JPS63247813A - Matrix switch sense device - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
Ｒ里五亘追
［産業上の利用分野１
本発明は、各々所定の巾を有する複数のセンス線および
複数の駆動線をマトリックス状に配列したマトリックス
スイッチのセンス装置に関する。Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field 1] The present invention relates to a sensing device for a matrix switch in which a plurality of sense lines and a plurality of drive lines each having a predetermined width are arranged in a matrix. .
［従来の技術］
従来より、タッチされた箇所を検出するセンス装置とし
ては、第５図に示すように、複数の所定巾のセンス線お
よび駆動線をマトリックス状に配列して順次スキャン走
査をすることによりタッチされた箇所をデジタル的に検
出するマトリックススイッチ・センス装置等が知られて
いる。[Prior Art] Conventionally, as shown in FIG. 5, a sense device for detecting a touched location has used a plurality of sense lines and drive lines of a predetermined width arranged in a matrix and sequentially scanned. Matrix switch sense devices and the like that digitally detect touched locations are known.
一方、第６図に示すように、２枚の薄膜抵抗が形成され
たフィルムを対向させて配置し、各々を駆動層およびセ
ンス層として用いることによりタッチされた箇所に依存
する抵抗値の変化に基づく、検出される電圧値等により
縦位置・横位置を検出するアナログタイプのセンス装置
等も知られている。On the other hand, as shown in Figure 6, by arranging two films on which thin film resistors are formed and facing each other, and using each film as a driving layer and a sense layer, changes in resistance value depending on the touched location can be prevented. Analog type sensing devices, etc., which detect vertical and horizontal positions based on detected voltage values, etc., are also known.
該センス装置等に関する発明や提案としては、特開昭５
９−２１６２３４号に示される「マトリツクススイッチ
・センス方式」等が知られている。Inventions and proposals regarding the sense device, etc. include Japanese Patent Application Laid-open No. 5
The "matrix switch sense system" shown in No. 9-216234 is known.
［発明が解決しようとする問題点］
上記従来のセンス装置は、タッチされた箇所を好適に検
出することができるという優れた効果を有するものの、
猶、次のような問題が考えられた。[Problems to be Solved by the Invention] Although the conventional sense device described above has an excellent effect of being able to suitably detect a touched location,
However, the following problems were considered.
即ち、複数のセンス線および駆動線によりなるマトリッ
クススイッチ・センス装置においては、その分解能はセ
ンス線および駆動線の数により決定してしまうといった
問題があった。このため、分解能を高くしようとすると
、その分解能の高さに比例して構造が複雑になる、部品
点数が多くなる等といった問題、あるいは分解能を高く
構成した場合でも、分解能が低くとも良い場合があり汎
用性に欠けるといった問題が考えられた。That is, in a matrix switch sense device including a plurality of sense lines and drive lines, there is a problem in that the resolution is determined by the number of sense lines and drive lines. For this reason, if you try to increase the resolution, you may encounter problems such as the structure becoming more complex or the number of parts increasing in proportion to the resolution, or even if you configure the resolution to be high, there may be cases where it is better to have a lower resolution. However, the problem was that it lacked versatility.
一方、アナログタイプのセンス装置においては、タッチ
された箇所の縦位置・横位置を薄膜抵抗がため、薄膜抵
抗の膜厚を均一に構成する必要が生じる。しかしながら
、大きな面積を有する一枚のフィルムには、薄膜抵抗の
膜厚の不均一な部分を有する場合があり、このようなと
きには、検出されたタッチ箇所と実際にタッチされた箇
所との間に誤差が生じる、あるいは２点以上が同時に押
下された場合には、２点以上押下されていることが検出
出来ずく即ち、１点のみの押下として扱われ）誤った押
下位置を検知する等という問題が考えられた。On the other hand, in an analog type sensing device, a thin film resistor is formed in the vertical and horizontal positions of a touched location, and it is necessary to make the thickness of the thin film resistor uniform. However, a single film with a large area may have parts with uneven thickness of the thin film resistor, and in such cases, there may be a gap between the detected touch point and the actually touched point. Problems such as errors occur, or when two or more points are pressed at the same time, it cannot be detected that two or more points are pressed, and the wrong pressed position is detected (in other words, it is treated as only one point being pressed). was considered.
本発明のマトリックススイッチ・センス装置は、上記問
題を解決し、更に汎用性の高いマトリックススイッチ・
センス装置を提供することを目的として為されたもので
ある。The matrix switch/sensing device of the present invention solves the above problems and provides a more versatile matrix switch/sense device.
This was done for the purpose of providing a sense device.
１肌Ω璽感
［問題点を解決するための手段］
本発明のマトリックススイッチ・センス装置は、第１図
にその基本構成を例示する如く、各々所定の巾を有する
複数のセンス線および複数の駆動線を一定間隔をおいて
マトリックス状に配列してなるマトリックススイッチの
センス装置であって、
上記センス線および駆動線が重なり合うことにより形成
され、該センス線と駆動線とが当接された箇所を含む特
定エリアを、順次スキャン走査することによりデジタル
的に検出するスキャン検出手段（Ｍｌ）と、
上記特定エリアを形成するセンス線および駆動線の各々
から検出される各々のアナログ電気信号から、特定エリ
アの中の上記当接箇所を検出するアナログ検出手段（Ｍ
２）と、
を備えたことを特徴とする。[Means for solving the problem] The matrix switch sense device of the present invention has a plurality of sense lines each having a predetermined width and a plurality of sense lines, each having a predetermined width. A sense device for a matrix switch in which drive lines are arranged in a matrix at regular intervals, the sense line and the drive line being formed by overlapping each other, and a portion where the sense line and the drive line are in contact with each other. scan detection means (Ml) that digitally detects a specific area including the specific area by sequentially scanning the specific area; Analog detection means (M
2).
［作用］
上記構成を有する本発明のマトリックススイッチ・セン
ス装置は、次のように作用する。[Function] The matrix switch sense device of the present invention having the above configuration functions as follows.
本発明のマトリックススイッチ・センス装置は、タッチ
されることによりセンス線と駆動線とが当接した箇所を
含み該センス線および駆動線が重なり合うことにより形
成された特定エリアを、スキャン検出手段（Ｍｌ）が順
次スキャン走査することにより検出し、該特定エリアを
形成するセンス線および駆動線の各々から検出されるア
ナログ電気信号からアナログ検出手段（Ｍ２）が特定エ
リアの中の上記当接箇所を検出するよう働く。The matrix switch/sensing device of the present invention scans a specific area formed by overlapping the sense line and the drive line, including the location where the sense line and the drive line are in contact with each other, by a scan detection means (Ml). ) is detected by sequential scanning, and the analog detection means (M2) detects the contact point in the specific area from analog electrical signals detected from each of the sense line and the drive line forming the specific area. work to do.
［実施例］
次に、本発明のマトリックススイッチ・センス装置の構
成を一層明らかにするために好適な実施例を図面と共に
説明する。[Embodiments] Next, preferred embodiments will be described with reference to the drawings in order to further clarify the structure of the matrix switch sense device of the present invention.
本実施例のマトリックススイッチ・センス装置は、第２
図に示す如く、ＣＰＵ１．ＲＯＭ２．ＲＡＭ３等を中心
とし、これらとアナログ／デジタル変換器（以下、単に
Ａ／Ｄ変換器と呼ぶ）４および外部インターフェイス回
路５等とをコモンバス６により相互に接続した論理演算
回路としての電子制御装置７と、複数の所定巾（本実施
例では２．０ｃｍ＞の駆動線×１ないしｘｎおよびセン
ス線ｙ１ないしｙｎよりなるマトリックススイッチ１０
のスキャン走査を行なうときに用いられる選択切替回路
１５ないし１８と、選択切替回路１５ないし１８を介し
て駆動線×１ないしｘｎまたはセンス線ｙ１ないしｙｎ
に所定電圧の電源を供給する電源切替回路２０および基
準電源２１等とから構成されている。ここで、駆動線×
１ないしＸｎおよびセンス線ｙ１ない、ｔ、 ｙ ｎは
、各々の両端に導電パターンを設けられた酸化インジュ
ーム（所謂ＩＴＯ）から成形され、駆動線ｘ１ないしｘ
ｎの各々の両端の一方は選択切替回路１５と、各々の両
端の他方は選択切替回路１６と、同様に、センス線ｙ１
ないしｙｎの各々の両端の一方は選択切替回路１７と、
各々の両端の他方は選択切替回路１８と各々接続されて
いる。The matrix switch sense device of this embodiment has a second
As shown in the figure, CPU1. ROM2. An electronic control device 7 as a logical operation circuit, which is centered around a RAM 3, etc., and interconnects these with an analog/digital converter (hereinafter simply referred to as an A/D converter) 4, an external interface circuit 5, etc. via a common bus 6. and a matrix switch 10 consisting of a plurality of drive lines x1 to xn and sense lines y1 to yn each having a predetermined width (2.0 cm in this embodiment).
The drive lines x1 to xn or the sense lines y1 to yn are connected via the selection switching circuits 15 to 18, which are used when scanning
It is comprised of a power supply switching circuit 20 that supplies power at a predetermined voltage to a reference power supply 21, and the like. Here, drive line ×
The sense lines y1 to y1 to
One of both ends of each of n is connected to the selection switching circuit 15, the other of each end is connected to the selection switching circuit 16, and similarly, the sense line y1
One of both ends of each of through yn is connected to a selection switching circuit 17,
The other end of each is connected to the selection switching circuit 18.
選択切替回路１５．１７は、所謂マルチプレクサおよび
デマルチプレクサから、同様に、選択切替回路１６．１
８は、デマルチプレクサから各々構成され、信号線２５
ないし２８を介して電子制御装置７のＣＰＵ１と各々と
直接接続されている。The selection switching circuit 15.17 is also a selection switching circuit 16.1 from a so-called multiplexer and demultiplexer.
8 are each composed of a demultiplexer, and the signal line 25
They are each directly connected to the CPU 1 of the electronic control unit 7 via 28.
選択切替回路１５は、信号線３０と電源切替回路２０の
開閉器２０ａとを介して、選択切替回路１７は、信号線
３１と開閉器２０ｂとを介して各々基準電源２１の電源
側と接続され、同様に、選択切替回路１６は、信号線３
２と開閉器２０Ｃとを介して、選択切替回路１８は、信
号線３３と開閉器２０ｄとを介して各々基準電源２１の
グランド側と接続されている。また選択切替回路１６の
出力側は、信号線３４を介して電子制御装置７のＡ／Ｄ
変換器４と、選択切替回路１７の出力側は、信号線３５
を介してＣＰＪＪ １およびＡ／Ｄ変換器４と各々接続
されている。更に、電源切替回路２０は、信号線３６を
介してＣＰＵ１と直接接続されている。The selection switching circuit 15 is connected to the power supply side of the reference power supply 21 via the signal line 30 and the switch 20a of the power supply switching circuit 20, and the selection switching circuit 17 is connected to the power supply side of the reference power supply 21 via the signal line 31 and the switch 20b. , Similarly, the selection switching circuit 16 connects the signal line 3
2 and the switch 20C, the selection switching circuit 18 is connected to the ground side of the reference power source 21 via the signal line 33 and the switch 20d. Further, the output side of the selection switching circuit 16 is connected to the A/D of the electronic control device 7 via the signal line 34.
The output sides of the converter 4 and the selection switching circuit 17 are connected to the signal line 35.
The CPJJ 1 and the A/D converter 4 are respectively connected through the CPJJ 1 and the A/D converter 4. Furthermore, the power supply switching circuit 20 is directly connected to the CPU 1 via a signal line 36.
上記構成を有する本実施例の作用を、第３図に示す「タ
ッチ位置検出処理」のフローチャートと共に説明する。The operation of this embodiment having the above configuration will be explained with reference to the flowchart of the "touch position detection process" shown in FIG.
まず、本実施例のマトリックススイッチ・センス装置に
電源が投入されると、ＲＡＭ３の値をクリアする等の初
期設定が実行され（ステップ５１００）、続いて、スキ
ャン検出手段に相当するデジタルスキャン処理ＳＫＮが
実行される（ステップ３１１０ないし３１３０）。First, when the power is turned on to the matrix switch sense device of this embodiment, initial settings such as clearing the values of RAM3 are executed (step 5100), and then the digital scan processing SKN corresponding to the scan detection means is performed. is executed (steps 3110 to 3130).
即ち、ＣＰＵ１は、信号線３６を介して電源切替回路２
０の開閉器２０ｂおよび２０Ｃをオン状態にし、信号線
２６を介して選択切替回路１７の切替えを行ないセンス
線ｙ１ないしｙｎに順次所定の電圧を印加する。また、
このとき、ＣＰＵ ｉは、センス線ｙ１ないしｙｎのい
づれかのセンス線に電圧を印加している間に、信号線２
７を介して選択切替回路１６の切替えを行ない信号線３
５を介して入力されるセンス線ｙ１ないしｙｎの電圧の
レベルを判定する処理を行なう。これにより、複数の駆
動線×１ないしｘｎと複数のセンス線ｙ１ないしｙｎと
より構成された所定分解能のマトリックススイッチ１０
上のタッチ位置く押下位置）を検出することができる。That is, the CPU 1 connects to the power supply switching circuit 2 via the signal line 36.
0 switches 20b and 20C are turned on, the selection switching circuit 17 is switched via the signal line 26, and a predetermined voltage is sequentially applied to the sense lines y1 to yn. Also,
At this time, CPU i applies voltage to any of the sense lines y1 to yn, while applying voltage to signal line 2.
The selection switching circuit 16 is switched through the signal line 3 through the signal line 7.
Processing is performed to determine the voltage levels of the sense lines y1 to yn inputted via the sense lines y1 to yn. As a result, the matrix switch 10 with a predetermined resolution is configured of a plurality of drive lines x1 to xn and a plurality of sense lines y1 to yn.
The upper touch position or the pressed position can be detected.
尚、信号線３１には図示しないプルアップ抵抗器が接続
されている。Note that a pull-up resistor (not shown) is connected to the signal line 31.
一方、上記デジタルスキャン処理ＳＫＮ （ステップ５
１１０ないし３１３０）により検出された押下位置が、
上記所定分解能以上に必要とされる場合にはくステップ
５１４０）、続いて、アナログ検出手段に相当するアナ
ログ検出処理ＡＮＧが実行される（ステップ５１５０な
いし３１７０）。On the other hand, the above digital scan processing SKN (step 5
The pressed position detected by 110 to 3130) is
If the above-mentioned predetermined resolution or higher is required, step 5140), then analog detection processing ANG corresponding to the analog detection means is executed (steps 5150 to 3170).
今、例えば、第２図に示すマトリックススイッチ１０上
のポイントＰ１が押下されたとすると、ＣＰＵ１は、ま
ず、上記デジタルスキャン処理ＳＫＮにより検出された
押下位置Ｐ１に対応する駆動線ｘ２とセンス線ｙ２とを
位置座標（アドレス）としてＲＡＭ３に記憶する処理を
行なう（ステップ５１５０）。この後、ＣＰＵ１は、第
４図に示すように、駆動線×２とセンス線ｙ２とが重な
り合った特定エリアａｒｅの中から押下位置Ｐ１を検出
する処理を行なう（ステップ５１６０ないしＳｌ ７０
）。Now, for example, if point P1 on the matrix switch 10 shown in FIG. is stored in the RAM 3 as position coordinates (address) (step 5150). After that, as shown in FIG. 4, the CPU 1 performs a process of detecting the pressed position P1 from a specific area are where the drive line x2 and the sense line y2 overlap (steps 5160 to 70
).
即ち、ＣＰＵ１は、電源切替回路２０の開閉器２０ｂお
よび２０ｄをオン状態、開閉器２０ａおよび２０Ｃをオ
フ状態とした模、選択切替回路１７および１８を切替え
てセンス線ｙ２のみに所定電圧を印加し、選択切替回路
１５および１６を切替えて駆動線×２から検出されるア
ナログ電気信号を信号線３４およびＡ／Ｄ変換器４を介
して入力する（ステップ１６０）。同様に、ＣＰＵ１は
、電源切替回路２０の開閉器２０ａおよび２０Ｃをオン
状態、開閉器２０ｂおよび２０ｄをオフ状態とした後、
選択切替回路１５および１６を切替えて駆動線×２のみ
に所定電圧を印加し、選択切替回路１７および１８を切
替えてセンス線ｙ２から検出されるアナログ電気信号を
信号線３５およびＡ／Ｄ変換器４を介して入力する（ス
テップ１７０）。このアナログ検出処理ＡＮＧにより、
特定エリアａｒｅの中から押下位置Ｐ１のｘ、Ｘ座標の
アドレスがより高分解能で検出される。尚、第４図は、
押下位置Ｐ１のＸ座標を求めるときの等何回路を表わし
ている。That is, the CPU 1 switches the selection switching circuits 17 and 18 to apply a predetermined voltage only to the sense line y2, even though the switches 20b and 20d of the power supply switching circuit 20 are turned on and the switches 20a and 20C are turned off. , the selection switching circuits 15 and 16 are switched, and the analog electrical signals detected from the drive lines x2 are inputted via the signal line 34 and the A/D converter 4 (step 160). Similarly, the CPU 1 turns on the switches 20a and 20C of the power supply switching circuit 20 and turns off the switches 20b and 20d, and then
The selection switching circuits 15 and 16 are switched to apply a predetermined voltage only to the drive line x2, and the selection switching circuits 17 and 18 are switched to transfer the analog electrical signal detected from the sense line y2 to the signal line 35 and the A/D converter. 4 (step 170). With this analog detection processing ANG,
The address of the x and X coordinates of the pressed position P1 in the specific area are is detected with higher resolution. Furthermore, Figure 4 shows
It represents the circuit used when determining the X coordinate of the pressed position P1.
続く処理ステップ５１８０では、上記デジタルスキャン
処理ＳＫＮで求められたアドレスと上記アナログ検出処
理ＡＮＧで求められたアドレスとが同じか否か、即ち、
アナログ検出処理ＡＮＧで求められたアドレスがデジタ
ルスキャン処理ＳＫＮで求められた特定エリアａｒｅの
中に位置するか否かの確認判断を行なう。In the subsequent processing step 5180, it is determined whether or not the address obtained by the digital scan processing SKN is the same as the address obtained by the analog detection processing ANG.
A confirmation judgment is made as to whether or not the address found in the analog detection process ANG is located within the specific area are found in the digital scan process SKN.
上記ステップ３１８０において、肯定判断がなされた場
合には、アナログ検出処理ＡＮＧにより求められた高分
解能の押下位置Ｐ１のアドレスを、一方、上述したステ
ップ５１４０において、否定判断された場合には、デジ
タルスキャン処理ＳＫＮにより求められた所定分解能の
アドレスを、外部インターフェイス回路５を介して図示
しないＣＲＴ表示装置等の表示装置に出力する処理を行
なう（ステップ３１９０）。この後、あるいは上記ステ
ップ５１３０またはステップ５１８０において否定判断
された場合には、処理はステップ５１１０に戻る。If an affirmative determination is made in step 3180, the high-resolution address of the pressed position P1 determined by the analog detection process ANG is sent to the digital scan. A process is performed to output the address with a predetermined resolution obtained by the process SKN to a display device such as a CRT display device (not shown) via the external interface circuit 5 (step 3190). After this, or if a negative determination is made in step 5130 or step 5180, the process returns to step 5110.
以上、詳細に説明した本実施例のマトリックススイッチ
・センス装置によると、簡易な構成により、所定分解能
のデジタルスキャン処理と高分解能のアナログ検出処理
とを使い分けることができるという極めて汎用性の高い
優れた効果を有する。According to the matrix switch sense device of this embodiment described in detail above, it is extremely versatile and excellent in that it can selectively use digital scan processing with a predetermined resolution and analog detection processing with high resolution with a simple configuration. have an effect.
これにより、デジタルスキャン処理の分解能を高ればよ
いといった優れた効果を有する。また、例え、駆動線ま
たはセンス線の膜厚に不均一な部分を有していたとして
も、アナログ検出処理により検出された押下位置のアド
レスをデジタルスキャン処理により検出された位置と比
較しているので、検出された押下位置に一層の信頼性を
置くことができるといった優れた効果も奏する。更に、
デジタルスキャン処理とアナログ検出処理とを共に行な
うことができるので、デジタルスキャン処理時に、２点
以上押下されたことが検知でき、必だかも１点が押下さ
れた状態と誤認する事を防ぐことができるという効果も
有する。This has an excellent effect of increasing the resolution of digital scanning processing. Furthermore, even if the drive line or sense line has uneven thickness, the address of the pressed position detected by analog detection processing is compared with the position detected by digital scan processing. Therefore, an excellent effect is achieved in that the detected pressed position can be more reliable. Furthermore,
Since digital scan processing and analog detection processing can be performed together, it is possible to detect when two or more points have been pressed during digital scan processing, and it is possible to prevent misunderstanding that one point has been pressed. It also has the effect of being able to do so.
本発明のマトリックススイッチ・センス装置は、上記実
施例に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸
脱しない範囲において種々の態様で実施可能である。The matrix switch sense device of the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be implemented in various forms without departing from the gist of the present invention.
λ哩二四呈
本発明のマトリックススイッチ・センス装置によると、
簡易な構成により、所定分解能のスキャン検出手段（Ｍ
ｌ）と高分解能のアナログ検出手段（Ｍ２）とを使い分
けることができるという極めて汎用性の高い優れた効果
を有する。これにより、スキャン検出手段（Ｍｌ）の分
解能を高く構成する必要がなくなると共に、所定巾の駆
動線おいといった優れた効果を有する。また、例え、駆
動線またはセンス線の膜厚に不均一な部分を有していた
としても、アナログ検出手段（Ｍ２）により検出された
押下位置をデジタル検出手段（Ｍｌ）により検出された
位置と比較することができ、検出された押下位置に一層
の信頼性を置くことができるといった優れた効果も奏す
る。更に、デジタル検出手段（Ｍｌ）とアナログ検出手
段（Ｍ２）とを共に行なうことができるので、デジタル
検出手段（Ｍｌ）により２点以上押下されたことが検知
でき、アナログ検出手段（Ｍ２）が必だかも１点が押下
された状態と誤認することを防ぐことができるという効
果も有する。According to the matrix switch sense device of the present invention,
With a simple configuration, scan detection means (M
1) and the high-resolution analog detection means (M2) can be selectively used, which is an extremely versatile and excellent effect. This eliminates the need to configure the scan detection means (Ml) to have a high resolution, and has the excellent effect of providing a drive line with a predetermined width. Furthermore, even if the drive line or sense line has an uneven thickness, the pressed position detected by the analog detection means (M2) can be compared with the position detected by the digital detection means (Ml). It also has the excellent effect of being able to compare and placing greater reliability on the detected pressed position. Furthermore, since the digital detection means (Ml) and the analog detection means (M2) can be used together, the digital detection means (Ml) can detect that two or more points have been pressed, and the analog detection means (M2) is not necessary. Moreover, it also has the effect of preventing the erroneous recognition that one point is pressed.
第１図は本発明のマトリックススイッチ・センス装置の
基本構成を例示するブロック図、第２図は本発明一実施
例のマトリックススイッチ・センス装置を示す概略構成
図、第３図は「タッチ位置検出処理」を示すフローチャ
ート、第４図は押下位置Ｐ１のＸ座標を求める回路を示
す等価回路図、第５図は従来のマトリックススイッチ・
センス装置のマトリックススイッチを示す説明図、第６
図は従来のアナログタイプのセンス装置の構造を示すた
めの説明図、である。
７・・・電子制御装置
１０・・・マトリックススイッチ
２０・・・電源切替回路FIG. 1 is a block diagram illustrating the basic configuration of a matrix switch/sensing device of the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a matrix switch/sensing device of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a “touch position detection” FIG. 4 is an equivalent circuit diagram showing a circuit for determining the X coordinate of the pressed position P1, and FIG. 5 is a flowchart showing a conventional matrix switch.
Explanatory diagram showing the matrix switch of the sense device, No. 6
The figure is an explanatory diagram showing the structure of a conventional analog type sensing device. 7...Electronic control device 10...Matrix switch 20...Power switching circuit
Claims (1)
線を一定間隔をおいてマトリックス状に配列してなるマ
トリックススイッチのセンス装置であって、 上記センス線および駆動線が重なり合うことにより形成
され、該センス線と駆動線とが当接された箇所を含む特
定エリアを、順次スキャン走査することにより検出する
スキャン検出手段と、上記特定エリアを形成するセンス
線および駆動線の各々から検出される各々のアナログ電
気信号から、特定エリアの中の上記当接箇所を検出する
アナログ検出手段と、 を備えたことを特徴とするマトリックススイッチ・セン
ス装置。[Scope of Claim] A sense device for a matrix switch in which a plurality of sense lines and a plurality of drive lines each having a predetermined width are arranged in a matrix at regular intervals, wherein the sense lines and the drive lines are arranged in a matrix. a scan detection means that sequentially scans and detects a specific area that is formed by overlapping the sense line and the drive line and includes a portion where the sense line and the drive line are in contact; A matrix switch sense device comprising: analog detection means for detecting the contact point in a specific area from each analog electric signal detected from each one.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8199687A JP2512936B2 (en) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | Matrix switch / sense device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8199687A JP2512936B2 (en) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | Matrix switch / sense device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63247813A true JPS63247813A (en) | 1988-10-14 |
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ID=13762081
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1987
- 1987-04-02 JP JP8199687A patent/JP2512936B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010129034A (en) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | Dmc:Kk | Matrix type touch panel device |
| JP2011128921A (en) * | 2009-12-18 | 2011-06-30 | Fujitsu Component Ltd | Touch panel and coordinate detection method for the same |
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Also Published As
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