JPS63168841A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
- Publication number
- JPS63168841A JPS63168841A JP14987A JP14987A JPS63168841A JP S63168841 A JPS63168841 A JP S63168841A JP 14987 A JP14987 A JP 14987A JP 14987 A JP14987 A JP 14987A JP S63168841 A JPS63168841 A JP S63168841A
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- Japan
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- prism
- light
- face
- light source
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 claims description 8
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 15
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は焦点検出!ltaに関し、特に光ディスク等の
記録媒体に各種情報の記録及び再生を行なう光学的情報
記録再生装置等に用いるのに適した焦点検出装置に関す
る。
記録媒体に各種情報の記録及び再生を行なう光学的情報
記録再生装置等に用いるのに適した焦点検出装置に関す
る。
(従来の技術)
前述の如き焦点検出装置としては、例えば特開昭56−
57013号に示されるような、所謂非点収差法が知ら
れている。この例を第4図に示す、ここで、半導体レー
ザ等の光源41から発した光束42はプリズム43の第
1の面47で反射され。
57013号に示されるような、所謂非点収差法が知ら
れている。この例を第4図に示す、ここで、半導体レー
ザ等の光源41から発した光束42はプリズム43の第
1の面47で反射され。
対物レンズ44によって光ディスク45の情報トラック
46に集光される。そして、光ディスク45で反射され
た戻り光束49は再び対物レンズ44を通ってプリズム
43に第1の面47から入射し1.第2の面48で内面
反射されて第1の面から出射し、光検出器50によって
検出される。この戻り光束49はプリズム48を透過す
ることによって非点収差を生じており、光ディスク45
における合焦状態に応じて、光検出器50上の光束の形
状が変化する。この変化を、光検出=50の4分割され
た受光面で検知することによって、焦点検出が行なわれ
る。
46に集光される。そして、光ディスク45で反射され
た戻り光束49は再び対物レンズ44を通ってプリズム
43に第1の面47から入射し1.第2の面48で内面
反射されて第1の面から出射し、光検出器50によって
検出される。この戻り光束49はプリズム48を透過す
ることによって非点収差を生じており、光ディスク45
における合焦状態に応じて、光検出器50上の光束の形
状が変化する。この変化を、光検出=50の4分割され
た受光面で検知することによって、焦点検出が行なわれ
る。
(究明か解決しようとする問題点)
しかしながら、上記の如き従来の装置においては、光源
と光検出器とかプリズムに対して同じ側に配されていた
ので、これらが互いに干渉することなく働く為には対物
レンズの光軸方向(即ち、光ディスクの面に垂直な方向
)にある程度の距離か必要となり、これか装この薄型化
の障害となっていた。
と光検出器とかプリズムに対して同じ側に配されていた
ので、これらが互いに干渉することなく働く為には対物
レンズの光軸方向(即ち、光ディスクの面に垂直な方向
)にある程度の距離か必要となり、これか装この薄型化
の障害となっていた。
この問題点を解決した装置としては、本出願人か既に提
案したものかある。この装置は、光検出器をプリズムを
挟んで光源と対向する位置に配し、装置の薄型化を達成
したものである。
案したものかある。この装置は、光検出器をプリズムを
挟んで光源と対向する位置に配し、装置の薄型化を達成
したものである。
本発明は、この本出願人の提案による焦点検出装置にさ
らに改良を加え、上述した従来装置の欠点を解消して装
この薄型化を実現すると共に、量産性に優れた焦点検出
装置を提供することを目的とする。
らに改良を加え、上述した従来装置の欠点を解消して装
この薄型化を実現すると共に、量産性に優れた焦点検出
装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
上述した本発明の目的は、光源と、前記光源から発した
光束を物体上に集光する集光手段と、前記光源からの光
束を表面で反射して前記集光手段に導くとともに、前記
物体から戻り光を透過して非点収差を生じさせるプリズ
ムと、前記戻り光の非点収差から前記物体への光束の合
焦状態を検出する検出手段とから成る焦点検出装置にお
いて、前記プリズムか略立方体に形成され、前記検出手
段が前記プリズムを挟んで光源と対向する位置に配され
、前記戻り光が前記プリズムの入射面とは異なる面から
出射して前記検出手段に導かれることを特徴とする焦点
検出装置により達成することができる。
光束を物体上に集光する集光手段と、前記光源からの光
束を表面で反射して前記集光手段に導くとともに、前記
物体から戻り光を透過して非点収差を生じさせるプリズ
ムと、前記戻り光の非点収差から前記物体への光束の合
焦状態を検出する検出手段とから成る焦点検出装置にお
いて、前記プリズムか略立方体に形成され、前記検出手
段が前記プリズムを挟んで光源と対向する位置に配され
、前記戻り光が前記プリズムの入射面とは異なる面から
出射して前記検出手段に導かれることを特徴とする焦点
検出装置により達成することができる。
(作 用)
以上説明した本発明の焦点検出装置において、前記検出
手段を前記プリズムを挟んで光源と対向する位置に配し
、物体からの戻り光か前記プリズムの入射面とは異なる
面から出射して前記検出手段に導かれるようにしたので
装置をi型に構成することか可能となる。
手段を前記プリズムを挟んで光源と対向する位置に配し
、物体からの戻り光か前記プリズムの入射面とは異なる
面から出射して前記検出手段に導かれるようにしたので
装置をi型に構成することか可能となる。
前記物体からの戻り光は前記プリズムを通過することに
より非点収差を生じるため、前記物体における合焦状態
に応じて前記光検出1段により焦点検出を行うことがで
きる。
より非点収差を生じるため、前記物体における合焦状態
に応じて前記光検出1段により焦点検出を行うことがで
きる。
又、前記プリズムは都立方体に形成されている。このよ
うな形状を有するプリズムは、例えば角柱状ガラス繍を
一定長さに切断することにより容易Mつ高精度に製造す
ることかできる。
うな形状を有するプリズムは、例えば角柱状ガラス繍を
一定長さに切断することにより容易Mつ高精度に製造す
ることかできる。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の第1実施例を示す概略図である。ここ
で半導体レーザ等の光源lから発した光束2は略立方体
に形成されたプリズム3の第1の面3aてその一部か反
射し、対物レンズ4を経て、情報記録担体5に集光され
る0次に、情報記録担体5で反射された戻り光束9は、
再び対物レンズ4を通過して収束光となり、その一部が
第1の而3aからプリズム3内に入射する。更に、この
光重9は第2の面3bに製膜された反射膜て内面反射し
、使用波長に対し反射防止篇理されたプリズムの第3の
面3cより出射して、プリズム3を挟んで光源lと対向
する位置に配された光検出器6で検出される。
で半導体レーザ等の光源lから発した光束2は略立方体
に形成されたプリズム3の第1の面3aてその一部か反
射し、対物レンズ4を経て、情報記録担体5に集光され
る0次に、情報記録担体5で反射された戻り光束9は、
再び対物レンズ4を通過して収束光となり、その一部が
第1の而3aからプリズム3内に入射する。更に、この
光重9は第2の面3bに製膜された反射膜て内面反射し
、使用波長に対し反射防止篇理されたプリズムの第3の
面3cより出射して、プリズム3を挟んで光源lと対向
する位置に配された光検出器6で検出される。
前記戻り光束9はプリズム3を通過することにより、非
点収差を生じており、光検出器6は光束9の子午的収束
点7と球欠的収束点8の間の適当な位置に配置されてい
る。ここで、光学系の縦倍率なγとし、情報記録担体5
と対物レンズ4の間の距離の変化をδとすれば(合焦時
をδ=0とする)、収束点7,8は略2δ/γだけ移動
し、この移動に伴って、光検出器6における光束のスポ
ット形状が変化する。光検出器6の受光面は第2図に示
すように受光部11,12,13.14に4分割されて
おり、前述のスポット形状の変化から、情報記録担体5
への光束2の合焦状態を検知し得る0例えば0合焦時(
δ=0)にはスポットは15に示すように略円形となり
、各受光部に入射する光酸はほぼ等しい、これに対し、
対物レンズ4が情報記録担体5から離れすぎ(δが正)
、所謂前ビン状態になった時には、スポットは16のよ
うな形状となり、受光部11及び13に入射する光量が
受光部12及び14に入射する光量に比べ相対的に増加
する。また、対物レンズ4が情報記M担体5に近づきす
ぎ(δか負)、所rt後ビン状態では、スポット形状は
17のようになり。
点収差を生じており、光検出器6は光束9の子午的収束
点7と球欠的収束点8の間の適当な位置に配置されてい
る。ここで、光学系の縦倍率なγとし、情報記録担体5
と対物レンズ4の間の距離の変化をδとすれば(合焦時
をδ=0とする)、収束点7,8は略2δ/γだけ移動
し、この移動に伴って、光検出器6における光束のスポ
ット形状が変化する。光検出器6の受光面は第2図に示
すように受光部11,12,13.14に4分割されて
おり、前述のスポット形状の変化から、情報記録担体5
への光束2の合焦状態を検知し得る0例えば0合焦時(
δ=0)にはスポットは15に示すように略円形となり
、各受光部に入射する光酸はほぼ等しい、これに対し、
対物レンズ4が情報記録担体5から離れすぎ(δが正)
、所謂前ビン状態になった時には、スポットは16のよ
うな形状となり、受光部11及び13に入射する光量が
受光部12及び14に入射する光量に比べ相対的に増加
する。また、対物レンズ4が情報記M担体5に近づきす
ぎ(δか負)、所rt後ビン状態では、スポット形状は
17のようになり。
受光部12及び14に入射する光量が、受光部11およ
び13に比べて相対的に増加する。従って受光部11及
び13の和信号と、受光部12及び14の和信号との差
から、焦点誤差信号(所謂8字カーブ)が得られる。光
学的情報記録再生装置では、この焦点誤差信号に基づい
て対物レンズ4を光軸方向に移動し、フォーカス制御を
行なうことかできる。
び13に比べて相対的に増加する。従って受光部11及
び13の和信号と、受光部12及び14の和信号との差
から、焦点誤差信号(所謂8字カーブ)が得られる。光
学的情報記録再生装置では、この焦点誤差信号に基づい
て対物レンズ4を光軸方向に移動し、フォーカス制御を
行なうことかできる。
本実施例においては、前述したように、プリズム3が略
立方体に形成されている。貨って、例えば長尺の角柱状
ガラス棒を一定長さに切断することにより本実施例に用
いるプリズムが容易且つ高精度に得られる。
立方体に形成されている。貨って、例えば長尺の角柱状
ガラス棒を一定長さに切断することにより本実施例に用
いるプリズムが容易且つ高精度に得られる。
953図は本発明の他の実施例を示した概略図てあり、
第3図(a)はディスク側から見た図、第3図(1+)
の側面から見た図である。
第3図(a)はディスク側から見た図、第3図(1+)
の側面から見た図である。
本実施例においては、第1図に示した装こにおけるプリ
ズム3と対物レンズ4との間に折曲げ光学系31が配さ
れている。この折曲げ光学系31にはプリズム或いはモ
面ミラー等、その他反射作用を有する光学素子を用いる
ことができる。このように折曲げ光学系31を配するこ
とにより、プリズム3は上記実施例におけるよりも光源
lに相対的に近付けて配することかでき、プリズム3の
有効部領域はより小さくなる。
ズム3と対物レンズ4との間に折曲げ光学系31が配さ
れている。この折曲げ光学系31にはプリズム或いはモ
面ミラー等、その他反射作用を有する光学素子を用いる
ことができる。このように折曲げ光学系31を配するこ
とにより、プリズム3は上記実施例におけるよりも光源
lに相対的に近付けて配することかでき、プリズム3の
有効部領域はより小さくなる。
従ってプリズム3の大きさを小さくすることが可能とな
り、装置の小型化及び低コスト化に有益である。
り、装置の小型化及び低コスト化に有益である。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明はプリズムによる非点収差
を用いた焦点検出装置において、検出手段を前記プリズ
ムを挟んで光源と対向する位置に配し、物体からの戻り
光か前記プリズムの入射面とは異なる面から出射して前
記検出手段に導かれるようにしたので、装置をFl型に
構成することが可能となった。
を用いた焦点検出装置において、検出手段を前記プリズ
ムを挟んで光源と対向する位置に配し、物体からの戻り
光か前記プリズムの入射面とは異なる面から出射して前
記検出手段に導かれるようにしたので、装置をFl型に
構成することが可能となった。
しかも、前記プリズムは略立方体に形成されているから
、製造が容易てあり、生産性に優れた焦点検出装置を得
ることができる。
、製造が容易てあり、生産性に優れた焦点検出装置を得
ることができる。
第1図は本発明の実施例を示す概略図、第2図は光検出
器の受光面における戻り光のスポット形状の変化を示す
図、第3図は本発明の他の実施例を示す図であり、第3
図(a)はディスク側から見た図、第3図(b)は側面
から見た図、第4図は従来の焦点検出装置の概略図であ
る。 l・・・光源 3・・・プリズム 4・・・対物レンズ 5・・・情報記録媒体 6・・・光検出器 代理人 弁理士 山 下 積 平 第4図
器の受光面における戻り光のスポット形状の変化を示す
図、第3図は本発明の他の実施例を示す図であり、第3
図(a)はディスク側から見た図、第3図(b)は側面
から見た図、第4図は従来の焦点検出装置の概略図であ
る。 l・・・光源 3・・・プリズム 4・・・対物レンズ 5・・・情報記録媒体 6・・・光検出器 代理人 弁理士 山 下 積 平 第4図
Claims (1)
- 光源と、前記光源から発した光束を物体上に集光する集
光手段と、前記光源からの光束を表面で反射して前記集
光手段に導くとともに、前記物体から戻り光を透過して
非点収差を生じさせるプリズムと、前記戻り光の非点収
差から前記物体への光束の合焦状態を検出する検出手段
とから成る焦点検出装置において、前記プリズムが略立
方体に形成され、前記検出手段が前記プリズムを挟んで
光源と対向する位置に配され、前記戻り光が前記プリズ
ムの入射面とは異なる面から出射して前記検出手段に導
かれることを特徴とする焦点検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14987A JPS63168841A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14987A JPS63168841A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | 焦点検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63168841A true JPS63168841A (ja) | 1988-07-12 |
Family
ID=11465978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14987A Pending JPS63168841A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63168841A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0608368A1 (en) * | 1991-10-15 | 1994-08-03 | GEO Labs, Inc. | Electro-optical scanning system |
-
1987
- 1987-01-06 JP JP14987A patent/JPS63168841A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0608368A1 (en) * | 1991-10-15 | 1994-08-03 | GEO Labs, Inc. | Electro-optical scanning system |
EP0608368A4 (en) * | 1991-10-15 | 1999-01-07 | Gap Technologies Inc | ELECTRO-OPTICAL SCANING SYSTEM. |
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