JPS63300941A - 光学測定器におけるゼロ補正装置 - Google Patents
光学測定器におけるゼロ補正装置Info
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- JPS63300941A JPS63300941A JP13685687A JP13685687A JPS63300941A JP S63300941 A JPS63300941 A JP S63300941A JP 13685687 A JP13685687 A JP 13685687A JP 13685687 A JP13685687 A JP 13685687A JP S63300941 A JPS63300941 A JP S63300941A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 47
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- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 38
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、示差屈折計や分光光度５１等各種光学測定器
における１口補正装置に関するものである。
における１口補正装置に関するものである。
即ち、光学測定器における検出機構の多くは、測定開始
前の光のエネルギーレベルと測定時における光のエネル
ギーレベルとの差を電気信号に変換する方式になってい
る。従ってこの場合、当然のことながら測定開始前にお
ける出力がゼ［１を表示するように設定しておく必要が
あり、この出力をゼロに設定するための機構をゼロ補正
機構（装置）と言う。
前の光のエネルギーレベルと測定時における光のエネル
ギーレベルとの差を電気信号に変換する方式になってい
る。従ってこの場合、当然のことながら測定開始前にお
ける出力がゼ［１を表示するように設定しておく必要が
あり、この出力をゼロに設定するための機構をゼロ補正
機構（装置）と言う。
〈従来の技術〉
この種ぜ口補正を自動的に行なう機構には、受光体に入
射する光を光学補ｉＦ、 Ｂ１１構でコントロール１゛
る光学的オートゼロ方式と、測定開始前の誤差電圧に相
当する電圧を外部から与えて相殺する電気的オートゼロ
方式とがある。光学的オートゼロ方式は光のエネルギー
を測定開始前に常に同一とすることが出来るためエネル
ギーレベルの変動に伴なう測定時の試料濃度と出力との
関係を示す検問線の直線性及び直線性の範囲が常に一定
どなる利点を有するが、受光体に入射する光学や光軸を
調整するための光学補正Ｂ！横を制御モータで駆動２き
Ｕなければならない為、ゼロ補正４業に時間が掛り、速
く駆動させるとぜ口補正のＭ麿が低下すると言った不具
合がある。又、電気的オートゼロ方式ではげ０補正時間
は速いが光学的エネルギーレベルのバランス補正を行な
わない為、倹伍線の変動を伴ない測定値の補正を必要と
する不具合がある。
射する光を光学補ｉＦ、 Ｂ１１構でコントロール１゛
る光学的オートゼロ方式と、測定開始前の誤差電圧に相
当する電圧を外部から与えて相殺する電気的オートゼロ
方式とがある。光学的オートゼロ方式は光のエネルギー
を測定開始前に常に同一とすることが出来るためエネル
ギーレベルの変動に伴なう測定時の試料濃度と出力との
関係を示す検問線の直線性及び直線性の範囲が常に一定
どなる利点を有するが、受光体に入射する光学や光軸を
調整するための光学補正Ｂ！横を制御モータで駆動２き
Ｕなければならない為、ゼロ補正４業に時間が掛り、速
く駆動させるとぜ口補正のＭ麿が低下すると言った不具
合がある。又、電気的オートゼロ方式ではげ０補正時間
は速いが光学的エネルギーレベルのバランス補正を行な
わない為、倹伍線の変動を伴ない測定値の補正を必要と
する不具合がある。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明はこの様な従来の不具合に鑑みてなされたもので
あり、ゼロ補正に要する時間を従来の光学的オートゼロ
方式よりも大巾に短縮させることが出来ると共に、ゼロ
補正の精度を従来の光学的オートゼロ方式と同程度とす
ることが出来、しかも光学的エネルギーレベルのバラン
スを測定開始前に常に同一となし検量線の直線性及び直
線性の範囲を常に一定に保持することが出来る光学測定
器におけるゼロ補正装置を提供せんとするものである。
あり、ゼロ補正に要する時間を従来の光学的オートゼロ
方式よりも大巾に短縮させることが出来ると共に、ゼロ
補正の精度を従来の光学的オートゼロ方式と同程度とす
ることが出来、しかも光学的エネルギーレベルのバラン
スを測定開始前に常に同一となし検量線の直線性及び直
線性の範囲を常に一定に保持することが出来る光学測定
器におけるゼロ補正装置を提供せんとするものである。
く問題点を解決するための手段〉
係る目的を達成する本発明光学測定器におけるゼロ補正
装置は受光体に入射する光をコントロールする光学補正
機構の制御回路を上記受光体と電気的に接続さぜると共
に、受光体出力増巾回路の出力側に電気的ゼロ補正回路
を接続させた事を特徴としたものである。
装置は受光体に入射する光をコントロールする光学補正
機構の制御回路を上記受光体と電気的に接続さぜると共
に、受光体出力増巾回路の出力側に電気的ゼロ補正回路
を接続させた事を特徴としたものである。
〈実施例〉
以下、本発明実施例を図面に基づいて説明する３゜第１
図は示差屈折計の例を示し、第３図は分光光重訂の例を
示すが、この他にも測定開始前の光のエネルギーレベル
と測定時における光のエネルギーレベルとの差を電気信
号に変換する検出機構を備えたあらゆる光学測定器に本
発明装置が適用できることは以下の説明によって容易に
理解されるだろう。
図は示差屈折計の例を示し、第３図は分光光重訂の例を
示すが、この他にも測定開始前の光のエネルギーレベル
と測定時における光のエネルギーレベルとの差を電気信
号に変換する検出機構を備えたあらゆる光学測定器に本
発明装置が適用できることは以下の説明によって容易に
理解されるだろう。
第１図において図中１は光源ランプであり、この光源ラ
ンプ１からの光Ｐは試料セル２を通り、試料ヒル２の後
方に設置した反射鏡３で反射されてガラス板４を通しＣ
受光体５に入射する。受光体５に入射した光エネルギー
はその受光体５で電気エネルギーに変換され、制御回路
６で増巾されて電気的ゼロ補正回路７に出力される。こ
の反射鏡３から受光体５に至る光学系において、制御回
路６からの信号によって制御モータ８を駆動させガラス
板４の角度を動かすことにより受光体５に入射する光軸
を平行に移動させて、測定開始前の光学的ゼロ補正を行
なうものである。即ち、受光体５に入射する光Ｐ＋をコ
ントロールする光学補正機構は、ガラス板４とそのガラ
ス板４を動かすための制御モータ８及び制御モータ８を
駆動させる制御回路６とで構成され、その制御回路７を
受光体５と電気的に接続させてなり、測定開始前の状態
において試料側受光素子と対照側受光素子からなる受光
体５に入射した光Ｐ＋が上記試料側受光素子と対照側受
光素子とに均等に入射されていない場合には、受光体５
からそれに応じた信号が出力されて制御回路６に印加さ
れ、その信号によって試料側受光素子と対照側受光素子
とに光が均等に入射するように制御モータ８を介してガ
ラス板４が動かされ、受光体５に入射する光軸を平行に
移動させて光学的ゼロ補正を行なうものである。
ンプ１からの光Ｐは試料セル２を通り、試料ヒル２の後
方に設置した反射鏡３で反射されてガラス板４を通しＣ
受光体５に入射する。受光体５に入射した光エネルギー
はその受光体５で電気エネルギーに変換され、制御回路
６で増巾されて電気的ゼロ補正回路７に出力される。こ
の反射鏡３から受光体５に至る光学系において、制御回
路６からの信号によって制御モータ８を駆動させガラス
板４の角度を動かすことにより受光体５に入射する光軸
を平行に移動させて、測定開始前の光学的ゼロ補正を行
なうものである。即ち、受光体５に入射する光Ｐ＋をコ
ントロールする光学補正機構は、ガラス板４とそのガラ
ス板４を動かすための制御モータ８及び制御モータ８を
駆動させる制御回路６とで構成され、その制御回路７を
受光体５と電気的に接続させてなり、測定開始前の状態
において試料側受光素子と対照側受光素子からなる受光
体５に入射した光Ｐ＋が上記試料側受光素子と対照側受
光素子とに均等に入射されていない場合には、受光体５
からそれに応じた信号が出力されて制御回路６に印加さ
れ、その信号によって試料側受光素子と対照側受光素子
とに光が均等に入射するように制御モータ８を介してガ
ラス板４が動かされ、受光体５に入射する光軸を平行に
移動させて光学的ゼロ補正を行なうものである。
次いで、制御回路６の出力側に電気的ゼロ補正回路７を
接続させて、電気的ゼロ補正を行なう。
接続させて、電気的ゼロ補正を行なう。
この電気的ゼロ補正回路７は測定開始前の誤差電圧に相
当する電圧を外部から与えて相殺する回路となっ゛てお
り、τ１体的には第２図に示す如く基本的に、受光体５
から人力される電圧の大小（プラス・マイナス）を判別
するためのコンパレータ２０と、そのコンパレータ２０
の判別にしたがい電圧の加減算を行なうアップダウンカ
ウンタ２１と、誤差電圧を相殺する為の差動増巾器２２
とで構成される。
当する電圧を外部から与えて相殺する回路となっ゛てお
り、τ１体的には第２図に示す如く基本的に、受光体５
から人力される電圧の大小（プラス・マイナス）を判別
するためのコンパレータ２０と、そのコンパレータ２０
の判別にしたがい電圧の加減算を行なうアップダウンカ
ウンタ２１と、誤差電圧を相殺する為の差動増巾器２２
とで構成される。
然して、測定開始前の状態において受光体５に入射した
光Ｐ１が試料側受光素子と対照側受光素子とに均等に入
射されていない場合には、受光体５からそれに応じた信
号が出力されるので、その信号を差動増巾器２２の一方
の入力端子２３から入力さけ、その出力をコンパレータ
２０に入力させる。コンパレータ２０では入力された信
号の電圧の差をＬ口Ｖに対してＩＩＩＧＩＩ側にあるか
［〇−側にあるかを比較判別し、その判別結果にしたが
いアップダウンカウンタ２１でもって旧Ｇｌｌの時は加
算を行ないシ〇−の時は減算を行ない、＋ＩＮと−ＩＮ
の入力がバランスしたところでアップダウンカウンタ２
１はバランスし平衡状態を保持し、差動増巾器２２に出
力する。
光Ｐ１が試料側受光素子と対照側受光素子とに均等に入
射されていない場合には、受光体５からそれに応じた信
号が出力されるので、その信号を差動増巾器２２の一方
の入力端子２３から入力さけ、その出力をコンパレータ
２０に入力させる。コンパレータ２０では入力された信
号の電圧の差をＬ口Ｖに対してＩＩＩＧＩＩ側にあるか
［〇−側にあるかを比較判別し、その判別結果にしたが
いアップダウンカウンタ２１でもって旧Ｇｌｌの時は加
算を行ないシ〇−の時は減算を行ない、＋ＩＮと−ＩＮ
の入力がバランスしたところでアップダウンカウンタ２
１はバランスし平衡状態を保持し、差動増巾器２２に出
力する。
このアップダウンカウンタ２１が平衡状態の時にラッチ
をかけると、その出力電圧はこのＩＬｌの電圧をラッチ
が解かれるまで、入力電圧が変化してもこの電圧を保持
し続ける。これで電気的ゼロ補正が行なわれる。
をかけると、その出力電圧はこのＩＬｌの電圧をラッチ
が解かれるまで、入力電圧が変化してもこの電圧を保持
し続ける。これで電気的ゼロ補正が行なわれる。
又、第３図は分光光度計の例を示し、図中９は入射して
来た光Ｐを試料側受光体５ａと対照側受光体５ｂとに振
り分けるためのハーフミラ−であり、１０ａ 、 １０
ｂは受光体５ａ、 ５ｂに入射する光♀を調整するため
の絞り（スリット）であり、図中第１図と同じ符号は同
様の構成部材を示す。この例では受光体５ａ、 ５ｂに
入射する光Ｐをコントロールする光学補正機構は、ハー
フミラ−９とそのハーフミラ−９を動かすための制御モ
ータ８及び制御モータ８を駆動させる制御回路６とで構
成される。即ち、測定開始前の状態において試料側受光
体５ａと対照側受光体５ｂとに入射される光量が均等で
ない場合には、それに応じた信号が１．１１１１１回路
６に出力されて試料側受光体５ａと対照側受光体５ｂと
に入射される光のエネルギー（光量）が均等となるよう
に制御モータ８を介してハーフミラ−９の反射角度を変
えて光学的ゼロ補正を行なうものである。
来た光Ｐを試料側受光体５ａと対照側受光体５ｂとに振
り分けるためのハーフミラ−であり、１０ａ 、 １０
ｂは受光体５ａ、 ５ｂに入射する光♀を調整するため
の絞り（スリット）であり、図中第１図と同じ符号は同
様の構成部材を示す。この例では受光体５ａ、 ５ｂに
入射する光Ｐをコントロールする光学補正機構は、ハー
フミラ−９とそのハーフミラ−９を動かすための制御モ
ータ８及び制御モータ８を駆動させる制御回路６とで構
成される。即ち、測定開始前の状態において試料側受光
体５ａと対照側受光体５ｂとに入射される光量が均等で
ない場合には、それに応じた信号が１．１１１１１回路
６に出力されて試料側受光体５ａと対照側受光体５ｂと
に入射される光のエネルギー（光量）が均等となるよう
に制御モータ８を介してハーフミラ−９の反射角度を変
えて光学的ゼロ補正を行なうものである。
尚、対照側受光体５１）を必要としない単一受光体を使
用した場合でも、試料セル２に達する光Ｉ１１を同様に
変化させる事により光学的ゼロ補正を行なうことが出来
る。そして、制御回路６の出力は先に説明した電気的ぜ
口補正回路７を通して出力される。
用した場合でも、試料セル２に達する光Ｉ１１を同様に
変化させる事により光学的ゼロ補正を行なうことが出来
る。そして、制御回路６の出力は先に説明した電気的ぜ
口補正回路７を通して出力される。
〈発明の効果〉
本発明光学測定器におけるピロ補正￥７装置は斯様に構
成したので、測定開始前のゼロ補ロー操作を行なうと、
光学補正機構（光学的オートゼロ機構）と電気的ゼロ補
正回路（電気的オーｌ〜ゼ［１機構）とが連動してはた
らき、従って光学的バランスをとりつつ電気的ゼロ補正
を行なうことが出来、光学的アンバランスによって生じ
る出力の大ぎさのずれを生じることなく迅速に且つ正確
にぜ口補正を行なうことが出来る。即ち、光学的補正機
構は検品線の変化が生じない範囲内に光学バランスを戻
すためにのみはたらかせるので、精度を上げるための速
度制限が大巾に緩和され、結果としてゼロ補正に要する
時間を従来の光学的オートゼロ方式よりも大巾に短縮さ
せることが出来る１８又、電気的ゼロの補正範囲を光学
的ゼロの補正範囲内に制限することが出来るので、ゼロ
補正の精度を従来の光学的オートゼロ方式と同程度に保
持することができるものである。
成したので、測定開始前のゼロ補ロー操作を行なうと、
光学補正機構（光学的オートゼロ機構）と電気的ゼロ補
正回路（電気的オーｌ〜ゼ［１機構）とが連動してはた
らき、従って光学的バランスをとりつつ電気的ゼロ補正
を行なうことが出来、光学的アンバランスによって生じ
る出力の大ぎさのずれを生じることなく迅速に且つ正確
にぜ口補正を行なうことが出来る。即ち、光学的補正機
構は検品線の変化が生じない範囲内に光学バランスを戻
すためにのみはたらかせるので、精度を上げるための速
度制限が大巾に緩和され、結果としてゼロ補正に要する
時間を従来の光学的オートゼロ方式よりも大巾に短縮さ
せることが出来る１８又、電気的ゼロの補正範囲を光学
的ゼロの補正範囲内に制限することが出来るので、ゼロ
補正の精度を従来の光学的オートゼロ方式と同程度に保
持することができるものである。
しかも、基本的なゼロ補正を光学補正機構（光学的オー
トゼロ機構）で行なっているので、光学的エネルギーレ
ベルのバランスを測定開始前に常に同一となし検出線の
直線性及び直線性の範囲を常に一定に保持することが出
来、繰り返し補正の累積による光学的バランスの不良が
もたらす検量線の変化を来たす虞れがなくなる。第４図
はこの効果を示したグラフであり、ｔＩＸ軸に出力の大
きさを示し、横軸に光学的バランスのずれの大きさを示
し、光学的バランスの不良によって生じる試料濃度によ
って得られる出力信号の大きさの変化がない事が理解さ
れる。
トゼロ機構）で行なっているので、光学的エネルギーレ
ベルのバランスを測定開始前に常に同一となし検出線の
直線性及び直線性の範囲を常に一定に保持することが出
来、繰り返し補正の累積による光学的バランスの不良が
もたらす検量線の変化を来たす虞れがなくなる。第４図
はこの効果を示したグラフであり、ｔＩＸ軸に出力の大
きさを示し、横軸に光学的バランスのずれの大きさを示
し、光学的バランスの不良によって生じる試料濃度によ
って得られる出力信号の大きさの変化がない事が理解さ
れる。
Ｊ：って所期の目的を達成し得る
第１図は本発明第１実施例を示す模式図、第２図は本発
明に係る電気的ぜ口補正回路の実施の一例を示す回路図
、第３図は本発明第２図実施例を示す模式図、第４図は
本発明装置の効果を説明するグラフである。 図中、５．５ａ、 ５ｂは受光体、６は制御回路、７は
電気的ゼロ補正回路、である。 特許出願人 株式会社 エルマ ／゛′ 代 理 人 早 川
政 ＼ 名 ７パ′と−・
明に係る電気的ぜ口補正回路の実施の一例を示す回路図
、第３図は本発明第２図実施例を示す模式図、第４図は
本発明装置の効果を説明するグラフである。 図中、５．５ａ、 ５ｂは受光体、６は制御回路、７は
電気的ゼロ補正回路、である。 特許出願人 株式会社 エルマ ／゛′ 代 理 人 早 川
政 ＼ 名 ７パ′と−・
Claims (1)
- 受光体に入射する光をコントロールする光学補正機構の
制御回路を上記受光体と電気的に接続させると共に、受
光体出力増巾回路の出力側に電気的ゼロ補正回路を接続
させた事を特徴とする光学測定器におけるゼロ補正装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62136856A JPH0625735B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光学測定器におけるゼロ補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62136856A JPH0625735B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光学測定器におけるゼロ補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63300941A true JPS63300941A (ja) | 1988-12-08 |
| JPH0625735B2 JPH0625735B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=15185110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62136856A Expired - Fee Related JPH0625735B2 (ja) | 1987-05-30 | 1987-05-30 | 光学測定器におけるゼロ補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0625735B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03162651A (ja) * | 1989-11-20 | 1991-07-12 | Shimadzu Corp | 偏光型示差屈折計 |
| WO2006025104A1 (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-09 | Gl Sciences Incorporated | 光学的検出方法および光学的検出器 |
| JP2008268233A (ja) * | 2008-07-30 | 2008-11-06 | Shimadzu Corp | 示差屈折率検出器 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2883971B1 (fr) * | 2005-03-31 | 2007-11-16 | C2 Diagnostics Sa | Dispositif optique d'analyse sanguine, appareil d'analyse equipe d'un tel dispositif |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5198090A (en) * | 1975-02-26 | 1976-08-28 | Atsuenyuno yubunnodosokuteihoho |
-
1987
- 1987-05-30 JP JP62136856A patent/JPH0625735B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5198090A (en) * | 1975-02-26 | 1976-08-28 | Atsuenyuno yubunnodosokuteihoho |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03162651A (ja) * | 1989-11-20 | 1991-07-12 | Shimadzu Corp | 偏光型示差屈折計 |
| WO2006025104A1 (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-09 | Gl Sciences Incorporated | 光学的検出方法および光学的検出器 |
| JPWO2006025104A1 (ja) * | 2004-08-31 | 2008-05-08 | ジーエルサイエンス株式会社 | 光学的検出方法および光学的検出器 |
| JP4584254B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2010-11-17 | ジーエルサイエンス株式会社 | 光学的検出方法および光学的検出器 |
| JP2008268233A (ja) * | 2008-07-30 | 2008-11-06 | Shimadzu Corp | 示差屈折率検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0625735B2 (ja) | 1994-04-06 |
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