JPS6319809A - レ−ザビ−ムアニ−ル装置 - Google Patents

レ−ザビ−ムアニ−ル装置

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JPS6319809A
JPS6319809A JP16388086A JP16388086A JPS6319809A JP S6319809 A JPS6319809 A JP S6319809A JP 16388086 A JP16388086 A JP 16388086A JP 16388086 A JP16388086 A JP 16388086A JP S6319809 A JPS6319809 A JP S6319809A
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JP
Japan
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laser beam
optical system
intensity distribution
distribution
laser
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JP16388086A
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English (en)
Inventor
Hidekazu Kawaguchi
川口 英一
Toshihiko Hamazaki
浜崎 利彦
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、レーザビームアニール技術に係ね、特に絶縁
股上に半導体単結晶層を形成するだのレーザビームアニ
ール装置に関する。
(従来の技術) 近年、半導体工業の分野においては、エネルギービーム
によるアニール技術を用いた5ol(S 1licon
 on l n5UIator) ETAの形成技術の
研究゛部類が盛んに行われている。この技術では、シリ
コン単結晶基板上にシリコン該化摸やシリコン窒化膜等
の絶縁膜を形成し、その上に多結晶シリコン膜や非晶質
シリコン摸等を堆積し、電子ビーム或いはレーザビーム
等のエネルギービームの照射により、上記シリコン摸を
溶融・再結晶化させてシリコン単結晶層を成長させる方
法を採っている。
ところで、従来のレーザビームアニールにおいては、レ
ーザビームの形状や強度分布を変えることによって、よ
り良質の単結晶層を成長させる試みがなされている。レ
ーザビームの形状や強度分布を変える方法としては、例
えばレーザビームの後端部に凹部が形成されるようにビ
ーム整形を行う方法、レーザ発振モードを調節してドー
ナツ状の強度分布を有するレーザビームを用いる方法、
或いはレーザビームを走査方向に対して直角方向に振動
させ、周辺部での温度を中央部に比べて高くする方法等
がある。
しかしながら、これらの方法では、レーザビームのパワ
ーの効率が悪かったり、任意の強度分布のビームを得る
ことに問題があり、均一性の良い良質の半導体単結晶を
1qることは困難であった。
(発明が解決しようとする問題点) 下った。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、−その目
的とするところは、レーザビームの走査方向に対して直
角方向の温度分布を略平坦なものとし、且つレーザビー
ムのパワー低下をIR<ことな−くレーザビームの端の
強度分布を急峻なものとすることができ、良質な半導体
単結晶層を製造することのできるレーザビームアニール
装置を提供することにある。
[発明の構成コ (問題点を解決するための手段) 本発明の骨子は、レーザビームの形状及び強度分布をビ
ームアニールで有効なものにするために、ビームの強度
分布を同心円状から所望の分布に変換すると共に、変換
されたビームを分割して該分割されたビームの位置を入
れ換えることにある。
即ち本発明は、レーザビームアニール装置において、同
心円状の強度分布を持つレーザビームを放射するレーザ
発振器と、このレーザ発振器からのレーザビームを楕円
状若しくは多峰状の強度分布を持つレーザビームに変換
する第1の光学系と、−たちのである。
(作用) 上記の構成であれば、楕円状若しくは多峰状の強度分布
を持つレーザビームを複数に分割し、レーザビームの走
査方向と直交する方向で該分割した各レーザビームの位
置を入れ換えることにより、ビーム走査方向と直交する
方向でのご一ム強度分布を略平坦なものとすることがで
きる。ざらに、ビーム端での強度分布を急峻なものとす
ることが可能となる。
(実施例) まず、実施例を説明する前に、本発明の基本原理につい
て説明する。
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の詳細な説明するた
めの模式図である。第1図の例では、同心円状の強度分
布を持つレーザビーム31をシリンドリカルレンズ等の
第1の光学系10で楕円状の強度分布を持つレーザビー
ム32に変換し、次いでこのビーム32を複プリズム等
からなる第2の光学系20により複数に分割し、各レー
ザビームの位置を入れ換え、レーザビーム33の長さ方
布が得ら机、均一で大面積の半導I*単結晶層の形成、
レーザビームパワー効率の向上が可能となる。
なお、図中のX方向はビーム走査方向、X方向はこれに
直交する方向である。
また第2図の例では、同心円状の強度分布を持とル−ザ
ビーム31を1/4波長板及び複屈折板等からなる第1
の光学系10’で多峰状の強度分布を持つレーザビーム
34に変換し、次いでこのビーム34を複プリズム等か
らなる第2の光学系20により複数に分割し、各レーザ
ビームの位置を入れ換え、レーザビーム35の長さ方向
の強度分布を平坦化し、さらに長さ方向のビーム端での
強度分布を急峻とし、これにより均一で大面積の半導体
単結晶饗の形成、レーザビームパワー効率の向上を可能
としている。
以下、本発明の詳細を図示の実施例によって説明する。
第3図は本発明の一実施例に係わるレーザビームアニー
ル装置を示す概略構成図である。図示しないレーザ発掘
器から放射されたレーザビーム31は、シリンドリカル
凸レンズ11及びシリンドリカル凹レンズ12からなる
第1の光学系10を通過する。第1の光学系10を通過
したレーザビーム32は、2個の複プリズム21.22
を対向配置させた第2の光学系20を通過する。そして
、第2の光学系20を通過したレーザビーム33が集束
レンズ40により集束され、該集束さの進行方向(走査
方向)に対して垂直な方向(y方向)の強度分布は、第
4図(a)に示す如く同心円状となっている。このレー
ザビーム31は第1の光学系10により、第4図(b)
に示す如くX方向よりもy方向の方が長い楕円状の強度
分布を持つレーザビーム32に変換される。強度分布を
楕円状に変換されたレーザビーム32は、第2の光学系
20により、中央で(×軸を中心として)互いに分割さ
れその位置を入れ換えられることにより、第4図(C)
に示す如く平坦性の良い強度分布を持つレーザビーム3
3に変換される。そして、このレーザビーム33が集束
レンズ40を介して試料50上に照射され、レーザビー
ムアニールに供されることになる。
次に、上記装置を用いたシリコン単結晶層の製造方法に
ついて説明する。試料としては、第5図に示す如く面方
位(,100)、5インチ径の単結晶Si基板51上に
厚さ1.3 [μm]のSiO2膜(絶縁g1)52を
堆積し、その上に厚さ0.6 [μm]の多結晶3i膜
53 全堆積L、1.5[#lII!]、横方向(X方
向)で0.8 [s]となるようにした。また、レーザ
ビームの走査速度は40 [mIII/sec ]とし
た。
上記の条件で試料50をビームアニールしたところ、ア
ニール後の試料50では、幅1[履]のシリコン再結晶
層が得られ、その平面状態も極めて平坦性の優れたもの
であった。また、多結晶シリコン膜53の下部5i02
膜52の一部を開口させた構造の試料では、上記5i0
2膜52の開口部で基板シリコンと直接接触した多結晶
シリコン膜53の再結晶時に基板から垂直方向にエピタ
キシャル成長し、次いでSi○2膜52上のシリコン層
も横方向にエピタキシャルする結果、この幅1[履]の
溶融体に含まれた領域中では、大面積の(100)方位
の単結晶層が得られた。
かくして本実施例によれば、第1及び第2の光学系10
.20を用いることにより、ビーム走査方向に対して垂
直方向のビーム強度分布を略平坦なものとし、且つビー
ム端での強度分布を急峻なものとすることができる。即
ち、レーザビームの一部を用いて多結晶シリコン躾等を
アニールすることにより、絶縁膜上に大面積で良質のシ
リコン単結晶層を製造することが可能となり、その有用
性は絶大である。
第6図は他の実施例に係わるレーザビームアニール装置
を示す概略構成図である。なお、第3図と同一部分には
同一符号を付して、その詳しい説明は省略する。
この実施例が先に説明した実施例と異なる点は、前記第
1の光学系10を構成するシリンドリカルレンズ11.
12の代りに、1/4波長板13と複屈折板14とを組
合わせた第1の光学系10′を用いたことにある。即ち
、レーザ発振器から故旧されたレーザビーム31は、ビ
ームエキスパンダー60を介して拡大されたのら、まず
1774波長板13を通過し、次いで複屈折板14を通
過する。このとき、第7図(a)に示す如き同心円状の
強度分布を持つレーザビーム31は、同図(b)に示す
如く双峰状の強度分布を持つレーザビーム第4図(C)
に示す如く平坦性の良い強度分布を持つレーザビーム3
5に変換される。そして、このレーザビーム35が、集
光レンズ60を介して集束されたビーム37となり試料
50上に照射されるものとなっている。
次に、第6図に示す装置を用いたシリコン単結晶層の製
造方法について説明する。まず、試料50としては前記
第5図に示すものと同一のものを用いた。レーザビーム
のパワー及びビーム走歪速度も先の実施例と同様にした
。レーザビームの形状は試料50上で長さ方向が1.5
 [#]となるようにした。
上記の条件で試料50をビームアニールしたところ、ア
ニール後の試料5oでは、幅1[m]のシリコン再結晶
層が19られ、その平面状態も極めて平坦性の浸れたも
のであった。また、多結晶シリコン1i153の下部S
 i 02膜52の一部を間口させた構造の試料では、
前記3i02摸52の開口部で基板シリコンと直接接触
した多結晶シリコン膜53の再結晶時に基板からの垂直
にエビタキ′1このように本実施例によっても、レーザ
ビームの形状及び強度分布をビームアニールに好適する
条件に設定することができ、先の実施例と同様の効果が
得ら机る。
なお、本発明は上述した各実施例に限定されるものでは
ない。例えば、前記第2の光学系として、第8図に示す
如く2個の4面複プリズム23゜24を対向させた光学
系20’ を用い、レーザビームの走査方向の強度分布
の平坦性を上げるようにしてもよい。また、前記レーザ
ビームの楕円状強度分布は単なる楕円状に限定されるも
のではなく、レーザビームの強度分布の形状が長さ方向
と幅方向の比が1より大きいものであればよい。さらに
、前記レーザど−ムの双峰状強度分布は単なる双峰状に
限るものではなく、多経状或いはなだ゛らかな強度分布
であるものであればよい。また、レーザビームの分割数
及びビーム立置の入れ換え方向等の条件は、仕様に応じ
て適宜変更可能である。その他、本発明の要旨を逸叫し
ない範囲で、種々変形して実施することができろ。
[発明の効果] 効率の向上が可能となる。このため、良質の半導体単結
晶層を大面積に亙って製造することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の基本原理を説明す
るための模式図、第3図は本発明の一実施例に係わるレ
ーザビームアニール装置を示す電絡構成図、第4図は上
記実施例装置の作用を説明するための模式図、第5図は
上記実施例装置を用いてアニールした試料の構造を示す
断面図、第6図は本発明の池の実施例装置を示す概略溝
成図、第7図は上記他の実施例の作用を説明するための
模式図、第8図は変形例を説明するための要部溝成図で
ある。 10.10’・・・第1の光学系、11.12・・・シ
リントリカルレンズ、13・・・1/′4波長(反、1
4・・・複屈折板、20.20’ ・・・第2の光学系
、21゜〜、24・・・複プリズム、31.〜,37・
・・レーザビーム。 @多蓼ヤ己 出願人 工業技術院長 得≠均−達一 (″ 第 5図 第 81図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)同心円状の強度分布を持つレーザビームを放射す
    るレーザ発振器と、このレーザ発振器からのレーザビー
    ムを楕円状若しくは多峰状の強度分布を持つレーザビー
    ムに変換する第1の光学系と、この第1の光学系により
    その強度分布が変換されたレーザビームを複数に分割し
    、各レーザビームの位置を入れ換える第2の光学系とを
    具備してなることを特徴とするレーザビームアニール装
    置。
  2. (2)前記第1の光学系は、シリンドリカルレンズから
    なるもので、前記レーザ発振器からのレーザビームの強
    度分布を楕円状に変換するものであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載のレーザビームアニール装置
  3. (3)前記第1の光学系は、1/4波長板及び複屈折板
    を組合わせてなるもので、前記レーザ発振器からのレー
    ザビームの強度分布を楕円状から多峰状に変換するもの
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のレ
    ーザビームアニール装置。
  4. (4)前記第2の光学系は、複プリズムからなるもので
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のレー
    ザビームアニール装置。
  5. (5)前記第2の光学系は、前記分割されたレーザビー
    ムの走査方向と直交する方向で、該ビームの位置を入れ
    換えるものであることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載のレーザビームアニール装置。
JP16388086A 1986-07-14 1986-07-14 レ−ザビ−ムアニ−ル装置 Pending JPS6319809A (ja)

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