JPS63229813A - ウエ−ハ支持具 - Google Patents

ウエ−ハ支持具

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JPS63229813A
JPS63229813A JP62066567A JP6656787A JPS63229813A JP S63229813 A JPS63229813 A JP S63229813A JP 62066567 A JP62066567 A JP 62066567A JP 6656787 A JP6656787 A JP 6656787A JP S63229813 A JPS63229813 A JP S63229813A
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JP
Japan
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wafer
grooves
wafers
bars
thickness
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JP62066567A
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JPH0630348B2 (ja
Inventor
Yutaka Karita
刈田 裕
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はウェーハ支持具に関し、特に半導体製造工程に
使用されるウェーハの熱処理及び高温雰囲気中での減圧
CVDの際複数のウェーハを支持するウェーハ支持具に
関する。
〔従来の技術〕
従来、この種のウェーハ支持具は、第4図に示すように
、複数のウェーハ1をほぼ平行に支持するべく刻まれた
溝3を有する2本の平行棒2を有している。
第5図は第4図のウェーハ支持具の断面図である。
第5図に示すように、ウェーハ1は棒2の溝3に挿入さ
れ自重により支持される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のウェーハ支持具は、平行な棒に刻まれた
溝にウェーハを挿入してウェーハを支持する構造となっ
ているので、ウェーハの外線と接する溝の側面には熱処
理中の反応ガスの廻り込みが少く、例えば、減圧CVD
装置等においては窒化ケイ素、多結晶ケイ素、二酸化ケ
イ素等のCVD成膜工程中に、溝に接するウェーハ表面
へのガスの廻り込み又は反応後のガス交換がウェーハ表
面の他の部位に比べ確率的に少なくなり、その結果成膜
された上記のケイ化物の膜厚が他の部位に比べ薄くなる
ことは一般に周知されている。
従って、従来のウェーハ支持具では、半導体装置の製造
工程中でウェーハの溝の側面に接する部分を使用した半
導体装置の品質低下ひいては歩留り低下を引起すという
欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のウェーハ支持具は、少くとも2本の平行な棒と
、該棒に複数のウェーハをほぼ平行に支持すべくそれぞ
れの前記棒に設けられた底面がそれぞれの前記ウェーハ
の中心とそれぞれの前記棒との中心を結ぶそれぞれの直
線とほぼ直交する複数の溝と、それぞれの前記溝の底面
に設けられた前記直線を中心とする複数の貫通穴とを含
んで構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の斜視図、第2図は第1
図の実施例の断面図である。
第1図及び第2図に示すように、2本の平行な棒2a、
2bと、棒2a、2bに複数のウェーハ1を支持すべく
棒2a、2bに設けられた複数の溝3と、それぞれの溝
3に設けられた貫通穴4とを含む。
満3は、ウェーハ1の中心0とウェーハ1の外周と棒2
a、2bの外周とが接する点A 1 、 A 2を結ぶ
直線と直交する面を底面とし、複数のウェーハ1を溝3
に挿入してほぼ平行に支持するように棒2a、2bに設
けられる。
又、貫通穴4はそれぞれの満3の底面にそれぞれのウェ
ーハ1に対応する直線OA、、○A2を中心として棒2
a、2bに設けられる。
このように構成することにより、貫通穴4からも反応ガ
スが廻り込みかつガス交換が貫通穴4を通して行われる
第3図は本発明の第2の実施例の断面図である。
第3図に示すように、第2の実施例では棒2c。
2dに設けられた貫通穴4aの形状が溝3の底面部にお
いてテーパ5を有している。これにより、第1の実施例
に比べてよりガスの廻り込み及びガスの交換が容易にな
る利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明のウェーハ支持具は、ウェー
ハを挿入して支持する溝の底面に貫通穴を設けることに
より、ウェーハを積載して熱処理及び減圧CVD炉中に
挿入して処理する場合、貫通穴から反応ガスが廻り込み
、かつ、ガス交換も貫通穴を通して行われるので、溝の
底面に接するウェーハ上の成長膜厚を他のウェーハ表面
の成長膜厚と均一にできるので、半導体装置の品質を向
上し製造の歩留りを向上できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の斜視図、第2図は第1
図の実施例の断面図、第3図は本発明の第2の実施例の
断面図、第4図は従来のウェーハ支持具の一例の斜視図
、第5図は第4図のウェーハ支持具の断面図である。 1・・・ウェーハ、2.2a、2b、2c、2d−・棒
、3・・・溝、4,4a・・・貫通穴、5・・・テーパ
。 $  1 1!l!J 茅 2 図 茅 3 凹 茅 4 回

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 少くとも2本の平行な棒と、該棒に複数のウェーハをほ
    ぼ平行に支持すべくそれぞれの前記棒に設けられた底面
    がそれぞれの前記ウェーハの中心とそれぞれの前記棒と
    の中心を結ぶそれぞれの直線とほぼ直交する複数の溝と
    、それぞれの前記溝の底面に設けられた前記直線を中心
    とする複数の貫通穴とを含むことを特徴とするウェーハ
    支持具。
JP62066567A 1987-03-19 1987-03-19 ウエ−ハ支持具 Expired - Lifetime JPH0630348B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP62066567A JPH0630348B2 (ja) 1987-03-19 1987-03-19 ウエ−ハ支持具

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JP62066567A JPH0630348B2 (ja) 1987-03-19 1987-03-19 ウエ−ハ支持具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63229813A true JPS63229813A (ja) 1988-09-26
JPH0630348B2 JPH0630348B2 (ja) 1994-04-20

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ID=13319660

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JP62066567A Expired - Lifetime JPH0630348B2 (ja) 1987-03-19 1987-03-19 ウエ−ハ支持具

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JP (1) JPH0630348B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1096112C (zh) * 1996-12-28 2002-12-11 Lg半导体株式会社 晶片支承和/或输送机

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1096112C (zh) * 1996-12-28 2002-12-11 Lg半导体株式会社 晶片支承和/或输送机

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Publication number Publication date
JPH0630348B2 (ja) 1994-04-20

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