JPS63298107A - 斜入射干渉計装置 - Google Patents

斜入射干渉計装置

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JPS63298107A
JPS63298107A JP62135868A JP13586887A JPS63298107A JP S63298107 A JPS63298107 A JP S63298107A JP 62135868 A JP62135868 A JP 62135868A JP 13586887 A JP13586887 A JP 13586887A JP S63298107 A JPS63298107 A JP S63298107A
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light
diffraction grating
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Masane Suzuki
鈴木 正根
Takayuki Saito
隆行 斉藤
Kenji Yasuda
賢司 安田
Akio Tsukada
塚田 明夫
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、光の干渉作用によって形成される干渉縞を
利用して被検体の平面度を検査することのできる斜入射
干渉計装置の改良に関するものである。
(従来の技術) 近年、被検体表面の凹凸差が大きくてもその表面を精度
良く測定することができる干渉計装置として、斜入射干
渉計装置が開発されている。第3図ta’l及び(b)
は本件特許出願人が昭和61年1月31日付で特許出願
し提案した射入斜干渉計装置を示すものである。
この斜入射干渉計装置において、He−Neレーザ発振
器1から射出された波長632.8nmのレーザ光は、
プリズム発射鏡9で光路を折り曲げられて発散レンズ2
に入射する。このレーザ光は発散レンズ2で光束を拡げ
られ、ミラー11で折り曲げられてコリメーターレンズ
3に入射する。コリメーターレンズ3により平行光束と
されたレーザ光は、第1回折格子4により+1次方向に
回折する平行光の+1次光αと、回折されずに直進透過
する平行光のO次光βとに分割される。この+1次光α
は、載置台5上に載置される被検体Tの被検面に入射し
、反射されて第2回折格子6に入射する。第2回折格子
6は、第5図に示す如く前記0次光βを、回折せずに直
進透過する0次光Aと=1次光方向に回折される一1次
M光β′とに分割するとともに、被検体Tの被検面で反
射された光αを透過させて透過光α′とする。この透過
光渉縞を作る。この干渉縞は、ホログラムスクリーン7
により視点Eで正面視できるようになっている。
なお、調整用ホログラム8は、被検面で反射して第2回
折格子6で回折する回折光りをスクリーン12に集光さ
せるものである。観察者は、前記干渉縞が観察できるよ
うにするために、載置台5を調節して被検面の高さや傾
き調整を行ない、スクリーン12上の基準面の集光点と
被検面の集光点を一致させることができるようになって
いる。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、前記干渉計装置にあっては、第1回折格子4
で回折された平行光の+1次回折光αが被検体Tの被検
面以上に拡がって入射すると、被検面の形状に関係なく
その周縁部T1で回折現象が生ずる。この回折現象が起
こると、被検面の周縁部から反射された光の波面は完全
な平面波形状でなくなり周辺部に丸みを帯びた波面形状
となる。
−例として、被検体Tが円形形状で傾きを有している場
合、被検面で反射して第2回折格子6で回折せずに透過
する透過光α′と第2回折格子6で回折した一1次耕4
ffl光β′とによる干渉縞は、第6図(alに示すよ
うな互いに平行な干渉縞とならず被検面の周縁部T、に
おける回折光の影響により、第6図(blに示すように
周縁部に丸みを帯びた干渉縞となる。このため、被検面
の周縁部TIにあたかも面ダレが存在しているように誤
認される恐れがあった。
そこで、この発明は上記事情に鑑みて、被検面の周縁部
で回折現象が生じていても干渉縞に回折効果が付加され
ないで正しく被検面を検査することができる斜入射干渉
計装置を提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明の斜入射干渉計装置は、可干渉性の光を射出する
射出手段と、この射出手段から射出された光線を発散さ
せる光学手段と、この光学手段透過後の光束を平行光束
に形成する平行光束形成手段と、この平行光束形成手段
透過後の光束を特定方向に回折する回折光線αと直進透
過する透過光線βとに分割する第1回折格子と、検査す
る被検体を載置して変位・移動させる載置手段と、前記
第1回折格子によって回折され、且つ前記被検体の被検
面で反射された光線αを透過光線α′となし、前記透過
光線βを特定方向に回折させて回折光線β′となして前
記両光線α′とβ′とを干渉させる第2回折格子と、前
記第2回折格子からの光線を屈折透過し且つ前記被検体
を等倍率で結像する結像レンズ系と、前記結像レンズ系
を透過した干渉縞が投影され且つ前記結像レンズ系によ
る被検体の像が結像されるホログラムスクリーンとを備
えたものである。
(作用) この発明の斜入射干渉計装置では、被検体の被検面が、
第2回折格子とホログラムスクリーンとの間の光路中に
設けられた結像レンズ系によって、ホログラムスクリー
ンに等倍で結像される。従い、被検面の周縁部で生ずる
回折光はホログラムスクリーン上の対応する結像点に集
光され、ホログラムスクリーン上の干渉縞には回折光の
影響が生じなくなる。
(実施例) 以下、この発明の一実施例について添付図面を参照しな
がら説明する。第1図(al及び(blは、この発明に
係る斜入射干渉計装置の平面図及び側面図を示す第1図
(a)及び(illにおいて1はレーザ光などの可干渉
性光を射出するレーザ発振器、2は発散レンズ、3はコ
リメーターレンズ、4は第1回折格子、5は載置台、6
は第2回折格子、20.22は結像レンズ、7はホログ
ラムスクリーン(ホログラムレンズとも言う)、9は反
射プリズム、lOはピンホール、11は反射ミラー、3
0は撮像レンズ、40はテレビカメラを示す。
レーザ発振器1は、波長632.8nmの赤色の可干渉
光線である出力15mWのヘリウムネオン(He−Ne
)レーザ光を射出する。このレーザ光は直線偏光となっ
ている。発散レンズ2は、レーザ発振器1から射出され
たレーザ光を発散させるレンズであり、複数枚のレンズ
で構成される場合もある。
コリメーターレンズ3は、有害光を除去するピンホール
10を通過し反射ミラー11で反射した発散レーザ光を
平行光束とするものであり、複数枚のレンズから構成さ
れている。
第1回折格子4は、コリメーターレンズ3により平行光
束となったレーザ光を+1次光方向に回折する第1次光
αと、回折せずに直進透過するO次光βとに分割するも
のである。この第1回折格子4は、平面を機械的に刻設
して多数の微細な溝を形成したものから構成されている
が、例えば乳剤あるいは感光性樹脂に干渉縞を記録して
格子を形成したホログラフィック格子を用いてもよい。
載置台5は、被検体を載置する台である。この載置台5
は、第4図に示すように、ジヤツキ機構5aと、ジヤツ
キ機構5a上に取付けられジヤツキ機構により垂直方向
(Z方向)に移動する基台5bと、3個のねじ5cによ
って基台5bに支持され、それらのねじ5cを操作して
Z方向に垂直な平面(XY面)の傾きを調整する円形テ
ーブル5dとから構成されている。この円形テーブル5
d上に被検体Tを載置してその被検体Tの被検面の平面
度を検査するようになっている。
第2回折格子6は、第1回折格子4と同様に形成されて
いる。この第2回折格子6は、第5図に示すように、第
1回折格子4によって+1次方向に回折して被検体Tの
被検面に入射した後反射された+1次光αを回折せずに
直進透過した一1次光α′と、第1回折格子4で回折せ
ずに直進透過した0次光βを一1次方向に回折した一1
次光β′とを重ね合せて干渉させるものである。
結像レンズ20は、正の焦点距離fを有するレンズであ
る。この結像レンズ20は、被検体5の被検面の中心点
Oから距離fの位置に設けられており、第2回折格子6
から射出される前記干渉状態にある平行光束をp点に集
光させるものである。
結像レンズ22は、結像レンズ20と同様に正の焦点距
離fを有するレンズである。この結像レンズ22は、集
光点pから距離fの位置に設けられており、結像レンズ
20により集光された光束を再び平行光束に戻すもので
ある。従い、この結像レンズ20と22は、集光点pを
中心として対象的に配置されており、両レンズは同一の
レンズ結像レンズ22から距離fの位置O′に被検体T
の被検面に対応して斜めに設けられており、結像レンズ
20と22とから成るレンズ系によって被検面と等倍(
−1倍)の結像関係となっている。
一方、ホログラムスクリーン7ゝ上には、被検面の凹凸
に起因する干渉縞が投影される。ここで、−例として円
形形状の被検体がそのXY平面に傾斜している場合の干
渉縞の形状について説明する。
第2回折格子6を経た光束は、平行光束であるので、結
像レンズ20の方向から見るとその波面は平面波のよう
に見える。ところが実際には、光帯びた擬平面波となる
。この擬平面波と前記平面波の一次元β′とが干渉する
と、その干渉縞の形等倍率の結像作用をするため、被検
面の周縁部T。
からの回折光りはホログラムスクリーン7の対応する点
T 1’に集光されるので、前記干渉縞の周縁部の丸み
は無くなり、互いに平行な干渉縞となることができるも
のである。
撮影レンズ30は、ホログラムスクリーン7上の干渉縞
をテレビカメラ40に内蔵されている撮像管の撮像面に
結像させるものである。前記干渉縞は、この撮影レンズ
30の位置に観察者の眼を置くことによっても観察する
ことができる。
次に、この発明に係る斜入射干渉計装置の他の実施例に
ついて説明する。
第2図は、この発明に係る他の実施例の斜入射干渉計装
置の第1回折格子4からテレビカメラ40に至る要部側
面図を示し、レーザー発振器1からコリメーターレンズ
3に至る構成は第1図(a)及び(blと同一である。
第2図において、第1図(a)及び(b)と同符号、同
番号は同一機能を有する。
24は偏光ビームスプリッタ、26は1/4波長板、2
8は裏面鏡を示す。第2図において、レーザ発振器1か
らコリメーターレンズ3に至る図示していない構成及び
第1回折格子4から第2回折格子6に至る構成は前記と
重複するため説明を省略する。
偏光ビームスプリッタ24は、第2回折格子6から射出
された一1次光α′に対し45°傾斜して設けられ、第
2回折格子6からの直線偏光光束を透過させる。
結像レンズ20は、焦点距離fを有し、被検体の被検面
の中心0から距離fの位置に設けられ、偏光ビームスプ
リッタ24からの平行光束を距離f離れた点pに集光す
る。
1/4波長板26は、結像レンズ20の集光光束中に設
けられ、結像レンズ20からの光束を円偏光させる。
裏面鏡28は、反射面28bを有し、その反射面28b
が集光点pに一致するように設けられている。この裏面
鏡28は、1/4波長板26により円偏光された光束を
反射面28bで反射して元の光路へ戻すものである。裏
面鏡28で反射され1ま た光束は、1/4波長板26で前記光束と直交する直線
偏光に偏光され、結像レンズ20から再び平行光束とな
る。結像レンズ20から射出された平行光束は、偏光ビ
ームスプリンタ24で反射され光路を折り曲げられてホ
ログラムスクリーン7に達する。ホログラムスクリーン
7の中心0゛は、結像レンズ20から距離fの位置にあ
り、被検面に対応して光束に対して角度θ傾斜して設け
られている。すなわち、被検面とホログラムスクリーン
7は、等倍(−1倍)の結像関係になっている。
このホログラムスクリーン7上には、被検面の像と被検
面の凹凸に基づく干渉縞が形成されている。
ホログラムスクリーン7は、光束を折り曲げるので、撮
影レンズ30によりテレビカメラ40の撮像面に結像さ
せる。この実施例では偏光ビームスプリッタ24、裏面
反射鏡28を用いたので結像レンズ20を1つ設ければ
よく、安価′となり、全長を短くすることができる。
(効果) 以上説明したように、この発明に係る斜入射子渉計装置
は、第2回折格子とホログラムスクリーンとの間の光路
中に結像レンズを設けて等倍の結像関係を持たせたから
、ホログラムスクリーン上にできる干渉縞は、回折の影
響を受けずに被検面の凹凸状態を正確に測定することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)及び山)は、それぞれ本発明に係る斜入射
干渉計装置の一実施例を示す平面図と側面図である。第
2図は、本発明に係る斜入射干渉計装置の他の実施例の
要部側面図である。第3図fal及び(blは、それぞ
れ従来の斜入射干渉計装置の平面図と側面図である。第
4図は、本発明に係る斜入射干渉計装置の載置台を示す
図である。第5図は本発明に係る斜入射干渉計装置の第
2回折格子の作用を説明する図である。第6図fal及
び(b)は、それぞれ本発明に係る斜入射干渉計装置に
基づく干渉縞と従来の斜入射干渉計装置に基づく干渉縞
を示す図である。 1−−−−−−レーザ発振器、3−・−・−コリメータ
ーレンズ、4−−−−−−−一第1回折格子、5−〜−
−−−−載置台、6−−−−−−−−第2回折格子、 7−−−−−・−ホログラムスクリーン、20.22・
−−−−m−結像レンズ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、可干渉性の光を射出する射出手段と、この射出手段
    から射出された光線を発散させる光学手段と、この光学
    手段透過後の光束を平行光束に形成する平行光束形成手
    段と、この平行光束形成手段透過後の光束を特定方向に
    回折する回折光線αと直進透過する透過光線βとに分割
    する第1回折格子と、検査する被検体を載置して変位・
    移動させる載置手段と、前記第1回折格子によって回折
    され、且つ前記被検体の被検面で反射された光線αを透
    過光線α′となし、前記透過光線βを特定方向に回折さ
    せて回折光線β′となして前記両光線α′とβ′とを干
    渉させる第2回折格子と、前記第2回折格子からの光線
    を屈折透過し且つ前記被検体を等倍率で結像する結像レ
    ンズ系と、前記結像レンズ系を透過した干渉縞が投影さ
    れ且つ前記結像レンズ系による被検体の像が結像される
    ホログラムスクリーンとを備えたことを特徴とする斜入
    射干渉計装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0650709A (ja) * 1992-06-15 1994-02-25 Hughes Aircraft Co 斜入射型光学系用の全開口干渉計
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US9719859B2 (en) 2014-01-22 2017-08-01 Lasertec Corporation Interferometer and phase shift amount measuring apparatus with diffraction gratings to produce two diffraction beams

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