JPS6324072A - 無電解パラジウム−ニツケル合金メツキ液 - Google Patents

無電解パラジウム−ニツケル合金メツキ液

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JPS6324072A
JPS6324072A JP3699987A JP3699987A JPS6324072A JP S6324072 A JPS6324072 A JP S6324072A JP 3699987 A JP3699987 A JP 3699987A JP 3699987 A JP3699987 A JP 3699987A JP S6324072 A JPS6324072 A JP S6324072A
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清貴 辻
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Mamoru Uchida
衛 内田
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    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
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    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/244Finish plating of conductors, especially of copper conductors, e.g. for pads or lands

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、無電解パラジウム−ニッケル合金メッキ液に
関する。
従来の技術及びその問題点 電子部品の電気接点部分には、耐食性が良好であり、か
つ電気的特性の優れた貴金属による表面被覆を施すこと
が要求され、工業的には主として金の電気メッキが採用
されている。
近年、金の代替として、他の貴金属の表面処理が種々検
討され、特にパラジウムは白金族金属の中でも最も安価
であることから広い範囲での工業的応用が期待されてい
る。
ところがパラジウムは、金の代替として各種の面で満足
しうる性能を有するものの、有機性ガスの存在下では、
パラジウム自身の持つ触媒作用のために、メッキ表面に
ポリマーが形成され、接触障害が生じるという欠点があ
る。そこでこのような欠点のない各種のPd合金メッキ
に関する研究が進められ、一定量以上のNiを含むPd
−Ni合金は有機性ガスの存在下においても表面にポリ
マーを生じることがなく、従って金の代替材料として好
ましいものであることが知られるに至っている。
現在行なわれているPc1−Ni合金メッキに関する研
究は、電気メツキ方法によるものがほとんどであるが、
周知の如く、電気メッキでは、微細で複雑な形状の電気
部品に均一な厚さのメッキ皮膜を形成させることは困難
である。無電解メッキ方法によれば、このような問題点
は、解消され、さらにメッキ液の自動管理が容易となり
、析出皮膜がボアフリーとなって耐食性が良好となる等
の利点があるが、従来は、工業的に実用化し得る無電解
Pd−Ni合金メッキ液についての報告はほとんどなさ
れていない。例えばE l ect roch em。
Technology 、  6.427 (1968
)において、硫酸ニッケル0.11モル/l、塩化パラ
ジウム0.011モル/l、38%塩酸4mQ/l、2
5%アンモニア水160mf2/l、次亜リン酸ナトリ
ウム0.094モル/lからなる無電解Pd−Ni合金
メッキ液が報告されているが、このメッキ液は極めて安
定性が悪く、メッキ処理途中にメッキ液中での金属の急
激な析出現象、所謂メッキ液の分解がおこり、それ故実
用には不適当である。
問題点を解決するための手段 本発明者は、上述した如き従来技術の問題点に鑑みて、
工業的規模においても実用可能な無電解Pd−Ni合金
メッキ液を得るべく鋭意研究を重ねてきた。その結果、
Pd及びNiの化合物を含む水溶液において、アンモニ
ア及びアミン化合物の少なくとも1種と、二価の硫黄を
含有する有機化合物とを安定剤として添加することによ
り、液の安定性が極めて優れたものとなり、還元剤とし
て、次亜リン酸化合物及び水素化ホウ素化合物から選ば
れた少なくとも1種の化合物を使用する場合に、工業的
規模においても実用可能な無電解パラジウム−ニッケル
合金メッキ皮膜が得られることを見出し、ここに本発明
を完成するに至った。
即ち、本発明は、 a)パラジウム化合物0.0001〜0.5モル/l b)ニッケル化合物0.001〜1モル/lC)アンモ
ニア及びアミン化合物の少なくとも1種0.001〜8
モル/l d)二価の硫黄を含有する有機化合物1〜500mg/
f2.並びに e)次亜リン酸化合物及び水素化ホウ素化合物の少なく
とも1種0.005〜1モル/lを含む水溶液からなる
ことを特徴とする無電解パラジウム−ニッケル合金メッ
キ液に係る。
本発明メッキ液では、Pdの供給源として塩化パラジウ
ム、塩化パラジウムナトリウム、塩化パラジウムカリウ
ム、塩化パラジウムアンモニウム、硫酸パラジウム、硝
酸パラジウム、酢酸パラジウム、酸化パラジウム等のパ
ラジウム化合物を用いる。パラジウム化合物の濃度は0
.0001〜0.5モル/l程度とし、好ましくは0.
001〜0.1モル/l程度とする。0.0001モル
/lを下回る濃度では、メッキ皮膜の析出速度が遅(な
るので実用的ではなく、一方0.5モル/lを上回る濃
度では、析出速度がより向上することはなく、かえって
メッキ液の安定性を阻害することになるので好ましくな
い。
Niの供給源としては、塩化ニッケル、塩化ニッケルア
ンモニウム、臭化ニッケル、ヨウ化ニッケル、硫酸ニッ
ケル、硫酸ニッケルアンモニウム、硝酸ニッケル、炭酸
ニッケル、スルファミン酸ニッケル、酢酸ニッケル、安
息香酸ニッケル、クエン酸ニッケル、ギ酸ニッケル、酒
石酸ニッケル、しゆう酸ニッケル等のニッケル化合物が
使用できる。ニッケル化合物の濃度は、0.001〜1
モル/l程度とし、好ましくは0.01〜0.5モル/
l程度とする。0.001モル/l未満では、ニッケル
が共析し難くなり、一方1モル/lを上回る濃度では、
メッキ液の安定性が低下し、またニッケル化合物の溶解
のために多ニのアンモニア及び/又はアミン化合物が必
要となり不経済である。特に、アンモニアを用いる場合
には、臭気等により作業環境が悪くなるので好ましくな
い。
本発明メッキ液では、メッキ液中のパラジウム化合物と
ニッケル化合物の濃度比を変化させることにより、析出
皮膜中のパラジウムとニッケルの比率を調整でき、任意
の組成のメッキ皮膜を容易に得ることができる。
本発明メッキ液では、液の安定性を維持するために、ア
ンモニア及びアミン化合物の少なくとも1種と、二価の
硫黄を含有する有機化合物とを組合せて用いることが必
要である。アンモニア及びアミン化合物はメッキ液中の
Pd及びNiと錯体を形成してこれらの成分を液中に安
定に保持する作用をし、液の安定化に寄与する。アンモ
ニア及び/又はアミン化合物の濃度は、0.001〜8
モル/l程度とし、好ましくは0.01〜5モル/l程
度とする。アンモニアを単独で用いる場合には、メッキ
液の安定性向上のために0. 075モル/l程度以上
とすることがより好ましい。アンモニア及び/又はアミ
ン化合物の濃度が高いほど液の安定性は良好になるが、
上記範囲を上回る濃度では、不経済であり、特にアンモ
ニアを用いる場合には臭気等により作業環境が悪くなる
ので好ましくない。また、上記範囲を下回る濃度では液
の安定性が低下して、分解し易くなるので好ましくない
本発明では、アミン化合物とは、アミノ酸類も包含する
ものとする。本発明での使用に適するアミン化合物とし
ては、具体的にはモノアミン類として、メチルアミン、
エチルアミン、プロピルアミン、ジメチルアミン、トリ
メチルアミン、ジメチルエチルアミン、ベンジルアミン
、2−ナフチルアミン、イソブチルアミン、イソアミル
アミン等、ジアミン類として、メチレンジアミン、エチ
レンジアミン、テトラメチレンジアミン、ペンタメチレ
ンジアミン、ヘキサメチレンジアミン等、ポリアミン類
として、ジエチレントリアミン、テトラエチレンペンタ
ミン、ペンタエチレンへキサミン、ヘキサエチレンへブ
タミン等、アミノ酸類として、エチレンジアミン四酢酸
又はそのナトリウム塩、N−ヒドロキシエチレンジアミ
ン三酢酸又はそのナトリウム塩、グリシン、N−メチル
グリシン、ジメチルグリシン、イミノジ酢酸、ヒダント
イン酸、グリコシアミン等、イミダシリン類として、イ
ミダシリン、2−メチル−2−イミダシリン、2−フェ
ニル−2−イミダシリン、2−ベンジル−2−イミダシ
リン、1,2−ジフェニル−2−イミダシリン、2,4
.5−トリフェニル−2−イミダシリン、2,2′ −
ビス(2−イミダシリン)、2−クロルメチル−2−イ
ミダシリン等を例示できる。
本発明では、上記したアミン化合物及びアンモニアの少
なくとも1種を使用すればよいが、アンモニアを単独で
使用する場合には、メッキの初期発生までの時間、即ち
被メッキ物をメッキ液に浸漬した後、メッキが付着しは
じめるまでの時間が長くなることがある。この様な場合
には、アンモニアと上記したアミン化合物とを併用する
ことによって初期発生時間を短縮することができる。ア
ミン化合換金はアンモニアと併用する場合には0.00
05モル/l程度以上で初期発生時間を短縮する効果が
ある。また、錯化剤として、アミン化合物を配合したメ
ッキ液では、メッキ皮膜の厚付けを行なった場合のメッ
キ皮膜の外観が特に良好になる。
本発明メッキ液での使用に適する二価の硫黄を含有する
有機化合物としては、具体的には、(CH3) 3 C
SH,CH3(CH2) s CH(CH3) SH。
CH3(Cl3 ) I + SH,HSCH2C0O
H。
H3CH2CH2C0OH。
等ノメルカブタン類; (C2Hs ) 2 S。
c6H5−s−c6H5,CH3−3−C6H5゜HO
OCCH2SCH2COOH。
HOOCCH2CH2SCH2CH2coOH等ノスル
フイド類; (CH3)2 S2.  (C2H5)2
 S2゜(C3H7)2 S2.C6H5S2−C6H
5゜等を例示できる。これらの硫黄゛含有有機化合物は
単独又は適宜組み合わせて使用できる。硫黄含有有機化
合物の使用量は、1〜500mg/(2種度とし、好ま
しくは5〜100mg/l程度とする。硫黄含有有機化
合物の使用量が上記範囲を上回ると、メッキ皮膜の析出
速度が低下し、また析出したメッキ皮膜の外観も劣化す
るので好ましくない。また上記範囲を下回る濃度では、
メッキ液の安定性が不充分となるので不適当である。
本発明メッキ液は、上記した様に、アンモニア及び/又
はアミン化合物と硫黄含有有機化合物とを併用すること
を必須とするものであり、極めて安定性に優れた工業的
規模での使用に好適なメッキ液である。また、上記した
様にアンモニア及び/又はアミン化合物の使用量範囲が
広く、使用量が少ない場合にも液の安定性が阻害される
ことがないので、メッキ液の管理が容易である。特に低
アンモニア量で使用する場合には、アンモニアの揮発量
が非常に少なくなり、それ故作業環境が良好となるとと
もに、液の長期保存が可能となる。
本発明メッキ液では、Pdイオン及びNiイオンを金属
に還元するための還元剤として、次亜リン酸化合物及び
水素化ホウ素化合物の少なくとも1種を使用する。次亜
リン酸化合物としては、次亜リン酸又はそのアンモニウ
ム、リチウム、ナトリウム、カリウム、カルシウム塩等
を使用でき、水素化ホウ素化合物としてはジメチルアミ
ンボラン、トリメチルアミンボラン、イソプロピルアミ
ンボラン、モルホリンボラン等のアミンボラン類や水素
化ホウ素ナトリウム、水素化ホウ素カリウム等を使用で
きる。還元剤の使用量は、0.005〜1モル/l程度
とし、好ましくは0.01〜0.5モル/l程度とする
。使用量が0.005モル/l未満ではメッキが充分に
析出せず、一方1モル/lを上回るとメッキ液が不安定
になるので好ましくくない。
本発明メッキ液は、前記した様に、アンモニア及び/又
はアミン化合物と特定の硫黄含有有機化合物とを組み合
わせて用いることによる極めて安定性に優れたものであ
り、それ故上記した様に各種の還元剤を使用できる。
本発明メッキ液は、上記した各成分を必須成分とする水
溶液であり、極めて安定性に優れ、良好なメッキ皮膜を
形成することができるものである。
上記組成の本発明メッキ液を更にpH5〜11に調整す
る場合には、析出皮膜の応力が低下して、クラックのほ
とんどないメッキ皮膜を形成させることができる。この
様にpHを5〜11に調整したメッキ液から形成される
クラックのほとんどないメッキ皮膜は、ハンダのぬれ性
が良く、ハンダ付は性が良好である。メッキ液のpH調
整は、例えばHCQ 、 H2S 04等の酸やN a
 OH等のアルカリ化合物によって行なえばよい。
本発明メッキ液は、10〜90°Cという広い範囲の温
度においてメッキ可能であり、特に25〜70°C程度
の液温のときに、平滑で光沢のある最も良好なメッキ皮
膜が得られる。この様に、比較的低温でメッキを行ない
得ることから、メッキ液の管理が容易なものとなり、特
にアンモニアを用いる場合には、アンモニアの揮発を抑
えることが可能となり、従って作業環境を良好に保つこ
とができる。また、本発明メッキ液では、液温か高い程
、メッキ皮膜の析出速度が速くなる傾向にあり、上記し
た温度範囲内で適宜温度を設定することにより任意の析
出速度とすることができる。
また、本発明メッキ液では、メッキ皮膜の析出速度は、
液温の他に、Pd及びN 1418度にも依存すること
から、Pd濃度を適宜設定することによってもメッキ皮
膜の析出速度を調整できる。この様に本発明メッキ液の
析出速度は、液温と金属濃度とに依存するが、他の成分
の濃度やメッキ液のpHの変動にはほとんど影響を受け
ないので、メッキ皮膜の膜厚のコントロールが容易であ
る。
本発明メッキ液によりメッキ処理を行なうには、前記し
た温度範囲内の液中に、Pd−Ni合金皮膜の還元析出
に対して触媒性のある基質を浸漬すればよい。触媒性の
ある基質としては、例えば、Fe5CoSNi、Cu、
SnSAg、Au。
Pt、Pd及びこれらの合金等を示すことができる。ま
た、樹脂、ガラス、セラミックス、W等の触媒性のない
基質であっても、例えば、センシタイジングーアクチベ
ータ法、キャタリスト−アクセラレータ−法等の公知の
方法で触媒性を付与することによって、上記方法と同様
にメッキ液中に浸漬してメッキ処理を行なうことができ
る。
本発明メッキ液によるパラジウム−ニッケル合金皮膜の
析出は、自己触媒的に進行し、このため有孔度が小さく
、しかも密着性の高い皮膜が得られる。
発明の効果 本発明無電解パラジウム−ニッケル合金メッキ液は、以
下の様な優れた特性を有する。
(イ)極めて安定性に優れたメッキ液である。
(ロ)得られるメッキ皮膜の外観が良好であり、膜厚を
厚くした場合にも良好な外観のメッキ皮膜となる。
(ハ)自己触媒性の析出であることから析出皮膜の有孔
度が小さく、耐食性が良好であり、また、素地に対する
密着性が良い。
(ニ)低アンモニア量でも、メッキ液の安定性が良いの
で、低アンモニア量として、アンモニアの揮発を抑制す
ることができる。またアミン化合物を使用するメッキ液
では、メッキ作業中や保存中にアミン化合物が揮発する
ことはない。
このため、メッキ液の保存安定性が良く、また作業環境
も良好である。
(ホ)低温で析出可能であるため、作業性が良く、また
、アンモニア浴の場合にも、アンモニアの揮発が少く、
メッキ液の管理が容易である。
(へ)PdとNiとの合金皮膜となるため、有機性ガス
雰囲気中でも析出皮膜の表面にポリマーを生じることが
なく、信頼性の要求される電気接点部品への応用に最適
である。
(ト)液中のPdとNiの比を変化させることにより、
用途に応じた任意の組成のPd−Ni合金メッキが容易
に得られるっ (チ)析出速度は、金属濃度と液温にのみ依存し、他の
成分の濃度や液のp)Iには、はとんど影響を受けない
ので、メッキ膜厚のコントロールが容易である。
(す)pHを5〜11に調整することによって、クラッ
クの非常に少ないメッキ皮膜が得られる。
この様なメッキ皮膜はハンダ付は性が良好であり、電子
部品への応用に適するものである。
(ヌ)pHを中性付近に設定することにより、使用でき
る被処理物、レジストインキ等の種類が多くなり、また
メッキ設備の材質としても多種類のものが使用できる。
本発明メッキ浴は、上記した様に優れた特性を有するも
のであり、電子部品において高い信頼性を要求される接
点部品への応用や金メツキ皮膜の長寿命化のための下地
メッキ皮膜としての応用等に極めて有用であり、更に、
その他、特に耐食性が要求される部品等に対して広く使
用し得るものである。
実施例 以下に、実施例を示して、本発明を更に詳細に説明する
実施例1 下記の配合組成のメッキ液を調製した。
PdCQ2         o、01モル/lN i
 CQ 2 ・6H20下記変量828%アンモニア水
   200mQ/lチオジグリコール酸    20
mg/lN a N2 P 02  ・N20 0. 
08モル/l※ N1CQ2 争6H20は0゜005
.0.01.0,02.0.05.0. 1及び0.2
モル/lの6通りに変化させた。
得られたメッキ液を用いて、液温40°Cで銅板に1時
間メッキを行なった。メッキ液中のNiとPdの比率と
析出物中のNi量との関係を第1図に示す。第1図から
明らかな様に、メッキ液中のNiとPdの比を調整する
ことにより、任意の組成の析出物が得られることが判る
。また、得られた析出物の外観は良好であり、J I 
5−Z−2248に準じて曲げ試験を行なった結果、す
べての試料について異状が生じることはなく、密着性は
良好であった。
更に、上記メッキ液の安定性を調べるために、90°C
への加熱、25°Cでの密閉保存、及び25℃での開放
保存を行なった結果を第1表に示す。
第  1  表 また、比較として、チオジグリコール酸を含有せず、他
の成分は上記メッキ液の組成と同様なメッキ液(N i
 CQ 2 ・6H20ハ0. 1モル/ Q )を用
いて保存試験をを行なった結果、25°Cで保存すると
約1時間で液の分解を生じ、40 ’Cでは5分以内に
液の分解を生じた。
以上の結果から、本発明メッキ液が高温での安定性及び
常温での長期保存性に優れたものであることが判る。尚
、開放保存では、4〜7日間で液の分解を生じたが、こ
れは従来のメッキ液に比して極めて優れた結果である。
また、この開放保存によるメッキ液の分解は、アンモニ
アの揮発に起因するものであり、適宜アンモニアを補給
することにより、長時間の開放保存も可能である。
実施例2 下記組成のメッキ液を調製した。
PdC1220,01モル/l N i CQ2  ・6H200,1モル/l28%ア
ンモニア水   200mf2/lチオジグリコール酸
    20mg/lNaH2PO211H20 又はNaBH40,08モル/l このメッキ液を用いて、液温40℃で銅板上にメッキを
行なった場合のメッキ時間と析出量との関係第2図に示
す。尚、図中、○印は、NaH2PO2・H20を用い
た場合、Δ印は、NaBH工を用いた場合の結果を示す
。第2図からNaH2PO2・H2Oを用いた場合には
、析出速度は1.4mg/cm2 ・hrであり、Na
BH4を用い場合には、析出速度は1 、 7 mg/
 cm2  ・hrであって、いずれの場合にもメッキ
時間と析出量との間に直線関係が認められ、自己触媒的
析出であることが判る。尚、析出物中のNiff1は、
NaH2PO,L−H2Oを用いた場合には、約30重
量%であり、NaBH,を用いた場合には、約35重量
%であった。
実施例3 下記の配合組成のメッキ液を調製した。
PdC920,,01モル/l NiCQ2  ・6H200,1モル/l28%アンモ
ニア水   200mfl/l硫黄含有有機化合物x 
  20ffIg/lN a H2P 02  ・H2
00,08モル/l※ 硫黄含有有機化合物としては、
チオジグリコール酸、チオジプロピオン酸及び2−メル
カプトベンゾチアゾールの3種類を用いた。
このメッキ液を用いて、液温を変化させて銅板上に1時
間メッキを行なった場合の液温と析出速度との関係を第
3図に示す。また、液温と析出物中のNiftとの関係
を第4図に示す。尚、図中、O印は、チオジグリコール
酸を用いた場合、Δ印は、チオジプロピオン酸を用いた
場合、口印は、2−メルカプトベンゾチアゾールを用い
た場合の結果を示す。以上の結果から、液温か高い程メ
ッキ速度が増加し、また析出物中のNiff1か増加す
る傾向にあることが判る。尚、得られたメッキ皮膜は、
チオジグリコール酸、チオジプロピオン酸及び2−メル
カプトベンゾチアゾールのいずれを用いた場合にも良好
な外観であった。
実施例4 下記組成のメッキ液を調製した。
PdC(1!2         0.01モル/lN
iCQ2  ・6H200,1モル/lNH2CH2C
H2NH20,’08モル/lチオジグリコール酸  
   20mg/9NaH2PO2・H200,08モ
ル/lこのメッキ液を用いて、液温40℃で銅板に1時
間メッキを行なった。その結果析出物中のNi量は約3
0重量%であり、得られた析出物の外観、密着性は共に
良好であった。また上記メッキ液を90°Cに加熱して
もメッキ液の分解が生じることはなく、また25℃で4
ケ月間開放保存した場合にもメッキ液の分解は生じなか
った。
実施例5 実施例4に示すメッキ液を下記第2表に示す各pH値に
HCQ及びN a OHで調製し、液温40℃で銅板上
に1μm厚にメッキ皮膜を形成させ、メッキ速度を測定
した。次いで、得られたメッキ皮膜の状態を走査型電子
顕微鏡(3000倍)で観察した後、下記の方法でハン
ダ付は性試験を行なった。結果を第2表に示す。
0ハンダ付は性試験 メッキ皮膜を形成させた試料(25mmX 25mmx
Q、  3[1111)をロジンフラックス(ロジン2
5%イソプロピルアルコール溶液)に浸漬して前処理し
た後、メニスコグラフ(フィリップス社製)を使用し、
230°Cで溶融させた6/4ハンダ(スズ:鉛=6:
4)中に試料をハンダ面に垂直に12mmの深さまで浸
漬し、ハンダと試料面との接触角が90度になるまでの
時間を測定してゼロクロスタイムとした0viILL 
 5TD−883Bに準する)。ゼロクロスタイムが短
い程メッキ皮膜に対するハンダのぬれ性が良好であると
いえる。
次いで、ゼロクロスタイムを測定した後の試料について
、付着したハンダの状態を観察し、ハンダの付着性を調
べた。結果を次の記号で示す。
○・・・ハンダが均一に付着 △・・・一部不均一であるが浸漬面の98%以上にハン
ダが付着 ×・・・ハンダの付着面が98%未満であり、付着状態
が不均一である。
第  2  表 実施例6 下記組成のメッキ液を調製した。
PdCC!2       0.01モル/lNiC9
2・6H200,1モル/l アミン化合物”      0.08モル/lチオジグ
リコール酸    20mg/9NaH2PO2・H2
00,06モル/l※ アミン化合物としては、ジメチ
ルアミン、ジメチルエチルアミン、メチレンジアミン、
テトラメチレンジアミン、ジエチレントリアミン、ペン
タエチレンへキサミン、N−ヒドロキシエチレンジアミ
ン三酢酸、グリシン、イミダシリン、及び2−ベンジル
−2−イミダシリンを各々単独で用いた。
これらのメッキ液を塩酸でpH8に調整し、液温60°
Cで銅板上にメッキを行なった。その結果、密着性及び
外観ともに良好な皮膜が形成された。
また得られたメッキ皮膜はクラックがなく、ハンダ付は
性が良好であった。更に、上記各メッキ液について、加
熱時の安定性及び保存安定性を調べたところ良好な安定
性を示した。
実施例7 下記組成のメッキ液を調製した。
PdCl22         0.01モル/lN 
i CQ 2  ・6H200,1モル/lNH2CH
2CH2NH20,08モル/l硫黄含有有機化合物”
    20mg/(!NaH2PO2・H200,0
6モル/l※ 硫黄含有有機化合物としては、H3CH
2COOH。
を各々単独で用いた。
これらのメッキ液を塩酸でpH8に調整し、液温60°
Cで銅板上にメツ千を行なった。その結果、密着性及び
外観ともに良好な皮膜が形成された。
また得られたメッキ皮膜はクラックがなく、ハンダ付は
性が良好であった。更に、上記各メッキ液について、加
熱時の安定性及び保存安定性を調べたところ良好な安定
性を示した。
実施例8 下記組成のメッキ液を調製した。
PdCQ2        0.01モル/lN i 
CQ 2  ・6H200,1モル/lNH2CH2C
H2NH20,08モル/lチオジグリコール酸   
   20mg/l還 元 剤”        0.
06モル/l※ 還元剤としては、ジメチルアミンボラ
ン、イソプロピルアミンボラン、モルホリンボラン及び
水素化ホウ素ナトリウムを各々単独で用いた。
これらのメッキ液を塩酸でpH8に調整し、液温60℃
で銅板上にメッキを行なった。その結果、密着性及び外
観ともに良好な皮膜が形成された。
また得られたメッキ皮膜はクラックがなく、ハンダ付は
性が良好であった。更に、上記各メッキ液について、加
熱時の安定性及び保存安定性を調べたところ良好な安定
性を示した。
【図面の簡単な説明】
第1図は、液中のNiとPdO比と析出物中のNi量と
の関係を示すグラフ、第2図はメッキ時間と析出量との
関係を示すグラフ、第3図は液温と析出速度の関係を示
すグラフ、第4図は液温と析出物中のNi量との関係を
示すグラフである。 (以 上) 第1図 5N”rnNi/(Ni+pd)(wtz)第2図 時間(h「) 第3図 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)a)パラジウム化合物0.0001〜0.5モル
    /l b)ニッケル化合物0.001〜1モル/lc)アンモ
    ニア及びアミン化合物の少なくとも1種0.001〜8
    モル/l d)二価の硫黄を含有する有機化合物1〜500mg/
    l、並びに e)次亜リン酸化合物及び水素化ホウ素化合物の少なく
    とも1種0.005〜1モル/lを含む水溶液からなる
    ことを特徴とする無電解パラジウム−ニツケル合金メッ
    キ液。
  2. (2)pHが5〜11である特許請求の範囲第1項に記
    載の無電解パラジウム−ニッケル合金メッキ液。
JP3699987A 1986-03-04 1987-02-19 無電解パラジウム−ニツケル合金メツキ液 Granted JPS6324072A (ja)

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JP61-46727 1986-03-04
JP4672786 1986-03-04

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