JPS63247649A - メツキ物の外観検査方法 - Google Patents
メツキ物の外観検査方法Info
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- JPS63247649A JPS63247649A JP62080887A JP8088787A JPS63247649A JP S63247649 A JPS63247649 A JP S63247649A JP 62080887 A JP62080887 A JP 62080887A JP 8088787 A JP8088787 A JP 8088787A JP S63247649 A JPS63247649 A JP S63247649A
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- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000005272 metallurgy Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈発明の利用分野〉
この発明は、メッキ物の外観検査方法に関する。
〈従来の技術〉
従来メッキ物の外観検査方法としては、例えば、目視に
よる方法、光沢度計を用いる方法、あるいはテレビカメ
ラを用いて光線反射率（輝度）を計測する方法等が知ら
れている。
よる方法、光沢度計を用いる方法、あるいはテレビカメ
ラを用いて光線反射率（輝度）を計測する方法等が知ら
れている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら、目視による方法は、全体的検査がきるも
のの、その正確性に難があり、また光沢度計を用いる方
法は、全体的検査に不向きであり、またテレビカメラを
用いる方法は、単に光線反射率にて捉えられるメツキネ
良のみを検査できるに過ぎない一−−−−−−等いずれ
も不十分なものであった。
のの、その正確性に難があり、また光沢度計を用いる方
法は、全体的検査に不向きであり、またテレビカメラを
用いる方法は、単に光線反射率にて捉えられるメツキネ
良のみを検査できるに過ぎない一−−−−−−等いずれ
も不十分なものであった。
そこで、この発明では、メッキ物の状態を同時に多角的
に検査できる検査方法を提供することを目的としている
。
に検査できる検査方法を提供することを目的としている
。
〈問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成するための手段としてこの発明では、イ
メージセンサを用い、メッキ物の検査対象面中の各表面
状態部位がその表面状態に応じて反射する各光線反射率
を計測すると同時に、この各光線反射率に対応させて各
表面状態部位の面積を計測することにより、各光線反射
率と面積との相関関係を捉え、モデルメッキ状態のメッ
キ物にて予め設定した基準相関関係と、個々の検査対象
メッキ物より得られる個別相関関係とを比較することを
要旨としている。
メージセンサを用い、メッキ物の検査対象面中の各表面
状態部位がその表面状態に応じて反射する各光線反射率
を計測すると同時に、この各光線反射率に対応させて各
表面状態部位の面積を計測することにより、各光線反射
率と面積との相関関係を捉え、モデルメッキ状態のメッ
キ物にて予め設定した基準相関関係と、個々の検査対象
メッキ物より得られる個別相関関係とを比較することを
要旨としている。
〈作 用〉
即ち、各光線反射率とこの各光線反射率に対応する表面
状態部分の占める面積とを、両者の相関関係を以て捉え
ることとしているので、光線反射率にて捉えられるメツ
キネ良を検出できると同時に、メッキ状態としてのメッ
キ層の厚薄などの分布状態、さらに面積の計測結果より
メッキ物の寸法をも検査でき、メッキ物の状態を同時に
多角的に検査できることになる。
状態部分の占める面積とを、両者の相関関係を以て捉え
ることとしているので、光線反射率にて捉えられるメツ
キネ良を検出できると同時に、メッキ状態としてのメッ
キ層の厚薄などの分布状態、さらに面積の計測結果より
メッキ物の寸法をも検査でき、メッキ物の状態を同時に
多角的に検査できることになる。
〈実 施 例〉
以下、この発明の実施例を第１図〜第３図を参照して説
明する。
明する。
このメッキ物の外観検査方法では、イメージセンサ１を
用い、メッキ物２（ＩＣＩＪ−ドフレーム）の検査対象
面３中の各表面状態部位がその表面状態に応じて反射す
る各光線反射率Ｘと、この各光線反射率Ｘに対応する各
表面状態部位の占める面積Ｙとを計測すると共に、この
各光線反射率Ｘと面積Ｙとの相関関係を捉えることとし
、しかも、モデルメッキ状態のメッキ物２にて予め設定
した基準相関関係と、個々の検査対象メッキ物より得ら
れる個別相関関係とを比較することとしている。即ち、
各光線反射率Ｘと面積Ｙとの相関関係を「相関曲線」と
して捉え、モデルメッキ状態のメッキ物２にて予め設定
した「基準相関曲線」と、個々の検査対象メッキ物２よ
り得られる「個別相関曲線」とを比較するもので、素材
部分４の基準相関曲線５及びメッキ部分６の基準相関曲
線７に対し、例えば錆びがある素材部分４の個別相関曲
線８、例えば硫化したメッキ部分６の個別相関曲線９、
例えば異物が付いたメッキ部分６の個別相関曲線１０、
例えば指紋の付いたメッキ部分６の個別相関曲線１１等
は、第３図に示す如く「ずれ」てくるので、この「ずれ
」の程度を以てメッキ物の外観を検査すると同時に、メ
ッキ状態としてのメッキ層の厚薄などの分布状態をも検
査するものであり、また、「相関曲線」によって囲まれ
た部分の面積を以てメッキ物２の寸法をも検査するもの
である。
用い、メッキ物２（ＩＣＩＪ−ドフレーム）の検査対象
面３中の各表面状態部位がその表面状態に応じて反射す
る各光線反射率Ｘと、この各光線反射率Ｘに対応する各
表面状態部位の占める面積Ｙとを計測すると共に、この
各光線反射率Ｘと面積Ｙとの相関関係を捉えることとし
、しかも、モデルメッキ状態のメッキ物２にて予め設定
した基準相関関係と、個々の検査対象メッキ物より得ら
れる個別相関関係とを比較することとしている。即ち、
各光線反射率Ｘと面積Ｙとの相関関係を「相関曲線」と
して捉え、モデルメッキ状態のメッキ物２にて予め設定
した「基準相関曲線」と、個々の検査対象メッキ物２よ
り得られる「個別相関曲線」とを比較するもので、素材
部分４の基準相関曲線５及びメッキ部分６の基準相関曲
線７に対し、例えば錆びがある素材部分４の個別相関曲
線８、例えば硫化したメッキ部分６の個別相関曲線９、
例えば異物が付いたメッキ部分６の個別相関曲線１０、
例えば指紋の付いたメッキ部分６の個別相関曲線１１等
は、第３図に示す如く「ずれ」てくるので、この「ずれ
」の程度を以てメッキ物の外観を検査すると同時に、メ
ッキ状態としてのメッキ層の厚薄などの分布状態をも検
査するものであり、また、「相関曲線」によって囲まれ
た部分の面積を以てメッキ物２の寸法をも検査するもの
である。
従って、光線反射率にて捉えられるメツキネ良を検出で
きると同時に、メッキ状態としてのメッキ層の厚薄など
の分布状態、メッキ物の寸法をも検査でき、メッキ物の
状態を同時に多角的に検査できることになる。さらに、
照明の時間的変化あるいは外乱光の変化等により光線反
射率全体が変化した場合にも、素材部分４の基準相関曲
線５とメッキ部分６の基準相関曲線７との関係（例えば
両基準相関曲線５．７各々のピーク光線反射率値の差）
を基にすることにより、これらの変化に影響されること
なくメッキ状態の検査をできることになる。
きると同時に、メッキ状態としてのメッキ層の厚薄など
の分布状態、メッキ物の寸法をも検査でき、メッキ物の
状態を同時に多角的に検査できることになる。さらに、
照明の時間的変化あるいは外乱光の変化等により光線反
射率全体が変化した場合にも、素材部分４の基準相関曲
線５とメッキ部分６の基準相関曲線７との関係（例えば
両基準相関曲線５．７各々のピーク光線反射率値の差）
を基にすることにより、これらの変化に影響されること
なくメッキ状態の検査をできることになる。
尚、この実施例では、「相関関係」を「相関曲線」とし
て捉えた例であるが、「相関関係」を数値として捉える
ものであってもよいことは勿論である。
て捉えた例であるが、「相関関係」を数値として捉える
ものであってもよいことは勿論である。
〈発明の効果〉
この発明に係るメッキ物の外観検査方法は、以上説明し
てきた如く、メッキ物の検査対象面中の各表面状態部位
がその表面状態に応じて反射する各光線反射率とこの各
光線反射率に対応する表面状態部分の占める面積とを、
両者の相関関係を以て捉えることとしているので、光線
反射率にて捉えられるメツキネ良を検出できると同時に
、メ・ツキ状態としてのメッキ層の厚薄なとの分布状態
、さらに面積の計測結果よりメ・ンキ物の寸法をも検査
でき、メッキ物の状態を同時に多角的に検査できるとい
う秀れた効果がある。
てきた如く、メッキ物の検査対象面中の各表面状態部位
がその表面状態に応じて反射する各光線反射率とこの各
光線反射率に対応する表面状態部分の占める面積とを、
両者の相関関係を以て捉えることとしているので、光線
反射率にて捉えられるメツキネ良を検出できると同時に
、メ・ツキ状態としてのメッキ層の厚薄なとの分布状態
、さらに面積の計測結果よりメ・ンキ物の寸法をも検査
でき、メッキ物の状態を同時に多角的に検査できるとい
う秀れた効果がある。
第１図は、この発明の実施例に用いるイメージセンサと
メッキ物とを示す概略斜視図、第２図は、メッキ物の検
査対象面を示す概略平面図、そして 第３図は、各光線反射率と面積との相関曲線図である。 １−−−−−−−イメージセンサ ２−−−−・−メッキ物 ３・−一−−−・・検査対象面
メッキ物とを示す概略斜視図、第２図は、メッキ物の検
査対象面を示す概略平面図、そして 第３図は、各光線反射率と面積との相関曲線図である。 １−−−−−−−イメージセンサ ２−−−−・−メッキ物 ３・−一−−−・・検査対象面
Claims (1)
- イメージセンサにて、メッキ物の検査対象面中の各表面
状態部位がその表面状態に応じて反射する各光線反射率
を計測すると同時に、この各光線反射率に対応させて各
表面状態部位の面積を計測することにより、各光線反射
率と面積との相関関係を捉え、モデルメッキ状態のメッ
キ物にて予め設定した基準相関関係と、個々の検査対象
メッキ物より得られる個別相関関係とを比較することを
特徴とするメッキ物の外観検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8088787A JPH07119706B2 (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | メツキ物の外観検査方法 |
| US07/082,097 US4851902A (en) | 1986-10-29 | 1987-08-05 | Auatomatic inspection system for IC lead frames and visual inspection method thereof |
| GB8722303A GB2197948B (en) | 1986-10-29 | 1987-09-22 | Automatic inspection system for and electro-optic methods of inspection of ic lead frames |
| SG313/93A SG31393G (en) | 1986-10-29 | 1993-03-22 | Automatic inspection system for an electro-optic methods of inspection of ic lead frames |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8088787A JPH07119706B2 (ja) | 1987-04-03 | 1987-04-03 | メツキ物の外観検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63247649A true JPS63247649A (ja) | 1988-10-14 |
| JPH07119706B2 JPH07119706B2 (ja) | 1995-12-20 |
Family
ID=13730856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8088787A Expired - Lifetime JPH07119706B2 (ja) | 1986-10-29 | 1987-04-03 | メツキ物の外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07119706B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4566374B2 (ja) * | 2000-09-22 | 2010-10-20 | イビデン株式会社 | 画像処理検査方法 |
| CN114117595A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-03-01 | 中铁大桥勘测设计院集团有限公司 | 涂装面积的计算方法、装置、设备及可读存储介质 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6156564U (ja) * | 1984-09-19 | 1986-04-16 |
-
1987
- 1987-04-03 JP JP8088787A patent/JPH07119706B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6156564U (ja) * | 1984-09-19 | 1986-04-16 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4566374B2 (ja) * | 2000-09-22 | 2010-10-20 | イビデン株式会社 | 画像処理検査方法 |
| CN114117595A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-03-01 | 中铁大桥勘测设计院集团有限公司 | 涂装面积的计算方法、装置、设备及可读存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07119706B2 (ja) | 1995-12-20 |
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