JPS6324433Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6324433Y2 JPS6324433Y2 JP15139679U JP15139679U JPS6324433Y2 JP S6324433 Y2 JPS6324433 Y2 JP S6324433Y2 JP 15139679 U JP15139679 U JP 15139679U JP 15139679 U JP15139679 U JP 15139679U JP S6324433 Y2 JPS6324433 Y2 JP S6324433Y2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 18
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 claims description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000012295 chemical reaction liquid Substances 0.000 description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、比色分析装置に関するものである。
比色セル内の反応液中に気体又は液体等の試料
を流入せしめ、試料中の測定対象成分との反応に
よつて発色した反応液を透過した光量と、発色反
応液に入射した光量との比から流体試料中の測定
対象成分の濃度を測定する比色分析装置におい
て、測定用光源として発光ダイオードを用いる場
合、発光ダイオードはタングステンランプのよう
に点燈中にフイラメントが断線して消燈するよう
なおそれはないが、点燈中に漸次発光量が低下
し、その低下の割合は発光ダイオードに流す電流
の大きさと、電流を流した時間との積にほぼ比例
するとされている。
を流入せしめ、試料中の測定対象成分との反応に
よつて発色した反応液を透過した光量と、発色反
応液に入射した光量との比から流体試料中の測定
対象成分の濃度を測定する比色分析装置におい
て、測定用光源として発光ダイオードを用いる場
合、発光ダイオードはタングステンランプのよう
に点燈中にフイラメントが断線して消燈するよう
なおそれはないが、点燈中に漸次発光量が低下
し、その低下の割合は発光ダイオードに流す電流
の大きさと、電流を流した時間との積にほぼ比例
するとされている。
したがつて発光ダイオードの寿命を延長するた
めには、これに流す電流を小ならしめるか、連続
点燈を行うことなく、周期的に点滅せしめて点燈
時間を短縮する2方法が考えられる。
めには、これに流す電流を小ならしめるか、連続
点燈を行うことなく、周期的に点滅せしめて点燈
時間を短縮する2方法が考えられる。
然しながら電流を小ならしめるときは発光量も
低下するので光量検出器の出力が低下し、信号対
雑音比が劣化する等の問題を生ずる。
低下するので光量検出器の出力が低下し、信号対
雑音比が劣化する等の問題を生ずる。
又、周期的に点滅せしめて電流を流す時間を短
縮せしめるときは、光量検出器の出力も断続して
取扱が不便なため、これをフイルタに通して平均
化する必要があるが、その結果得られる直流出力
電圧は矢張り低いものとなつて上記と同様の問題
を生ずる。
縮せしめるときは、光量検出器の出力も断続して
取扱が不便なため、これをフイルタに通して平均
化する必要があるが、その結果得られる直流出力
電圧は矢張り低いものとなつて上記と同様の問題
を生ずる。
本考案は、発光ダイオードを点滅せしめること
により電流を流す時間を短縮して寿命を延長せし
めると共に取出し得る出力直流電圧を極めて高
く、良好な信号対雑音比を以て測定を行い得る比
色分析装置を提供することを目的とする。
により電流を流す時間を短縮して寿命を延長せし
めると共に取出し得る出力直流電圧を極めて高
く、良好な信号対雑音比を以て測定を行い得る比
色分析装置を提供することを目的とする。
第1図は、本考案の一実施例を示す図で、1は
発光ダイオードより成る光源、2及び3はスリツ
ト板、4は比色セル、5は透過光の光量検出器、
6は入射光の光量検出器で、それぞれ例えばホト
トランジスタより成る。7及び8は電流・電圧変
換用演算増幅器、9,10及び11はスイツチ
で、それぞれ例えば半導体無接点スイツチより成
る。12は制御信号発生器、13は点燈用電源、
14及び15はコンデンサ、16及び17は演算
増幅器で、コンデンサ14及び演算増幅器16に
よつてサンプルホールド回路18を形成し、コン
デンサ15及び演算増幅器17によつてサンプル
ホールド回路19を形成してある。20及び21
は出力端子である。尚、スリツト板2及び3、光
量検出器5及び6、演算増幅器7及び8、コンデ
ンサ14及び15、演算増幅器16及び17は、
それぞれ互にほぼ等しい特性を有するものを使用
する。
発光ダイオードより成る光源、2及び3はスリツ
ト板、4は比色セル、5は透過光の光量検出器、
6は入射光の光量検出器で、それぞれ例えばホト
トランジスタより成る。7及び8は電流・電圧変
換用演算増幅器、9,10及び11はスイツチ
で、それぞれ例えば半導体無接点スイツチより成
る。12は制御信号発生器、13は点燈用電源、
14及び15はコンデンサ、16及び17は演算
増幅器で、コンデンサ14及び演算増幅器16に
よつてサンプルホールド回路18を形成し、コン
デンサ15及び演算増幅器17によつてサンプル
ホールド回路19を形成してある。20及び21
は出力端子である。尚、スリツト板2及び3、光
量検出器5及び6、演算増幅器7及び8、コンデ
ンサ14及び15、演算増幅器16及び17は、
それぞれ互にほぼ等しい特性を有するものを使用
する。
制御信号発生器12から例えば矩形波制御信号
を送出し、スイツチ9,10及び11を同期して
同相で繰返し開閉せしめると、スイツチ9の閉成
に応じて発光ダイオード1が点燈し、その光の一
部がスリツト板2及び比色セル4を介して光量検
出器5に入射し、その検出信号が電流・電圧変換
用演算増幅器7及びスイツチ10を介して演算増
幅器16に導入され、その増幅出力が出力端子2
0から取出されると共に演算増幅器7の出力によ
りコンデンサ14が充電される。
を送出し、スイツチ9,10及び11を同期して
同相で繰返し開閉せしめると、スイツチ9の閉成
に応じて発光ダイオード1が点燈し、その光の一
部がスリツト板2及び比色セル4を介して光量検
出器5に入射し、その検出信号が電流・電圧変換
用演算増幅器7及びスイツチ10を介して演算増
幅器16に導入され、その増幅出力が出力端子2
0から取出されると共に演算増幅器7の出力によ
りコンデンサ14が充電される。
又、発光ダイオード1の光の一部はスリツト板
3を介して光量検出器6に入射し、その検出信号
が演算増幅器8及びスイツチ11を介して演算増
幅器17に導入され、その増幅出力が出力端子2
1から取出されると共に演算増幅器8の出力によ
りコンデンサ15が充電される。
3を介して光量検出器6に入射し、その検出信号
が演算増幅器8及びスイツチ11を介して演算増
幅器17に導入され、その増幅出力が出力端子2
1から取出されると共に演算増幅器8の出力によ
りコンデンサ15が充電される。
スイツチ9,10及び11の開放時には発光ダ
イオード1が消燈するが、コンデンサ14及び1
5の充電電圧が演算増幅器16及び17に各別に
加えられ、それぞれの増幅出力が出力端子20及
び21から取出される。
イオード1が消燈するが、コンデンサ14及び1
5の充電電圧が演算増幅器16及び17に各別に
加えられ、それぞれの増幅出力が出力端子20及
び21から取出される。
したがつて発光ダイオード1の点燈時間及び消
燈時間の割合を適当に選べば、発光ダイオード1
の寿命を短縮することなく、出力端子20及び2
1から発光ダイオード1が連続的に点燈している
場合とほぼ同様の出力直流信号を取出すことが出
来、両信号を比較することによつて試料中の測定
対象成分の濃度を良好な信号対雑音比を以て測定
することが出来る。
燈時間の割合を適当に選べば、発光ダイオード1
の寿命を短縮することなく、出力端子20及び2
1から発光ダイオード1が連続的に点燈している
場合とほぼ同様の出力直流信号を取出すことが出
来、両信号を比較することによつて試料中の測定
対象成分の濃度を良好な信号対雑音比を以て測定
することが出来る。
この実施例においては、光量検出器5及び6に
外来光が入射した場合或は演算増幅器7及び8に
ドリフトを生じた場合等には出力端子20及び2
1の各出力が変動して測定誤差を生ずることとな
るが、両出力の比を求めることによつて外来光或
はドリフトの影響を或る程度除くことが可能であ
る。
外来光が入射した場合或は演算増幅器7及び8に
ドリフトを生じた場合等には出力端子20及び2
1の各出力が変動して測定誤差を生ずることとな
るが、両出力の比を求めることによつて外来光或
はドリフトの影響を或る程度除くことが可能であ
る。
第2図は、上記のような外来光或はドリフトの
影響をほぼ完全に除き得るように構成した実施例
を示す図で、22及び23は直流阻止用コンデン
サ、24及び25はスイツチで、それぞれ例えば
半導体無接点スイツチより成り、制御信号発生器
12からの制御信号によつてスイツチ9,10及
び11と同期して開閉せしめられるが、スイツチ
9,10及び11が開放(又は閉成)するときは
スイツチ24及び25が逆に閉成(又は開放)す
るように形成してある。尚、他の符号は第1図と
同様である。
影響をほぼ完全に除き得るように構成した実施例
を示す図で、22及び23は直流阻止用コンデン
サ、24及び25はスイツチで、それぞれ例えば
半導体無接点スイツチより成り、制御信号発生器
12からの制御信号によつてスイツチ9,10及
び11と同期して開閉せしめられるが、スイツチ
9,10及び11が開放(又は閉成)するときは
スイツチ24及び25が逆に閉成(又は開放)す
るように形成してある。尚、他の符号は第1図と
同様である。
スイツチ9,10及び11の同期開閉に応じて
発光ダイオード1が点滅し、その点燈時における
演算増幅器7のパルス状出力電圧がコンデンサ2
2及びスイツチ10を介してサンプルホールド回
路18に導入されると共に、演算増幅器8のパル
ス状出力電圧がコンデンサ23及びスイツチ11
を介してサンプルホールド回路19に導入され、
第1図につき説明したと全く同様にして透過光に
対応する出力が端子20から取出され、入射光に
対応する出力が端子21から取出される。
発光ダイオード1が点滅し、その点燈時における
演算増幅器7のパルス状出力電圧がコンデンサ2
2及びスイツチ10を介してサンプルホールド回
路18に導入されると共に、演算増幅器8のパル
ス状出力電圧がコンデンサ23及びスイツチ11
を介してサンプルホールド回路19に導入され、
第1図につき説明したと全く同様にして透過光に
対応する出力が端子20から取出され、入射光に
対応する出力が端子21から取出される。
然しながら、光量検出器5に入射する外来光或
は演算増幅器7のドリフト等に基づく演算増幅器
7の出力直流分は、発光ダイオード1の消燈時、
即ち、スイツチ24の閉成時にコンデンサ22に
蓄積され、このとき、コンデンサ22の右側電極
(図面に向つて)がスイツチ24を介して接地電
位に保たれるから、次に発光ダイオード1が点燈
した際に演算増幅器7から送出されるパルス状出
力電圧は、コンデンサ22に蓄積された直流分の
影響を受けることなくサンプルホールド回路18
に導入される。入射光量の検出回路側においても
光量検出器6に入射する外来光或は演算増幅器8
のドリフト等に基づく演算増幅器8の出力直流分
は、発光ダイオード1の消燈時にコンデンサ23
に蓄積され、このとき、コンデンサ23の左側電
極(図面に向つて)がスイツチ25を介して接地
電位に保たれるから、次に発光ダイオード1が点
燈した際に演算増幅器8から送出されるパルス状
出力電圧は、コンデンサ23に蓄積された直流分
の影響を受けることなくサンプルホールド回路1
9に導入される。したがつて、出力端子20及び
21の出力信号を比較することによつて試料中の
測定対象成分の濃度を良好な信号対雑音比を以つ
て測定し得ると共に、外来光或はドリフト等の影
響に基づく測定誤差をほぼ完全に除くことが出来
る。
は演算増幅器7のドリフト等に基づく演算増幅器
7の出力直流分は、発光ダイオード1の消燈時、
即ち、スイツチ24の閉成時にコンデンサ22に
蓄積され、このとき、コンデンサ22の右側電極
(図面に向つて)がスイツチ24を介して接地電
位に保たれるから、次に発光ダイオード1が点燈
した際に演算増幅器7から送出されるパルス状出
力電圧は、コンデンサ22に蓄積された直流分の
影響を受けることなくサンプルホールド回路18
に導入される。入射光量の検出回路側においても
光量検出器6に入射する外来光或は演算増幅器8
のドリフト等に基づく演算増幅器8の出力直流分
は、発光ダイオード1の消燈時にコンデンサ23
に蓄積され、このとき、コンデンサ23の左側電
極(図面に向つて)がスイツチ25を介して接地
電位に保たれるから、次に発光ダイオード1が点
燈した際に演算増幅器8から送出されるパルス状
出力電圧は、コンデンサ23に蓄積された直流分
の影響を受けることなくサンプルホールド回路1
9に導入される。したがつて、出力端子20及び
21の出力信号を比較することによつて試料中の
測定対象成分の濃度を良好な信号対雑音比を以つ
て測定し得ると共に、外来光或はドリフト等の影
響に基づく測定誤差をほぼ完全に除くことが出来
る。
尚、光量検出器5及び6に入射する外来光が直
流的な光でなく、例えば螢光燈の発する光のよう
に100或は120ヘルツで点燈滅する光であるとき
は、発光ダイオード1の点滅を外来光の点滅と異
なる周期で行わせることにより外来光の影響を除
くことが出来る。
流的な光でなく、例えば螢光燈の発する光のよう
に100或は120ヘルツで点燈滅する光であるとき
は、発光ダイオード1の点滅を外来光の点滅と異
なる周期で行わせることにより外来光の影響を除
くことが出来る。
第1図は、本考案の一実施例を示す図、第2図
は、本考案の他の実施例を示す図で、1:光源、
2及び3:スリツト板、4:比色セル、5及び
6:光量検出器、7,8,16及び17:演算増
幅器、9,10,11,24及び25:スイツ
チ、12:制御信号発生器、13:点燈用電源、
14,15,22及び23:コンデンサ、18及
び19:サンプルホールド回路、20及び21:
出力端子である。
は、本考案の他の実施例を示す図で、1:光源、
2及び3:スリツト板、4:比色セル、5及び
6:光量検出器、7,8,16及び17:演算増
幅器、9,10,11,24及び25:スイツ
チ、12:制御信号発生器、13:点燈用電源、
14,15,22及び23:コンデンサ、18及
び19:サンプルホールド回路、20及び21:
出力端子である。
Claims (1)
- 発光ダイオードより成る光源とその点燈用電源
間に介在して周期的に開閉せしめられる第1のス
イツチと、前記光源からの光を比色セルを介して
受光する第1の光量検出器と、第1の直流阻止用
コンデンサ及び前記第1のスイツチと同期して同
相で開閉せしめられる第2のスイツチを介して前
記第1の光量検出器の検出出力に対応する電圧の
導入せしめられる第1のサンプルホールド回路
と、前記光源からの光を受光する第2の光量検出
器と、第2の直流阻止用コンデンサ及び前記第1
のスイツチと同期して同相で開閉せしめられる第
3のスイツチを介して前記第2の光量検出器の検
出出力に対応する電圧の導入せしめられる第2の
サンプルホールド回路と、前記第1の直流阻止用
コンデンサ及び前記第2のスイツチの接続点と地
気間に挿入され前記第1のスイツチと同期して逆
相で開閉せしめられる第4のスイツチと、前記第
2の直流阻止用コンデンサ及び前記第3のスイツ
チの接続点と地気間に挿入され前記第1のスイツ
チと同期して逆相で開閉せしめられる第5のスイ
ツチとを備えたことを特徴とする比色分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15139679U JPS6324433Y2 (ja) | 1979-10-31 | 1979-10-31 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15139679U JPS6324433Y2 (ja) | 1979-10-31 | 1979-10-31 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5668146U JPS5668146U (ja) | 1981-06-06 |
JPS6324433Y2 true JPS6324433Y2 (ja) | 1988-07-05 |
Family
ID=29382364
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15139679U Expired JPS6324433Y2 (ja) | 1979-10-31 | 1979-10-31 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6324433Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-10-31 JP JP15139679U patent/JPS6324433Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5668146U (ja) | 1981-06-06 |
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