JPS63246640A - 米のアミロ−スまたはアミロペクチンの含有量測定方法およびその装置 - Google Patents
米のアミロ−スまたはアミロペクチンの含有量測定方法およびその装置Info
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- JPS63246640A JPS63246640A JP62081875A JP8187587A JPS63246640A JP S63246640 A JPS63246640 A JP S63246640A JP 62081875 A JP62081875 A JP 62081875A JP 8187587 A JP8187587 A JP 8187587A JP S63246640 A JPS63246640 A JP S63246640A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野)
本発明は米の品質を左右する成分の一部をなすアミロー
スまたはアミロペクチンの含有量を測定する方法とその
装置に関する。
スまたはアミロペクチンの含有量を測定する方法とその
装置に関する。
米の品質、すなわちその食味は、品種の選択。
生産地、栽培方法、収穫方法等の生産段階で決定される
もの、あるいは、乾燥、貯蔵、精米加工等の収穫後の加
工処理段階で決定されるもの、また炊飯加工時に影響を
受けるものと多岐に亘るものであるが、最も大きな影響
を受けるのは生産段階であり、次いで加工処理段階であ
る。
もの、あるいは、乾燥、貯蔵、精米加工等の収穫後の加
工処理段階で決定されるもの、また炊飯加工時に影響を
受けるものと多岐に亘るものであるが、最も大きな影響
を受けるのは生産段階であり、次いで加工処理段階であ
る。
一般的に、食味の良い銘柄として人気の高いのは、コシ
ヒカリ、ササニシキであるが、これ等の食味が良いとす
る主要素は、他の一般銘柄米に比べて澱粉質に占めるア
ミロースの含有口が少ないことにある。勿論、同一銘柄
であれば澱粉質に占めるアミロースの含有量が同一であ
るというものではなく、栽培された産地の条件(土質、
水質)によっても、また気象条件(気温1日照時間、降
雨等)によっても含有量は変化するものであるから、た
とえ前年度の食味評価が高かったとしても、今年度収穫
される米の食味が前年度と同一であるという保証はなく
、過去に調査した食味のデータを頼りとして米の買い付
け、あるいは配合を決定することは、必ずしも合理的な
米の管理ということができない。
ヒカリ、ササニシキであるが、これ等の食味が良いとす
る主要素は、他の一般銘柄米に比べて澱粉質に占めるア
ミロースの含有口が少ないことにある。勿論、同一銘柄
であれば澱粉質に占めるアミロースの含有量が同一であ
るというものではなく、栽培された産地の条件(土質、
水質)によっても、また気象条件(気温1日照時間、降
雨等)によっても含有量は変化するものであるから、た
とえ前年度の食味評価が高かったとしても、今年度収穫
される米の食味が前年度と同一であるという保証はなく
、過去に調査した食味のデータを頼りとして米の買い付
け、あるいは配合を決定することは、必ずしも合理的な
米の管理ということができない。
−例として、−各銘柄米の標準精白度白米に含有するア
ミロースは次表の通りである。
ミロースは次表の通りである。
(アミロースの含有量は澱粉質100%に対する比率を
示す) そこで、特定の有名銘柄のみにとられれず、化学的に米
のアミロースまたはアミロペクチンの含有量を分析して
食味の判定を行い、一般銘柄米から良品質の米を見出す
とともに、食味評価の低位ランク米の食味をいかに向上
させるかというテーマが生まれる。通常、精米工場では
単一銘柄米のみを確保することが難しく、数種銘柄の米
を配合して精米がなされており、食味評価の上位ランク
米と低位ランク米とが適度に混合されて食味の安定した
精白米が流通しているものであるが、これ等は銘柄と産
地との組合せを勘に頼って処理がなされているのが実情
であり、化学的な裏付けがないために食味が一様でなく
度々消費者から苦情が提起されるものであった。一方、
うるち米(一般白米)にモチ米を若干吊加えて炊飯する
と食味がよくなると旧来より言い伝えられているが、こ
のことは、モチ米を加えることにより米飯の粘性が増大
して食味感覚が向上するためである。前述したように、
澱粉質に占めるアミロースの含有量が多いと食味は低下
する傾向となるが、澱粉質はアミロースとアミロペクチ
ンとによって構成されているから、アミロースの含有量
が20%であるならアミロペクチンの含有量は80%と
いうことになる。モチ米の澱粉質に占めるアミロペクチ
ンの含有量は略100%であるので、一般うるち米のア
ミロペクチンの含有量が78%程度であるものにモチ米
を若干M混入すれば、アミロペクチン含有量の多い米の
食味とほぼ同等に食味が向上するものである。しかし、
アミロペクチン含有量が適度を越すと、粘性が強すぎて
米飯として逆に食味の感覚を低下するものである。
示す) そこで、特定の有名銘柄のみにとられれず、化学的に米
のアミロースまたはアミロペクチンの含有量を分析して
食味の判定を行い、一般銘柄米から良品質の米を見出す
とともに、食味評価の低位ランク米の食味をいかに向上
させるかというテーマが生まれる。通常、精米工場では
単一銘柄米のみを確保することが難しく、数種銘柄の米
を配合して精米がなされており、食味評価の上位ランク
米と低位ランク米とが適度に混合されて食味の安定した
精白米が流通しているものであるが、これ等は銘柄と産
地との組合せを勘に頼って処理がなされているのが実情
であり、化学的な裏付けがないために食味が一様でなく
度々消費者から苦情が提起されるものであった。一方、
うるち米(一般白米)にモチ米を若干吊加えて炊飯する
と食味がよくなると旧来より言い伝えられているが、こ
のことは、モチ米を加えることにより米飯の粘性が増大
して食味感覚が向上するためである。前述したように、
澱粉質に占めるアミロースの含有量が多いと食味は低下
する傾向となるが、澱粉質はアミロースとアミロペクチ
ンとによって構成されているから、アミロースの含有量
が20%であるならアミロペクチンの含有量は80%と
いうことになる。モチ米の澱粉質に占めるアミロペクチ
ンの含有量は略100%であるので、一般うるち米のア
ミロペクチンの含有量が78%程度であるものにモチ米
を若干M混入すれば、アミロペクチン含有量の多い米の
食味とほぼ同等に食味が向上するものである。しかし、
アミロペクチン含有量が適度を越すと、粘性が強すぎて
米飯として逆に食味の感覚を低下するものである。
なお、本発明でいう含有量とは澱粉質に占めるアミロー
スまたはアミロペクチンの比率であり、精白米全体に占
める澱粉質の含有ωは約75%であるので、アミロース
の含有比率が20%の米は精白米全体に占めるアミロー
ス含有量は15%であり、この表示を使用することもで
きる。
スまたはアミロペクチンの比率であり、精白米全体に占
める澱粉質の含有ωは約75%であるので、アミロース
の含有比率が20%の米は精白米全体に占めるアミロー
ス含有量は15%であり、この表示を使用することもで
きる。
従来、米飯の食味の評価方法として、複数の専門審査官
が実際に食して官能的に評価する官能検査、あるいは物
理的測定によって粘度や硬さを測定し食味を評価する方
法があり、装置としてはブラベンダーアミログラフやテ
クスチュロメータ−などが知られている。また、化学的
に含有成分を測定して米の品質すなわち食味を評価しよ
うとする試みが行われており、澱粉中のアミロースまた
はアミロペクチンの化学的測定法としてはヨウ素呈色比
色法やヨウ素電流滴定法などが利用されている。しかし
、いずれの方法も測定にかなりの熟練を要し、バラツキ
も大きく、測定に長時間を要するという問題点があった
。
が実際に食して官能的に評価する官能検査、あるいは物
理的測定によって粘度や硬さを測定し食味を評価する方
法があり、装置としてはブラベンダーアミログラフやテ
クスチュロメータ−などが知られている。また、化学的
に含有成分を測定して米の品質すなわち食味を評価しよ
うとする試みが行われており、澱粉中のアミロースまた
はアミロペクチンの化学的測定法としてはヨウ素呈色比
色法やヨウ素電流滴定法などが利用されている。しかし
、いずれの方法も測定にかなりの熟練を要し、バラツキ
も大きく、測定に長時間を要するという問題点があった
。
本発明は、前記従来技術の問題点を解消するために、近
赤外線光においてアミロースの含有量差が吸光度差とし
て顕著に現れる波長を用いて、米の食味を左右する主要
成分の一部をなす澱粉中のアミロースまたはアミロペク
チンの含有量を容易かつ迅速に測定する米のアミロース
またはアミロペクチンの含有量測定装置を提供すること
を目的とするものである。
赤外線光においてアミロースの含有量差が吸光度差とし
て顕著に現れる波長を用いて、米の食味を左右する主要
成分の一部をなす澱粉中のアミロースまたはアミロペク
チンの含有量を容易かつ迅速に測定する米のアミロース
またはアミロペクチンの含有量測定装置を提供すること
を目的とするものである。
第1の発明のアミロースまたはアミロペクチンの含有量
測定方法は、異なる試料米に対して近赤外線光を照射し
たとき、米を構成する主要成分である澱粉中のアミロー
スまたはアミロペクチンの含有量の多少が吸光度差とし
て顕著に現われる波長を主波長とする狭帯域透過フィル
ターを備えた近赤外線分光分析装置によって試料米の吸
光度を測定し、既知の米のアミロースまたはアミロペク
チンの含有量と既知の米の吸光度とで演算され、設定さ
れた含有量換算係数値と前記試料米の吸光度′とで米の
アミロースまたはアミロペクチンの含有量を演算し、表
示する米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量測
定方法であって、前記試料米が定量供給装置付粉砕装置
によって、定量供給して粉砕したものである。
測定方法は、異なる試料米に対して近赤外線光を照射し
たとき、米を構成する主要成分である澱粉中のアミロー
スまたはアミロペクチンの含有量の多少が吸光度差とし
て顕著に現われる波長を主波長とする狭帯域透過フィル
ターを備えた近赤外線分光分析装置によって試料米の吸
光度を測定し、既知の米のアミロースまたはアミロペク
チンの含有量と既知の米の吸光度とで演算され、設定さ
れた含有量換算係数値と前記試料米の吸光度′とで米の
アミロースまたはアミロペクチンの含有量を演算し、表
示する米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量測
定方法であって、前記試料米が定量供給装置付粉砕装置
によって、定量供給して粉砕したものである。
また、第2の発明の米のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量測定装置は、光源と、該光源が発する光のう
ち、異なる試料米に対して近赤外線光を照射したとき、
米を構成する主要成分である澱粉中のアミロースまたは
アミロペクチンの含有量の多少が吸光度差として顕著に
現われる波長のみを透過させる狭帯域透過フィルターと
、前記測定部に配置される試料米からの光量を検出する
検出器とを備えた近赤外線分光分析装置と、 既知の米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量と
吸光度とで演算され設定された前記試料米の含有量計算
のための含有量換算係数値を記憶する記憶装置と、この
記憶装置に記憶された前記含有m換算係数値と前記検出
器がらの検出信号とに基づき、試料米のアミロースまた
はアミロペクチンの含有量を演算する演算装置とを備え
た制御装置と、 この制御装置に接続され、前記演算装置が演算した試料
米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量を可視表
示または印字表示する表示装置と、 前記試料米を定量供給して粉砕する定量供給装置付粉砕
装置と、 前記試料米が充填され、前記赤外線分光分析装置の前記
測定部に配置される試料容器と、によって構成されるも
のである。
ンの含有量測定装置は、光源と、該光源が発する光のう
ち、異なる試料米に対して近赤外線光を照射したとき、
米を構成する主要成分である澱粉中のアミロースまたは
アミロペクチンの含有量の多少が吸光度差として顕著に
現われる波長のみを透過させる狭帯域透過フィルターと
、前記測定部に配置される試料米からの光量を検出する
検出器とを備えた近赤外線分光分析装置と、 既知の米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量と
吸光度とで演算され設定された前記試料米の含有量計算
のための含有量換算係数値を記憶する記憶装置と、この
記憶装置に記憶された前記含有m換算係数値と前記検出
器がらの検出信号とに基づき、試料米のアミロースまた
はアミロペクチンの含有量を演算する演算装置とを備え
た制御装置と、 この制御装置に接続され、前記演算装置が演算した試料
米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量を可視表
示または印字表示する表示装置と、 前記試料米を定量供給して粉砕する定量供給装置付粉砕
装置と、 前記試料米が充填され、前記赤外線分光分析装置の前記
測定部に配置される試料容器と、によって構成されるも
のである。
〔作 用)
異なる試料米に対して近赤外線光を照射したとき、各試
料米量に吸光度の差が顕著に現われる波長が見られる。
料米量に吸光度の差が顕著に現われる波長が見られる。
本発明はこの吸光度特性を利用し、吸光度を検出する検
出器からの検出信号とアミロースまたはアミロペクチン
の含有量計算のために、あらかじめ含有量を正確に測定
した多数の米のアミロースまたはアミロペクチンの含有
mと吸光度とで演算した含有l換算係数値に基づき、定
量供給装置付粉砕装置で粉砕した試料米のアミロースま
たはアミロペクチンの含有量を演算し表示するものであ
る。
出器からの検出信号とアミロースまたはアミロペクチン
の含有量計算のために、あらかじめ含有量を正確に測定
した多数の米のアミロースまたはアミロペクチンの含有
mと吸光度とで演算した含有l換算係数値に基づき、定
量供給装置付粉砕装置で粉砕した試料米のアミロースま
たはアミロペクチンの含有量を演算し表示するものであ
る。
前記試料米に照射される近赤外線光が試料米に吸収され
るのは分子を構成する原子の連鎖が熱エネルギーにより
伸縮振動および変角振動するために起こる現象であり、
原子の種類と連鎖状態により固有撮動数が異なるために
近赤外線の波長域で振動の大きざが変化し、熱吸収特性
を生じるためである。試料米中の澱粉、すなわちアミロ
ースとアミロペクチンは分子の大きさが約10ミクロン
で、両者共分子式がブドウ等(C6H1206)の20
0〜500個の結合であり、いわゆる異性体として連鎖
構造が異なるだけであるために、近赤外線光によって、
その含有量を精度を確保して測定するのは困難であった
が定量供給装置付粉砕装置で粉砕して粒度分布を略一定
にした微砕粒で測定することにより、その正確な測定が
可能である。
るのは分子を構成する原子の連鎖が熱エネルギーにより
伸縮振動および変角振動するために起こる現象であり、
原子の種類と連鎖状態により固有撮動数が異なるために
近赤外線の波長域で振動の大きざが変化し、熱吸収特性
を生じるためである。試料米中の澱粉、すなわちアミロ
ースとアミロペクチンは分子の大きさが約10ミクロン
で、両者共分子式がブドウ等(C6H1206)の20
0〜500個の結合であり、いわゆる異性体として連鎖
構造が異なるだけであるために、近赤外線光によって、
その含有量を精度を確保して測定するのは困難であった
が定量供給装置付粉砕装置で粉砕して粒度分布を略一定
にした微砕粒で測定することにより、その正確な測定が
可能である。
本発明の実施例を第1図〜第10図により説明する。
第1図、第2図において、符号1で示す近赤外線分光分
析装置1のキャビネット2内の上部には光源4と反射l
t5とを関連的に配設し、反射鏡5の前面には複数個の
特定波長のフィルター6・・・を設ける。フィルター6
・・・を電動機10に連結し、電動機10の微回動によ
って照射光軸と任意のフィルター6の交差角度を任意に
設定可能としである。積分球7の上部にはスリット3の
隙間を通過した特定波長の近赤外線を取り入れる窓8を
設けである。積分球7の下方内部に反射光量検出器9A
、9Bを対称な位置に設け、積分球7の底部を開口して
測定部11とし、測定部11に透明板12を設け、その
下方に透過光量検出器9Cを配設しである。キャビネッ
ト2内部の側方には試料供給装置13を配設する。試料
供給装置13は、キャビネット2の上壁−側部14を開
口して供給ホッパー15を装着し、ホッパー15の開口
部16の下部に回転翼17を取付けたロータリーバルブ
18を連結し、側壁にレベル計19を装着しである。
析装置1のキャビネット2内の上部には光源4と反射l
t5とを関連的に配設し、反射鏡5の前面には複数個の
特定波長のフィルター6・・・を設ける。フィルター6
・・・を電動機10に連結し、電動機10の微回動によ
って照射光軸と任意のフィルター6の交差角度を任意に
設定可能としである。積分球7の上部にはスリット3の
隙間を通過した特定波長の近赤外線を取り入れる窓8を
設けである。積分球7の下方内部に反射光量検出器9A
、9Bを対称な位置に設け、積分球7の底部を開口して
測定部11とし、測定部11に透明板12を設け、その
下方に透過光量検出器9Cを配設しである。キャビネッ
ト2内部の側方には試料供給装置13を配設する。試料
供給装置13は、キャビネット2の上壁−側部14を開
口して供給ホッパー15を装着し、ホッパー15の開口
部16の下部に回転翼17を取付けたロータリーバルブ
18を連結し、側壁にレベル計19を装着しである。
ホッパー15の下部に多数の鋭利な突部を有する一対の
ローラー20.21を対向回転自在に軸架し、さらにそ
の下方に表面を平滑面とした一対の細粉用ローラー22
.23を対向回転自在に軸架し、粉砕室24内部の前記
ローラー20.21,22.23に対面して電磁弁を備
えた噴射ノズルとローラーに接触する弾性材とからなる
清掃装置25A〜25Dを設けである。
ローラー20.21を対向回転自在に軸架し、さらにそ
の下方に表面を平滑面とした一対の細粉用ローラー22
.23を対向回転自在に軸架し、粉砕室24内部の前記
ローラー20.21,22.23に対面して電磁弁を備
えた噴射ノズルとローラーに接触する弾性材とからなる
清掃装置25A〜25Dを設けである。
粉砕室24の下方部に粉砕粒の選別装置26を配設して
あり、選別装置26は、−側部に粗粒子排出口27を固
設した振動フレーム28を板バネ29により支架し、振
動フレーム28に多孔壁板30を装脱自在に設け、振動
フレーム28の側面31に近接して電磁石32を固設し
である。
あり、選別装置26は、−側部に粗粒子排出口27を固
設した振動フレーム28を板バネ29により支架し、振
動フレーム28に多孔壁板30を装脱自在に設け、振動
フレーム28の側面31に近接して電磁石32を固設し
である。
選別装置26の下方に粉砕試料を充填する試料容器33
を設ける(第3図参照)。試料容器33は底壁面を透光
材とし、試料容器移動体34に装着した容器受台35に
設けた案内溝36に装脱自在としである。試料容器33
の移動機構として、−側部にラック37を固設した試料
容器移動体34を中空軸とし該移動体34に断面丸状の
軌道軸38を挿入し、軌道軸38の一側部39を回動用
ハンドル40に他側部41を軸受台42に軸架し、キャ
ビネット2の底壁に固設した受台43に支点台44を装
着し、試料容器移動体34のラック37にモーター45
に軸着した歯車46を噛み合わせ、モータ一台47にモ
ーター45を装着したその端部を試料容器移動体34に
遊嵌すると共に、モータ一台47と支点台44とにロン
ドが伸縮する電磁石48を回動自在に連結しである。4
9は、試料容器33上の粉砕試料を圧縮充填すると共に
、過量試料を取除くための試料充填器となす回転ローラ
ー、50は試料容器33の位置を充填部に設定するため
の充填部位置センサー、51は試料容器33の位置を測
定部に設定するための測定部位置センサーであり、セン
サー51と透過光量検出器9Cのそれぞれはモーター4
5に固着した支持杆に装着しである。63は、ローラー
20.21.22.23および回転ローラー49を回転
駆動する電動機である。52は試料容器33内から試料
を噴風により排除させると共に清掃を行う噴射ノズル、
53は不要試料米を受取る受箱、54Aは透明板12に
接殖して清掃する試料容器移動体34に固設した清(,
1器であり、54Bは透過光量検出器9Cの表面を清掃
する清掃器である。試料容器33の凹部側壁には試料温
度を検出するサーミスタを埋設して温度検出器65とし
、温度検出器65に連結した端子66を試料容器33の
外側壁から突出させ、積分球7の外側部に湿度検出器6
5の端子66の圧着部67を設けてあり、圧着部67は
後述する制御装置59に電気的に連結しである。キャビ
ネット2の前面部には表示器55Aよりなる表示装置5
5.操作用ボタン56・・・。
を設ける(第3図参照)。試料容器33は底壁面を透光
材とし、試料容器移動体34に装着した容器受台35に
設けた案内溝36に装脱自在としである。試料容器33
の移動機構として、−側部にラック37を固設した試料
容器移動体34を中空軸とし該移動体34に断面丸状の
軌道軸38を挿入し、軌道軸38の一側部39を回動用
ハンドル40に他側部41を軸受台42に軸架し、キャ
ビネット2の底壁に固設した受台43に支点台44を装
着し、試料容器移動体34のラック37にモーター45
に軸着した歯車46を噛み合わせ、モータ一台47にモ
ーター45を装着したその端部を試料容器移動体34に
遊嵌すると共に、モータ一台47と支点台44とにロン
ドが伸縮する電磁石48を回動自在に連結しである。4
9は、試料容器33上の粉砕試料を圧縮充填すると共に
、過量試料を取除くための試料充填器となす回転ローラ
ー、50は試料容器33の位置を充填部に設定するため
の充填部位置センサー、51は試料容器33の位置を測
定部に設定するための測定部位置センサーであり、セン
サー51と透過光量検出器9Cのそれぞれはモーター4
5に固着した支持杆に装着しである。63は、ローラー
20.21.22.23および回転ローラー49を回転
駆動する電動機である。52は試料容器33内から試料
を噴風により排除させると共に清掃を行う噴射ノズル、
53は不要試料米を受取る受箱、54Aは透明板12に
接殖して清掃する試料容器移動体34に固設した清(,
1器であり、54Bは透過光量検出器9Cの表面を清掃
する清掃器である。試料容器33の凹部側壁には試料温
度を検出するサーミスタを埋設して温度検出器65とし
、温度検出器65に連結した端子66を試料容器33の
外側壁から突出させ、積分球7の外側部に湿度検出器6
5の端子66の圧着部67を設けてあり、圧着部67は
後述する制御装置59に電気的に連結しである。キャビ
ネット2の前面部には表示器55Aよりなる表示装置5
5.操作用ボタン56・・・。
手動操作ボタン56A、自動操作ボタン56B。
透過光量測定選択ボタン56C1反射・透過併用選択ボ
タン56Dのそれぞれを設ける。58はプリンター、5
9は制御装置であり、アミロースまたはアミロペクチン
の含有量を演算する含有量換算係数値、温度設定値、温
度補正値を設定した記憶vt置61と、演算装置60と
、信号処理装置62等を備えている。第4図において、
57はキャビネット2の前面開口部に設けた試料米の外
部供給部である。
タン56Dのそれぞれを設ける。58はプリンター、5
9は制御装置であり、アミロースまたはアミロペクチン
の含有量を演算する含有量換算係数値、温度設定値、温
度補正値を設定した記憶vt置61と、演算装置60と
、信号処理装置62等を備えている。第4図において、
57はキャビネット2の前面開口部に設けた試料米の外
部供給部である。
次に、第5図により制御装置59の構成につき説明する
。演算装置60.記憶装置61.信号処理装置62等か
らなる制御装置59の入力 、側には、反射光量検出器
9A、9B、透過光量検出器9C,レベル計191位置
センサー50゜51、自動操作ボタン56B9反射・透
過併用選択ボタン56D、温度検出器65,78.キー
ボード64のそれぞれを連結し、制御装置59の出力側
には表示装置55.プリンター58を連結し、また、光
源4.電動機10.63゜電磁石18.32.48.モ
ーター45.清浄装置25A〜25D、噴射ノズル52
はそれぞれ駆動装置68〜76を介して制御装置59の
出力側に連結しである。
。演算装置60.記憶装置61.信号処理装置62等か
らなる制御装置59の入力 、側には、反射光量検出器
9A、9B、透過光量検出器9C,レベル計191位置
センサー50゜51、自動操作ボタン56B9反射・透
過併用選択ボタン56D、温度検出器65,78.キー
ボード64のそれぞれを連結し、制御装置59の出力側
には表示装置55.プリンター58を連結し、また、光
源4.電動機10.63゜電磁石18.32.48.モ
ーター45.清浄装置25A〜25D、噴射ノズル52
はそれぞれ駆動装置68〜76を介して制御装置59の
出力側に連結しである。
以下に上記構成における作用を第1図〜第10図により
説明する。キーボード64から米のアミロースまたはア
ミロペクチンの含有量を演算するための含有量換算係数
値、温度設定値、および温度補正値を制御装置59の記
憶装置61に設定するか、あらかじめ前記記憶装置に入
力しである。(ステップS+)。
説明する。キーボード64から米のアミロースまたはア
ミロペクチンの含有量を演算するための含有量換算係数
値、温度設定値、および温度補正値を制御装置59の記
憶装置61に設定するか、あらかじめ前記記憶装置に入
力しである。(ステップS+)。
アミロースの含有■換算係数値は多数の試料を化学定量
分析法、たとえばヨウ素呈色比色法やヨウ素電流滴定法
を用いて正確に測定された含有量を基準とし、受光素子
からの任意の検出値を信号処理した値とを多重回帰分析
(あるいは多元回帰分析とも呼ばれる。)プログラムを
利用して求めである。
分析法、たとえばヨウ素呈色比色法やヨウ素電流滴定法
を用いて正確に測定された含有量を基準とし、受光素子
からの任意の検出値を信号処理した値とを多重回帰分析
(あるいは多元回帰分析とも呼ばれる。)プログラムを
利用して求めである。
第9図に示すとおり、近赤外線のうち、短波長域である
1900nm以下の波長域は低吸光度域であり、アミロ
ース含有量の差に対して吸光度差が微差であるが、19
00nmを分岐点として高吸光度域に移行するので、1
900nm以上の特定波長でアミロース含有量差が吸光
度差に顕著に現れる。
1900nm以下の波長域は低吸光度域であり、アミロ
ース含有量の差に対して吸光度差が微差であるが、19
00nmを分岐点として高吸光度域に移行するので、1
900nm以上の特定波長でアミロース含有量差が吸光
度差に顕著に現れる。
この現象を利用し、1900nm〜2500nmの波長
域のうち任意の波長帯の近赤外線を試料米に照射して得
られる吸光度をアミロースまたはアミロペクチンの含有
間に換算する成分換算係数値で演算してアミロースまた
はアミロペクチンの含有間を測定するものである。
域のうち任意の波長帯の近赤外線を試料米に照射して得
られる吸光度をアミロースまたはアミロペクチンの含有
間に換算する成分換算係数値で演算してアミロースまた
はアミロペクチンの含有間を測定するものである。
なお、第9図の実線はアミロース含有mが、21.4%
の日本晴、一点鎖線は19.9%のコシヒカリ、破線は
23.2%のイシカリであり、上述したように1900
nm〜2500nmの波長域の近赤外線は、アミロース
含有量差が微差であっても含有mの測定を可能とする。
の日本晴、一点鎖線は19.9%のコシヒカリ、破線は
23.2%のイシカリであり、上述したように1900
nm〜2500nmの波長域の近赤外線は、アミロース
含有量差が微差であっても含有mの測定を可能とする。
ここで多重回帰分析の一例を示す。例えば5個のフィル
ターF + =2100nm、 F 2 =2150n
m。
ターF + =2100nm、 F 2 =2150n
m。
F 3 =2250nm、 F 4 =2250nm
、 F 5=2370nmを使用した時に次の線型関
係が成立するものとする。
、 F 5=2370nmを使用した時に次の線型関
係が成立するものとする。
Aa =FO+F+ ”Xla +F2 ”X
2a +F3 ・ X3a +F4 ・ x4 a
+F5 φXsa+C Aaは試料米aを化学定置分析法により測定したアミロ
ースの含有量パーセント。
2a +F3 ・ X3a +F4 ・ x4 a
+F5 φXsa+C Aaは試料米aを化学定置分析法により測定したアミロ
ースの含有量パーセント。
Fo〜F5はこの多重回帰分析で求める係数値。
X18〜X5aはF1〜F5のフィルターの番号にそれ
ぞれ対応し、試料米aを近赤外線分光分析装置で測定し
た吸光度(looIo/I)。
ぞれ対応し、試料米aを近赤外線分光分析装置で測定し
た吸光度(looIo/I)。
+0010/I(吸光度)は基準照射光量(全照射光f
f1)Ioに対する試料米からの反射光量■の比の逆数
の常用対数である。
f1)Ioに対する試料米からの反射光量■の比の逆数
の常用対数である。
Cは誤差項であり、ここではC= 0とする。
試料aの場合(9図実線と仮定すれば)はXla =
0.61 、 X2a = 0.56 、 X3a −
0,54、X4 a = 0.66 、 Xs a =
0.65であり、前記多重回帰式は Aa =F(+ + 0.61 F + + 0.56
F2 +0.54 F3 + 0.66 F4 十0
.65 F5 となる。
0.61 、 X2a = 0.56 、 X3a −
0,54、X4 a = 0.66 、 Xs a =
0.65であり、前記多重回帰式は Aa =F(+ + 0.61 F + + 0.56
F2 +0.54 F3 + 0.66 F4 十0
.65 F5 となる。
同様にしてn個の試料米までの多重回帰式に吸光度を代
入して次に示す成分換算係数値を得ることができる。
入して次に示す成分換算係数値を得ることができる。
A =33.3+2380X I −2300X 2−
640X 3 十1405X 4−880X s また前述の通り、試料米に照射される近赤外線が試料米
に吸収されるのは分子を構成する原子の連鎖が熱エネル
ギーにより振動するために起こる現象であり、原子の種
類と連鎖状態により固有振動数が異なるために近赤外線
の波長域で振動の大きさが変化し熱吸収を生じるためで
あり、試料が初期に持っている熱エネルギーが少ない場
合(温度が低い場合)には振動が小さいために分子構造
の違いによる吸収間が正確に測定されないので温度の補
正をする必要が生じる。第7図に示すものは、−実験例
として温度検出器65の検出温度によりアミロースの測
定値を補正する温度補正値を示すものである。20℃以
上の場合は補正を要しないが10℃の場合は1.0パー
セント加算して真値となる。またその問は略直線的変化
であった。
640X 3 十1405X 4−880X s また前述の通り、試料米に照射される近赤外線が試料米
に吸収されるのは分子を構成する原子の連鎖が熱エネル
ギーにより振動するために起こる現象であり、原子の種
類と連鎖状態により固有振動数が異なるために近赤外線
の波長域で振動の大きさが変化し熱吸収を生じるためで
あり、試料が初期に持っている熱エネルギーが少ない場
合(温度が低い場合)には振動が小さいために分子構造
の違いによる吸収間が正確に測定されないので温度の補
正をする必要が生じる。第7図に示すものは、−実験例
として温度検出器65の検出温度によりアミロースの測
定値を補正する温度補正値を示すものである。20℃以
上の場合は補正を要しないが10℃の場合は1.0パー
セント加算して真値となる。またその問は略直線的変化
であった。
そして、試料米を恒温槽内で20℃〜30℃の所定の米
温に調温した後、アミロースまたはアミロペクチンの含
有量を測定すればさらに精度の高い測定値が得られる。
温に調温した後、アミロースまたはアミロペクチンの含
有量を測定すればさらに精度の高い測定値が得られる。
温度設定値は近赤外線分光分析装置を恒温に調整するも
ので通常25℃に設定する。前記試料米の温度の変化を
防止するためと、電気回路、特に信号処理装置の温度に
よる誤差をなくする目的を有するものである。
ので通常25℃に設定する。前記試料米の温度の変化を
防止するためと、電気回路、特に信号処理装置の温度に
よる誤差をなくする目的を有するものである。
ここで使用する試料米は精米度合を含有量換算係数値の
演算に使用した既知の米の精白度合とほぼ同一とする方
が望ましい。玄米と精白米とでは成分含有量が異なるた
めであり、精白米の澱粉含有量が75%であるとき玄米
の澱粉含有量は約71%である。その差は脂質、タンパ
ク質。
演算に使用した既知の米の精白度合とほぼ同一とする方
が望ましい。玄米と精白米とでは成分含有量が異なるた
めであり、精白米の澱粉含有量が75%であるとき玄米
の澱粉含有量は約71%である。その差は脂質、タンパ
ク質。
灰分であり、これらがアミロースまたはアミロペクチン
の含有量測定に誤差を生じるためである。
の含有量測定に誤差を生じるためである。
次に、反射・透過光量測定併用選択ボタン56D、自動
操作ボタン56Bを押すとくステップS2)、近赤外線
成分分析装置1に通電され、光源4をONLで、該装置
1を恒温に保持するために温度調節器77を作動させ、
(ステップS3)、温度検出器78の信号で(ステップ
S4 ) 、電vJ163が0NLTロー7−20.2
1.22.23および回転ローラー49それぞれを回転
させ(ステップS4)、次いで電磁石32に通電して振
動フレーム28を振動させる(ステップSs)。試料容
器33が試料米の充填位置に所在していることを充填部
位置センサー50が検出しくステップS7)、次に供給
ホッパー15に試料米が供給されているかを、レベル計
19が検出し、(ステップS8)、供給ホッパー15の
試料米は、ロータリーバルブ18の回転翼17の回転に
より略連続的に定量排出される。なお、試料米が供給聞
過釜となってローラ20,21.22.23で充分粉砕
されない場合がある。そこで、電動t1163の負荷を
検知してその負荷と負荷設定値によりロータリーバルブ
18の回転翼17の回転数を変更して、試料米の供給量
を制御する。ローラー20,21間を通過して粉砕した
試料米をざらに細粉用ローラー22.23間に通過させ
て50ミクロン以下の微粒子に粉砕しくステップSn)
、粉砕された試料米は振動する多孔壁板30上に流下し
て粒選別作用を受ける(ステップ511)。多孔壁板3
0の通孔を貫通した50ミクロン以下の粒子は試料容器
33上に流下し、試料容器33上に盛上がって過■とな
った試料米は受箱53に流下し、多孔壁板30上に残留
する粗粒子は粗粒子排出口27を介して受箱53に流出
する(ステップ512)。
操作ボタン56Bを押すとくステップS2)、近赤外線
成分分析装置1に通電され、光源4をONLで、該装置
1を恒温に保持するために温度調節器77を作動させ、
(ステップS3)、温度検出器78の信号で(ステップ
S4 ) 、電vJ163が0NLTロー7−20.2
1.22.23および回転ローラー49それぞれを回転
させ(ステップS4)、次いで電磁石32に通電して振
動フレーム28を振動させる(ステップSs)。試料容
器33が試料米の充填位置に所在していることを充填部
位置センサー50が検出しくステップS7)、次に供給
ホッパー15に試料米が供給されているかを、レベル計
19が検出し、(ステップS8)、供給ホッパー15の
試料米は、ロータリーバルブ18の回転翼17の回転に
より略連続的に定量排出される。なお、試料米が供給聞
過釜となってローラ20,21.22.23で充分粉砕
されない場合がある。そこで、電動t1163の負荷を
検知してその負荷と負荷設定値によりロータリーバルブ
18の回転翼17の回転数を変更して、試料米の供給量
を制御する。ローラー20,21間を通過して粉砕した
試料米をざらに細粉用ローラー22.23間に通過させ
て50ミクロン以下の微粒子に粉砕しくステップSn)
、粉砕された試料米は振動する多孔壁板30上に流下し
て粒選別作用を受ける(ステップ511)。多孔壁板3
0の通孔を貫通した50ミクロン以下の粒子は試料容器
33上に流下し、試料容器33上に盛上がって過■とな
った試料米は受箱53に流下し、多孔壁板30上に残留
する粗粒子は粗粒子排出口27を介して受箱53に流出
する(ステップ512)。
供給ホッパー15内に供給された試料米が完全に排出さ
れたことを検出したレベル計19の信号により(ステッ
プS 13 ) 、モーター45を作動して試料容器移
動体34を移動させる。その移動過程中において、試料
容器33に盛上がった試料米を回転ローラー49により
試料容器33に圧縮充填するとともに、上面を平坦部と
して過量の試料米を受箱53に流出させ、試料容器33
が測定部11下部の所定位置に到達したことを測定部位
置センサー51が検知するとモーター45の作動を停止
しくステップ$14)、その停止信号によって近赤外線
成分光分析装置1の測定が開始される。
れたことを検出したレベル計19の信号により(ステッ
プS 13 ) 、モーター45を作動して試料容器移
動体34を移動させる。その移動過程中において、試料
容器33に盛上がった試料米を回転ローラー49により
試料容器33に圧縮充填するとともに、上面を平坦部と
して過量の試料米を受箱53に流出させ、試料容器33
が測定部11下部の所定位置に到達したことを測定部位
置センサー51が検知するとモーター45の作動を停止
しくステップ$14)、その停止信号によって近赤外線
成分光分析装置1の測定が開始される。
゛ 先ず、指定した任意の波長帯のフィルター6を選
定するために電動機10を作動する。光源4からの照射
光を、指定したフィルター6を介した波長域の近赤外線
を試料容器33内の試料米に照射し、試料米を透過した
透過光量を検出する透過光量検出器9Cの検出信号を制
御装置59に連絡し、また、試料から積分球7に反射す
る反射光量を反射光量検出器9A、9Bにより検出し、
その検出値を制御装置59に連絡する(ステップSss
、te)。また、複数の波長帯によって測定する場合に
は、各検出器9A、9B、9Cの検出信号の連絡ととも
に電動!110を作動させフィルター6・・・の回動を
順次行い、フィルター6・・・により得られる近赤外線
波長帯の特性から得られる透過光量と反射光量とを検出
して制御装置59に連絡する(ステップS17゜1B)
。なお、フィルター6・・・は近赤外線波長域において
、それぞれ±ionmの波長範囲の半値幅を設けである
。各フィルター6・・・による検出が終了したかどうか
を確認し、所定回数でないなら所定回数に至るまで検出
を行う(ステップ519)。
定するために電動機10を作動する。光源4からの照射
光を、指定したフィルター6を介した波長域の近赤外線
を試料容器33内の試料米に照射し、試料米を透過した
透過光量を検出する透過光量検出器9Cの検出信号を制
御装置59に連絡し、また、試料から積分球7に反射す
る反射光量を反射光量検出器9A、9Bにより検出し、
その検出値を制御装置59に連絡する(ステップSss
、te)。また、複数の波長帯によって測定する場合に
は、各検出器9A、9B、9Cの検出信号の連絡ととも
に電動!110を作動させフィルター6・・・の回動を
順次行い、フィルター6・・・により得られる近赤外線
波長帯の特性から得られる透過光量と反射光量とを検出
して制御装置59に連絡する(ステップS17゜1B)
。なお、フィルター6・・・は近赤外線波長域において
、それぞれ±ionmの波長範囲の半値幅を設けである
。各フィルター6・・・による検出が終了したかどうか
を確認し、所定回数でないなら所定回数に至るまで検出
を行う(ステップ519)。
次に試料容器33内の試料湿度を温度検出器65により
検出し、その検出値を端子66、圧着部67を介して制
御装置59に連絡し、(ステップ320.521)その
検出信号の入力終了により、モーター45と清浄装置2
5A〜25Dを作動し、清掃装置25A〜25Dにより
各ローラー20.21.22.23の周面を高圧空気の
噴射により清掃しくステップ522)、またモーター4
5により試料容器移動体33を粉砕室24方向に移動さ
せ、充填部位置センサー50が試料容器33が所定位置
に到達したことを検出するとモーター45の作動を停止
する(ステップ523)。試料容器移動体34の移動過
程において、清掃器54Aが測定部11下部の透明板1
2を清掃する。タイマーT2の所定時間を経過すると清
掃装置25A〜25Dの作動を停止しくステップ824
.25)、ロータリーバルブ18の回転黄17の作動を
停止する(ステップ52Il)。試料容器33が充填部
の所定位置に到達すると電磁石48を作動し、軌道軸3
8を中心としてモーター45ごと試料容器移動体34を
90°反転させる。このとき清浄器54Bが透過光量検
出器9Cに接触して清掃する(ステップ577)。試料
容器33に噴射ノズル52が高圧空気を噴射して試料米
を排除するとともに試料容器33を清掃する(ステップ
528)。
検出し、その検出値を端子66、圧着部67を介して制
御装置59に連絡し、(ステップ320.521)その
検出信号の入力終了により、モーター45と清浄装置2
5A〜25Dを作動し、清掃装置25A〜25Dにより
各ローラー20.21.22.23の周面を高圧空気の
噴射により清掃しくステップ522)、またモーター4
5により試料容器移動体33を粉砕室24方向に移動さ
せ、充填部位置センサー50が試料容器33が所定位置
に到達したことを検出するとモーター45の作動を停止
する(ステップ523)。試料容器移動体34の移動過
程において、清掃器54Aが測定部11下部の透明板1
2を清掃する。タイマーT2の所定時間を経過すると清
掃装置25A〜25Dの作動を停止しくステップ824
.25)、ロータリーバルブ18の回転黄17の作動を
停止する(ステップ52Il)。試料容器33が充填部
の所定位置に到達すると電磁石48を作動し、軌道軸3
8を中心としてモーター45ごと試料容器移動体34を
90°反転させる。このとき清浄器54Bが透過光量検
出器9Cに接触して清掃する(ステップ577)。試料
容器33に噴射ノズル52が高圧空気を噴射して試料米
を排除するとともに試料容器33を清掃する(ステップ
528)。
噴射ノズル52が一定時間作動した後、噴射ノズルの作
動を停止しくステップ829.:(l)、電磁石48を
停止して試料容器移動体34を正常位置に復帰させて次
回の試料測定に備える(ステップ531)。制ill装
置59の演算装置60に連絡された透過光量検出器9G
、反射光量検出器9A、9Bのそれぞれの検出値と温度
検出器65の温度検出値により、米のアミロースまたは
アミロペクチンの含有量が記憶装置61に入力された含
有量換輝係数値と、温度補正値とで演算される。前記含
有量はキャビネット2前而の表示器55Aにデジタル表
示されるとともに、プリンター58により、自動的にプ
リントされて繰出される(ステップ832〜534)。
動を停止しくステップ829.:(l)、電磁石48を
停止して試料容器移動体34を正常位置に復帰させて次
回の試料測定に備える(ステップ531)。制ill装
置59の演算装置60に連絡された透過光量検出器9G
、反射光量検出器9A、9Bのそれぞれの検出値と温度
検出器65の温度検出値により、米のアミロースまたは
アミロペクチンの含有量が記憶装置61に入力された含
有量換輝係数値と、温度補正値とで演算される。前記含
有量はキャビネット2前而の表示器55Aにデジタル表
示されるとともに、プリンター58により、自動的にプ
リントされて繰出される(ステップ832〜534)。
また、手動操作ボタン56Aを操作して外部から試料米
を試料容器33に充填して測定を行う場合には、回動用
ハンドル40を測定部11に向けて押込み、試料容器3
3を外部供給部57から引出し、あらかじめ別手段で粉
砕した試料米を試料容器に充填し、上面部を平坦面に加
圧した後試料容器33を容器受台35の案内溝36に挿
入し、試料容器33を測定部11に装備して測定を行う
。
を試料容器33に充填して測定を行う場合には、回動用
ハンドル40を測定部11に向けて押込み、試料容器3
3を外部供給部57から引出し、あらかじめ別手段で粉
砕した試料米を試料容器に充填し、上面部を平坦面に加
圧した後試料容器33を容器受台35の案内溝36に挿
入し、試料容器33を測定部11に装備して測定を行う
。
含有量の検出値を正確に得るためには、試料容器に充填
する試料米を小粒子に粉砕する必要があるが、篩選別に
より選別された粗粒子を排除したものでは部分的な測定
となり測定誤差を招くから、粉砕作用を2回繰返すこと
が望ましい。
する試料米を小粒子に粉砕する必要があるが、篩選別に
より選別された粗粒子を排除したものでは部分的な測定
となり測定誤差を招くから、粉砕作用を2回繰返すこと
が望ましい。
また、粒子の大きさと大きさのばらつきによって測定精
度が異るので、粉砕粒の選別装置26に使用する多孔壁
板30の通孔は所望の粒子となるものを使用しなければ
ならない。そして、近赤外線分光分析装置1の外で試料
を粉砕し、その試料を外部供給部57から測定部11に
装備して測定する場合も同様に、粉砕した粒子を篩選別
して所望の大きさの粒子のみを試料容器33に充填する
と測定精度が確保できる。前記理由は澱粉分子の大きさ
は約10ミクロンであり、粉砕しない場合澱粉分子が均
一に表面に表れず分子の近赤外線による振動が正確に表
れないためである。
度が異るので、粉砕粒の選別装置26に使用する多孔壁
板30の通孔は所望の粒子となるものを使用しなければ
ならない。そして、近赤外線分光分析装置1の外で試料
を粉砕し、その試料を外部供給部57から測定部11に
装備して測定する場合も同様に、粉砕した粒子を篩選別
して所望の大きさの粒子のみを試料容器33に充填する
と測定精度が確保できる。前記理由は澱粉分子の大きさ
は約10ミクロンであり、粉砕しない場合澱粉分子が均
一に表面に表れず分子の近赤外線による振動が正確に表
れないためである。
なお、上記説明では、説明の都合上透過光量検出器9C
と反射光量検出器9A、9Bとの検出値によって測定を
行うようにしたが、反射光量または透過光量のいずれか
で測定を行う場合もある。また、温度検出器をキャビネ
ット内部あるいは外部に装着して気温を検出することも
ある。
と反射光量検出器9A、9Bとの検出値によって測定を
行うようにしたが、反射光量または透過光量のいずれか
で測定を行う場合もある。また、温度検出器をキャビネ
ット内部あるいは外部に装着して気温を検出することも
ある。
前記電動機10により、フィルター6と照射光軸は任意
の角度に設定可能であり、それは制御装置59で制御さ
れる。フィルター 6は照射光軸と直交した位置で使用
するのが基本であるが任意波長弁だけスライドさせる場
合にフィルターへの入射角を制御する。照射光がフィル
ター6を直交して入射する時と任意の角度で入射する時
では透過する波長が異なり、入射角が小さくなると短波
長側にスライドする。i9oonm〜2500nmの近
赤外線域では一般的に70nm主波長がスライドするの
で、連続的波長帯での測定を可能とならしめるために、
フィルター6を任意の角度で停止できるように構成しで
ある。なお、主波長とは透過する近赤外線のうちのほぼ
最大透過波長である。
の角度に設定可能であり、それは制御装置59で制御さ
れる。フィルター 6は照射光軸と直交した位置で使用
するのが基本であるが任意波長弁だけスライドさせる場
合にフィルターへの入射角を制御する。照射光がフィル
ター6を直交して入射する時と任意の角度で入射する時
では透過する波長が異なり、入射角が小さくなると短波
長側にスライドする。i9oonm〜2500nmの近
赤外線域では一般的に70nm主波長がスライドするの
で、連続的波長帯での測定を可能とならしめるために、
フィルター6を任意の角度で停止できるように構成しで
ある。なお、主波長とは透過する近赤外線のうちのほぼ
最大透過波長である。
そして、第8図に示すものは、近赤外線の連続的分光を
行う別実施例の概念図であり、回折格子を利用した分光
素子79を使用している。
行う別実施例の概念図であり、回折格子を利用した分光
素子79を使用している。
光源からの照射光は集光レンズ80により集光され一部
の光がスリット81を通過して入光ミラー82に照射さ
れる。入光ミラー82で反射した光は反射鏡83により
さらに反射し、分光素子79に任意の入射角度αで入射
すると、受光ミラー84で分光された任意の波長帯の近
赤外線が得られる。分光素子79を回動し、反射鏡83
からの入射角度を制御して得られる、連続した近赤外線
を必要に応じ前記近赤外線成分分析装置1に使用すれば
連続的に走査した測定値が得られ、また任意の波長帯を
選択して測定することも可能である。
の光がスリット81を通過して入光ミラー82に照射さ
れる。入光ミラー82で反射した光は反射鏡83により
さらに反射し、分光素子79に任意の入射角度αで入射
すると、受光ミラー84で分光された任意の波長帯の近
赤外線が得られる。分光素子79を回動し、反射鏡83
からの入射角度を制御して得られる、連続した近赤外線
を必要に応じ前記近赤外線成分分析装置1に使用すれば
連続的に走査した測定値が得られ、また任意の波長帯を
選択して測定することも可能である。
なお、本実施例では、ロータリーバルブ18をキャビネ
ット2内に内蔵し、試料米を定量供給して微粉砕してい
るが、穀粒粉砕機で試料を微粉砕して試料容器33に供
給する方法もある。
ット2内に内蔵し、試料米を定量供給して微粉砕してい
るが、穀粒粉砕機で試料を微粉砕して試料容器33に供
給する方法もある。
それを第10図により説明する。符号85は穀粒粉砕機
であり、基台86の上部に蓋体87を載置し、基台86
と蓋体87とは止め具88により締着しいる。粉砕室8
9に金wi90を周設し、金網90内に電動191の電
Fil別lN192に直結した翼車93を回転自在に軸
架し、翼車93の略中心上方に供給口94を設ける。符
号95は振動供給装置であり、試料タンク96は支柱9
7により支持している。試料タンク96の排出口98を
振動供給路99に接近して連絡し、振動供給路99の給
穀端を供給口94に臨ませ、また符号100は撮動装置
であり、符号101は貯留室である。
であり、基台86の上部に蓋体87を載置し、基台86
と蓋体87とは止め具88により締着しいる。粉砕室8
9に金wi90を周設し、金網90内に電動191の電
Fil別lN192に直結した翼車93を回転自在に軸
架し、翼車93の略中心上方に供給口94を設ける。符
号95は振動供給装置であり、試料タンク96は支柱9
7により支持している。試料タンク96の排出口98を
振動供給路99に接近して連絡し、振動供給路99の給
穀端を供給口94に臨ませ、また符号100は撮動装置
であり、符号101は貯留室である。
次に上記構成における作用を説明する。試料タンク96
の試料米は排出口98から振動供給路99へ供給され、
振動装置100を作動すると試料米は振動供給路99の
給穀端がら順次供給口94へ定量的に送られる。供給口
94がら粉砕室89へ落下した試料米は、粉砕室89に
おいて高速で回転する翼車93により金網9゜にたたき
つけられ、そこで粉々に粉砕(50ミクロン以下の粒子
に粉砕)される。粉砕された試料は金網90の通孔から
排出され、貯留’J101において貯留される。そして
、止め具88を緩めて蓋体87と基台86との締着状態
を開放し、蓋体87を取外して粉砕された試料米を取出
す。粉砕さた試料米を試料容器33に供給し、近赤外線
を試料米に照射して米のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量を測定する。
の試料米は排出口98から振動供給路99へ供給され、
振動装置100を作動すると試料米は振動供給路99の
給穀端がら順次供給口94へ定量的に送られる。供給口
94がら粉砕室89へ落下した試料米は、粉砕室89に
おいて高速で回転する翼車93により金網9゜にたたき
つけられ、そこで粉々に粉砕(50ミクロン以下の粒子
に粉砕)される。粉砕された試料は金網90の通孔から
排出され、貯留’J101において貯留される。そして
、止め具88を緩めて蓋体87と基台86との締着状態
を開放し、蓋体87を取外して粉砕された試料米を取出
す。粉砕さた試料米を試料容器33に供給し、近赤外線
を試料米に照射して米のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量を測定する。
なお、本発明の方法を利用して得た米のアミロースまた
はアミロペクチン含有量で米の食味評価値の目安をあら
れし、より正確に米の食味を表現することができる。
はアミロペクチン含有量で米の食味評価値の目安をあら
れし、より正確に米の食味を表現することができる。
〔発明の効果)
本発明の利点とするところは次のとおりである。すなわ
ち、従来、一部の専門家によって行われていた煩わしく
、長時間を要する米のアミロースまたはアミロペクチン
の含有量の化学定置分析法は、高精度かつ短時間に測定
することは困難であったが、本発明は、定量供給した試
料米を粉砕するとともに近赤外線光を照射し、その検出
信号により算出した吸光度と、含有量換算係数値とを演
葬することによって米のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量を算出することを可能としたため、その測定
値が正確であると共に誰でもが容易にまた迅速に測定で
きる。
ち、従来、一部の専門家によって行われていた煩わしく
、長時間を要する米のアミロースまたはアミロペクチン
の含有量の化学定置分析法は、高精度かつ短時間に測定
することは困難であったが、本発明は、定量供給した試
料米を粉砕するとともに近赤外線光を照射し、その検出
信号により算出した吸光度と、含有量換算係数値とを演
葬することによって米のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量を算出することを可能としたため、その測定
値が正確であると共に誰でもが容易にまた迅速に測定で
きる。
第1図は食味測定装置の正断面図、第2図は要部の拡大
断面図、第3図は要部の斜視図、第4図は本装置の正面
図、第5図は制御装置の構成を示すブロック図、第6図
は制御装置の動作フロー図、第7図はアミロースの測定
値を補正する温度補正値を示した図、第8図は近赤外線
の連続的分光を行う別実施例の概念図、第9図は波長と
吸光度との関係を表わす特性図、第10図は穀粒粉砕機
の別実施例の一部破断側面図である。 1・・・近赤外線成分分析装置、2・・・キャビネット
、3・・・スリット、4・・・光源、5・・・反射鏡、
6・・・フィルター、7・・・積分球、8・・・窓、9
A、9B・・・反射光量検出器、9C・・・透過光量検
出器、10・・・電動機、11・・・測定部、12・・
・透明板、13・・・試料供給装置、14・・・−側部
、15・・・供給ホッパー、16・・・開口部、17・
・・回転翼、18・・・ロータリーバルブ、19・・・
レベル計、20゜21・・・ローラー、22.23・・
・細粉用ローラー、24・・・粉砕室、25A〜25D
・・・清帰装冒、26・・・選別装置、27・・・粗粒
子排出口、28・・・振動フレーム、29・・・板バネ
、30・・・多孔壁板、31・・・側面、32・・・電
磁石、33・・・試料容器、34・・・試料容器移動体
、35・・・容器受台、36・・・案内溝、37・・・
ラック、38・・・軌道軸、39・・・−側部、40・
・・回転用ハンドル、41・・・他側部、42・・・軸
受台、43・・・受台、44・・・支点台、45・・・
モーター、46・・・歯車、47・・・モータ一台、4
8・・・電磁石、49・・・回転ローラー、50・・・
充填部位置センサー、51・・・測定部位置センサー、
52・・・噴射ノズル、53・・・受箱、54゜54B
・・・清掃器、55・・・表示装置、55A〜55D・
・・表示器、56・・・操作用押ボタン、56A・・・
手動操作ボタン、56B・・・自動操作ボタン、56C
・・・透過光量測定選択ボタン、56D・・・反射・透
過併用選択ボタン、57・・・外部供給部、58・・・
プリンター、59・・・制御装置、60・・・演算装置
、61・・・記憶装置、62・・・信号処理装置、63
・・・電動機、64・・・キーボード、65・・・温度
検出器、66・・・端子、67・・・圧着部、68〜7
6・・・駆動装置、77・・・温度調節器、78・・・
温度検出器、79・・・分光素子、80・・・集糠レン
ズ、81・・・スリット、82・・・入光ミラー、83
・・・反射鏡、84・・・受光ミラー、85・・・穀粒
粉砕機、86・・・基台、87・・・蓋体、88・・・
止め具、89・・・粉砕室、90・・・金網、91・・
・電動機、92・・・電動機軸、93・・・翼車、94
・・・供給口、95・・・振動供給装置、96・・・試
料タンク、97・・・支柱、98・・・排出口、99・
・・撮動供給路、100・・・撮動装置、101・・・
貯留室。
断面図、第3図は要部の斜視図、第4図は本装置の正面
図、第5図は制御装置の構成を示すブロック図、第6図
は制御装置の動作フロー図、第7図はアミロースの測定
値を補正する温度補正値を示した図、第8図は近赤外線
の連続的分光を行う別実施例の概念図、第9図は波長と
吸光度との関係を表わす特性図、第10図は穀粒粉砕機
の別実施例の一部破断側面図である。 1・・・近赤外線成分分析装置、2・・・キャビネット
、3・・・スリット、4・・・光源、5・・・反射鏡、
6・・・フィルター、7・・・積分球、8・・・窓、9
A、9B・・・反射光量検出器、9C・・・透過光量検
出器、10・・・電動機、11・・・測定部、12・・
・透明板、13・・・試料供給装置、14・・・−側部
、15・・・供給ホッパー、16・・・開口部、17・
・・回転翼、18・・・ロータリーバルブ、19・・・
レベル計、20゜21・・・ローラー、22.23・・
・細粉用ローラー、24・・・粉砕室、25A〜25D
・・・清帰装冒、26・・・選別装置、27・・・粗粒
子排出口、28・・・振動フレーム、29・・・板バネ
、30・・・多孔壁板、31・・・側面、32・・・電
磁石、33・・・試料容器、34・・・試料容器移動体
、35・・・容器受台、36・・・案内溝、37・・・
ラック、38・・・軌道軸、39・・・−側部、40・
・・回転用ハンドル、41・・・他側部、42・・・軸
受台、43・・・受台、44・・・支点台、45・・・
モーター、46・・・歯車、47・・・モータ一台、4
8・・・電磁石、49・・・回転ローラー、50・・・
充填部位置センサー、51・・・測定部位置センサー、
52・・・噴射ノズル、53・・・受箱、54゜54B
・・・清掃器、55・・・表示装置、55A〜55D・
・・表示器、56・・・操作用押ボタン、56A・・・
手動操作ボタン、56B・・・自動操作ボタン、56C
・・・透過光量測定選択ボタン、56D・・・反射・透
過併用選択ボタン、57・・・外部供給部、58・・・
プリンター、59・・・制御装置、60・・・演算装置
、61・・・記憶装置、62・・・信号処理装置、63
・・・電動機、64・・・キーボード、65・・・温度
検出器、66・・・端子、67・・・圧着部、68〜7
6・・・駆動装置、77・・・温度調節器、78・・・
温度検出器、79・・・分光素子、80・・・集糠レン
ズ、81・・・スリット、82・・・入光ミラー、83
・・・反射鏡、84・・・受光ミラー、85・・・穀粒
粉砕機、86・・・基台、87・・・蓋体、88・・・
止め具、89・・・粉砕室、90・・・金網、91・・
・電動機、92・・・電動機軸、93・・・翼車、94
・・・供給口、95・・・振動供給装置、96・・・試
料タンク、97・・・支柱、98・・・排出口、99・
・・撮動供給路、100・・・撮動装置、101・・・
貯留室。
Claims (7)
- (1)、異なる試料米に対して近赤外線光を照射したと
き、米を構成する主要成分である澱粉中のアミロースま
たはアミロペクチンの含有量の多少が吸光度差として顕
著に現われる波長を主波長とする狭帯域透過フィルター
を備えた近赤外線分光分析装置によつて試料米の吸光度
を測定し、既知の米のアミロースまたはアミロペクチン
の含有量と既知の米の吸光度とで演算され、設定された
含有量換算係数値と前記試料米の吸光度とで米のアミロ
ースまたはアミロペクチンの含有量を演算し、表示する
米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量測定方法
であって、前記試料米が定量供給装置付粉砕装置によつ
て、定量供給して粉砕したものであることを特徴とする
米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量測定方法
。 - (2)、前記赤外線光の波長域が1900〜2500n
mである特許請求の範囲第(1)項記載の米のアミロー
スまたはアミロペクチンの含有量測定方法。 - (3)、前記試料米を所定の米温に調温した後、アミロ
ースまたはアミロペクチンの含有量を測定する特許請求
の範囲第(1)項または第(2)項記載の米のアミロー
スまたはアミロペクチンの含有量測定方法。 - (4)、前記試料米を50ミクロン以下の粉末状に粉砕
したものである特許請求の範囲第(1)項〜第(3)項
のいずれかに記載の米のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量測定方法。 - (5)、前記試料の精白度合を前記既知の米の精白度合
とほぼ同一にしたものである特許請求の範囲第(1)項
〜第(4)項のいずれかに記載の米のアミロースまたは
アミロペクチンの含有量測定方法。 - (6)、前記試料の温度もしくは気温によつて前記検出
器からの検出信号を補正するものである特許請求の範囲
第(1)項〜第(5)項のいずれかに記載の米のアミロ
ースまたはアミロペクチンの含有量測定方法。 - (7)、光源と、該光源が発生する光のうち、異なる試
料米に対して近赤外線光を照射したとき、米を構成する
主要成分である澱粉中のアミロースまたはアミロペクチ
ンの含有量の多少が吸光度差として顕著に現われる波長
のみを透過させる狭帯域透過フィルターと、前記測定部
に配置される試料米からの光量を検出する検出器とを備
えた近赤外線分光分析装置と、 既知の米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量と
吸光度とで演算され設定された前記試料米の含有量計算
のための含有量換算係数値を記憶する記憶装置と、この
記憶装置に記憶された前記含有量換算係数値と前記検出
器からの検出信号とに基づき、試料米のアミロースまた
はアミロペクチンの含有量を演算する演算装置とを備え
た制御装置と、 この制御装置に接続され、前記演算装置が演算した試料
米のアミロースまたはアミロペクチンの含有量を可視表
示または印字表示する表示装置と、 前記試料米を定量供給して粉砕する定量供給装置付粉砕
装置と、 前記試料米が充填され、前記赤外線分光分析装置の前記
測定部に配置される試料容器とからなる米のアミロース
またはアミロペクチンの含有量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62081875A JPS63246640A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 米のアミロ−スまたはアミロペクチンの含有量測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62081875A JPS63246640A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 米のアミロ−スまたはアミロペクチンの含有量測定方法およびその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63246640A true JPS63246640A (ja) | 1988-10-13 |
Family
ID=13758632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62081875A Pending JPS63246640A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 米のアミロ−スまたはアミロペクチンの含有量測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63246640A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02236441A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-09-19 | Instrumentarium Oy | 複数のガスの同定装置および方法 |
CN102262064A (zh) * | 2011-07-13 | 2011-11-30 | 南开大学 | 一种便携式快速测定淀粉及淀粉酶的检测仪 |
CN103592298A (zh) * | 2013-11-15 | 2014-02-19 | 甘肃圣大方舟马铃薯变性淀粉有限公司 | 木薯-玉米混合淀粉中木薯淀粉含量的检测方法 |
-
1987
- 1987-04-01 JP JP62081875A patent/JPS63246640A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02236441A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-09-19 | Instrumentarium Oy | 複数のガスの同定装置および方法 |
CN102262064A (zh) * | 2011-07-13 | 2011-11-30 | 南开大学 | 一种便携式快速测定淀粉及淀粉酶的检测仪 |
CN103592298A (zh) * | 2013-11-15 | 2014-02-19 | 甘肃圣大方舟马铃薯变性淀粉有限公司 | 木薯-玉米混合淀粉中木薯淀粉含量的检测方法 |
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