JPS63285441A - 光ファイバ検査方法及び検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査方法及び検査装置Info
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- JPS63285441A JPS63285441A JP12184787A JP12184787A JPS63285441A JP S63285441 A JPS63285441 A JP S63285441A JP 12184787 A JP12184787 A JP 12184787A JP 12184787 A JP12184787 A JP 12184787A JP S63285441 A JPS63285441 A JP S63285441A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は光ファイバの検査方法及び検査装置に関し、特
に数メートル以下に切断された短尺光ファイバの端面状
態の品質やコネクタへの取付状態の良否、更に光ファイ
バ自体の光透過損失等を総合した透過光量レベルを測定
して光ファイバを検査する方法及び装置に関する。
に数メートル以下に切断された短尺光ファイバの端面状
態の品質やコネクタへの取付状態の良否、更に光ファイ
バ自体の光透過損失等を総合した透過光量レベルを測定
して光ファイバを検査する方法及び装置に関する。
［従来の技術１
光ファイバの透過光量を測定するためには、光ファイバ
の一方から光を入射せしめ、他方での出射光量を測定す
ることにより行なわれる。従って多数の資料に対して正
確な測定を行うためには検査Ｎ家とされる各光ファイバ
の一端に常に均一な光量を与えることが必要である。
の一方から光を入射せしめ、他方での出射光量を測定す
ることにより行なわれる。従って多数の資料に対して正
確な測定を行うためには検査Ｎ家とされる各光ファイバ
の一端に常に均一な光量を与えることが必要である。
従来、光ファイバの透過光量の検査は白色光ランプ光源
とフィルタ及びレンズなどの光学系を組合せ一定な入射
条件とする方法や、ＬＥ［１などの半導体発光素子に光
ファイバを近接させ入射せしめ光ファイバからの出射光
量を光パワーメータあるいは半導体受光素子を用いて測
定する方法がとられていた。
とフィルタ及びレンズなどの光学系を組合せ一定な入射
条件とする方法や、ＬＥ［１などの半導体発光素子に光
ファイバを近接させ入射せしめ光ファイバからの出射光
量を光パワーメータあるいは半導体受光素子を用いて測
定する方法がとられていた。
［発明が解決しようとする問題点］
−しかしこの様な方法では光源光束の光エネルギー密度
が均一でないため細い光ファイバに一定の光を入射せし
めることが困難で、光軸ｙ４１１に多大な時間と労力を
要し、更に測定値の再現性が劣るという欠点を有してい
た。
が均一でないため細い光ファイバに一定の光を入射せし
めることが困難で、光軸ｙ４１１に多大な時間と労力を
要し、更に測定値の再現性が劣るという欠点を有してい
た。
１問題を解決するための手段Ｊ
本願の発明による光ファイバの検査方法及び検査装置に
おいては、内壁が一様な反射率を有する拡散面である積
分球に設けられた光ファイバ用コネクタに光ファイバの
一端を取り付け、積分球に取り付けられた光源からの光
線が積分球の内壁で拡散反射した後に均一な光がファイ
バの一端に与えられるようにしている。
おいては、内壁が一様な反射率を有する拡散面である積
分球に設けられた光ファイバ用コネクタに光ファイバの
一端を取り付け、積分球に取り付けられた光源からの光
線が積分球の内壁で拡散反射した後に均一な光がファイ
バの一端に与えられるようにしている。
更に本願の他の発明による光ファイバの検査方法及び検
査装置においては、内壁が一様な反射率を有する拡散面
である積分球に設けられた光ファイバ用コネクタに光フ
ァイバの一端を取り付け、積分球に取り付けられた光源
がらの光線が積分球の内壁で拡散反射した後に均一な光
が光ファイバの一端に与えられるようにすると共に、積
分球内の光ファイバ用コネクタ近傍における照度を検出
し、この照度を基準として光ファイバの他端における出
射光量を評価するようにしている。
査装置においては、内壁が一様な反射率を有する拡散面
である積分球に設けられた光ファイバ用コネクタに光フ
ァイバの一端を取り付け、積分球に取り付けられた光源
がらの光線が積分球の内壁で拡散反射した後に均一な光
が光ファイバの一端に与えられるようにすると共に、積
分球内の光ファイバ用コネクタ近傍における照度を検出
し、この照度を基準として光ファイバの他端における出
射光量を評価するようにしている。
かかる検査方法を実現するため、本発明によれば検査対
象とされる光ファイバの一端に光を入射せしめる光源装
置と、該光ファイバの他端から出射される光の量を測定
する手段とからなる光ファイバ検査装置において、該光
源装置が、内壁が一様な反射率を有する拡散反射面であ
る積分球と、該積分球に取り付けられた光源と、該積分
球に該光ファイバの一端を取り付けて該光源からの光線
が該積分球の内壁で拡散反射した後に均一な光が該光フ
ァイバの一端に与えられるよう該積分球に取り付けられ
た光ファイバ用コネクタとからなることを特徴とする光
ファイバ検査装置が提供され、更に検査対象とされる光
ファイバの一端に光を入射せしめる光源装置と、該光フ
ァイバの他端から出射される光の量を測定する手段とか
らなる光７フイバ検査装置において、該光源ＶＣ置が、
内壁が一様な反射率を有する拡散反射面である積分球と
、該積分球に取り付けられた光源と、該積分球に該光フ
ァイバの一端を取り付けて該光源からの光線が該積分球
の内壁で拡散反射した後に均一な光が該光ファイバの一
端に与えられるよう該積分球に取り付けられた光ファイ
バ用コネクタとからなると共に、該積分球内の該光ファ
イバ用コネクタ近傍における照度を検出する手段を設け
、更に該検出する手段からの信号と該光ファイバの他端
から出射された光の量を測定する該手段からの信号に応
じて演算する手段を設けたことを特徴とする光ファイバ
検査装置が提供される。
象とされる光ファイバの一端に光を入射せしめる光源装
置と、該光ファイバの他端から出射される光の量を測定
する手段とからなる光ファイバ検査装置において、該光
源装置が、内壁が一様な反射率を有する拡散反射面であ
る積分球と、該積分球に取り付けられた光源と、該積分
球に該光ファイバの一端を取り付けて該光源からの光線
が該積分球の内壁で拡散反射した後に均一な光が該光フ
ァイバの一端に与えられるよう該積分球に取り付けられ
た光ファイバ用コネクタとからなることを特徴とする光
ファイバ検査装置が提供され、更に検査対象とされる光
ファイバの一端に光を入射せしめる光源装置と、該光フ
ァイバの他端から出射される光の量を測定する手段とか
らなる光７フイバ検査装置において、該光源ＶＣ置が、
内壁が一様な反射率を有する拡散反射面である積分球と
、該積分球に取り付けられた光源と、該積分球に該光フ
ァイバの一端を取り付けて該光源からの光線が該積分球
の内壁で拡散反射した後に均一な光が該光ファイバの一
端に与えられるよう該積分球に取り付けられた光ファイ
バ用コネクタとからなると共に、該積分球内の該光ファ
イバ用コネクタ近傍における照度を検出する手段を設け
、更に該検出する手段からの信号と該光ファイバの他端
から出射された光の量を測定する該手段からの信号に応
じて演算する手段を設けたことを特徴とする光ファイバ
検査装置が提供される。
［作用１
本願の発明によれば検査対象である光ファイバの一端は
積分球に取り付けられたコネクタに保持され、積分球内
壁で拡散反射して均一な光量となされた光がこの光ファ
イバの端面に入射する。従って、多数の尤ファイバを次
々と検査する場合において、光ファイバの取付位置にば
らつきがあっても、その端面に入射する光量は常に一定
とされる。
積分球に取り付けられたコネクタに保持され、積分球内
壁で拡散反射して均一な光量となされた光がこの光ファ
イバの端面に入射する。従って、多数の尤ファイバを次
々と検査する場合において、光ファイバの取付位置にば
らつきがあっても、その端面に入射する光量は常に一定
とされる。
本願の他の発明によれば、上述の如く積分球を用いて均
一な光量を被ファイバに入射せしめると共に、Ｍ４分球
内の光ファイバ用コネクタ近傍における照度が検出され
、この照度を基準として光ファイバの他端における出射
光量が評価されるので光源の電源電圧の変化や光源装置
の経時変化があっても常に正確な測定を行うことが可能
となる。
一な光量を被ファイバに入射せしめると共に、Ｍ４分球
内の光ファイバ用コネクタ近傍における照度が検出され
、この照度を基準として光ファイバの他端における出射
光量が評価されるので光源の電源電圧の変化や光源装置
の経時変化があっても常に正確な測定を行うことが可能
となる。
［実施例１
以下図面を参照して本発明を説明する。第１図は本願の
ｔｔＳｌの発明の一実施例を示す図である。
ｔｔＳｌの発明の一実施例を示す図である。
光ファイバ３０は検査対象とされるものであり、その一
端カー断面図で示される積分球１０に取り付けられた光
ファイバ用コネクタ１８に挿入され、ａ端は出射光測定
装置３４のコネクタ４０に挿入されている。
端カー断面図で示される積分球１０に取り付けられた光
ファイバ用コネクタ１８に挿入され、ａ端は出射光測定
装置３４のコネクタ４０に挿入されている。
積分球１０は基台２４上に固定されており、光［１２が
ブラケット１４を介して取り付けられている。光源１２
からの光線が直接光ファイバ３０に入射することを防止
するため光遮蔽板２０が設けられている。光源１２には
図示しない定電流源等の電源装置からり−ド１ｉ１８を
介して電流が供給されている。上記積分球１０．光源１
２、ブラケット１４、コネクタ１８、光遮蔽板２０は光
源装ｆ！２３２を構成するものである。
ブラケット１４を介して取り付けられている。光源１２
からの光線が直接光ファイバ３０に入射することを防止
するため光遮蔽板２０が設けられている。光源１２には
図示しない定電流源等の電源装置からり−ド１ｉ１８を
介して電流が供給されている。上記積分球１０．光源１
２、ブラケット１４、コネクタ１８、光遮蔽板２０は光
源装ｆ！２３２を構成するものである。
積分球ｌＯは２個の半球状部材の内壁面に硫酸バリウム
や酸化マグネシウムを一様に塗布したものを対向、結合
して球状拡散反射面２２を構成するものであり、例えば
米国ラプス７エア（Ｌａｂｓｐｈｅｒｅ ）社の直径２
インチ（約５ｃｍ）のもの等を用いることができる。光
源１２としては白熱電球の他ＬＥＤ等の半導体発光素子
を用いることができる。光源１２はブラケット１４によ
り自由に着脱可能としておくことが保守、点検の、αか
ら好ましい。光遮蔽板２０の大きさと取付位置は光源１
２からの光線が直接光ファイバ３０の端面に入射しない
ようなものに選定される。尚、光遮蔽板２０は円板であ
ることが好ましく、又その直径は積分球１０の内径の９
０％より太き（すべきではない。光遮蔽板２０が大きす
ぎると、積分球１０の内ｒ２２２どの間のギャップが狭
くなり均一な光量が得にくくなるからである。又、光遮
蔽板２０の表面は拡散反射面とされている。
や酸化マグネシウムを一様に塗布したものを対向、結合
して球状拡散反射面２２を構成するものであり、例えば
米国ラプス７エア（Ｌａｂｓｐｈｅｒｅ ）社の直径２
インチ（約５ｃｍ）のもの等を用いることができる。光
源１２としては白熱電球の他ＬＥＤ等の半導体発光素子
を用いることができる。光源１２はブラケット１４によ
り自由に着脱可能としておくことが保守、点検の、αか
ら好ましい。光遮蔽板２０の大きさと取付位置は光源１
２からの光線が直接光ファイバ３０の端面に入射しない
ようなものに選定される。尚、光遮蔽板２０は円板であ
ることが好ましく、又その直径は積分球１０の内径の９
０％より太き（すべきではない。光遮蔽板２０が大きす
ぎると、積分球１０の内ｒ２２２どの間のギャップが狭
くなり均一な光量が得にくくなるからである。又、光遮
蔽板２０の表面は拡散反射面とされている。
上記光源１２、コネクタ１８及び光遮蔽板２０の相対的
取付位置は図示の例に限られるものではなく、光源１２
からの直接光が光７フイバ３０の端面に入射しない位置
であれば、いがなるものであってもより１１１ 出射光測定装置３４は周知の光パワーメータでありケー
ス４２内に取り付けられた受光索子４４により、光ファ
イバ３０の他端からの出射光量に応じた電気信号を生じ
、これをアンプ４８を介して指示計器５０に与えること
により出射光量を読み取るものである。
取付位置は図示の例に限られるものではなく、光源１２
からの直接光が光７フイバ３０の端面に入射しない位置
であれば、いがなるものであってもより１１１ 出射光測定装置３４は周知の光パワーメータでありケー
ス４２内に取り付けられた受光索子４４により、光ファ
イバ３０の他端からの出射光量に応じた電気信号を生じ
、これをアンプ４８を介して指示計器５０に与えること
により出射光量を読み取るものである。
第２図は本願の第２の発明の一実施例を示す図であり、
第１図と同様の部材は同一番号が用いられている。第２
図の検査装置は次の点で第１図のものと異なる。１ＩＩ
ｌち、積分球ｌＯの光ファイバ用コネクタ１８の取付位
置近傍における照度を検出すべくフォトダイオード等の
受光素子５４がブラケット５６を介して光ファイバ用コ
ネクタ１８の付近に取り付けられている。受光素子５４
の出力はリード＃ｉ５８を介して演ｇ６ｅｏに入力され
ている。演算器６０の他の入力には光ファイバ３０の他
端からの出射光を検出する受光素子４４からの信号が与
えられでいる。
第１図と同様の部材は同一番号が用いられている。第２
図の検査装置は次の点で第１図のものと異なる。１ＩＩ
ｌち、積分球ｌＯの光ファイバ用コネクタ１８の取付位
置近傍における照度を検出すべくフォトダイオード等の
受光素子５４がブラケット５６を介して光ファイバ用コ
ネクタ１８の付近に取り付けられている。受光素子５４
の出力はリード＃ｉ５８を介して演ｇ６ｅｏに入力され
ている。演算器６０の他の入力には光ファイバ３０の他
端からの出射光を検出する受光素子４４からの信号が与
えられでいる。
演算器６０としては２人力の差を検出する減算器等を用
いることがで終る。電源電圧の変動や経時変化等によっ
て光源装置１ｉ３２における光ファイバ３０への入射光
量に変化を生じる場合にあっては、その変化の影響は光
ファイバ３０のみならず受光素子５４にも与えられるか
ら、演＄１６０の２人力の信号レベルは光ファイバ３０
が正常である限り同様に変化する。従って、入射光量の
変化による測定誤差を補償することができる。
いることがで終る。電源電圧の変動や経時変化等によっ
て光源装置１ｉ３２における光ファイバ３０への入射光
量に変化を生じる場合にあっては、その変化の影響は光
ファイバ３０のみならず受光素子５４にも与えられるか
ら、演＄１６０の２人力の信号レベルは光ファイバ３０
が正常である限り同様に変化する。従って、入射光量の
変化による測定誤差を補償することができる。
［発明の効果］ ゛
積分球を用いて一様な光を光ファイバの端面に入射せし
める本発明の光ファイバ検査方法を従来から行なわれて
いるＬＥＤ軸合せ方法と比較実験すると次のような結果
が得られた。尚、実験には定電流源と光パワーメータを
用い、使用光ファイバは三菱レイヨン（株）製の品番５
１１４００１で、これを０．５−に切断したものを使用
した。又、入射側端面の処理方法は下記に示す辿りであ
る。
める本発明の光ファイバ検査方法を従来から行なわれて
いるＬＥＤ軸合せ方法と比較実験すると次のような結果
が得られた。尚、実験には定電流源と光パワーメータを
用い、使用光ファイバは三菱レイヨン（株）製の品番５
１１４００１で、これを０．５−に切断したものを使用
した。又、入射側端面の処理方法は下記に示す辿りであ
る。
（１）粗研摩
＃ １５００サンドペーパ使用後、超音波洗浄で５本の
光ファイバを作成。
光ファイバを作成。
（２）仕上研摩
粗研摩後、ロックサイトバフ研摩を行
いその後超音波洗浄（ロックサイトバフ研摩時間の異な
る５種類の光ファイバ を作成２１０秒、２０秒、３０秒、１分、２分）。
る５種類の光ファイバ を作成２１０秒、２０秒、３０秒、１分、２分）。
（３） カッター
カッター（立方（株）ｍりを用いで光ファイバを切断（
カッターの使用回数別に５′ Ｍ類の光７Ｔイバを作成
＝新月、１０回カット後、２０回カット後、３０回カッ
ト後、４０回カット後）。
カッターの使用回数別に５′ Ｍ類の光７Ｔイバを作成
＝新月、１０回カット後、２０回カット後、３０回カッ
ト後、４０回カット後）。
（以下余白）
測 定 結 果
上記測定結果は同一光ファイバを５回着脱して得られた
５個の出射光量データの平均値（Ｘ）及び各測定データ
間における最大値と最小値の差（Ｒ）を示したものであ
る。
５個の出射光量データの平均値（Ｘ）及び各測定データ
間における最大値と最小値の差（Ｒ）を示したものであ
る。
この結果から明らかなように、積分球を用いた方が従来
のＬＥＤ軸合せ方に比較してばらつきが少ないので、多
数の光ファイバを検査する場合にあては、より信頼でき
る正確な検査が可能であることを示している。
のＬＥＤ軸合せ方に比較してばらつきが少ないので、多
数の光ファイバを検査する場合にあては、より信頼でき
る正確な検査が可能であることを示している。
本発明による光ファイバ検査方法及び検査装置を用いる
ことにより光ファイバと光源の結合において、光ファイ
バ端の位置のばらつきによる測定値への影響がほとんど
無く、従って軸合せ採作が不要となり光ファイバの取付
時間を大幅に短縮できるので作業能率の向上をもたらす
、更に拡散光による高次モード光が光ファイバ内に多量
に入射するため光ファイバ側面に発生した傷などによる
欠点を顕看に検出で終るという効果もある。又更に、本
願第２の発明にあっては上記効果の他に、光源装置にお
ける照度の変化があってもこれを補償する構成としたの
で常時安定した検査を行うことが可能である。
ことにより光ファイバと光源の結合において、光ファイ
バ端の位置のばらつきによる測定値への影響がほとんど
無く、従って軸合せ採作が不要となり光ファイバの取付
時間を大幅に短縮できるので作業能率の向上をもたらす
、更に拡散光による高次モード光が光ファイバ内に多量
に入射するため光ファイバ側面に発生した傷などによる
欠点を顕看に検出で終るという効果もある。又更に、本
願第２の発明にあっては上記効果の他に、光源装置にお
ける照度の変化があってもこれを補償する構成としたの
で常時安定した検査を行うことが可能である。
第１図は第１の発明の実施例を示す図、第２図は第２の
発明の実施例を示す図である。 １０・・・積分球、 １２・・・光源、 １４．５６・・・ブラケット、 １６．５８・・・リード線、 １８．４０・・・光ファイバ用コネクタ、２０・・・光
遮蔽板、 ２２・・・拡散反射面、 ２４・・・基台、 ３０・・・光７フイバ・ ３２・・・光源装置、 ３４・・・出射光測定装置、 ４２・・・ケース、 ４４．５４・・・受光素子、 ４８・・・アンプ、 ５０・・・指示計器、 ６０・・・演算器。 発明者 伊 藤 芙 昭
発明の実施例を示す図である。 １０・・・積分球、 １２・・・光源、 １４．５６・・・ブラケット、 １６．５８・・・リード線、 １８．４０・・・光ファイバ用コネクタ、２０・・・光
遮蔽板、 ２２・・・拡散反射面、 ２４・・・基台、 ３０・・・光７フイバ・ ３２・・・光源装置、 ３４・・・出射光測定装置、 ４２・・・ケース、 ４４．５４・・・受光素子、 ４８・・・アンプ、 ５０・・・指示計器、 ６０・・・演算器。 発明者 伊 藤 芙 昭
Claims (10)
- （１）検査対象とされる光ファイバの一端から光を入射
し、他端から出射される光の量を測定することにより、
該光ファイバの光透過量を測定して該光ファイバを検査
する方法において、内壁が一様な反射率を有する拡散反
射面である積分球に設けられた光ファイバ用コネクタに
該光ファイバの一端を取り付け、該積分球に取り付けら
れた光源からの光線が該積分球の内壁で拡散反射した後
に均一な光が該光ファイバの一端に与えられるようにし
たことを特徴とする光ファイバ検査方法。 - （２）該積分球内に光遮蔽板を設けて該光源からの光線
が直接該光ファイバの一端に入射しないようにしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ファイバ検
査方法。 - （３）検査対象とされる光ファイバの一端から光を入射
し、他端から出射される光の量を測定することにより、
該光ファイバの光透過量を測定して該光ファイバを検査
する方法において、内壁が一様な反射率を有する拡散反
射面である積分球に設けられた光ファイバ用コネクタに
該光ファイバの一端を取り付け、該積分球に取り付けら
れた光源からの光線が該積分球の内壁で拡散反射した後
に均一な光が該光ファイバの一端に与えられるようにす
ると共に、該積分球内の該光ファイバ用コネクタ近傍に
おける照度を検出し、この照度を基準として該光ファイ
バの他端における出射光量を評価することを特徴とする
光ファイバ検査方法。 - （４）該積分球内に光遮蔽板を設けて、該光源からの光
線が直接該光ファイバの一端に入射しないようにしたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光ファイバ
検査方法。 - （５）検査対象とされる光ファイバの一端に光を入射せ
しめる光源装置と、該光ファイバの他端から出射される
光の量を測定する手段とからなる光ファイバ検査装置に
おいて、該光源装置が、内壁が一様な反射率を有する拡
散反射面である積分球と、該積分球に取り付けられた光
源と、該積分球に該光ファイバの一端を取り付けて該光
源からの光線が該積分球の内壁で拡散反射した後に均一
な光が該光ファイバの一端に与えられるよう該積分球に
取り付けられた光ファイバ用コネクタとからなることを
特徴とする光ファイバ検査装置。 - （６）該光源からの光線が直接該光ファイバの一端に入
射しないような位置を選定して該積分球内に光遮蔽板を
設けたことを特徴とする特許請求の範囲第５項記載の光
ファイバ検査装置。 - （７）該光遮蔽板が円形であり、その直径が該積分球の
内径の９０％以下であり、その表面が拡散反射面とされ
ていることを特徴とする特許請求の範囲第６項記載の光
ファイバ検査装置。 - （８）検査対象とされる光ファイバの一端に光を入射せ
しめる光源装置と、該光ファイバの他端から出射される
光の量を測定する手段とからなる光ファイバ検査装置に
おいて、該光源装置が、内壁が一様な反射率を有する拡
散反射面である積分球と、該積分球に取り付けられた光
源と、該積分球に該光ファイバの一端を取り付けて該光
源からの光線が該積分球の内壁で拡散反射した後に均一
な光が該光ファイバの一端に与えられるよう該積分球に
取り付けられた光ファイバ用コネクタとからなると共に
、該積分球内の該光ファイバ用コネクタ近傍における照
度を検出する手段を設け、更に該検出する手段からの信
号と該光ファイバの他端から出射された光の量を測定す
る該手段からの信号に応じて演算する手段を設けたこと
を特徴とする光ファイバ検査装置。 - （９）該光源からの光線が直接該光ファイバの一端及び
該検出する手段に入射しないような位置を選定して該積
分球内に光遮蔽板を設けたことを特徴とする特許請求の
範囲第８項記載の光ファイバ検査装置。 - （１０）該光遮蔽板が円形であり、その直径が該積分球
の内径の９０％以下であり、その表面が拡散反射面とさ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第９項記載の
光ファイバ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12184787A JPS63285441A (ja) | 1987-05-19 | 1987-05-19 | 光ファイバ検査方法及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12184787A JPS63285441A (ja) | 1987-05-19 | 1987-05-19 | 光ファイバ検査方法及び検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63285441A true JPS63285441A (ja) | 1988-11-22 |
Family
ID=14821406
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12184787A Pending JPS63285441A (ja) | 1987-05-19 | 1987-05-19 | 光ファイバ検査方法及び検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63285441A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6369883B1 (en) * | 2000-04-13 | 2002-04-09 | Amherst Holding Co. | System and method for enhanced mass splice measurement |
| US8456638B2 (en) | 2010-03-25 | 2013-06-04 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Optical measurement apparatus, optical measurement system, and fiber coupler |
| US8896824B2 (en) | 2012-07-19 | 2014-11-25 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Optical characteristic measuring apparatus |
| CN114964725A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-08-30 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件测试自动化设备 |
| WO2023055617A1 (en) * | 2021-09-29 | 2023-04-06 | Corning Research & Development Corporation | Relative mode transmission loss measurement of a connectorized fiber optic cable |
-
1987
- 1987-05-19 JP JP12184787A patent/JPS63285441A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6369883B1 (en) * | 2000-04-13 | 2002-04-09 | Amherst Holding Co. | System and method for enhanced mass splice measurement |
| US8456638B2 (en) | 2010-03-25 | 2013-06-04 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Optical measurement apparatus, optical measurement system, and fiber coupler |
| US8896824B2 (en) | 2012-07-19 | 2014-11-25 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Optical characteristic measuring apparatus |
| WO2023055617A1 (en) * | 2021-09-29 | 2023-04-06 | Corning Research & Development Corporation | Relative mode transmission loss measurement of a connectorized fiber optic cable |
| CN114964725A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-08-30 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件测试自动化设备 |
| CN114964725B (zh) * | 2022-07-27 | 2022-11-04 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件测试自动化设备 |
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