JPS63173905A - 物体外観検査装置 - Google Patents

物体外観検査装置

Info

Publication number
JPS63173905A
JPS63173905A JP649887A JP649887A JPS63173905A JP S63173905 A JPS63173905 A JP S63173905A JP 649887 A JP649887 A JP 649887A JP 649887 A JP649887 A JP 649887A JP S63173905 A JPS63173905 A JP S63173905A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
workpiece
images
image
image processing
flashlight
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP649887A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2593863B2 (ja
Inventor
Shozo Nomura
野村 省三
Toshinori Inoue
敏範 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP62006498A priority Critical patent/JP2593863B2/ja
Publication of JPS63173905A publication Critical patent/JPS63173905A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2593863B2 publication Critical patent/JP2593863B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、連続搬送されている物体(ワーク)の外観を
検査するための物体外観検査装置に関するものである。
(背景技術) 第7図は従来の物体外観検査装置の概略構成図である。
ワークWl、W2.・・・は一定距離ピッチ毎に間欠搬
送コンベアA上に載置されている。テレビカメラC1、
C2は、ワークWl、W2の離間ピッチと略同ピッチで
配置されており、各テレビカメラC1、C2の視野をそ
れぞれ照明するために、定常光ライトLl、L2が設け
られている。定常光ライトL1とテレビカメラC1との
ペアは、ワークの正反射光による画像を撮影し、定常光
ライ)L2とテレビカメラC2とのペアはワークの乱反
射光による画像を撮影するように配置されている。これ
らの画像は、画像処理装置に入力されて、正反射光によ
る画像と乱反射光による画像とがらの総合判断により、
ワーク表面の汚れやヒビ、欠け等を検査され、良否を判
定される。
第8図は前記従来例に用いる画像処理装置の概略構成を
示している。テレビカメラC1、C2にて撮影された画
像は、ハードユニットHUにて濃淡微分、細線Cヒ、2
値化、エツジ追跡等の前処理を施される。このハードユ
ニットHUは処理速度が高速度であるので、1台のハー
ドユニットHUを2台のテレビカメラC1、C2につい
て時分割的に使用している。ハードユニットHUにて前
処理された画像群は、ソフトユニットsut、su2に
入力されて、マイクロコンピュータのソフトウェア処理
によって、ヒどの長さや膨れ・へこみの有無等を判別す
るための後処理を施される。ソフトユニットSUIから
出力される正反射光による画像の後処理データは、タイ
ムシフト用のメモリーMに一旦蓄積される。ソフトユニ
ットSU2から出力される乱反射光による画像の後処理
データは、前記メモリーMに蓄積されたデータと共に、
最終判定部Jに入力されて、良品不良品の判定が行われ
る。
ここで、タイムシフト用のメモリーMが必要となる理由
について説明する。前述の間欠搬送コンベアAはワーク
の離間ピッチと略同間隔で間欠的に送られ、ワークがテ
レビカメラの視野中ノーに入ったところで停止する0例
えば、ワークW2の正反射光による画像がテレビカメラ
C1で撮影され、その後、間欠搬送コンベアAがワーク
の離間ピッチだけ送られて、ワークW2の乱反射光によ
る画像がテレビカメラC2で撮影される。このとき、テ
レビカメラC1では、ワークW1の正反射光による画像
が撮影される。このように、従来例にあっては、テレビ
カメラC1が撮影するワークと、テレビカメラC2が撮
影するワークとが、1個ずつずれているので、最終判定
部Jにデータが入力されるタイミングを整合させるため
に、メモリーMが必要となる。また、この従来例にあっ
ては、間欠搬送コンベアAを用いているので、測定のた
めにコンベアを間欠的に停止させる必要があり、コンベ
アの駆動inが複雑になる。
第9図は他の従来例の概略構成図である。この従来例に
あっては、間欠搬送コンベアAのワークW 1 、W 
2 、W 3 、・・・ノlilHmヒツチx 1と略
同ピッチで配置されたテしビカメラ01〜C3と定常光
ライトL1〜L3を用いて、1つのワークの同一面を分
割して観察し、測定精度を上げるようにしている。第9
図においては、ワークの上面のみを検査するように図示
されているが、複数のテレビカメラ01−〇3と複数の
定常光ライトL1〜L3の配置を変えることにより、ワ
ークの上面と右側面及び左側面をそれぞれ観察すること
も可能であり、また、複数のテレビカメラC1〜C3と
複数の定常光ライトL1〜L3の投受光角度を変えるこ
とにより、ワークの1つの面を3種の異なる°光学条件
でrm察することも可能である。
第10図はこの従来例に用いられる画像処理装置の概略
構成を示している。この従来例にあっては、3台のテレ
ビカメラ01〜C3により3つの画像が取り込まれるが
、画像は間欠搬送コンベアAが停止している間しか取り
込めないため、ハードユニットHUIは1回の停止時間
中に2つの画像しか処理できず、残りの1画像について
は、別のハードユニットHU 2で処理している。
第11図はこの様子を示すタイムチャートである0時刻
t1〜t2の1サイクルについての動作を説明する0間
欠搬送コンベアAが停止すると、ハードユニットHut
は、まず、ワークW1の第1面(例えば上面)の前処理
を行い、その後、ワークW2の第2面(例えば右側面)
の前処理を行う、ワークW1の第1面の前処理が終わる
と、ソフトウェア)SUIがワークW1の第1面の後処
理を行う。
また、ワークW2の第2面の前処理が終わると、ソフト
ユニットSU2がワークW2の第2面の後処理を行う、
また、ハードユニットHU2は、ワークW3の第3面(
例えば左側面)の前処理を行う。
ワークW3の第3面の前処理が終わると、ソフI・ユニ
ットSU3がワークW3の第3面の後処理を行う、この
サイクルよりも1つ前のサイクル(時刻10〜シ、)や
1つ後のサイクル(時刻し2〜L3)においても、ワー
クが1つずれた状暦で、同様の動作を行う。なお、間欠
搬送コンベアAが移動している間は、画像の取り込みが
できないので、ハードユニットI−IU1.HU2は動
作していないが、ソフトユニットSU1.SU2.SU
3は処理動作を行っている。
ここで、ハードユニットIIUI、HU2を1つにまと
めるための方法として、テレビカメラC3により得られ
た第3の画像を間欠搬送コンベアAの停止時間中に取り
込んで画像メモリーに蓄積しておき、間欠搬送コンベア
Aの移動中に画像メモリーを読み出して、ハードユニッ
トHUIに入力して処理する方法も考えられるが、新た
に画像メモリーが必要となり、特に多種類の画像を処理
する場合には、メモリーの数が多くなり、その切替°も
複雑になるという欠点がある。
この従来例にあっては、ソフトユニットSUI。
SU2.SU3.・・・から、ある時点で近接して出力
される処理結果は異なるワークのものである0例えば、
ソフトユニットSUIからはワークW1の、ソフトユニ
ットSU2からはワークW2の、ソフトユニットSU3
からはワークW3の処理結果がそれぞれ出力される。し
たがって、ワークW1についてのテレビカメラC1,C
2,C3による画像処理結果から総会判断をしようとす
れば、これらの処理画像または処理結果をメモリーMに
蓄積しておき、これをワークの番号を揃えて読み出して
総合判定しなければならず、装置が複雑になるという問
題がある。
さらに、この従来例にあっては、間欠搬送コンベアAを
ワークW1゜W2.W3.・・・の離間ピッチ毎に間欠
的に送る必要があり、コンベアの駆動機構が複雑になる
という問題がある。
(発明の目的) 本発明は上述のような点に鑑みてなされたものであり、
その目的とするところは、連続搬送されているワークか
ら異なる画像群を順次取り込むことができるようにした
物体外観検査装置を提供するにある。
(発明の開示) え帆α1人 本発明に係る物体外観検査装置にあっては、上記の目的
を達成するために、ワークを連続搬送する搬送装置と、
連!5!搬送されているワークに閃光を照射する1つ以
上のフラッシュライトと、フラッシュライトの発光時に
ワークを撮影する1つ以上のテレビカメラと、テレビカ
メラにより撮影された画像から物体の外観検査を行う画
像処理装置とを備えて成り、時間をずらせてフラッシュ
ライトを発光させることにより、1つのワークの異なる
画像群を画像処理装置に順次取り込むように構成して成
るものである。
本発明にあっては、このように連続搬送されているワー
クに対して、時間をずらせてフラッシュライトを発光さ
せることにより、1つのワークの°異なる画像群を画像
処理装置に順次取り込むようにしたので、従来のように
ワークを間欠送りする必要がなくなるものである。
以下、本発明の実施例について説明する。
x1匠り 第1図は本発明の一実施例の概略構成図である。
本実施例にあっては、ワークWl、W2.・・・は連続
搬送コンベアBにより連続搬送されている。フラッシュ
ライトF1は正反射光による画像を撮影するための閃光
をワークに照射し、フラッシュライトF2は乱反射光に
よる画像を撮影するための閃光をワークに照射する。テ
レビカメラC1は、フラッシュライトF1による閃光の
ワークからの正反射光及びフラッシュライトF2による
閃光のワークからの乱反射光を受光できるような位置に
配置されている。
フラッシュライトFl、F2は、時間をずらせて発光さ
れ、フラッシュライトF1の発光時にテレビカメラC1
はワークからの正反射光による画像をmWし、フラッシ
ュライトF2の発光時にはテレビカメラC1はワークか
らの乱反射光による画像を撮影する。フラッシュライト
Fl、F2の閃光持続時間は例えば1μsec程度であ
って、この閃光が生じたときの画像がテレビカメラC1
のS像面に焼き付けられ、その画像情報を1フレーム又
は1フイールドの時間(16,7m5ec)をかけて読
み出すので、コンベアBが移動していても、静止した画
像が得られるものである。また、フラッシュライトF 
1 、F 2の発光時間のずれは、両者の閃光がテレビ
カメラC1の同一フレーム内に発生しない程度にずれて
いれば良く、例えば、テレビカメラC1の1フレ一ム分
ずれていれば良い、この時間は比較的短いので、ワーク
がテレビカメラC1の視野内に存在する間にフラッシュ
ライトF1とF2の発光をほとんど同時に行うことがで
き、したがって、本実施例にあっては、テレビカメラC
1は1台で良い。
第2図は本実施例に用いる画像処理装置の概略構成を示
す図である0本実施例にあっては、テレビカメラC1が
ワークの正反射光による画像と乱反射光による画像とを
ほとんど同時に取り込むので、第8図従来例のようなタ
イムシフト用のメモリーMは不要である。テレビカメラ
C1からの第1の画像(正反射光による画像)と第2の
画像(乱反射光による画像)とは、ハードユニットHU
にて濃淡微分、細線化、2値化、エツジ追跡等の前処理
を施される。このハードユニットHUは処理速度が高速
度であるので、前述のように、1台を2画面について時
分割的に使用している。ハードユニツ)−11Uにて前
処理された画像群は、ソフトユニットSU1.SU2に
入力されて、ヒどの長さや膨れ・へこみの有無等を判別
するための後処理を施される。ソフトユニットSUIか
ら出力されるワークの正反射光による画像の後処理デー
タと、ソフトユニット5LJ2から出力されるワークの
乱反射光による画像の後処理データとは、最終判定部J
に入力される。最終判定部Jでは、これらのデータを総
合判断して、ワークの良否を判定している。
本実施例にあっては、1台のテレビカメラC1により2
種類の画像を取り込むことができ、また、フラッシュラ
イトFl、F2を近接して配置できるので、光学系のス
ペースが小さくて済むという利点がある。また、接近し
た時間内に同一ワークについての複数の画像の後処理デ
ータが得られるので、第8図従来例のように、メモリー
Mを用いてデータをタイムシフトした後、最終判定を行
う必要がなく、画像処理装置の構成が簡単になるという
利点もある。
夫1匠l 第3図は本発明の他の実施例の概略構成を示す図である
。本実施例にあっては、2台のテレビカメラC1、C2
と2台のフラッシュライトFl、F2とを備え、異なる
タイミングでフラッシュライトF 1 、F 2を発光
させることにより、同一ワークの異なる部分の画像群を
それぞれテレビカメラC1、C2にて取り込む、すなわ
ち、ワークがテレビカメラC1の視野内にあるときに、
フラッシュライトF1を発光させてワークの後部形状を
取り込み、ワークがテレビカメラC2の視野内にあると
きに、フラッシュライトF2を発光させてワークの前部
形状を取り込んでいる。各テレビカメラC1、C2にて
取り込まれた画像は、例えば、第8図従来例において、
タイムシフト用のメモリーMを省略したような画像処理
装置により画像処理され、ワークの前部形状の後処理デ
ータと後部形状の後処理データとを総合判断して、ワー
クの良否判定を行うようにしている。
及1」1 第4図は本発明のさらに他の実施例の概略構成図である
0本実施例にあっては、一定圧it!iX1をおいて、
一定速度で連続搬送されるワーク群Wl。
w2.w3.・・・に対し、ワーク間圧1flliX1
と血かにずらせた距離間隔でフラッシュライI−,F 
1 、F 2 。
F3及びテレビカメラC1、C2、C3のベアを複数セ
ット配置している。
第4図においては、ワークの上面のみを検査するように
図示されているが、複数のテレビカメラ01〜C3と複
数の定常光ライトL1〜L3の配置を変えることにより
、ワークの上面と右側面及び左側面をそれぞれ観察する
ことも可能であり、また、複数のテレビカメラC1〜C
3と複数の定常光ライトL1〜L3の投受光角度を変え
ることにより、ワークの1つの面を3種の異なる光学条
件で観察することも可能である。
第4図に示すように、テレビカメラC2、C3の配置さ
れた箇所は、ワーク間圧MX1で配置した場合に比べて
それぞれ距離X 2 、X 3だけずれている。各フラ
ッシュライトFl、F2.F3は、テレビカメラC1、
C2、C3の視野中心をワークが通過する瞬間にそれぞ
れ発光してワークの画像を画像処理装置に取り込む。し
たがって、フラッシュライトF1.F2.F3の発光タ
イミングは少しずつずれており、フラッシュライトF1
が発光し、その後、連続搬送コンベアBが距離X2だけ
送られると、フラッシュライトF2が発光する。
その後、連続搬送コンベアBが距離(X3−χ2)だけ
送られると、フラッシュライトF3が発光する。
本実施例にあっては、テレビカメラC1〜C3°は比較
的密接して配置しであるが、一般に、第1のテレビカメ
ラC1と第2のテレビカメラC2との視齋中心間の距離
をDI2、第1のテレビカメラC1と第3のテレビカメ
ラC3との視野中心間の距離をDI3とすると、次式が
成立するように、テレビカメラ01〜C3を配置すれば
良い。
I P−Xi  −ト     XO<D、2≦ p−xi
  −ト   □I P−X1+2・X O< D I 3≦P−X1+2・
−□上式において、XOは高速処理部の処理時間内にコ
ンベアBが動く距離、Nはテレビカメラの台数、Pは0
以上の整数(P=0.1.2.・・・)である。
第5図は本実施例に用いられる画像処理装置の概略構成
を示している。各テレビカメラC1、C2、C3にて撮
影された画像は、1台のハードユニット1]U1にて時
分割的に処理される。前処理済みの画像は、順次、ソフ
トユニットSUI、S02、SU3にて後処理され、そ
の処理結果がメモリーMに蓄積され、最終判定部Jにて
総合判断される。
第6図はこの様子を示すタイムチャートである。
時刻t1〜t2の1サイクルについての動作を説明する
。ハードユニットHUIは、まず、ワークW1の第1面
(例えば上面)の前処理を行い、次に、ワークW2の第
2面(例えば右側面)の前処理を行い、さらに、ワーク
W3の第3面(例えば左側面)の前処理を行う。ワーク
Wlの第1面の前処理が終わると、ソフトユニットSU
IがワークW1の第1面の後処理を行う、また、ワーク
W2の第2面の前処理が終わると、ソフトユニットSU
2がワークW2の第2面の後処理を行う、さらに、ワー
クW3の第3面の前処理が終わると、ソフトユニツ)S
U3がワークW3の第3面の後処理を行う。
このサイクルよりも1つ前のサイクル(時刻上〇〜t1
)や1つ後のサイクル(時刻t2〜ta)においても、
ワークが1つずれる以外は、同様の動作を行う。
このように、ワークがワーク間距離X1を移動する間に
全フラッシュライトF 1 、F 2 、F 3が重な
らずに順次発光するようにして、且つ、各発光°タイミ
ングの間隔は前処理部が各テレビカメラからの画像を処
理して後処理部に送り終わる時間よりも長く設定してお
けば、画像処理装置における前処理部の時分割使用の効
率が向上し、装置全体のコストを低減させることができ
る。このような物品外観検査装置は、特に中速生産(例
えば、0゜5〜5秒/個程度)のラインにおいて、リア
ルタイム画像処理部を含む画像処理装置で検査を行う場
合に有効である。
(発明の効果) 本発明は上述のように、連続搬送されているワークに対
して、時間をずらせてフラッシュライトを発光させるこ
とにより、1つのワークの異なる画像群を画像処理装置
に順次取り込むようにしたので、従来のようにワークを
間欠送りする必要がなくなり、測定を行う度にワークを
停止させる場合に比べて搬送機構が簡単化されるという
効果があり、また、本発明にあっては、同一のワークに
対して異なるタイミングでフラッシュライトを当てて、
同一のワークについての異なる画像群を取り込むように
しているので、ワークの同一面を複数の異なる光学条件
で見る必要がある場6や、精度を上げるために同一面、
を分割して見る場きなどに特に有効である。
【図面の簡単な説明】
第1U2は本発明の一実施例の概略構成図、第2図は同
上に用いる画像処理装置の構成を示すプロッり図、第3
図は本発明の他の実施例の概略構成図、第4図は本発明
のさらに他の実施例の概略構成図、第5図は同上に用い
る画像処理装置の構成を示すブロック図、第6図は同上
の動作説明図、第7図は従来例の概略構成図、第8図は
同上に用いる画像処理装置の構成を示すブロック図、第
9図は他の従来例の概略構成図、第10図は同上に用い
る画像処理装置の構成を示すブロック図、第11図は同
上の動作説明図である。 Bは連続搬送コンベア、C1、C2、C3はテレビカメ
ラ、r;’1.F2.F3はフラッシュライト、Wl、
W2.W3はワークである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ワークを連続搬送する搬送装置と、連続搬送され
    ているワークに閃光を照射する1つ以上のフラッシュラ
    イトと、フラッシュライトの発光時にワークを撮影する
    1つ以上のテレビカメラと、テレビカメラにより撮影さ
    れた画像から物体の外観検査を行う画像処理装置とを備
    えて成り、時間をずらせてフラッシュライトを発光させ
    ることにより、1つのワークの異なる画像群を画像処理
    装置に順次取り込むように構成して成ることを特徴とす
    る物体外観検査装置。
  2. (2)前記画像処理装置は、取り込まれた画像群を順次
    前処理する1台の前処理部と、前処理後の画像群を後処
    理する複数の後処理部と、後処理後の画像群について良
    品不良品判定を行う最終判定部とから成ることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の物体外観検査装置。
JP62006498A 1987-01-14 1987-01-14 物体外観検査装置 Expired - Lifetime JP2593863B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62006498A JP2593863B2 (ja) 1987-01-14 1987-01-14 物体外観検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62006498A JP2593863B2 (ja) 1987-01-14 1987-01-14 物体外観検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63173905A true JPS63173905A (ja) 1988-07-18
JP2593863B2 JP2593863B2 (ja) 1997-03-26

Family

ID=11640112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62006498A Expired - Lifetime JP2593863B2 (ja) 1987-01-14 1987-01-14 物体外観検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2593863B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005283527A (ja) * 2004-03-31 2005-10-13 Hitachi High-Technologies Corp 異物検出装置
JP2007064905A (ja) * 2005-09-02 2007-03-15 Hitachi Plant Technologies Ltd 容器内異物検出方法とその装置
JP2008309806A (ja) * 2008-09-29 2008-12-25 Hitachi High-Technologies Corp 異物検出装置
JP2014106192A (ja) * 2012-11-29 2014-06-09 Hu-Brain Inc 外観検査装置
CN105438780A (zh) * 2015-12-16 2016-03-30 嵊州市银海机械有限公司 一种应用于金属件的下料检测设备

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5755144B2 (ja) * 2009-11-04 2015-07-29 ダックエンジニアリング株式会社 ワーク検査装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5263753A (en) * 1975-11-20 1977-05-26 Bendix Corp Apparatus for discriminating surface characteristic of object
JPS55155205A (en) * 1979-05-23 1980-12-03 Toshiba Corp Form detector
JPS59149006U (ja) * 1983-03-24 1984-10-05 株式会社東芝 検出装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5263753A (en) * 1975-11-20 1977-05-26 Bendix Corp Apparatus for discriminating surface characteristic of object
JPS55155205A (en) * 1979-05-23 1980-12-03 Toshiba Corp Form detector
JPS59149006U (ja) * 1983-03-24 1984-10-05 株式会社東芝 検出装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005283527A (ja) * 2004-03-31 2005-10-13 Hitachi High-Technologies Corp 異物検出装置
JP2007064905A (ja) * 2005-09-02 2007-03-15 Hitachi Plant Technologies Ltd 容器内異物検出方法とその装置
JP2008309806A (ja) * 2008-09-29 2008-12-25 Hitachi High-Technologies Corp 異物検出装置
JP2014106192A (ja) * 2012-11-29 2014-06-09 Hu-Brain Inc 外観検査装置
CN105438780A (zh) * 2015-12-16 2016-03-30 嵊州市银海机械有限公司 一种应用于金属件的下料检测设备

Also Published As

Publication number Publication date
JP2593863B2 (ja) 1997-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7276380B2 (en) Transparent liquid inspection apparatus, transparent liquid inspection method, and transparent liquid application method
CN106596574B (zh) 一种检测物体表面缺陷的装置及方法
US5007096A (en) Object inspection apparatus
US7816639B2 (en) Machine for inspecting glass containers at an inspection station using an addition of a plurality of illuminations of reflected light
US20080093538A1 (en) Machine for inspecting glass containers
JP2000171409A (ja) 外観検査方法とその装置
KR20200014532A (ko) 이미지 센서를 이용한 표면결함 검사장치 및 검사방법
US7541572B2 (en) Machine for inspecting rotating glass containers with light source triggered multiple times during camera exposure time
CN111551559A (zh) 一种基于多目视觉***的lcd液晶屏缺陷检测方法
JP5654486B2 (ja) 外観検査装置
JPS63173905A (ja) 物体外観検査装置
CN110160959A (zh) 一种aoi检测方法及***
JP5732605B2 (ja) 外観検査装置
US7876951B2 (en) Machine for inspecting glass containers
JP2004010130A (ja) 包装紙の折り込み良否判定方法および装置
TWI687672B (zh) 光學檢測系統及影像處理方法
JP4252381B2 (ja) 外観検査装置
JP5425387B2 (ja) ガラス容器を検査するための機械
WO2011101893A1 (ja) 可撓性を有する検査対象物の表面の傷を検査する方法および装置
JP2004045097A (ja) 外観検査装置
JPH0560537A (ja) スルーホール検査装置
JPH04194701A (ja) 画像入力方法およびその装置
JP2005010036A (ja) 外観検査装置
JP2007101239A (ja) 外観検査装置及び外観検査方法
US11776106B2 (en) Appearance inspection system

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term