JPS63198809A - 圧延材の光学式形状検出方法およびその装置 - Google Patents
圧延材の光学式形状検出方法およびその装置Info
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- JPS63198809A JPS63198809A JP62030878A JP3087887A JPS63198809A JP S63198809 A JPS63198809 A JP S63198809A JP 62030878 A JP62030878 A JP 62030878A JP 3087887 A JP3087887 A JP 3087887A JP S63198809 A JPS63198809 A JP S63198809A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
- B21B38/02—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product for measuring flatness or profile of strips
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- B21B39/00—Arrangements for moving, supporting, or positioning work, or controlling its movement, combined with or arranged in, or specially adapted for use in connection with, metal-rolling mills
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- B21B39/02—Feeding or supporting work; Braking or tensioning arrangements, e.g. threading arrangements
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は圧延材のライン中に圧延材の張力低減区間ある
いは無張力区間を設け、この区間で圧延材のひずみを検
出することによって圧延材の形状検出の検出精度を向上
させた圧延材の光学式形状検出方法およびその装置に関
する。
いは無張力区間を設け、この区間で圧延材のひずみを検
出することによって圧延材の形状検出の検出精度を向上
させた圧延材の光学式形状検出方法およびその装置に関
する。
従来の圧延材の光学式形状検出装置として、例えば、「
塑性と加工Ｖｏ１．１２ ｋ１２４（１９７１−５）
Ｊに示すものがある。第４図はこの圧延材の光学式形状
検出装置を示し、圧延機２によって圧延された圧延材１
に棒状光源１６による光を照射し、その反射像（虚像）
をテレビカメラ８で撮像し、モニター９に映し出し、圧
延材１のひずみを検出する。この検出装置によれば、非
接触式の検出を行うため、圧延材の磁性、波の高さに関
係せず、換言すれば圧延材の材質（銅系の材料、Ｆｅ系
の材料）に無関係に適用できる利点がある。検出精度は
圧延材の波のピッチし、波の高さｍとすると、急峻度λ
＝ｍ／Ｌ Ｘ１００ ＝ ０．５％程度のときは熱間圧
延材並びに広幅材にとって所定の検出精度が得られる。
塑性と加工Ｖｏ１．１２ ｋ１２４（１９７１−５）
Ｊに示すものがある。第４図はこの圧延材の光学式形状
検出装置を示し、圧延機２によって圧延された圧延材１
に棒状光源１６による光を照射し、その反射像（虚像）
をテレビカメラ８で撮像し、モニター９に映し出し、圧
延材１のひずみを検出する。この検出装置によれば、非
接触式の検出を行うため、圧延材の磁性、波の高さに関
係せず、換言すれば圧延材の材質（銅系の材料、Ｆｅ系
の材料）に無関係に適用できる利点がある。検出精度は
圧延材の波のピッチし、波の高さｍとすると、急峻度λ
＝ｍ／Ｌ Ｘ１００ ＝ ０．５％程度のときは熱間圧
延材並びに広幅材にとって所定の検出精度が得られる。
しかし、従来の圧延材の光学式形状検出装置によれば、
板幅が２００Ｈ以下と狭幅になると棒状光源の照射によ
る反射像のゆがみが小さくなるため、検出精度は低下す
る不都合がある。また、圧延材は前後方張力の影害を受
けやすく、前方張力が２０ｋｇｆ／＋ｕ２以上に大きく
なると、板の中央部（Ｔ、） と端部（Ｔ８）の張力
差Ｔ、−Ｔ、が小さくなるため、ひずみの波が一見消え
てしまって棒状光源像のゆがみが見えなくなり、形状検
出の精度が低下あるいは不可能となる問題がある。
板幅が２００Ｈ以下と狭幅になると棒状光源の照射によ
る反射像のゆがみが小さくなるため、検出精度は低下す
る不都合がある。また、圧延材は前後方張力の影害を受
けやすく、前方張力が２０ｋｇｆ／＋ｕ２以上に大きく
なると、板の中央部（Ｔ、） と端部（Ｔ８）の張力
差Ｔ、−Ｔ、が小さくなるため、ひずみの波が一見消え
てしまって棒状光源像のゆがみが見えなくなり、形状検
出の精度が低下あるいは不可能となる問題がある。
最近におけるＩＣリードフレームのような電子部品材料
では、装置の小型化、素子の高集積化の著しい進展から
、リードフレームの寸法形状はもとより、仮クラウンの
精度も益々高いものが要求されるようになっている。
では、装置の小型化、素子の高集積化の著しい進展から
、リードフレームの寸法形状はもとより、仮クラウンの
精度も益々高いものが要求されるようになっている。
このような背景から、ＩＣＩＪ−ドフレーム用クラッド
材の形状精度の改善が望まれている。
材の形状精度の改善が望まれている。
また、圧延条件の制御を行うのに必要なデータを短時間
で数値化処理を行って得ることも望まれている。
で数値化処理を行って得ることも望まれている。
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、圧延材の板
幅が２００鰭以下の狭幅、あるいは前後方張力付加中で
の圧延材ライン中においても高精度の形状検出を可能と
するため、圧延材ライン中に圧延材の張力低減区間ある
いは無張力区間を設けて圧延材のひずみを顕在化し、そ
の区間で圧延材の形状検出を行うようにした圧延材の光
学式形状検出方法およびその装置を提供するものである
。
幅が２００鰭以下の狭幅、あるいは前後方張力付加中で
の圧延材ライン中においても高精度の形状検出を可能と
するため、圧延材ライン中に圧延材の張力低減区間ある
いは無張力区間を設けて圧延材のひずみを顕在化し、そ
の区間で圧延材の形状検出を行うようにした圧延材の光
学式形状検出方法およびその装置を提供するものである
。
以下、本発明の圧延材の光学式形状検出方法およびその
装置を詳細に説明する。
装置を詳細に説明する。
第１図は本発明の第１の実施例を示し、圧延材（板幅５
０ｍｍ、板厚０．３ｎの複合材）１を圧延する圧延機（
ワークロール径φ１００の４段圧延機）２と、圧延機２
の出口付近に設置され圧延材１を前方に所定の張力で送
り出すキャタピラ−３と、圧延材１の巻取ロール６の近
傍に設置されキャタピラ−３との回転速度差によってキ
ャタピラ−３との間で張力低減区間を設けるパウダーク
ラッチ４およびビンチロール５の組み合わせと、２本の
スリット光７ａ、７ｂを出射するスリット板７ （光源
は特に図示せず）と、圧延材１の上に照射されたスリッ
ト光７ａ、７ｂの反射像を撮像するテレビカメラ８と、
テレビカメラ８により撮像した反射像を表示するモニタ
（ＣＲＴ）９を有する。パウダークラッチ４は内部のパ
ウダーを介して入力軸４ａの回転トルクを所定の変速比
で変速してビンチロール５に伝える。
０ｍｍ、板厚０．３ｎの複合材）１を圧延する圧延機（
ワークロール径φ１００の４段圧延機）２と、圧延機２
の出口付近に設置され圧延材１を前方に所定の張力で送
り出すキャタピラ−３と、圧延材１の巻取ロール６の近
傍に設置されキャタピラ−３との回転速度差によってキ
ャタピラ−３との間で張力低減区間を設けるパウダーク
ラッチ４およびビンチロール５の組み合わせと、２本の
スリット光７ａ、７ｂを出射するスリット板７ （光源
は特に図示せず）と、圧延材１の上に照射されたスリッ
ト光７ａ、７ｂの反射像を撮像するテレビカメラ８と、
テレビカメラ８により撮像した反射像を表示するモニタ
（ＣＲＴ）９を有する。パウダークラッチ４は内部のパ
ウダーを介して入力軸４ａの回転トルクを所定の変速比
で変速してビンチロール５に伝える。
第１図は、以上の構成に加えて、テレビカメラの撮像に
基づいて映像信号を出力する映像信号発生回路１０と、
映像信号と所定のスライスレベルを比較して白、黒の２
値信号を発生する２値信号発生回路１１と、２値信号の
「１」とサンプリング信号の間にＡＮＤ条件が成立した
とき積分操作を開始して当該走査線の終了までｗＥ続す
る積分回路１２と、積分回路１２の積分値出力に基づい
てエッヂウェーブ、センターウェーブ等の演算を行う演
算回路１３と、演算回路１３の演算結果に基づいて圧延
典２の圧延条件（前後方張力を含めて）を制御する圧延
装置制御回路１４を有する。
基づいて映像信号を出力する映像信号発生回路１０と、
映像信号と所定のスライスレベルを比較して白、黒の２
値信号を発生する２値信号発生回路１１と、２値信号の
「１」とサンプリング信号の間にＡＮＤ条件が成立した
とき積分操作を開始して当該走査線の終了までｗＥ続す
る積分回路１２と、積分回路１２の積分値出力に基づい
てエッヂウェーブ、センターウェーブ等の演算を行う演
算回路１３と、演算回路１３の演算結果に基づいて圧延
典２の圧延条件（前後方張力を含めて）を制御する圧延
装置制御回路１４を有する。
以上の構成において操作を説明する。圧延機２から圧延
材１が圧延成形されてくると、キャタピラ−３が前方張
力が４０ｋｇｆ／ｍｍ２になるように張力を負荷して圧
延材１を送り出す。
材１が圧延成形されてくると、キャタピラ−３が前方張
力が４０ｋｇｆ／ｍｍ２になるように張力を負荷して圧
延材１を送り出す。
パウダークラッチ４に接続したピンチロール５が圧延材
１を引き取るとき圧延材１の張力が所定の値以下になる
ようにクラッチ４の変速比が追従するためキャタピラ−
３とピンチロール５の間を無張力に近くなるように調整
することができる。これによって、圧延材の張力低減区
間を実現する。次に圧延材１に照射角（θ）を８５″に
設定したスリット板７を通過したスリット光７ａ、７ｂ
を照射し、反射像Ｒ１，Ｒ２（第２図参照）を得る。反
射像Ｒ，、Ｒ２は圧延材１のひずみに応じて例えば、第
２図の如く、ゆがんだ２本の像となる。第２図は圧延材
１にひずみ（中伸び：センターウエーブ）の波１ａが形
成されている状態である。この反射像Ｒ，、Ｒ２をテレ
ビカメラ８によって撮像し、モニタ９により表示し、か
つ、映像信号発生回路１０の映像信号を２値化信号発生
回路１１で２値化し、それに基づく積分回路１２の積分
信号を演算回路１３が演算する。これによりひずみを的
確に検出する。圧延材１のひずみは、換言すれば、反射
像Ｒ，，Ｒ，のゆがみは２条通過光を用いることによっ
て、反射線Ｒ，、Ｒ，間のひずみとして検出することが
できる。ここで、板端側の反射線間（光源幅）をり。、
反射像Ｒ４の中央のひずんでいる圧延方向のゆがみ長さ
し８、反射像Ｒ２の中央のひずんでいる圧延方向のゆが
み長さＲ３，２条の反射像Ｒ＋、Ｒｚの圧延方向のゆが
みの長さＲ２として、寸法り、とＲ２を板幅方向に連続
的に測定し、その和を求めると、Ｌｚ ＋Ｌ、＋ ＝
（Ｌｏ ＋ Ｒ３）＋ＬＩ ＝ｌ、ｏ ＋２Ｌｌ と
なる。棒状光源（１条通過光）では、ゆがみ検出はＬ
、であるが２条通過光を用いることで２Ｌ＋ となり検
出精度を向上させることができる。以上の検出結果に基
づいて゛圧延装置制御回路１４は圧延機２の圧延条件を
制御する。
１を引き取るとき圧延材１の張力が所定の値以下になる
ようにクラッチ４の変速比が追従するためキャタピラ−
３とピンチロール５の間を無張力に近くなるように調整
することができる。これによって、圧延材の張力低減区
間を実現する。次に圧延材１に照射角（θ）を８５″に
設定したスリット板７を通過したスリット光７ａ、７ｂ
を照射し、反射像Ｒ１，Ｒ２（第２図参照）を得る。反
射像Ｒ，、Ｒ２は圧延材１のひずみに応じて例えば、第
２図の如く、ゆがんだ２本の像となる。第２図は圧延材
１にひずみ（中伸び：センターウエーブ）の波１ａが形
成されている状態である。この反射像Ｒ，、Ｒ２をテレ
ビカメラ８によって撮像し、モニタ９により表示し、か
つ、映像信号発生回路１０の映像信号を２値化信号発生
回路１１で２値化し、それに基づく積分回路１２の積分
信号を演算回路１３が演算する。これによりひずみを的
確に検出する。圧延材１のひずみは、換言すれば、反射
像Ｒ，，Ｒ，のゆがみは２条通過光を用いることによっ
て、反射線Ｒ，、Ｒ，間のひずみとして検出することが
できる。ここで、板端側の反射線間（光源幅）をり。、
反射像Ｒ４の中央のひずんでいる圧延方向のゆがみ長さ
し８、反射像Ｒ２の中央のひずんでいる圧延方向のゆが
み長さＲ３，２条の反射像Ｒ＋、Ｒｚの圧延方向のゆが
みの長さＲ２として、寸法り、とＲ２を板幅方向に連続
的に測定し、その和を求めると、Ｌｚ ＋Ｌ、＋ ＝
（Ｌｏ ＋ Ｒ３）＋ＬＩ ＝ｌ、ｏ ＋２Ｌｌ と
なる。棒状光源（１条通過光）では、ゆがみ検出はＬ
、であるが２条通過光を用いることで２Ｌ＋ となり検
出精度を向上させることができる。以上の検出結果に基
づいて゛圧延装置制御回路１４は圧延機２の圧延条件を
制御する。
第３図は本発明の第２の実施例を示し、圧延機２の出口
付近に設置され圧延材１の前方張力を調整するパウダー
クラッチ４”およびピンチロール５゛の組み合わせと、
ピンチロール５゛との回転速度差によってピンチロール
５゛ との間で張力低減区間を設けるパウダークラッチ
４およびピンチロール５の組み合わせとを用いた例であ
る。１５は圧延材を支持するアイドラロールを示し、他
の符号は共通に付き説明を省略する。
付近に設置され圧延材１の前方張力を調整するパウダー
クラッチ４”およびピンチロール５゛の組み合わせと、
ピンチロール５゛との回転速度差によってピンチロール
５゛ との間で張力低減区間を設けるパウダークラッチ
４およびピンチロール５の組み合わせとを用いた例であ
る。１５は圧延材を支持するアイドラロールを示し、他
の符号は共通に付き説明を省略する。
以上の構成において、操作を説明する。圧延機２によっ
て圧延成形された圧延材１にパウダークラッチ４゛に接
続したピンチロール５゛で前方張力が４０ｋｆｆ／ｍｍ
”になるように張力を負荷し、パウダークラッチ４に接
続したピンチロール５の回転速度をピンチロール５゜の
回転速度と同一にするか、その差を所定の値以下にして
ピンチロール５°とピンチロール５の間に圧延材の張力
低減区間を設ける。
て圧延成形された圧延材１にパウダークラッチ４゛に接
続したピンチロール５゛で前方張力が４０ｋｆｆ／ｍｍ
”になるように張力を負荷し、パウダークラッチ４に接
続したピンチロール５の回転速度をピンチロール５゜の
回転速度と同一にするか、その差を所定の値以下にして
ピンチロール５°とピンチロール５の間に圧延材の張力
低減区間を設ける。
ロールＩ５は圧延材ｌを支持してたるみをなくし、ピン
チロール５°の送り出し、ピンチロール５の引き取りに
よる圧延機の搬送を補助するものである。以下第１の実
施例と同様にスリット板７を通過した通過光７ａ、７ｂ
を照射し、テレビカメラ８でひずみを撮像し、映像信号
を発生し、２値化処理をし、演算を行う。実施例では張
力低減区間あるいは無張力区間を設ける手段として、キ
ャタピラ−とパウダークラッチを有するピンチロール、
あるいは２つのパウダークラッチを有するピンチロール
を用いる構成を示したが、張力を調整できる方式であれ
ば他の方式でも適用可能である。
チロール５°の送り出し、ピンチロール５の引き取りに
よる圧延機の搬送を補助するものである。以下第１の実
施例と同様にスリット板７を通過した通過光７ａ、７ｂ
を照射し、テレビカメラ８でひずみを撮像し、映像信号
を発生し、２値化処理をし、演算を行う。実施例では張
力低減区間あるいは無張力区間を設ける手段として、キ
ャタピラ−とパウダークラッチを有するピンチロール、
あるいは２つのパウダークラッチを有するピンチロール
を用いる構成を示したが、張力を調整できる方式であれ
ば他の方式でも適用可能である。
以上説明した通り、本発明の圧延材の光学式形状検出方
法およびその装置によれば、圧延ライン中に圧延材の張
力低減区間あるいは無張力区間を設けたため、検出精度
を向上させることができ、例えば、圧延材の板幅が２０
０龍以下の狭幅、あるいは、前後方張力が２０ｋｇ ｆ
／ ｓ重”以上でも圧延材のひずみを顕在化でき、的
確に検出することができる。
法およびその装置によれば、圧延ライン中に圧延材の張
力低減区間あるいは無張力区間を設けたため、検出精度
を向上させることができ、例えば、圧延材の板幅が２０
０龍以下の狭幅、あるいは、前後方張力が２０ｋｇ ｆ
／ ｓ重”以上でも圧延材のひずみを顕在化でき、的
確に検出することができる。
第１図、第２図は本発明の第１の実施例の説明図。第３
図は本発明の第２の実施例の説明図。第４図は従来の光
学式形状検出装置の説明図。 符号の説明 ｌ・・−・圧延材 ２−・−・−圧延機３−
・−キャタピラ−４・・−・−・−パウダークラソ５−
・・−ピンチロール ６−−−−〜・・巻取すロー
ル７ａ、７ｂ・−・・・・・スリ、７ト光８−−−−−
−−テレビカメラ ９−−−−−ニーモニター１６
−・−棒状光源 Ｐｂ・−・・−スリット幅 ＰＬ−−−・−スリットピッチ θ、・・・−・−照射角
図は本発明の第２の実施例の説明図。第４図は従来の光
学式形状検出装置の説明図。 符号の説明 ｌ・・−・圧延材 ２−・−・−圧延機３−
・−キャタピラ−４・・−・−・−パウダークラソ５−
・・−ピンチロール ６−−−−〜・・巻取すロー
ル７ａ、７ｂ・−・・・・・スリ、７ト光８−−−−−
−−テレビカメラ ９−−−−−ニーモニター１６
−・−棒状光源 Ｐｂ・−・・−スリット幅 ＰＬ−−−・−スリットピッチ θ、・・・−・−照射角
Claims (3)
- （１）圧延材を棒状光源によって照射し、その反射光に
基づいて圧延材のひずみを検出する圧延材の光学式形状
検出方法において、 前記圧延材のライン中に前記圧延材の張力 低減区間あるいは無張力区間を設け、 前記張力低減区間あるいは前記無張力区間 で前記圧延材のひずみを検出することを特徴とする圧延
材の光学式形状検出方法。 - （２）圧延材を棒状光源によって照射し、その反射光に
基づいて圧延材のひずみを検出する圧延材の光学式形状
検出装置において、 前記圧延材のライン中に設けられた前記圧 延材の張力を低減あるいは零にする張力緩和手段と、前
記張力を低減あるいは零にされた圧延材のひずみを検出
する検出手段を設けたことを特徴とする圧延材の光学式
形状検出装置。 - （３）前記張力緩和手段は、圧延材の引取負荷の変動を
吸収するパウダークラッチあるいはダンサーロール等の
引取負荷変動吸収機構より構成されるされることを特徴
とする特許請求の範囲第２項記載の圧延材の光学式形状
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62030878A JPS63198809A (ja) | 1987-02-13 | 1987-02-13 | 圧延材の光学式形状検出方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62030878A JPS63198809A (ja) | 1987-02-13 | 1987-02-13 | 圧延材の光学式形状検出方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63198809A true JPS63198809A (ja) | 1988-08-17 |
Family
ID=12315993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62030878A Pending JPS63198809A (ja) | 1987-02-13 | 1987-02-13 | 圧延材の光学式形状検出方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63198809A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100433256B1 (ko) * | 1999-12-22 | 2004-05-27 | 주식회사 포스코 | 압연소재 단면형상 측정장치 |
| CN102941233A (zh) * | 2011-08-16 | 2013-02-27 | 上海宝钢工业检测公司 | 一种轧辊自动检测机架及检测方法 |
| EP3138639A1 (de) | 2015-09-03 | 2017-03-08 | SMS group GmbH | Verfahren zum herstellen eines metallischen bandes durch endloswalzen |
| DE102015223600A1 (de) | 2015-09-03 | 2017-03-09 | Sms Group Gmbh | Verfahren zum Herstellen eines metallischen Bandes durch Endloswalzen |
| JP2022074862A (ja) * | 2020-11-05 | 2022-05-18 | Ｐｒｉｍｅｔａｌｓ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ Ｊａｐａｎ株式会社 | 不良判断装置および不良判断方法 |
-
1987
- 1987-02-13 JP JP62030878A patent/JPS63198809A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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