JPS6338139A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
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- JPS6338139A JPS6338139A JP18364686A JP18364686A JPS6338139A JP S6338139 A JPS6338139 A JP S6338139A JP 18364686 A JP18364686 A JP 18364686A JP 18364686 A JP18364686 A JP 18364686A JP S6338139 A JPS6338139 A JP S6338139A
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- light
- light source
- lamp
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は原子吸光分析装置におけるバックグラウンド補
正手段に関するものである。
正手段に関するものである。
口、従来のｔＸ術
原子吸光分析におけるバックグラウンド補正は原理的に
は測定しようとする元素の輝線波長に近接したｔＩｌ長
の光について吸光度を測定してバックグラウンド強度を
求めるものであるから、測定しようとする元素の輝線ス
ペクトルよりも広がりを持った光を出す光源が必要であ
り、通常はこのような光源として重水素ランプ（Ｄ２ラ
ンプ）を用いる。また測定しようとする元素の輝線光を
発光するホローカソードランプでも大電流で点灯すると
＃線幅が広がるので、単一ホローカソードランプで点灯
電流を変えてバックグラウンド補正を行う方法も提案さ
れている。
は測定しようとする元素の輝線波長に近接したｔＩｌ長
の光について吸光度を測定してバックグラウンド強度を
求めるものであるから、測定しようとする元素の輝線ス
ペクトルよりも広がりを持った光を出す光源が必要であ
り、通常はこのような光源として重水素ランプ（Ｄ２ラ
ンプ）を用いる。また測定しようとする元素の輝線光を
発光するホローカソードランプでも大電流で点灯すると
＃線幅が広がるので、単一ホローカソードランプで点灯
電流を変えてバックグラウンド補正を行う方法も提案さ
れている。
ハ１発明が解決しようとする問題点
バックグラウンド補正が正確に行われるためには、バッ
クグラウンド測定を行うための光が正確に原子吸光測定
時の光路と同じ光路を通って、光検出器の受光面の同じ
場所に入射するようになっていることが必要である。こ
のような条件はバックグラウンド測定時七原子吸光測定
時の光源が同じであれば成立するが、バックグラウンド
測定にＤ２ランプを用いる方法では原子吸光測定時とは
異る光源を用いるので、上述した条件を敢然に満足させ
ることはきわめて困難である。また一つのホローカソー
ドランプの点灯電流を変える方法は装置 ４１成として
は単一光源になっているが、点灯電流を大幅に変えると
、発光領域の位置、特に最大輝度の位置や発光領域の形
が変化するので実質的には三光源を用いているのと同じ
で、やはり上述した条件を成立させるのは困難である。
クグラウンド測定を行うための光が正確に原子吸光測定
時の光路と同じ光路を通って、光検出器の受光面の同じ
場所に入射するようになっていることが必要である。こ
のような条件はバックグラウンド測定時七原子吸光測定
時の光源が同じであれば成立するが、バックグラウンド
測定にＤ２ランプを用いる方法では原子吸光測定時とは
異る光源を用いるので、上述した条件を敢然に満足させ
ることはきわめて困難である。また一つのホローカソー
ドランプの点灯電流を変える方法は装置 ４１成として
は単一光源になっているが、点灯電流を大幅に変えると
、発光領域の位置、特に最大輝度の位置や発光領域の形
が変化するので実質的には三光源を用いているのと同じ
で、やはり上述した条件を成立させるのは困難である。
二２問題点解決のための手段
原子吸光分析装置の光源から光検出器に到る光路中で光
源そのもの或は光学設計上での光源の結像位置に光検出
器への入射光を制限する手段を設けた。
源そのもの或は光学設計上での光源の結像位置に光検出
器への入射光を制限する手段を設けた。
ホ３作用
Ｄ２ランプでもポローカソードランプでも発光領域即ち
光学上の光源は光軸方向から見ると成る面積を持ってい
る。この光源の前面に紋りマスクを置くと、実質点な光
源はこの紋り開口であり、この紋り開口の像が光検出器
の受光面内に収まる大きさであれば、この紋りは光検出
器への入射光を制限する手段となっている。そしてこの
紋りが光学系の構造−Ｌの定位置に位置されるようにな
っておれば、光源そのものが変っても、光学的には光源
前面の紋りが光源であるから、光源の同一性が得られて
正確なバックグラウンド補正が可能となる。−Ｆ記した
絞りは直接光源の前面に配置しなくても、光源の像が形
成される位置に前面しても同じで、この場合も、光源の
像の位置に置かれた絞りが光学系にとって２次的な光源
となり、この２次的光源に関してバックグラウンド測定
時と元素吸光測定時の同一性が得られればよいのである
。
光学上の光源は光軸方向から見ると成る面積を持ってい
る。この光源の前面に紋りマスクを置くと、実質点な光
源はこの紋り開口であり、この紋り開口の像が光検出器
の受光面内に収まる大きさであれば、この紋りは光検出
器への入射光を制限する手段となっている。そしてこの
紋りが光学系の構造−Ｌの定位置に位置されるようにな
っておれば、光源そのものが変っても、光学的には光源
前面の紋りが光源であるから、光源の同一性が得られて
正確なバックグラウンド補正が可能となる。−Ｆ記した
絞りは直接光源の前面に配置しなくても、光源の像が形
成される位置に前面しても同じで、この場合も、光源の
像の位置に置かれた絞りが光学系にとって２次的な光源
となり、この２次的光源に関してバックグラウンド測定
時と元素吸光測定時の同一性が得られればよいのである
。
へ、実施例
第１図は本発明の一実施例を示す。ＨＣＬは原子吸光測
定用のホローカソードランプ、Ｄはバ・ンクグラウンド
測定用のＤ２ランプで、ｍは光源切換え用ミラーであり
、図は原子吸光測定状態を示している。ｅｌは結像レン
ズで、ＨＣＬ或はＤ２ランプの発光域の像を、マスクＡ
上に形成する。
定用のホローカソードランプ、Ｄはバ・ンクグラウンド
測定用のＤ２ランプで、ｍは光源切換え用ミラーであり
、図は原子吸光測定状態を示している。ｅｌは結像レン
ズで、ＨＣＬ或はＤ２ランプの発光域の像を、マスクＡ
上に形成する。
このマスクＡが以後の光学系の光源として作用する。ｅ
２は第１の集光レンズで絞りＡを透過した光束を集光さ
せ、ｅ３は第２の集光レンズで、第１の集光レンズの集
光点即ち絞りへの像を分光器Ｍの入射スリット上に再結
像する。Ｆは試料原子化用の炎でレンズｅ２による集光
点が炎の中心に位置するように形成されている。Ｐは光
検出器で分光器Ｍからの出射光が入射せしめられる。
２は第１の集光レンズで絞りＡを透過した光束を集光さ
せ、ｅ３は第２の集光レンズで、第１の集光レンズの集
光点即ち絞りへの像を分光器Ｍの入射スリット上に再結
像する。Ｆは試料原子化用の炎でレンズｅ２による集光
点が炎の中心に位置するように形成されている。Ｐは光
検出器で分光器Ｍからの出射光が入射せしめられる。
上述構成でマスクＡの開口面における輝度分布がＨＣＬ
、Ｄ２何れの光源に切換えたときでも均一であれば、図
でＡ、より右方の光学系において、二つの光源の光は全
く同等の光路を通るから正確なバックグラウンド測定が
できる。
、Ｄ２何れの光源に切換えたときでも均一であれば、図
でＡ、より右方の光学系において、二つの光源の光は全
く同等の光路を通るから正確なバックグラウンド測定が
できる。
第２図はランプのガラス球内に光検出器への入射光を制
限する手段を設けた例で、図はホローカソードランプの
陽極Ｔをこの光制限手段に兼用したものを示す。通常ホ
ローカソードランプの陽極はホローカソードにと同軸上
に配置されたリング状の電極であるが、この実施例では
陽極Ｔを中央に小孔を１１透殺した円板とした。光学的
にはこの小孔が光源となる。この実施例ではホローカソ
ードランプの点灯電流を大小切換えて大電流点灯でバッ
クグラ「クンド測定を行い、小電流点灯で原子吸光、制
定を行う。この場合ホローカソードは内径杓５ ｍ ｒ
ｎ長さ１０ｍｍで陽極の小孔の径は１ｍｍ程度である。
限する手段を設けた例で、図はホローカソードランプの
陽極Ｔをこの光制限手段に兼用したものを示す。通常ホ
ローカソードランプの陽極はホローカソードにと同軸上
に配置されたリング状の電極であるが、この実施例では
陽極Ｔを中央に小孔を１１透殺した円板とした。光学的
にはこの小孔が光源となる。この実施例ではホローカソ
ードランプの点灯電流を大小切換えて大電流点灯でバッ
クグラ「クンド測定を行い、小電流点灯で原子吸光、制
定を行う。この場合ホローカソードは内径杓５ ｍ ｒ
ｎ長さ１０ｍｍで陽極の小孔の径は１ｍｍ程度である。
この方式はホローカソードランプ惟独で点灯電流を切換
えてバックグラウンド補正を行う場合に限られず、Ｄ２
ランプでバックグラウンド測定を行う方式で、Ｄ２ラン
プも同様にランプ内に光制限用のマスクを設けて、ホロ
ーカソードランプの陽極の小孔と光、学的に等価な位置
に位置させるようにしてもよいことは云うまでもない。
えてバックグラウンド補正を行う場合に限られず、Ｄ２
ランプでバックグラウンド測定を行う方式で、Ｄ２ラン
プも同様にランプ内に光制限用のマスクを設けて、ホロ
ーカソードランプの陽極の小孔と光、学的に等価な位置
に位置させるようにしてもよいことは云うまでもない。
またホローカソードランプのホローカソードそのものの
内径を小さくして点灯電流の大小切換えにか＼わらず、
発光領域の位置が変らないようにすることも可能で、こ
の場合ホローカソードの穴が光制限手段を兼ねているこ
とになる。なお第１図の実施例ではマスクＡは固定され
ているが、光源の種類、測定目的に応じて、位ｍ ｒ形
を変え得るようにすることも可能である。
内径を小さくして点灯電流の大小切換えにか＼わらず、
発光領域の位置が変らないようにすることも可能で、こ
の場合ホローカソードの穴が光制限手段を兼ねているこ
とになる。なお第１図の実施例ではマスクＡは固定され
ているが、光源の種類、測定目的に応じて、位ｍ ｒ形
を変え得るようにすることも可能である。
ト、効果
本発明原子吸光分析装置は上述したような構成で、バッ
クグラウンド測定時と５皇子吸光測定時とで、光学上の
光源を一致させることができるので、使用する光源ラン
プその他の測定条件の如何にかかわりなく常に正確なバ
ックグラウンド補正が可能となる。
クグラウンド測定時と５皇子吸光測定時とで、光学上の
光源を一致させることができるので、使用する光源ラン
プその他の測定条件の如何にかかわりなく常に正確なバ
ックグラウンド補正が可能となる。
第１図は本発明の一実施例装置の構成を示す側面図、第
２図は他の実施例におけるホローカソードランプの側面
図である。 ＨＣＬ・・・ホローカソードランプ、Ｄ・・・Ｄ２ ラ
ンプ、Ａ・・・光制限マスク、Ｆ・・・試料原子化用炎
、Ｍ・・・分光器Ｐ・・・光検出器、Ｋ・・・ホローカ
ソード、Ｔ・・・ホローカソードランプの陽極、ｈ・・
・小孔。 代理人 弁理士 縣 浩 介 １１１ 図 第２図
２図は他の実施例におけるホローカソードランプの側面
図である。 ＨＣＬ・・・ホローカソードランプ、Ｄ・・・Ｄ２ ラ
ンプ、Ａ・・・光制限マスク、Ｆ・・・試料原子化用炎
、Ｍ・・・分光器Ｐ・・・光検出器、Ｋ・・・ホローカ
ソード、Ｔ・・・ホローカソードランプの陽極、ｈ・・
・小孔。 代理人 弁理士 縣 浩 介 １１１ 図 第２図
Claims (1)
- 光源から光検出器に到る光学系の光路中において、光源
そのもの或は光学設計上の光源の結像位置に光検出器へ
の入射光を制限する手段を配置したことを特徴とする原
子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18364686A JPS6338139A (ja) | 1986-08-04 | 1986-08-04 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18364686A JPS6338139A (ja) | 1986-08-04 | 1986-08-04 | 原子吸光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6338139A true JPS6338139A (ja) | 1988-02-18 |
Family
ID=16139435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18364686A Pending JPS6338139A (ja) | 1986-08-04 | 1986-08-04 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6338139A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5594547A (en) * | 1994-04-15 | 1997-01-14 | Bodenseewerk Perkin-Elmer Gmbh | Multielement atomic absorption spectrometer and measurement method using such an atomic absorption spectrometer |
| JP2009103562A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
-
1986
- 1986-08-04 JP JP18364686A patent/JPS6338139A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5594547A (en) * | 1994-04-15 | 1997-01-14 | Bodenseewerk Perkin-Elmer Gmbh | Multielement atomic absorption spectrometer and measurement method using such an atomic absorption spectrometer |
| JP2009103562A (ja) * | 2007-10-23 | 2009-05-14 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
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