JPS63185572U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS63185572U JPS63185572U JP7696887U JP7696887U JPS63185572U JP S63185572 U JPS63185572 U JP S63185572U JP 7696887 U JP7696887 U JP 7696887U JP 7696887 U JP7696887 U JP 7696887U JP S63185572 U JPS63185572 U JP S63185572U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- circuit board
- auxiliary plate
- spacer
- inspected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 3
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第1図は、本考案の回路基板検査装置に要部の
みを示す断面図、第2図は、既に提案されている
回路基板検査装置の要部のみを示す断面図である
。 1,2……ピンボード、3,4……プローブピ
ン、5……補助板、6a,6b……スペーサ、7
,8……押し部材。
みを示す断面図、第2図は、既に提案されている
回路基板検査装置の要部のみを示す断面図である
。 1,2……ピンボード、3,4……プローブピ
ン、5……補助板、6a,6b……スペーサ、7
,8……押し部材。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 上下一対をなすピンボードに多数のプローブ
ピンを進退自在に挿着し、この各プローブピンで
被検査体としての回路基板を電気的な特性検査す
る回路基板検査装置において、少なくとも一方の
ピンボードの外側にスペーサを介して補助板を並
設し、この補助板に押え部材を上記一方のピンボ
ードを貫通して上記被検査体に当接するようにし
て設けたことを特徴とする回路基板検査装置。 2 各ピンボードの外側に各スペーサを介して各
補助板を並設し、この両補助板に各押し部材を上
記各ピンボードを貫通して被検査体を上下から当
接するようにして設けたことを特徴とする実用新
案登録請求の範囲第1項記載の回路基板検査装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987076968U JPH052866Y2 (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1987076968U JPH052866Y2 (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63185572U true JPS63185572U (ja) | 1988-11-29 |
JPH052866Y2 JPH052866Y2 (ja) | 1993-01-25 |
Family
ID=30924537
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1987076968U Expired - Lifetime JPH052866Y2 (ja) | 1987-05-22 | 1987-05-22 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH052866Y2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002296327A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Nec Corp | 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法 |
JP2012088065A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Hioki Ee Corp | ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
WO2015060188A1 (ja) * | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 富士フイルム株式会社 | 撮像モジュールの製造方法及び撮像モジュールの製造装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5095778A (ja) * | 1973-12-25 | 1975-07-30 | ||
JPS5567675A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hitachi Ltd | Detector for presence of small sized electronic component |
JPS5666765A (en) * | 1979-11-02 | 1981-06-05 | Nec Corp | Inspection method of printed board |
-
1987
- 1987-05-22 JP JP1987076968U patent/JPH052866Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5095778A (ja) * | 1973-12-25 | 1975-07-30 | ||
JPS5567675A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hitachi Ltd | Detector for presence of small sized electronic component |
JPS5666765A (en) * | 1979-11-02 | 1981-06-05 | Nec Corp | Inspection method of printed board |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002296327A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Nec Corp | 回路基板の検査用治具、検査方法、および製造方法 |
JP2012088065A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Hioki Ee Corp | ピンボードユニットおよび基板検査装置 |
WO2015060188A1 (ja) * | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 富士フイルム株式会社 | 撮像モジュールの製造方法及び撮像モジュールの製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH052866Y2 (ja) | 1993-01-25 |
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