JPS63302436A - 光記録体およびその製造方法 - Google Patents

光記録体およびその製造方法

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JPS63302436A
JPS63302436A JP62094956A JP9495687A JPS63302436A JP S63302436 A JPS63302436 A JP S63302436A JP 62094956 A JP62094956 A JP 62094956A JP 9495687 A JP9495687 A JP 9495687A JP S63302436 A JPS63302436 A JP S63302436A
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JP
Japan
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optical recording
recording medium
photoresist
light
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Application number
JP62094956A
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English (en)
Inventor
Kazuo Umeda
和夫 梅田
Masaaki Asano
雅朗 浅野
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザ光により情報記録ビットを読み取るリ
ード・オンリ・メモリ(ROM>タイプ、レーザ光によ
り書き込みが可能なダイレクト・リード・アフタ・ライ
ト(DRAW)タイプ、或いは消去、書き込みが可能な
タイプの光記録体およびその製造方法に関する。
〔従来の技術〕
従来のROMタイプの光記録体の例を第6図により説明
すると、光カード50上には、高反射部分51に対して
低反射部分52からなる情報記録ビット53が形成され
ている。該光カード50は透明基板54上に写真製版法
(フォト・リソ法)により情報記録ビットとして光反射
材料55を形成し、これを接着剤56により、予め黒色
の印刷層57を形成した基板58に接着することにより
形成されている。
また、特公昭58−48357号公報に示されているR
OMタイプの例を第7図により説明すると、基材上にハ
ロゲン化銀乳剤の膜60を形成し、この膜60に対して
パターン露光および特殊現像により、周囲の部分61と
光反射率の異なる情報記録ビット62を形成している。
一方、従来のDRAWタイプの光記録体を第8図により
説明すると、フォトポリマ71の片面を凹凸状に形成し
、この凹凸面に沿ってTe等の光記録材料72の薄膜を
設け、これを接着剤73により基板74に接着すると共
に、フォトポリマ71の上面には光透過性のアクリル樹
脂75等を積層することにより光記録体が形成されてい
る。そして、第9図に示すように、例えば一本のレーザ
ビーム76により光記録材料72の凹凸部を走査して、
例えば凸部に焦点を合わせて位置を確認した後、光記録
材料72の凸部にビ・ノド情報を書き込んでいる。
また、特公昭5 B−48357号公報に示されている
従来のDRAWタイプの光記録体を第10図により説明
すると、基材上にノ\ロゲン化銀乳剤の膜80を形成し
、この膜80に対してパターン露光および特殊現像によ
り、光反射率の異なる部分81および82を形成し、光
の反射率の相違により部分81の位置を確認して、部分
81上にビット情報を書き込むものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記第6図に示した写真製版法により情
婦記録ビットを形成する光記録体においては、反射材料
のパターニングを強酸等の湿式エツチングにより行うた
め、 ■エツチング液の水洗、乾燥等の工程が繁雑であ■エツ
チング液の洗浄に時間がかかり、また、もし洗浄が不十
分の場合にはカード完成後も経時的に腐食が進行するた
め、カードの寿命を短縮させる。
■エツチング液のPH管理が困難であると共に、エツチ
ング液中の異物による障害が発生する。
等の問題を有している。
また、第7図に示した例においては、特殊現像を行うた
め、工程が繁雑であり管理が難しく黒色部分の濃度が出
しにくいと共に、ハロゲン化銀乳剤等の特定の写真材料
を必要とするため、製造コストが増大するという問題を
有している。
また、第8図に示す凹凸面に沿って光記録材料を形成す
るDRAWタイプの光記録体においては、凸面の形成に
おいて、その高さ、幅等の精度が要求されることから、
その制御方式が困難になるという問題を有し、また、製
造工程が複雑化しコストが増大するという問題を有して
いる。
また、上記第10図に示す例においては、トラックの幅
のみの精度が要求される点においては、上記の第8図に
示すものより製造は容易であるが、特殊なハロゲン化銀
乳剤等の特定の写真材料を必要とするため、製造コスト
が増大するという問題を有している。
本発明は上記問題を解決するものであって、製造工程が
簡単であり、かつ、特定の光記録材料に限定されること
なく製造コストを低減できる光記録体およびその製造方
法を提供することを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
そのために本発明の光記録体は、基材上に周囲に対して
光反射率の異なる情報記録パターンを形成してなる光記
録体において、低反射率部分が有色材料からなることを
特徴とする。
また、本発明の光記録体の製造方法は、基材上に周囲に
対して光反射率の異なる情報記録パターンを形成してな
る光記録体であって、低反射率部分が有色のフォトレジ
ストである光記録体の製造方法において、光透過性の基
材上にフォトレジストを塗布し、マスク露光および現像
により前記情報記録パターンを除く部分にフォトレジス
トを残した後、基材全面に光反射材料層または光記録材
料層を設けることを特徴とする。
〔作用〕
本発明においては、例えば第4図に示すように、光透過
性の基材10から光が入射されると、例えば、高反射率
部分13bにおいては光が強く反射され、低反射率部分
13cにおいては反射率が低下することになる。そして
、ROMタイプの光記録体を製造する場合には、JW1
3として光反射材料を採用することにより、低反射率部
分13cに第1図で示した情報記録ビット4を形成し、
一方、DRAWタイプの光記録体を製造する場合には、
層13として光記録材料を採用することにより、高反射
率部分13bに第2図で示した光記録トラック8を形成
し、低反射率部分13cに案内トラック9を形成するも
のである。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について図面を参照しつつ説明す
る。第1図は本発明の光記録体の1実施例であるROM
タイプの光カードを示し、(a)は平面図、(b)は斜
視図、第2図は本発明の光記録体の他の実施例であるD
RAWタイプの光カードを示す図、第3図は同じく他の
実施例であるROMタイプ、DRAWタイプ併用の光カ
ードを示す図、第4図は本発明の光記録体の製造方法の
1実施例を説明するための図、第5図は本発明の光記録
体の書き込み方式を説明するための図である。図中、1
は光カード、4は情報記録ビット、8は光記録トラック
、9は案内トラック、10は光透過性基材、11はフォ
トレジスト層、12はフォトマスク、13は光反射材料
または光記録材料、13bは高反射率部分、13cは低
反射率部分、15は基板を示す。
第1図は本発明の光記録体の1実施例であるROMタイ
プの光カードを示す図であり、光カード1上には、高反
射率部分2に対して低反射率部分3からなる情報記録ビ
ット4が形成されている。
該光カードlは透明基材5と基板6との間に光反射材料
層7が形成され、該光反射材料N7上には存色の情報記
録ビット4が形成されている。
第2図は、本発明の光記録体の1実施例であるDRAW
タイプの光カードを示す図であり、光カード1上には、
高反射率部分を形成し光により書き込み可能な光記録ト
ラック8と、低反射率部分を形成する案内トラック9が
形成されている。なお、上記実施例においては、光記録
トラック8と案内トラック9が交互に形成されているが
、案内トラック9の本数を減少させることも可能である
第3図は第1図のROMタイプ、第2図のDRAWタイ
プ併用の光カードを示す図であり、光カード1の左右に
情報記録ビット4.4が形成され、中央部に光記録トラ
ック8および案内トラック9が形成されている。なお、
情報記録ビット4および光記録トラック8の位置は任意
に設定可能である。
第4図は上記ROMタイプ或いはDRAWタイプの光記
録体の製造方法の1実施例を示している。
図中、高反射率部分13bと低反射率部分13Cは凹凸
状に図示されているが、これらの凹凸差は数μm程度で
あり、実際上はほぼ平面或いは同一平面として形成され
るものである。
第4図(a)において光透過性の基材1oは、ポリメチ
ルメタクリレート(PMMA) 、ポリカーボネイト、
ポリエステル、エポキシ、ポリオレフィン、ポリスチレ
ン等の所望の精度に加工可能であり、かつ、途中の工程
で腐食しない高分子材料等から形成され、この光透過性
の基材10上に回転式フォトレジスト塗布機によりフォ
トレジスト層11を4000〜15000人の厚さで均
一に塗布する。次にマスク合わせ装置を用いて、情報記
録パターンに応じて形成したフォトマスク12をフォト
レジス)I!illに重ね合わせた後、露光する。次に
(b)図に示すように、フォトレジスト層11を現像す
ると、ポジタイプのレジストでは、紫外線の当たったと
ころのフォトレジストは流れ去り、当たらない部分のレ
ジストが残り、フォトマスク12のパターンが光透過性
の基材10上に転写され、これによりフォトレジスト層
11が、第1図で示した情報記録ピント4或いは第2図
で示した案内トラック9の形状として、例えば、幅5μ
程度、ピッチ15μ程度で形成され、次に(C)図に示
すように、染料としてアミニールブランクFGL (住
友化学)、カヤセットブラック2R−LR−500(日
本化薬)、カヤセットブラウンR−500(日本化薬)
等の酸性染料を用い、酸性染料、酢酸、水の混合比を例
えば3:5:92  (重量%)とした染色液を用いて
、該染色液に対応した液温40度Cでフォトレジストを
染色する。なお、使用する染料としては、上記酸性染料
に限られず適宜色を選択して使用する。
次いで(d)図に示すように、後述する光反射材料また
は光記録材料13の薄膜層を蒸着、スパッタリング或い
は化学的方法等により形成させる。
次に(e)図に示すように、光透過性の基材10にポリ
塩化ビニール等の基板15を接着し、高反射率部分13
bと低反射率部分13cを存する光記録体を製造する。
この光記録体は、光透過性の基材10から光が入射され
ると、例えば、高反射率部分13bにおいては光が強く
反射され、低反射率部分13cにおいては反射率が低下
することになる。そして、ROMタイプの光記録体を製
造する場合には、層13として光反射材料を採用するこ
とにより、低反射率部分13Cに第1図で示した情報記
録ビット4を形成し、一方、DRAWタイプの光記録体
を製造する場合には、層13として光記録材料を採用す
ることにより、高反射率部分13bに第2図で示した光
記録トラック8を形成し、低反射率部分13Gに案内ト
ラック9を形成するものである。 上記ROMタイプに
用いる光反射材料としては、基材と屈折率が異なる材料
であればいずれの材料でも使用可能であり、例えば、A
1、T1、Mn、Fe、Co、Ni5Cu、、Zns 
Se−Mo、Ag5Cd、In、5nSSb、Te、、
PL’。
Au等の金属及びこれらの合金、化合物、その他Ti0
g、TiN等に代表される酸化物、窒化物、有機系色素
薄膜等光反射率の高い材料を使用する。
また、上記DRAWタイプに用いる光記録材料としでは
、例えば、金属系(Ta、B L  I n、A1、C
/A1、Cr/A12Zn/Aff、Si。
Ge、SmS等)、カルボン系(To、Te−As、、
Te−3s、Te−3s−As、Te−C3z 、T 
e −C1T e複合物、As−3e−3−Ge等)、
酸化物系(T a Ox 、G e 011 、M o
 08、VO□等)、有機物系(色素薄膜+樹脂、Ag
+ポリマー、熱可塑性樹脂、Cu −P c / T 
e等)が用いられる。
なお、消去、書き込みが可能なタイプに用いる光記録材
料としては、光照射により膜を構成する原子間の秩序状
態が可逆的に変化し、かつ、両者間の光反射率が異なる
材料として、例えば、T。
−Ass Te−3es Te−3e−As、Te−C
5,、Te−C,As−3e−3−Ge等の材料が用い
られる。
さらに、フォトレジスト11としては、オルソキノンジ
アジド/ノボラック系、アジド/ゴム系、p−ジアゾジ
フェニルアミン・パラホルムアルデヒド縮合系、アジド
ポリマー系、ポリケイ皮酸ビニル系、ポリシンナミリデ
ン酢酸ビニル系等の材料が用いられる。
そして、上記のようにして製造したROMタイプの光記
録体においては、低反射率の情報記録ビットをラインセ
ンサ例えばCODラインセンサ或いはレーザビームによ
り読み取ることになる。なお、ROMタイプの光記録体
においては、案内トラックは必ずしも必要でなく、情報
記録ピント列を案内トラックとして使用できる。
また、上記のようにして製造したDRAWタイプの光記
録体においては、光記録トラック13bと案内トラック
13cとの光反射率を400〜700nmの白色光ラン
プを用いて測定した結果、例えば、光記録トラック13
bは50%程度、案内トラック13cは10%程度の光
反射率となった。光記録体にビット情報を書き込む場合
には、2ビーム或いは3ビームを用いるが、3ビームを
用いる例においては第5図に示すように、両側のビーム
A、Cにより案内トラック13cと光記録トラック13
bの反射率の差を検出することによリ、案内トラック1
3c、13cの位置を確認にして左右にずれないように
して、真中のビーム已により光記録トラック13bにビ
ット情報を書き込むもので、制御方式が1ビームのもの
と比較して簡単となる。なお、案内トラック13cは必
ずしも光記録トラック13bと交互に形成することなく
、案内トラックの本数を間引いてもよい。この場合には
、案内トラック13cの距離を演算して光記録トラック
13bの位置を決め、ビット情報を書き込むものである
(製造例) ■ 厚さ0.4 *m、 サイズ100 X 100 
am(D P M M A基材を使用し、 ■ 基材表面にフォトレジストを以下の条件で塗布した
スピンナーコート: 200Orpm 、 20sec
レジスト:レスペケミカル製 ジアゾレジンD−0115% 新田ゼラチン製 ゼラチンP2151 95% 厚み=1μm ■ 次に、50度C130分間乾燥を行った。
■ 次に、パターン露光を以下の条件で行った。
マスク:Crスパッタマスク パターンn DRAWROM タイプランク巾5μm 情報トラック巾10μm ROMタイプ 情報記録ビット巾 5μm 長さ5〜20μm 超高圧水銀灯:4kw、3分 ■ 露光後、水現像をした後、水洗した。
■ 次に、以下の染色液に5分間浸漬の後、水洗、乾燥
してフォトレジストを染色した。
染色液ニアミニ−ルブラツクFGL   3%酢酸  
          5% 水                92%■ フォト
レジストの染色後、記録層形成を以下の条件で形成した
直流2極スパツタリング装置を用いて厚さ500人の層
を形成。
DRAWタイプ二Teスパッタリング ROMタイプ:Alスパッタリング ■ 基板と基材の接着は、接着剤として東し製ハイソー
ルを用いて、基板の塩ビ0.3*m厚を上記で得られた
基材にラミ・ネートして一体化し、■ カードのサイズ
に打ち抜いて、本発明の光記録体の1例である光カード
を得た。
なお、上記製造例において、DRAW、ROM併用カー
ドを製造する場合には、工程■、■において適宜DRA
WとROMの工程を組み合わせる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
種々の変形が可能であることは勿論である。
例えば、上記実施例においては、フォトレジストに黒色
の染色を形成して低反射率部分13cとしているが、黒
色に限定されるものではなく例えば白色等、高反射率部
分13bの反射率と異なる染色であればよい。
また、上記実施例においては、フォトレジストに染色を
行って低反射率部分13cを形成しているが、予め、染
料含有のフォトレジストを使用して直接バターニングし
てもよい。この染料としては、キノン系染料、シアン系
染料等が挙げられる。
さらに、フォトレジストの露光工程の代わりに、印刷等
のパターニング方式により、低反射率部分13cを形成
してもよい。
そして、本発明の光記録体はフレキシブルディスク、カ
ード、テープ等として利用することができ、例えば以下
の用途に適用される。
(1)金融流通産業:キャッシングカード、クレジット
カード、プリペイドカード。
(2)医療健康産業:健康証書、カルテ、医療カード、
緊急カード。
(3)娯楽産業:ソフトウェア媒体、会員カード、入場
券、遊職機械制御媒体、テレビゲーム用媒体、カラオケ
用媒体。
(4)運輸旅行産業:旅行者カード、免許証、定期券、
パスポート。
(5)出版産業;電子出版。
(6)情帳処理産業:電子機械の外部記録装置、ファイ
リング。
(7)教育産業:教材プログラム、成績管理カード、図
書館の人出管理および書籍管理。
(8) 自動車産業:整備記録、運行管理。
(9)FA : MC,NC,ロボット等のプログラム
記録媒体。
(10)その他:ビルコントロール、ホームコントロー
ル、IDカード、自動販売機用媒体。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、基材上に周囲に対
して光反射率の異なる情報′記録パターンを形成してな
る光記録体において、低反射率部分が有色材料からなる
ため、エツチング等による工程の繁雑化を避けることが
でき、製造工程が簡単化しかつ、特定の光記録材料に限
定されることなく、製造コストを低減させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光記録体の1実施例であるLOMタイ
プの光カードを示す図で(a)は平面図、(b)は斜視
図、第2図は本発明の光記録体の他の実施例であるDR
AWタイプの光カードを示す図、第3図は同じく他の実
施例であるLOMタイプ、DRAWタイプ併用の光カー
ドを示す図、第4図は本発明の光記録体の製造方法の1
実施例を説明するための図、第5図は本発明の光記録体
の書き込み方式を説明するための図、第6図は従来の光
カードの1例を示し、(a)は平面図、(b)は断面図
、第7図は従来の光カードの他例を示す斜視図、第8図
は従来の光カードの他例を示す断面図、第9図は第8図
の書き込み方式を説明するための図、第10図は従来の
光記録体の他例を示す斜視図である。 1・・・光カード、4・・・情報記録ビット、8・・・
光記録トラック、9・・・案内トラック、10・・・光
透過性基材、11・・・フォトレジスト層、12・・・
フォトマスク、13・・・光反射材料または光記録材料
、13b・・・高反射率部分、13c・・・低反射率部
分、15・・・基板。 第1図 (α〕 第2図 第3図 第4図 第6図 (失) 1、’p)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基材上に周囲に対して光反射率の異なる情報記録
    パターンを形成してなる光記録体において、低反射率部
    分が有色材料からなることを特徴とする光記録体。
  2. (2)上記低反射率部分が染色されたフォトレジストで
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光記
    録体。
  3. (3)上記情報記録パターンにはビット情報が形成され
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光記録
    体。
  4. (4)上記情報記録パターンには複数組の光記録トラッ
    クと案内トラックが形成されることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の光記録体。
  5. (5)上記情報記録パターンにはビット情報および複数
    組の光記録トラックと案内トラックが形成されることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光記録体。
  6. (6)基材上に周囲に対して光反射率の異なる情報記録
    パターンを形成してなる光記録体であって、低反射率部
    分が有色のフォトレジストである光記録体の製造方法に
    おいて、光透過性の基材上にフォトレジストを塗布し、
    マスク露光および現像により前記情報記録パターンを除
    く部分にフォトレジストを残した後、基材全面に光反射
    材料層または光記録材料層を設けることを特徴とする光
    記録体の製造方法。
JP62094956A 1987-01-24 1987-04-17 光記録体およびその製造方法 Pending JPS63302436A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08180457A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Nec Corp 光ディスク及びその製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08180457A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Nec Corp 光ディスク及びその製造方法

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