JPS6343157A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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JPS6343157A
JPS6343157A JP61188316A JP18831686A JPS6343157A JP S6343157 A JPS6343157 A JP S6343157A JP 61188316 A JP61188316 A JP 61188316A JP 18831686 A JP18831686 A JP 18831686A JP S6343157 A JPS6343157 A JP S6343157A
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JP
Japan
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layer
photoconductive
electrophotographic photoreceptor
gas
layers
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Application number
JP61188316A
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English (en)
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Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers
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    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
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    • C23C16/325Silicon carbide
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐
環境性等が優れた電子写真感光体に関する。
(従来の技術) 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO1Se、5e−Te。
As2Se3若しくはアモルファスシリコン等のXi材
料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVCz)若し
くはトリニトロフルオレノン(TNF)等の何機材料が
使用されている。しかしながら、これらの従来の光導電
性材料においては、光導電特性上、又は製造上程々の問
題点があり、感光体システムの特性をある程度犠牲にし
て使用目的に応じてこれらの材料を使い分けている。
例えば、Se、As及びCdSは、人体に対して釘害な
材料であり、その製造に際しては、安全対策上、特別の
配慮が必要である。従って、製造装置曳雑になるため製
造コストが高いと共に、特に、Se、Asは回収する必
要があるため日収コストが付加されるという問題点があ
る。また、Se又は5e−Te系においては、結晶化温
度が65℃と低いため、慢写を繰返している間に結晶化
し、残留電位等により光導電特性上の問題が生じ、この
ため、寿命が短いので実用性が低い。
さらに、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気
の影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いとい
う問題点がある。
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いか持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
一方、アモルファスシリコン(以゛下、a−3i:Hと
略す)は、近時、光導電変換材料として注目されており
、太陽電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの
応用が活発になされている。このa−Si:Hの応用の
一環として、a−Si:Hを電子写真感光体の光導電性
材料として使用する試みがなされており、a−3i:H
を使用した感光体は、無公害の材料であるから回収処理
の必要がないこと、他の材料に比して可視光領域で高い
分光感度を有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐
衝撃性が優れていること等の利点を譬する。
このa−3i:Hは、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合に、感光体特性
として抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかし
ながら、この両特性を単一層の感光体で満足させること
が困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障
壁層を設け、先導f5量上に表面電荷保持層を設けた積
層型の構造にすることにより、このような要求を満足さ
せている。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、a−3i:Hは、通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法により形成されるが、この際に、
a−Si:H膜中に水素が取り込まれ、水素量の差によ
り電気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−
3i:H膜に侵入する水素の二が多くなると、光学的バ
ンドギャップが大きくなり、a−3i:Hの抵抗が高く
なるが、それにともない、長波長光に対する光感度が低
下してしまうので、例えば、半導体レーザを搭載したレ
ーザビームプリンタに使用することが困難である。また
、a−Si:H膜中の水素の含有量が多い場合は、成膜
条件によって(SiH2)rL及びSiH2等の結合構
造を仔するものが膜中で大部分の領域を占める場合があ
る。そうすると、ボイドが増加し、シリコンダングリン
グボンドが増加するため、光導電特性が劣化し、電子写
真感光体として使用不能になる。逆に、a−3i:H中
に侵入する水素の量が低下すると、光学的バンドギャッ
プが小さくなり、その抵抗が小さくなるが、長波長光に
対する光感度が増加する。しかし、通常の成膜条件4で
作成した従来のa−3t;Hにおいては、水素含有量が
少ないと、シリコンダングリングボンドと結合してこれ
を減少させるべき水素が少なくなる。このため、発生す
るキャリアの移動度が低下し、寿命が短くなると共に、
光導電特性が劣化してしまい、電子写真感光体として使
用し難いものとなる。
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGe)14とを混合し、グロー放電
分解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を
生成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH
aとでは、最適基FEt温度が異なるため、生成した膜
は構造欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができ
ない。また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガス
となるので、廃ガス処理も複雑である。従って、このよ
うな技術は実用性がない。
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近、Jl;外
領域までの広い波長領域に亘って感度が高く、基板との
密着性が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供
することを目的とする。
〔発明の構成J (間居点を解決するための手段) この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された画像形成層とを有する
電子写真感光体において、前記画像形成層は光導電層を
存し、この先導m層は、珪素を母体とした非晶質材料で
形成されており、この層の少なくとも一部が、炭素を含
有しその濃度が互いに異なる層が交互に積層する積層体
により構成され、この積層体を構成する各々の層の層厚
が30乃至500人であることを特徴とする。
(作用) この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とをhfQした電
子写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究
を徂ねた結果、光導電層を珪素を母体とした非晶質の材
料で形成し、光導電層の全ての領域又はその一部の領域
を超格子構造にすることにより、この目的を達成するこ
とができることに想到してζこの発明を完成させたもの
である。この場合に、この超格子構造は、その厚みが3
0乃至500人と極めて薄い非晶質層であって、炭素濃
度が互いに異なる層を交互に積層することにより得るこ
とができる。
(実施例) 以下、添付図面を参照してこの発明の実施例について具
体的に説明する。第1図はこの発明の実施例に係る電子
写真感光体の断面図、第2図は同じく他の実施例に係る
電子写真感光体の断面図である。第1図においては、導
電性支持体21上にlJ壁層22が形成され、障壁層2
2の上に光導電FA23が形成されている。光導電層2
3の上には表面層24が形成されている。第2図に示す
感光体は先導電層が電荷発生層と電荷輸送層とを有する
機能分離型のものであって、lII璧層22の上に?I
!l:I輸送層25が形成されており、この電荷輸送層
25の上には電荷発生層26が形成されている。四に、
この電荷発生層26の上には表面層24が形成されてい
る。光導電層23は光の入射により、キャリアを発生し
、このキャリヤは一方の極性のものが感光体表面の帯電
電荷と中和し、他方のものが光導電層23を導電性支持
体21まで走行する。また、機能分離型の感光体(第2
図)においては、光の入射により、電荷発生層26にて
キャリヤが発生し、このキャリヤの一方は電荷輸送層2
5を走行して導電性支持体21まで到達する。
この実施例においては、光導電性層23及び電層;;を
発生層26は、TS3図にその断面図を拡大して示すよ
うに、薄層31及び32を交互に積層して構成されてい
る。薄層31.32は、光学バンドギャップが相違し、
夫々、厚みが30乃至500人の範囲にある。第4図は
横軸に厚み方向をとり、縦軸に光学的バンドギャップを
とって示す超格子構造のエネルギバンド図である。この
実施例においては、薄層31.32を、水素を含有する
アモルファスシリコン(以下、a−5L:Hと略す)に
C゛を含有させたもの(以下、a−5iC:Hと略す)
により構成し、薄層31,32の炭素濃度が互いに相異
なるようにした。第4図に示すように、一方のa−8i
C:Hの光学的バンドギャップが1.8eVで他方のa
−SiC:Hの光学的バンドギャップが1.65eVで
あるから、一方のa−SiC:Hがポテンシャルのバリ
アとなり、他方のa−5iC;Hがポテンシャルの井戸
となる。このため、μc−SiC:Hの薄層とa −5
LC:Hの薄層とを交互に積層することによって周期的
なポテンシャルの井戸を形成することができる。このよ
うに、光学的バンドギャップが相互にことなる薄層を積
層することによって、光学的バンドギャップの大きさ自
体に拘りなく、光学的バンドギャップの小さい層を基準
にして光学的バンドギャップが大きな層がバリアとなる
周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構造が形成
される。この超格子構造においては、光の入射により発
生するキャリアの数が多い。従って、光感度が高い。な
お、超格子構造の薄層のバンドギャップと層厚とを変更
することにより、ヘテロ接合超格子構造を有する層のみ
かけのバンドギャップを自由に:J34iすることがで
きる。
光学的バンドギャップはa−3i:Hに含有するCの量
によって変化し、Cの含有量が多い程光学的バンドギャ
ップが大きく、Cの含有量が少ない程光学的バンドギャ
ップが小さい。従って、C含有量が多い薄層がポテンシ
ャルのバリアとなり、C含有量が少ない薄層がポテンシ
ャルの井戸になる。また、a−St:HにCを含有させ
ることにより、暗抵抗を高くして光導電特性を高めるこ
とができる。Cはシリコンダングリングボンドのターミ
ネータとして作用して、バンド間の禁制帯中に存在する
状態密度を減少させ、これにより、暗抵抗が高くなると
考えられる。
a−Si:Hには、水素Hを0.01乃至30原子%好
ましくは1乃至25原子%含角゛させる。
これにより、シリコンのダングリングボンドが補償され
、暗抵抗と明抵抗が調和のとれたものとなり、光導電特
性が向上する。薄層をグロー放電分解法により成膜する
場合には、原料としてSiH4及びSi2H6等のシラ
ン類ガスを反応室に導入し、高周波によりグロー放電す
ることにより薄層中にHを添加することができる。また
、薄層中にCを添加する場合には、導入ガス中にCH,
等の炭化水素ガスを含有させる。
障壁層22は、導電性支持体21と、光導電層23(又
は電荷発生層26)との間の電荷の流れを抑制すること
により、感光体の表面における電荷の保持機能を高め、
感光体の帯電能を高める。
カールソン方式においては、感光体表面をに正帯電させ
る場合には、支持体21側から光導電層23へ電子が注
入されることを防止するために、障壁層22をp型にす
る。一方、感光体表面を負帯電させる場合には、支持体
21側がら光導電層23へ正孔が注入されることを防止
するために、障壁層22をn型にする。また、障壁層2
2として、絶縁性の膜を支持体の上に形成することも可
能である。障壁層22はa−St:Hを使用して形成し
てもよいし、水素を含有するマイクロクリスタリンシリ
コン(以下、a−St:Hと略す)を使用して形成する
ことも可能である。この場合に、これらμc−Si:H
又はa−Si:Hに、炭素C1窒素N及び酸素Oから選
択された少なくとも一種の元素を含有させることにより
高抵抗の絶縁性の障壁層22を形成することができる。
障壁層22の厚みは100人乃至10μmが好ましい。
μc−Si:Hは、支持体の温度をa−3i:Hを形成
する場合よりも高く設定し、高周波電力もa−5i:H
の場合よりも高く設定すると、形成されやすくなる。ま
た、支持体温度及び高周波電力を高くすることにより、
シランガス等の原料ガスの流瓜を増大させることができ
、その結果成膜速度を速くすることができる。また、原
料ガスのSiH4及びSi2H6等の高次のシランガス
を水素で希釈したガスを使用することにより、μc−3
i:Hを一層高効率で形成することができる。
、4 ところで、μc−8rは、以下のような物性上の特徴に
より、a−3i:H及びポリクリスタリンシリコン(多
結晶シリコン)がら明確に区別される。即ち、X回折装
置においては、a−Si;Hは無定形であるため、ハロ
ーのみが現れ、回折パターンを認めることができないが
、μc−Stは、2θが27乃至28.5’付近にある
結晶回折パターンを示す。また、ポリクリスタリンシリ
粒径が約数十オングストローム以上である微結晶と非晶
質の混合相により形成されている。
μc−3i:H及びa−3i:Hをp型にするためには
、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1
アルミニウムAI、ガリウムGa。
インジウムIn、及びタリウムT1等をドーピングする
ことが好ましく、μc−St:H層をn型にするために
は、周期律表の第V族に属する元素、例えば、窒素N1
リンP1ヒ素As、アンチモンSb1及びビスマスBi
等をドーピングすることが好ましい。このn型不純物又
はn型不純物を光導電層23又は障壁層22にドーピン
グすることにより、支持体21側から光導電層23へ電
荷が移動することが防止される。
h、S iF4ガス等のハロゲンか珪素ガスを原料ガス
として使用することができる。また、シラン類ガスとハ
ロゲン化珪素ガスとの混合ガスで反応させても、同様に
μc−8t:H及びa−Si:Hを成膜することができ
る。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッ
タリング等の物理的な抱負によってもこれらの薄層を形
成することができる。必要に応じて、シラン類のキャリ
アガスとして水素又はヘリウムガスを使用することがで
きる。
光導電層23又は電荷発生層26の上に表面層24が設
けられている。光導電層23又は電荷発生層26のa−
5iC:H等は、その屈折率が3乃至3.4と比較的大
きいため、表面での光反射が起きやすい。このような光
反射が生じると、光導電層23又は電荷発生層26に吸
収される光量の割合が低下し、光損失が大きくなる。こ
のため、表面層24を設けて反射を防止することが好ま
しい。また、表面層24を設けることにより、光導電層
23又は電荷発生層26が損傷から保護される。さらに
、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、表面
に電荷がよくのるようになる。
表面層を形成する材料としては、a−SiN:H。
a−3iO:H,及びa−SiC:H等の無機化合物並
びにポリ塩化ビニル及びホリアミド等の有機材料がある
このように構成される電子感光体の表面を、コロナ放電
により約500vの正電圧で帯電させると、例えば、第
2図に示す機能分離型の電子写真感光体の場合には、第
6図に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。
この感光体に光(hν)が入射すると、電荷発生層26
の超格子構造で電子と正孔のキャリアが発生する。この
伝導体の電子は、感光体中の電界により、表面層24側
に向けて加速され、正孔は導電性支持体21側に向けて
加速される。この場合に、光学的バンドギャップが相違
する薄層の境界で発生するキャリアの数は、バルクで発
生するキャリアの数よりも極めて多い。このため、この
超格子構造においては、光感度が高い。また、ポテンシ
ャルの井戸層においては、量子効果のために、超格子で
ない1ll一層の場合に比較して、キャリアの寿命が5
乃至10倍と長い。更に、超格子構造においては、バン
ドギャップの不連続性におり、周期的なバリア層が形成
されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層
を通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクにお
ける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れてい
る。以上のように、光学的バンドギャップが相違する薄
層を積層した超格子構造によれば、高光導電性を得るこ
とができ、従来の感光体よりも鮮明な画像を得ることが
できる。また、この超格子構造により各層間の歪みが少
なくなるので層のはがれが発生しにくくなり、基板との
密着性が良好になる。
第5図は、この発明の実施例に係る電子写真感光体をグ
ロー放電法により製造する装置を示す図である。ガスボ
ンベ1.2,3.4には、例えば、夫々S tH4、B
2 H6、H2、He、CH4。
N2等の原料ガスが収容されている。これらのガスボン
ベ1.2,3.4内のガスは、流m 2J整用のバルブ
6及び配管7を介して混合器8に供給されるようになっ
ている。各ボンベには、圧力計5が設置されており、こ
の圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整することによ
り、混合器8に供給する各原料ガスの流は及び混合比を
調節することができる。混合器8にて混合されたガスは
反応容器9に供給される。反応容器9の底部11には、
回転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけられ
ており、この回転1II110の上端に、円板状の支持
台12がその面を回転軸10に垂直にして固定されてい
る。反応容器9内には、円筒状の電極13がその軸中心
を回転軸10の軸中心と一致させて底部11上に設置さ
れている。感光体のドラム基体14が支持台12上にそ
の軸中心を回転軸10の軸中心と一致させて載置されて
おり、このドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱
用のヒータ15が配設されている。電極13とドラム基
体14との間には、高周波電源16が接続されており、
電極13及びドラム基体14間に高周波電流が供給され
るようになっている。回転軸10はモータ18により回
転駆動される。反応容器9内の圧力は、圧力計17によ
り監視され、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して
真空ポンプ等の適宜の排気手段に連結されている。
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容2;9内にドラム基体14を設置した後、
ゲートバルブ1つを開にして反応容器9内を約0.1ト
ル(To r r)の圧力以下に排気する。次いで、ボ
ンベ1,2,3.4から所要の反応ガスを所定の混合比
で混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応
容器9内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が
0.1乃至1トルになるように設定する。次いで、モー
タ18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ
15によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に
、高周波電源16により電極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上にa−St:H又
はμc−St:Hが堆積する。なお、原料ガス中に N
20゜NH3,NO2,N2.CH,、C2H4,02
ガス等を使用することにより、これらの元素をa−Si
:H又はμc−Si:H中に含有させることができる。
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため、
人体に対して安全である。また、この電子写真感光体は
、耐熱性、耐湿性及び耐摩耗性が優れているため、長期
に亘り繰り返し使用しても劣化が少なく、寿命が長いと
いう利点がある。
さらに、GeH4等の長波長増感用ガスが不要であるの
で、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産性
が著しく高い。
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。
試験例1 必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80門、長さ
が350 mrttアルミニウム製ドラム基体を反応容
器内に装着し、反応容器内を、図示しない拡散ポンプに
より、排気し、約104トルの真空度に排気した。その
後、ドラム基体を250°Cに加熱し、10 rpmで
自転させつつ、SiH4ガスを500SCCM、B2H
6ガスをSiH4ガス流量に対する流量比で10−6、
CH,ガスを100 S C’CMという流量で反応容
器内に導入し、反応容器内を1トルに調節した。
そして、電極に13.56MHzの高周波電力を印加し
て、電極とドラム基体との間に、SiH4゜B2H6及
びCH4のプラズマを生起させ、p型のa−SiC:H
からなる障壁層を形成した。
次いで、B2 H6/S iH4比を10−7に設定し
、500Wの高周波電力を投入して20μmのi型a−
SiHからなる電荷輸送層を形成した。
その後、放電を一旦停止し、SiH4ガスを500SC
CM、CH4ガスをIOSCCM。
H2ガスを7503CCMという流量で反応容器内に導
入し、反応圧力を1.2トルに調節した。
そして、500Wの高周波電力を印加して50人のa−
5iC:Hの薄層を形成した。次いで、SiH4ガスを
500SCCMSH2ガスを750SCCMSCH4ガ
スを2,5SCCMという流はに設定し、B2H6/S
iH4比が10−7になるようにB2H6の流量を設定
して500Wの高周波電力を印加することにより、前述
の薄層よりも低炭素濃度のa−3iC:H薄層を50人
の厚みで形成した。このような操作を繰返して、これら
炭素濃度が・異なるa−Si+Hの薄層を夫々250層
づつ交互に積層し、5μmのヘテロ接合超格子構造の電
荷発生層を成形した。
次いで、0.  rμyn、のa−3iC:Hの表面層
を)1ε成した。
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この光は電6:f発生層で
吸収され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験
例においては、多数のキャリアか発生し、キャリア寿命
が高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高
品質の画像が得られた。また、この試験例で製造された
感光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性
及び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐
湿性、及び耐摩耗性等の耐久性が優れていることか実証
された。また、このようにして製造された感光体は、半
導体レーザの発振波長である780乃至790nmの長
波長に対しても高い感度を有する。この感光体を半導体
レーザプリンタに搭載してカールソンプロセスにより画
像を形成したところ、感光体の露光量が25erg/d
である場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることがで
きた。なお、通常光を露光した場合においても、白色光
の場合と同様に、この感光体を繰返し帯電したところ、
転写画像の再現性及び安定性が高く、耐コロナ性、耐湿
性及び耐摩耗性等の耐久性が優れていた。
試験例2 この試験例においては、l!4’l壁層をp型のμC−
5iC:Hとした他は、試験例1と同様の層構成とした
。 この場合に、SiH4ガスを11005CC,H2
ガスを1500SCCM、CX(。
ガスを20SCCM、B2H6ガスをB2H6/SiH
4がlXl0−2となるような流量に設定して反応室に
導入し、反応圧力を1.5トルとして1.2KWの高周
波電力を印加し、0.5μmの薄層を形成した。この層
の結晶化度及び結晶粒径は夫々65%及び70人であっ
た。
このようにして成膜した電子写真感光体を半導体レーザ
プリンタに装着してカールソンプロセスにより画像を形
成したところ、いずれの場合にも鮮明で高解像度の画像
を得ることができた。また、繰返し帯電させたところ、
いずれの場合にも画像の再現性及び安定性が高く、耐コ
ロナ性、耐湿性及び耐摩耗性等の耐久性が優れているこ
とが実証された。
なお、これら試験例においては、電荷輸送層の厚みが5
μmであったが、これに限らず、1又は3μm等に設定
しても感光体として実用可能である。
[発明の効果コ この発明によれば、光導電層を、珪素を母体とした非晶
質の材料で形成し、この層の少なくとも一部に、炭素を
含有しj¥みが夫々30乃至500人であって炭素濃度
が互いに異なる層が交互に積層する積層体 で構成される超格子構造を使用するから、可視光から近
赤外い光の広い波長領域に亘って高感度であり、キャリ
アの走行性が高いと共に、高抵抗で帯電特性が優れた電
子写真感光体を得ることができる。また、光導電層の少
なくとも一部を超格子[を造にすることにより、層間の
歪みを小さくすることができ、基板との密着性を良好に
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図は同じく他の実施例に係る電子写真感光
体を示す断面図、第3図は第1図及び第2図の一部拡大
断面図、第4図は超格子構造のエネルギバンドを示す図
、第5図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体の製
造装置を示す図、第6図は感光体のエネルギギャップを
示す模式図である。 1.2,3,4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8:混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;導電性支持体、
22;障壁層、23;光導電層、24;表面層、25;
電荷輸送層、26:電荷発生層、31,32;薄層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図 厚み方向 第4図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
    れた画像形成層とを有する電子写真感光体において、前
    記画像形成層は光導電層を有し、この光導電層は、珪素
    を母体とした非晶質材料で形成されており、この層の少
    なくとも一部が、炭素を含有しその濃度が互いに異なる
    層が交互に積層する積層体により構成され、この積層体
    を構成する各々の層の層厚が30乃至500Åであるこ
    とを特徴とする電子写真感光体。
  2. (2)前記画像形成層は、前記導電性支持体上に珪素を
    母体とした材料で形成され非晶質層又はその少なくとも
    一部が微結晶化した半導体層により構成された障壁層を
    有することを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    電子写真感光体。
  3. (3)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
    に属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載の電子写真感光体。
  4. (4)前記障壁層は、周期律表の第III族又は第V族に
    属する元素を含有することを特徴とする特許請求の範囲
    第2項に記載の電子写真感光体。
  5. (5)前記障壁層は、炭素、酸素及び窒素のうち少なく
    とも一種の元素を含有することを特徴とする特許請求の
    範囲第2項又は第4項に記載の電子写真感光体。
  6. (6)前記画像形成層は、前記光導電層の上に形成され
    た表面層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載の電子写真感光体。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4885220A (en) * 1988-05-25 1989-12-05 Xerox Corporation Amorphous silicon carbide electroreceptors
CA2066100A1 (en) * 1991-04-17 1992-10-18 Juichi Arai Method of forming a silicon diffusion and/or overlay coating on the surface of a metallic substrate by chemical vapor deposition
KR0130955B1 (ko) * 1992-10-07 1998-04-14 쓰지 하루오 박막 트랜지스터의 제조방법 및 액정표시장치의 제조방법
US6340435B1 (en) * 1998-02-11 2002-01-22 Applied Materials, Inc. Integrated low K dielectrics and etch stops

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4492810A (en) * 1978-03-08 1985-01-08 Sovonics Solar Systems Optimized doped and band gap adjusted photoresponsive amorphous alloys and devices
US4560634A (en) * 1981-05-29 1985-12-24 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member using microcrystalline silicon
JPH067270B2 (ja) * 1983-12-16 1994-01-26 株式会社日立製作所 電子写真用感光体
DE3546544C2 (ja) * 1984-02-28 1990-02-15 Sharp K.K., Osaka, Jp
DE3511315A1 (de) * 1984-03-28 1985-10-24 Konishiroku Photo Industry Co., Ltd., Tokio/Tokyo Elektrostatographisches, insbesondere elektrophotographisches aufzeichnungsmaterial
JPS6126055A (ja) * 1984-07-16 1986-02-05 Minolta Camera Co Ltd 電子写真感光体
US4701395A (en) * 1985-05-20 1987-10-20 Exxon Research And Engineering Company Amorphous photoreceptor with high sensitivity to long wavelengths
US4642413A (en) * 1985-10-11 1987-02-10 Energy Conversion Devices, Inc. Power generating optical filter
JPH0772803B2 (ja) * 1986-01-10 1995-08-02 株式会社東芝 電子写真感光体
US4720444A (en) * 1986-07-31 1988-01-19 Xerox Corporation Layered amorphous silicon alloy photoconductive electrostatographic imaging members with p, n multijunctions

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