate method
The second photometry time is the same as the endpoint method photometry time 7
The minute is determined by the characteristics of the reagent impregnated into the developing layer on the film 23 of the analytical element 2 or the reagent in the reagent layer, but experimentally it has been shown that if the time is set to 7 minutes after dropping two samples, the influence of interfering substances is small ( This is to improve accuracy.Also, by adjusting the first photometry time of the rate method to 7 minutes, which is the photometry time of the endpoint method, in the case of mixing processing, the data will be measured sequentially starting from the address as the disk rotates in one direction. This is convenient because it allows for continuous photometry.

なお、前記分析素子については本出願人による特願昭６
１−７５９９７号に開示された素子を利用することがで
きる。Regarding the analytical element, a patent application filed in 1983 by the applicant
The device disclosed in No. 1-75997 can be used.

前記第３タイマー１０３は■番地の素子受入部３３１に
挿入されている分析素子２にサンプルの滴下終了してか
らその分析素子を測光するまでの猶予時間に拘束される
滴下可能時間を管理するものである１例えば、前述の例
では■番地の素子受入部３３１に挿入されている分析素
子２はサンプル滴下完了から７分で測光が開始されるた
め、その７分の時間を越えてもサンプル滴下ができるよ
うにしておくと、測光とサンプル滴下がダブルこととな
り不都合である。そのため上記時間を越えた場合には測
光作動を優先して素子往復動手段５の作動を中止し２滴
下孔１２ａをシャッタ５６で閉じたままにしておき２時
間切れ以後の分析素子に対するサンプル滴下が出来ない
ようにしている。尤も、この７分は測光するときの時間
であるから■番地の分析素子を測光部６まで搬送する時
間を考慮すれば、実際のタイムアツプの時間は■番地の
分析素子に対するサンプル滴下から測光までの時間より
１５〜３０秒程度前になるように設定されることとなる
。また、第３タイマー１０３のタイムアツプで以後滴下
をできなくするため、その時間切れ３０秒前にはストッ
プウォッチ（図示せず）が作動するようにし、ディスプ
レイ１６に残り時間を３０．２９．２８−・の如く秒読
み表示ができるようになし、オペレータに注意を喚起す
るように構成すると便利である。また、ブザー等との併
用等によりオペレータに注意を喚起するようにすること
も可能である。The third timer 103 is for managing the possible dropping time, which is limited by the grace period from the end of dropping the sample to the analytical element 2 inserted in the element receiving part 331 at address 3 until the photometry of the analytical element. 1 For example, in the above example, the photometry of the analytical element 2 inserted into the element receiving part 331 at address ■ starts 7 minutes after the completion of sample dropping, so the sample cannot be dropped even after the 7 minute period has passed. If it is made possible, photometry and sample dropping will be double, which is inconvenient. Therefore, if the above-mentioned time is exceeded, priority is given to the photometry operation, and the operation of the element reciprocating means 5 is stopped, and the two-dropping hole 12a is kept closed by the shutter 56, so that the sample dripping to the analytical element after the two-hour period is over is prevented. I'm trying not to be able to do it. Of course, these 7 minutes are the time required for photometry, so if we take into consideration the time it takes to transport the analytical element at address ■ to the photometry section 6, the actual time-up time is the time from dropping the sample to the analytical element at address ■ to photometry. It will be set to be about 15 to 30 seconds before the time. Also, in order to prevent further dripping due to the timeout of the third timer 103, a stopwatch (not shown) is activated 30 seconds before the timer expires, and the remaining time is displayed on the display 16. It would be convenient to configure the system so that it can display a countdown as shown in the figure below to alert the operator. Further, it is also possible to call the operator's attention by using a buzzer or the like.

前記の如く第３タイマー１０３のタイムアツプでディス
ク３３の素子受入部３３１に挿入した分析素子の全部に
サンプル滴下が行われない場合には滴下が行われた分析
素子のみを順次測光部６に送って測光することとなる。As mentioned above, if the third timer 103 times up and the sample is not dropped on all of the analytical elements inserted into the element receiving section 331 of the disk 33, only the analytical elements that have been dropped are sequentially sent to the photometry section 6. Photometry will be carried out.

つまり。In other words.

素子が１９枚入れられており、サンプル滴下が■番地か
ら［相］番地まで行ったところで第３タイマー１０３が
タイムアツプしたとすると、これらのみが測光されて■
番地の分析素子が測光終了した後、＠１番地から順にサ
ンプル滴下部へ送り、上記同様の手順を繰り返すように
なっている。なお、上記実施例ではサンプル滴下時には
素子往復動手段５を用いて分析素子２をディスク３３の
外側の滴下孔１２ａまで引出すようにしているが１滴下
孔をディスク３３の素子受入部の直上に設け２分析素子
をディスクの外側に引出さずにサンプル滴下できるよう
に構成することもある。この場合は平時は閉じ、サンプ
ル滴下時にのみ開口する特別なシャッタを設けるとよい
。If 19 elements are installed and the third timer 103 times up when the sample is dropped from the address ■ to the [phase] address, only these elements will be photometered.
After the analytical element at the address completes photometry, the samples are sent to the sample dripping section in order starting from address @1, and the same procedure as described above is repeated. In the above embodiment, when dropping a sample, the element reciprocating means 5 is used to pull out the analytical element 2 to the dropping hole 12a on the outside of the disk 33; however, one dropping hole is provided directly above the element receiving portion of the disk 33. In some cases, the structure is such that a sample can be dropped without pulling out the two analytical elements to the outside of the disk. In this case, it is preferable to provide a special shutter that is closed during normal times and opened only when dropping the sample.

前記第４タイマー１０４は一つの分析素子へのサンプル
滴下終了により閉じたシャッタ５６を自動にて開くまで
の時間（即ち、サンプル滴下した分析素子を素子往復動
手段５の作動により戻してから次の分析素子を滴下孔の
直下に位置させるまでの時間）を管理するためのもので
ある。この管理時間はオペレータの作業速度のバラツキ
を勘案して１０秒程度にすることが好ましいが、引出し
てから戻すまでの１往復を制御するようにしてもよい。The fourth timer 104 is a time period until automatically opening the shutter 56 that was closed upon completion of dropping a sample onto one analytical element (i.e., from when the analytical element on which the sample has been dropped is returned by the operation of the element reciprocating means 5 to the next one). This is for managing the time it takes to position the analytical element directly below the dropping hole. This control time is preferably about 10 seconds in consideration of variations in the working speed of the operator, but it is also possible to control one reciprocation from pulling out to returning.

前記第５タイマーは素子往復動手段５を引いたまま長時
間放置されることによって分析素子の温度が変化しない
ようにするために戻し時間を管理し、そのタイムアツプ
により警報を発させるとともに、自動により戻し作動を
行わせるためのものである。この第５タイマー１０５の
時間は性質上１０秒程度の如く比較的短く設定されるこ
とから、その時間の経過を作業者に知らせるために例え
ば１秒間隔で一定の信号音を鳴すようにすることが好ま
しい。The fifth timer manages the return time in order to prevent the temperature of the analytical element from changing if the element reciprocating means 5 is left pulled for a long time, and issues an alarm when the time is up, and automatically This is for performing a return operation. Since the time of this fifth timer 105 is set relatively short, such as about 10 seconds, a certain signal tone is emitted at intervals of, for example, 1 second to notify the operator of the passage of time. It is preferable.

前記測光部６はサンプル滴下後の分析素子２の試薬との
反応の進行状態又は結果を色の濃度変化を介して光学式
に測定するもので、ハロゲンランプ等よりなる光源６１
．切替え可能なフィルタ６２．光源６１から出射され１
分析素子２のフィルム２３で反射した反射光を検出する
受光素子６３．及び反射光を受光素子６３に集光するた
めのレンズ６４で構成されている。受光素子６３で得ら
れた情報は濃度測定装置（図示せず）に送られ１例えば
エンドポイント法ではここで光学的濃度が検出され、物
質濃度分析項目毎に作られた検量線に照らして測定値が
求められる０本実施例においては本体１のディスプレイ
１６により測定値に対応する数値を表示するとともに、
ロール状記録紙に印字できるように構成されている。こ
の印字されたロール状記録紙は装置本体１の上面に設け
た送出口１ａより送り出される。The photometry unit 6 optically measures the progress or result of the reaction between the analytical element 2 and the reagent after the sample is dropped, through changes in color density, and includes a light source 61 such as a halogen lamp.
．． Switchable filter 62. Emitted from the light source 61 1
A light receiving element 63 that detects the reflected light reflected by the film 23 of the analysis element 2. and a lens 64 for condensing reflected light onto a light receiving element 63. The information obtained by the light receiving element 63 is sent to a concentration measuring device (not shown).1 For example, in the end point method, the optical concentration is detected here and measured against a calibration curve created for each substance concentration analysis item. In this embodiment, a numerical value corresponding to the measured value is displayed on the display 16 of the main body 1, and
It is configured to print on rolled recording paper. This printed roll recording paper is sent out from a delivery port 1a provided on the top surface of the main body 1 of the apparatus.

なお、この測光部６に使用する前記受光素子６３は測光
時いきなり受光すると、その反応が遅れる場合があるた
め、これを補正する趣旨で常時受光素子６３に補助光源
からの光を当て。Note that if the light-receiving element 63 used in the photometry section 6 suddenly receives light during photometry, its response may be delayed, so in order to correct this, the light-receiving element 63 is constantly illuminated with light from an auxiliary light source.

ある程度のバイアスをかけておき、実際に測光が行われ
たときに、直ちに反応できるように構成することが好ま
しい、また、前記光源６１から発する測光光線の光量等
が経時的に変動することによる測定値の誤差を可能な限
りなくすために、その光路の途中から補正回路にリファ
レンス光を取り出せるようにしておくとよい、更に、前
記測光部６に使用する濃測計は常に安定した値を出すと
は限らないことから、実際の測定素子を測光する前ので
きるだけ近い時間内にキャリブレーション（較正）を行
うこ、とが必要となる。このために前記測光部６にキャ
リブレーション機構（図示せず）を設けるとともに。It is preferable to apply a certain amount of bias so as to be able to react immediately when photometry is actually performed.Also, it is preferable to apply a certain amount of bias to the structure so that it can react immediately when photometry is actually performed.Also, it is preferable to apply a certain amount of bias to the structure so that it can react immediately when photometry is actually performed.Also, it is preferable that the measurement is performed because the amount of light of the photometry light emitted from the light source 61 changes over time. In order to eliminate errors in values as much as possible, it is recommended that the reference light be taken out from the middle of the optical path to the correction circuit.Furthermore, the concentration meter used in the photometry section 6 should always produce stable values. Therefore, it is necessary to perform calibration as close to the time as possible before actually measuring the light of the measuring element. For this purpose, a calibration mechanism (not shown) is provided in the photometry section 6.

このために素子受入部の一つを空けるようにしている。For this purpose, one of the element receiving portions is left open.

７は測光部６により測光された後の分析素子２を装置本
体１の前面に設けた排出口１４から装置外には排出する
素子排出部である。該素子排出部７は第３図に示す如く
奥端部に係止ピン７１ａを有する排出板７１と、該排出
板７１に一端を連結したレバー７２と、該レバー７２の
他端にプランジャー７３′を連結したソレノイド７３と
からなる。前記レバー７２は軸７４を支点に回動可能と
なっており、ソレノイド７３が通電によりプランジャー
７３′をバネ７５に抗して吸引（第３図は吸引前の状態
を示している）すると、前記排出板７１が矢印す方向に
移動し、該排出板７１の係止ピン７１ａにより素子受入
部３３１にある分析素子２を排出口１４から外部に排出
させる。また、前記ソレノイド７３が非通電状態になる
と、前記バネ７５の作用によりレバー７２を矢印す方向
と反対方向に復帰させ、排出板７１を空になった同じ素
子受入部３３１に戻す、４３は排出口１４の奥部骨に設
けた保温のためのカーテンである。Reference numeral 7 denotes an element ejecting section for ejecting the analytical element 2, which has been photometered by the photometric section 6, out of the apparatus through an ejection port 14 provided on the front surface of the apparatus main body 1. As shown in FIG. 3, the element ejecting section 7 includes a ejecting plate 71 having a locking pin 71a at the rear end, a lever 72 connected at one end to the ejecting plate 71, and a plunger 73 at the other end of the lever 72. ' is connected to the solenoid 73. The lever 72 is rotatable about a shaft 74, and when the solenoid 73 is energized and sucks the plunger 73' against the spring 75 (FIG. 3 shows the state before suction), The ejection plate 71 moves in the direction indicated by the arrow, and the locking pin 71a of the ejection plate 71 causes the analysis element 2 in the element receiving portion 331 to be ejected to the outside from the ejection port 14. When the solenoid 73 is de-energized, the spring 75 causes the lever 72 to return in the direction opposite to the direction indicated by the arrow, and the ejection plate 71 is returned to the same empty element receiving section 331. This is a curtain for heat retention provided on the inner bone of the exit 14.

なお、前記制御部はＣＰＵ及びその周辺回路からなるマ
イクロコンピュタ−によって構成することができる。Note that the control section can be configured by a microcomputer consisting of a CPU and its peripheral circuits.

次に、上記実施例の作動順を第７図に基づいて説明する
。Next, the operating sequence of the above embodiment will be explained based on FIG. 7.

まず、パワースイッチ１７をオン（ステップ■）する、
これによりディスク３３の素子受入部３３１内に分析素
子が残っていないかが素子挿入口１１に対応して設けた
センサーによりチェックされ、残っている場合には残っ
ている番地の素子受入部３３１を排出部７を設けた位置
に搬送し、排出処理が行われる。全部の素子受入部３３
１がチェックされた後、■番地の素子受入部３３１を素
子挿入口１１に対応する位置まで移動する（ステップ■
）、ここで、オペレータは操作パネル１３のモード選択
釦１９を押してモード選択する（ステップ■）、このモ
ードにはエンドポイント法、レイト法及び混合法の３種
の釦があり、この釦を押さない場合は混合モードとなる
ようになっている。First, turn on the power switch 17 (step ■),
As a result, the sensor provided corresponding to the element insertion slot 11 checks whether there are any analytical elements remaining in the element receiving part 331 of the disk 33, and if any remain, the element receiving part 331 at the remaining address is ejected. It is transported to a position where section 7 is provided, and discharge processing is performed. All element receiving sections 33
1 is checked, move the element receiving section 331 at address ■ to the position corresponding to the element insertion slot 11 (step ■
), here, the operator presses the mode selection button 19 on the operation panel 13 to select the mode (step ■). This mode has three buttons: end point method, late method, and mixed method. If not, it is set to mixed mode.

しかる後、オペレータは必要に応じて操作パネル１３の
数字キー１８を操作して日付や検体磁を入力（ステップ
■）する、この検体隘の入力は検体を採取した人が数人
いた場合に、その区別のために必要であり、同一人の場
合は必ずしも入力しな（でもよい。After that, the operator operates the numeric keys 18 on the operation panel 13 as necessary to input the date and sample magnetic field (step ■).This input of the number of samples is performed when there are several people who have collected samples. It is necessary for the purpose of differentiation, and does not necessarily have to be entered in the case of the same person.

上記作業の終了後２分析素子２を素子挿入口１１より挿
入する（ステップｖ）、最初の分析素子が■番地の素子
受入部３３１に挿入されると、それがセンサーにより検
出され、ディスク３３が−ピッチ送られ、■番地の素子
受入部３３１を本体１の挿入口１１に持っていく、この
挿入間隔は第１タイマー１０１で管理される時間内に行
う必要がある。かくして■番地の素子受入部３３１が本
体ｌの挿入口１１に至ると先に挿入された■番地の分析
素子は挿入口１１０次の停止位置に位置しており、ここ
おいて本体側に設けられたコード読取り装置により分析
項目等の情報がコード２４から読取られ（ステップ■）
１図示しない記憶装置に何番地の素子受入部には何項目
１例えばＧＰＴ　（レイト法）、ＢＵＮ（エンドポイン
ト法）の分析素子が挿入されたかがそれぞれ記憶される
。After the above operation is completed, insert the second analytical element 2 from the element insertion port 11 (step v). When the first analytical element is inserted into the element receiving part 331 at address ■, it is detected by the sensor and the disk 33 is inserted. - pitch is sent, and the element receiving portion 331 at the address ■ is brought to the insertion slot 11 of the main body 1. This insertion interval must be performed within the time controlled by the first timer 101. Thus, when the element receiving portion 331 at the address ■ reaches the insertion port 11 of the main body l, the analytical element at the address ■ inserted earlier is located at the stop position next to the insertion port 110, and at this point, the analysis element installed on the main body side Information such as analysis items is read from the code 24 by the code reading device (step ■).
1. In a storage device (not shown), the number of items 1, such as GPT (late method) and BUN (end point method) analysis elements, are stored in the element receiving section at which address.

上記の挿入操作が繰り返され、測光しようとする分析素
子の全部が挿入された後、オペレータは挿入完了釦を押
す（ステップ■）、これにより、素子挿入ローラ４１が
停止するとともに分析素子２を挿入しないまま空けであ
る［相］番地を測光部６へ搬送し、該測光部６に設けた
キャリブレーション機構を作動してキャリブレーション
を実施する。その後、■番地の素子受入部３３１に挿入
された分析素子２をサンプル滴下部１２に搬送する（ス
テップ■）、この分析素子が滴下部１２に来たことはブ
ザー等で知らされる。又、ディスプレイ１６上に検体魚
１分析項目等が表示される。オペレータはこの表示を確
認してピペ−／　）に必要なサンプルを採ってから操作
パネル１３上の滴下開始スイッチ１４を押す、勿論、こ
れまでの間には分析素子２はインキュベーション手段３
により反応温度まで加温されており、サンプル滴下が可
能となっている。この滴下開始スイッチ１４の押し操作
により素子往復動手段５が作動し２分析素子２の透孔２
２ａを滴下孔１２ａの真下に位置させると同時にレバー
５２の先端のシャッタ５６が滴下孔１２ａを開放する。After the above insertion operation is repeated and all of the analytical elements to be photometered have been inserted, the operator presses the insertion completion button (step ■), which causes the element insertion roller 41 to stop and the analytical element 2 to be inserted. The vacant [phase] address is conveyed to the photometric section 6, and the calibration mechanism provided in the photometric section 6 is activated to perform calibration. Thereafter, the analytical element 2 inserted into the element receiving part 331 at the address ■ is conveyed to the sample dripping part 12 (step ■), and the fact that the analytical element has arrived at the dripping part 12 is notified by a buzzer or the like. Further, the sample fish 1 analysis items, etc. are displayed on the display 16. The operator confirms this display, takes the necessary sample into the pipet/ ), and then presses the drip start switch 14 on the operation panel 13. Of course, up to this point, the analytical element 2 has been transferred to the incubation means 3.
The sample is heated to the reaction temperature, making it possible to drop the sample. By pressing this dropping start switch 14, the element reciprocating means 5 is actuated, and the through hole 2 of the analytical element 2 is
2a is positioned directly below the drip hole 12a, and at the same time, the shutter 56 at the tip of the lever 52 opens the drip hole 12a.

しかる後、ピペットに採ったサンプルを滴下孔１２ａが
ら分析素子２の透孔２２ａ内に滴下する（ステップ■）
、しかして分析素子２が滴下孔１２ａの真下に位置され
てからサンプル滴下までの時間は第５タイマー１０５に
より管理され１滴下孔１２ａからシャッタ５６を開放し
たまま長時間放置されることを防止している。After that, the sample taken with the pipette is dropped into the through hole 22a of the analytical element 2 through the dropping hole 12a (step ■).
Therefore, the time from when the analytical element 2 is positioned directly below the dropping hole 12a to when the sample is dropped is managed by the fifth timer 105 to prevent the shutter 56 from being left open for a long time from the dropping hole 12a. ing.

上述の如くサンプル滴下した後、オペレータが滴下終了
ボタン１５を押すと、素子往復動手段５が元の位置に復
帰して、サンプル滴下された分析素子２をディスク３３
の素子受入部３３１に戻す、これによりディスク３３が
一ピッチ回転し２次の番地の分析素子を滴下部１２に移
動させる。この滴下終了スイッチ１５が押された場合に
おいて滴下終了から測光までの時間を各分析素子毎に管
理する第２タイマー１０２．最初の分析素子の滴下から
その分析素子の測光までの時間（猶予時間）を管理する
第３タイマー１０３、次の滴下までの時間を管理する第
４タイマー１０４が作動する。これらのタイマーの作用
については前述した通りである。After dropping the sample as described above, when the operator presses the dropping end button 15, the element reciprocating means 5 returns to its original position and transfers the analytical element 2 onto which the sample has been dropped to the disk 33.
As a result, the disk 33 rotates by one pitch, and the analytical element at the second address is moved to the dropping part 12. A second timer 102 that manages the time from the end of dropping to photometry for each analytical element when the dropping end switch 15 is pressed. A third timer 103, which manages the time (grace time) from dropping the first analytical element to photometry of that analytical element, and a fourth timer 104, which manages the time until the next dropping, operate. The functions of these timers are as described above.

全ての分析素子に対してサンプル滴下が行われた後、前
記第３タイマーがタイムアツプすると、ディスクの一方
向回転に従って、■番地の分析素子から順次測光部６へ
搬送され、該測光部６において、測光（ステップＸ）が
行われ。When the third timer times up after the sample has been dropped onto all the analytical elements, the disk rotates in one direction and is sequentially transported to the photometry section 6 starting with the analytical element at address . Photometry (step X) is performed.

その結果がディスプレイ１６に１バツチ（ディスク上の
素子嵌合溝に挿入された分析素子）の連続番号１項目及
び測定値等が表示されるとともに、同結果がロール状記
録祇に印字され、送出口１ａから送り出されることとな
る。The results are displayed on the display 16, including the serial number of one batch (analytical elements inserted into the element fitting groove on the disk) and the measured value, etc., and the same results are printed on a roll-shaped recorder and sent. It will be sent out from the exit 1a.

かくして、セットした全部の分析素子（サンプル滴下し
た分析素子の全部）についての測光が終了すると、それ
らの分析素子は素子排出部７が設けられた位置まで搬送
され、ここにおいて排出口１４より順次外部に排出され
る（ステップＸＩ）　、排出が終了した後は■番地が挿
入口１１に移動（ステップ■）されて−回の分析作業を
終了する。なお、メインスイッチをＯＦＦにすることな
く、二回目の分析作業を行う場合は前記ステップ■から
の作業となる。また、測光タイミングとの関係で、サン
プル滴下が出来ずに残った分析素子については測光終了
後ステップ■に戻り、同様の作動が繰り返される。In this way, when photometry is completed for all analytical elements that have been set (all of the analytical elements that have dropped the sample), those analytical elements are transported to the position where the element ejection section 7 is provided, and here they are sequentially discharged from the ejection port 14 to the outside. After the ejection is completed, the address (2) is moved to the insertion slot 11 (step (2)), and the − analysis operation is completed. In addition, when performing the second analysis operation without turning off the main switch, the operation starts from step (2) above. Furthermore, for the remaining analytical elements for which the sample could not be dropped due to the relationship with the photometry timing, after the photometry is completed, the process returns to step (2) and the same operation is repeated.

第８図Ａ−Ｄはサンプル滴下タイミングと測光タイミン
グを示すグラフで、縦軸に分析素子の挿入個数、横軸に
処理時間（分）を示している３本図において２口はサン
プル滴下、・は測光を示している。FIGS. 8A to 8D are graphs showing sample dropping timing and photometry timing. In the three figures, the vertical axis shows the number of analytical elements inserted and the horizontal axis shows processing time (minutes), the second port is the sample dropping timing, indicates photometry.

本グラフのうち（Ａ）はエンドポイント法のみを行う場
合の例で、前記滴下間隔及び測光時間を正しく１５秒づ
つ取った場合において、最初の分析素子へのサンプル滴
下終了から当該分析素子を測光するまでの時間ＥＴ＝７
分がサンプル滴下可能時聞く猶予時間）となることから
該時間中には■〜［相］番地に挿入された全部の分析素
子にサンプル滴下が可能（２分１５秒残る）であること
を示している。(A) of this graph is an example when only the end point method is performed, and when the above-mentioned drop interval and photometry time are set correctly at 15 seconds each, photometry is performed on the analytical element from the end of sample dropping to the first analytical element. Time until ET=7
Minutes is the grace period heard when sample dropping is possible), which indicates that sample dropping is possible (2 minutes and 15 seconds remain) to all analytical elements inserted at addresses from ■ to [phase] during this time. ing.

また、　（Ｂ）はレイト法のみを行う場合の例で、前記
（Ａ）と同様に滴下間隔及び測光時間を正しく１５秒づ
つ取った場合において、最初の分析素子へのサンプル滴
下終了から当該分析素子を測光する第１回目までの時間
Ｔ　Ｒ＋　＝　７分であるが、第１回目の測光がら第２
回目の測光までの時間ＴＲ，＝４分であるため、第１回
目と第２回目の測光がダブらないようにするためにはサ
ンプル滴下可能時間（猶予時間）中には■〜■番地まで
の分析素子にしかサンプル滴下ができないことを示して
いる。即ち、［相］番地の第１回目の測光時間と、■番
地の第２回目の測光時間との間隔が１５秒しが残らない
ためである。In addition, (B) is an example in which only the late method is performed, and when the dropping interval and photometry time are correctly set at 15 seconds each as in (A) above, the relevant analysis starts from the end of the sample dropping to the first analytical element. The time until the first photometry of the element T R+ = 7 minutes, but the second
Since the time until the first photometry is TR, = 4 minutes, in order to avoid duplication of the first and second photometry, it is necessary to This shows that the sample can only be dropped onto the analytical element. That is, this is because the interval between the first photometry time for the [phase] address and the second photometry time for the address (■) is less than 15 seconds.

同図（Ｃ）は１５秒間隔で■番地がら■番地にエンドポ
イント法に従う分析素子を挿入し。In the same figure (C), analytical elements according to the end point method are inserted from address ■ to address ■ at 15 second intervals.

■番地から■番地をレイト法に従う分析素子を挿入して
■番地から順にサンプルを滴下し、その後■から順に■
番地まで測光し、更なる所定時間経過後、■番地からレ
イト法の第２回目の測光を行う状態を示している。■ From the address ■ Insert the analytical element according to the rate method from the address ■ Drop the sample in order from the address, then from ■
This shows a state in which photometry is carried out up to the address, and after a further predetermined period of time has elapsed, second photometry is carried out using the late method starting from the address.

同図（Ｄ）はエンドポイント法に従う分析素子とレイト
法に従う分析素子を全くランダムに挿入し、１５秒間隔
で■〜０番地までサンプル滴下し、その後■から順にＯ
まで測光し、更に所定時間が経過した後、■番地に戻っ
てレイト法の第２回目の測光を行い、同様に、■、０〜
■、［相］及び０について第２回目の測光が行われる状
態を示している。In the same figure (D), an analytical element according to the end point method and an analytical element according to the rate method are inserted completely randomly, and samples are dropped from ■ to address 0 at 15 second intervals, and then from ■
After a predetermined period of time has elapsed, return to the address ■ and perform the second metering using the late method.
3 shows a state in which the second photometry is performed for (1), [phase], and 0.

なお、上記実施例は分析素子の保持手段として周縁部に
素子受入部３３１を配設したディスク３３を用い２間欠
送りできるようにした場合を示したが、素子受入部材を
複数個のプッシャー装置を用いて枠内を方形に循環でき
るようにしてもよいし、素子受入部材を二軸間に掛は渡
されたエンドレス部材で長楕円状に係留搬送できるよう
に構成したものでもその他でもよい。In addition, in the above embodiment, a disk 33 having an element receiving portion 331 arranged on the peripheral edge is used as a holding means for the analytical element, and the disc 33 is used to enable two-step feeding. The element receiving member may be configured so that it can be circulated in a rectangular manner within the frame, or the element receiving member may be constructed so that it can be moored and conveyed in an oblong shape by an endless member that is hung between two shafts, or it may be configured in other ways.

また、上記実施例ではディスクが間欠送りされる場合に
ついて説明しているが、これに限られない、また、測光
部６が固定であり、ディスクが移動する場合を示してい
るが、ディスク及び測光部を共に移動するように構成す
ることも可能である。Furthermore, although the above embodiment describes a case in which the disk is fed intermittently, the invention is not limited to this.Also, although the photometering section 6 is fixed and the disk moves, the disk and photometering It is also possible to configure the parts to move together.

さらに、上記実施例では予め必要数の分析素子をディス
クに配列させた後、該ディスク上の各分析素子にサンプ
ルを滴下する形式のものを示しているが、サンプルを滴
下した分析素子をその滴下順にディスクに配列させる形
式のものであってもよい、この場合は冷室に保存されて
いた分析素子を装置外に設けたインキュベーション手段
により反応適温まで予熱し、サンプル滴下してから装置
内の保持手段に配列させる関係で装置に挿入してから測
光までの時間が短くできる利点がある。Furthermore, in the above embodiment, a required number of analytical elements are arranged on a disk in advance, and then a sample is dropped onto each analytical element on the disk. In this case, the analytical elements stored in a cold room are preheated to the appropriate temperature for reaction using an incubation means installed outside the device, and the sample is dropped onto the disk before being held in the device. There is an advantage that the time from insertion into the device to photometry can be shortened by arranging them in the device.

さらにまた、上記実施例ではサンプル滴下をマニュアル
操作で行うようにしているが、自動的に滴下できるよう
にすることも可能であることは勿論である。Furthermore, although in the above embodiment the sample is manually dropped, it is of course possible to perform the sample dropping automatically.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明より明らかな如く、この発明に係る化学分析
装置はサンプル滴下から一定時間経過後にエンドポイン
ト法に従って測光処理されるエンドポイント測定用分析
素子とレイト法に従って異なる時間に少なくとも二回に
亘って測光処理されるレイト測定用分析素子とを任意の
順序で配列できる保持手段と、それぞれの分析素子が前
記いずれの法に従うものかの記憶手段と、前記各分析素
子に対してサンプル滴下部でサンプル滴下してから測光
処理までに必要な時間を管理する時間管理手段と、該時
間管理手段で設定された時間に達したときに前記保持手
段及び／又は測光手段を移動して対象となる分析素子と
前記測光手段を対向させる付勢手段とを備えたことを特
徴としているから、エンドポイント法とレイト法の唄口
を測定したい場合の測光タイミングが上手にとれ、完全
なエンドポイント法及びレイト法に従う分析素子の混合
処理が可能となる。又、マイクロコンピュータにより、
タイムコントロールを行うようにすれば操作性がよく、
更に保持手段の一方向回転で滴下測光等を行えるので処
理効率がよい。As is clear from the above description, the chemical analyzer according to the present invention uses an analytical element for end point measurement which performs photometric processing according to the end point method after a certain period of time has elapsed from sample dropping, and at least twice at different times according to the rate method. a holding means for arranging rate measurement analytical elements to be photometrically processed in any order; a storing means for storing which method each analytical element complies with; A time management means for managing the time required from dropping to photometry processing, and when the time set by the time management means is reached, the holding means and/or the photometry means are moved to target the analytical element. and a biasing means for opposing the photometry means, the photometry timing can be set well when it is desired to measure the opening of the end point method and the late method, and the perfect end point method and the late method can be performed. Mixing processing of analytical elements according to the following becomes possible. Also, with a microcomputer,
If you use time control, it will be easier to operate.
Furthermore, since drop photometry and the like can be performed by rotating the holding means in one direction, processing efficiency is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図はこの発明の一実施例を示し、第１図は分析装置の外
観斜視図、第２図は分析素子の分解斜視図、第３図は分
析素子の保持手段としてのディスクと、その周辺機構を
示す平面図、第４図は第３図のｒＶ−Ｉｔ／線に沿った
断面図、第５図はディスクの平面図、第６図は時間管理
を示すフローチャート第７図は本装置の作動順を示すフ
ローチャート、第８図Ａ−Ｄは滴下タイミングと測光タ
イミングを示すグラフである。 １−・装置本体　　　　　２−分析素子３−・インキュ
ベーション手段 ５一往復動手段　　　　６−測光部 ７−排出部　　　　　　１２−サンプル滴下部１２ａ・
−・滴下孔　　　　３３・−・ディスク３３１−素子受
入部 特　許　出　願　人　小西六写真工業株式会社ｂ− 代　理　人　弁理士　羽　　村　　行　　弘、“、；・
、・、いｌ−」 第４図 第５図 第７図 第８図 ＴThe figures show one embodiment of the present invention, in which Fig. 1 is an external perspective view of an analytical device, Fig. 2 is an exploded perspective view of an analytical element, and Fig. 3 is a disk as a holding means for the analytical element and its peripheral mechanism. 4 is a cross-sectional view taken along the rV-It line in FIG. 3, FIG. 5 is a plan view of the disk, and FIG. 6 is a flowchart showing time management. FIG. 7 is a flowchart showing the operation of this device. A flowchart showing the order, and FIGS. 8A to 8D are graphs showing the dropping timing and photometry timing. 1--Apparatus main body 2-Analyzing element 3--Incubation means 5-Reciprocating means 6-Photometering section 7-Discharging section 12-Sample dripping section 12a.
- Dripping hole 33 - Disc 331 - Element receiving section Patent Applicant: Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. b - Agent: Patent attorney Yukihiro Hamura, “,;・
,・,I-" Figure 4 Figure 5 Figure 7 Figure 8 T

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] （１）サンプル滴下から一定時間経過後にエンドポイン
ト法に従って測光処理されるエンドポイント測定用分析
素子とレイト法に従って異なる時間に少なくとも二回に
亘って測光処理されるレイト測定用分析素子とを任意の
順序で配列できる保持手段と、それぞれの分析素子が前
記いずれの法に従うものかの記憶手段と、前記各分析素
子に対してサンプル滴下部でサンプル滴下してから測光
処理までに必要な時間を管理する時間管理手段と、該時
間管理手段で設定された時間に達したときに前記保持手
段及び／又は測光手段を移動して対象となる分析素子と
前記測光手段を対向させる付勢手段とを備えたことを特
徴とする混合処理可能な化学分析装置。(1) An analytical element for endpoint measurement that is photometrically processed according to the endpoint method after a certain period of time has elapsed from sample dropping, and an analytical element for late measurement that is photometrically processed at least twice at different times according to the late method. A holding means that can be arranged in order, a storage means for storing which of the above-mentioned methods each analytical element complies with, and management of the time required from dropping a sample to each analytical element at the sample dropping part until photometry processing. and a biasing means for moving the holding means and/or the photometric means to face the target analytical element and the photometric means when the time set by the time managing means is reached. A chemical analysis device that can perform mixed processing. （２）前記測光手段が、固定位置にあり、前記保持手段
が、一方向に回転できるディスクである特許請求の範囲
第１項記載の化学分析装置。(2) The chemical analysis apparatus according to claim 1, wherein the photometric means is in a fixed position, and the holding means is a disk that can rotate in one direction. （３）前記保持手段が、測光処理に対応して間欠回転す
る特許請求の範囲第１項記載の化学分析装置。(3) The chemical analysis apparatus according to claim 1, wherein the holding means rotates intermittently in response to photometric processing. （４）前記時間管理手段が、サンプル滴下からエンドポ
イント法に従う測光時間と、レイト法に従う第１回目の
測光時間とが同じか、ほぼ同じに設定されている特許請
求の範囲第１項記載の化学分析装置。(4) The time management means sets the photometry time according to the end point method from sample dropping to the first photometry time according to the late method to be the same or almost the same. Chemical analyzer. （５）前記サンプル滴下部が、最初の分析素子を測光す
るまでの猶予時間又はレイト法に従って測光処理される
第１回目から第２回目までの猶予時間のいずれかの経過
によりサンプル滴下が出来ないように作動する機構を備
えたものである特許請求の範囲第１項記載の化学分析装
置。(5) The sample dropping unit cannot drop the sample due to the elapse of either the grace period until the first analytical element is photometered or the grace time from the first to the second photometry processing according to the rate method. The chemical analysis apparatus according to claim 1, which is equipped with a mechanism that operates as follows.