JPS63148498A - 自己診断機能を具備した記憶装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は例えば半導体試験装置等に用いられる記憶装
置に関する。

「発明の背景」 ＩＣ化されたメモリ等を試験する半導体試験装置には試
験に使うパターン信号を収納しておく大容量の記憶装置
が設けられている。この記憶装置は高速読出及び高速書
込が行なえるように半導体のメモリ素子が用いられてい
る。半導体メモリ素子を記憶素子として用いる場合、そ
の中の一つのメモリセルでも故障していると試験に用い
る・ぐターン信号に欠陥が生じ試験の結果は信頼できな
いものとなる。

このため半導体試験装置では従来より使用開始時にパタ
ーン信号等を収納する記憶装置が正常か否かを自己診断
する機能を付加し、自己診断の結果記憶装置が正常であ
れば試験を開始するようにしている。

「従来技術」 第３図に従来の自己診断機能を具備したＩＣ試験装置用
の記憶装置を示す。図中１は診断すべき記憶装置、２は
テストプロセッサ、３は外部記憶装置を示す。

ＩＣの試験動作は次のようにして行なわれる。

先ずテストプロセンサ２の制御によって記憶装置１に外
部記憶装置３からテストパターン信号が転送されて高速
書込手段によって高速度で書込まれる。そのテストパタ
ーン信号を読出して外部にテス）　ｚ４ターン信号を送
出し、被試験ＩＣ（特に図示しない）に印加する。

ここでテスト・ぐターン信号を読出すために以下の機能
が付加されている。

■　記憶装置１において指定したアドレスから指定した
アドレスまでに収納したテストパターン信号を高速で読
出して送出する機能と、■　記憶装置１において指定し
たアドレスから指定したアドレスまでに収納したテス）
　ｚ？ターン信号を高速で記憶装置１内の他の記憶領域
に書き移す機能とである。

この二つの機能を実行するために読出及び書込を行なう
アドレス領域の先頭アドレスを設定する先頭アドレスポ
インタ１０と、書き換えする送り先アドレス領域の先頭
アドレスを指定する送り先アドレスポインタ２０と、読
出及び書込を行なうアドレス領域を指定するだめのワー
ドカウンタ３０と、指定したアドレス領域の読出及び書
込が終了したことを検出するゼロ検出器４ｏと、読出書
込制御器５０と、クロック発生器６０とが設けられてい
る。

先頭アドレスポインタ１０と送り先アドレスポインタ２
０はプリセット可能なアップダウンカウンタが用いられ
、アドレスマルチプレクサ４の切替によってテストプロ
セッサ２から先頭アドレスと送り先アドレスが与えられ
てその先頭アドレスと送り先アドレスがプリセットされ
る。

先頭アドレスポインタ１０と送り先アドレスポインタ２
０にグリセノドされた先頭アドレスと送す先アドレスは
マルチプレクサ５によって選択されて記憶装置１に与え
られる。

読出及び書込を行なう場合には先頭アドレスポインタ１
０にグリセノドされた先頭アドレスが記憶装置１に与え
られ読出又は書込が行なわれる毎に先頭アドレスポイン
タ１０がその設定されたモードに従って＋１又は−１ず
つ計数動作し、記憶装置１のアドレスを＋１又は−１ず
つ歩進させる。

データの移し換を行なう場合は先頭アドレスポインタ１
０と送り先アドレスポインタ２０のグリセノド値が交互
に記憶装置１に与えられる。

つまり先頭アゾレスポインタ１０のプリセント値が記憶
装置１に与えられている状態で読出書込制御器５０は記
憶装置１からそのアドレスに記憶されているデータを読
出し、レジスタ６にストアする。次にマルチプレクサ５
は送り先アドレスポインタ２０を選択してそのシリセッ
ト値を記憶装置１に与えデータの送り先アドレスをアク
セスする。このアクセスが完了した時点で読出書込制御
器５０は読出したデータをデータレノスタ６からマルチ
プレクサ７を通じて記憶装置１に与え、送り先アドレス
にデータを書込む。

読出終了と書込が終了すると先頭アドレスポインタ１０
及び送り先アドレスポインタ２０は指定されたモードに
従って＋１又は−１ずつ計数動作し、記憶装置１の読出
アドレスと送り先アドレスを＋１又は−１ずつ歩進させ
る。

一方ワードカウンタ３０はプリセット可能な例えばダウ
ンカウンタによって構成され読出又は書込を行なう領域
を決めるだめのワード数をテストプロセッサ２から与え
られそのワード数をプリセントされる。

ワードカウンタ３０は記憶装置１が１アドレス歩進する
毎に−１ずつ減算動作を行ない、歩進の数がプリセント
された値に達するとゼロ検出器１１０がその状態を検出
し、読出書込制御器５０に検出信号を送ってその動作を
停止させる。

このようにして記憶装置１の所望のアドレス領域に高速
度でテストパターン信号を書込む動作及びそのアドレス
領域に書込まれたテス）／Ｆターン信号を高速度で読出
して他に送出する動作、更に書込まれているテスト・ぐ
ターン信号を他の記憶領域に移し換える動作が行なわれ
る構成となっている。

ところで記憶装置１の各記憶セルが正常か否かを診断す
るには従来はテストプロセッサ２０指令によって記憶装
置１の各アドレスに自己診断用のデータを書込み、その
データを読出してテストプロセッサ２に送り、テストプ
ロセッサ２において期待値と比較し、良否を判定してい
る。

「発明が解決しようとする問題点」 従来は自己診断の実行はテストゾロセッサ２によって行
なっている。このため診断の速度はテストゾロセッサ２
の実行速度となり、診断時間が長く掛る欠点がある。特
にＩＣテスタに設けられる記憶装置１は記憶容量が例え
ば１６Ｍバイトと大きいため自己診断に比較的長い時間
が必要となる。

因みに１６Ｍバイトの場合的２公程度の時間になる。

この発明の目的は自己診断に要する時間を大幅に短縮す
ることができる自己診断機能を具備した記憶装置を提供
することにある。

「問題点を解決するための手段」 この発明では、従来から設けられている先頭アドレスポ
インタ、送り先アドレスポインタ、ワードカウンタ、ゼ
ロ検出器、読出書込制御器、クロック発生器等に加えて
、自己診断用データを保持しておく診断用データレジス
タと、自己診断用データの書込時にデータの値を１アド
レス毎に「１」と「０」に反転させるデータ反転器と、
自己診断を行なう領域を決めるワード数を保持しておく
ワードレジスタと、このワードレジスタに保持したワー
ド数をワードカウンタの値がゼロになる毎にワードカウ
ンタに与えて再ロードするマルチプレクサと、診断領域
の各アドレスから読出したデータを期待値と比較する論
理比較器とを設けた構造とするものである。

「作用」 この発明の構成によれば従来からある高速書込機能を利
用して診断すべきアドレス領域に自己診断用データを書
込む。この場合釜アドレスにはデータ反転器によってア
ドレス毎にデータの値が「１」と「０」に反転して書込
が行なわれる。

書込が終了すると読出書込制御器はデータの移し換えモ
ードに設定され、書込んだデータを他のアドレス領域に
移し換えを行なう動作を実行する。

この場合送υ先アドレスを読出アドレスと同一に設定す
ることにより読出したデータは再び同一アドレスに再書
込みされる。

読出したデータは論理比較器で期待値と比較し、良否を
判定する。不一致が検出された場合はその不良発生アド
レスをテストゾロセッサに送り、そのアドレスが不良で
あることを表示させる。

このようにこの発明によれば自己診断用データの書込及
び読出全従来からある高速書込機能とデータの移し換え
機能を利用し、更に良否の判定を論理比較器によって行
なう構成としたからテストプロセッサによって良否を判
定する場合と比較して診断速度を大幅に速くすることが
できる。よって自己診断を短時間に済ませることができ
る。

「実施例」 第１図にこの発明の一実施例を示す。第１図において第
３図と対応する部分には同一符号を付して示す。

この発明によって付加される部分は自己診断時に自己診
断用データを保持しておく自己診断用データレノスタフ
０と、この自己診断用データレジスタ７０に保持したデ
ータを１アドレス毎に「１」と「Ｏ」を反転させて記憶
装置１に与えるデータ反転器８０Ａと、ワードカウンタ
３０の計数値がゼロになる毎にワードカウンタ３０に設
定値Ｗを再ロードするために設けたワードレジスタ９０
と、期待値を発生させるデータ反転器８０Ｂと、データ
反転器ｓｏＡ、ｓｏＢに必要に応じて反転指令信号を与
えるグー）ＧＡと、記憶装置１から読出したデータと期
待値とを比較する論理比較器１００とである。

自己診断用データレジスタ７０にはテストプロセッサ２
が自己診断プログラムを実行開始初期の段階でテストプ
ロセッサ２から自己診断用データが送られて来てストア
される。自己診断用データレジスタ７０にストアされた
自己診断用データはデータ反転器８０Ａを通じて記憶装
置１に供給される。

データ反転器８０Ａはデー）ＧＡを通じて１アドレス毎
に「１」と「０」を交互に繰返す信号が与えられ、この
反転信号によって自己診断用データレジスタ７０にスト
アしたデータを１アドレス毎に「１」と「０」に反転さ
せて記憶装置１に供給し、これを指定したアドレス領域
に記憶する。

この書込動作は先にも説明したように書込の先頭アドレ
スを規定する先頭アドレスポインタ１０とワードカウン
タ３０と協動によって行なわれる。

つまり先頭アドレスポインタ１０にグリセノドされた先
頭アドレスからワードカウンタ３０にグリセノドされた
ワード数に対応するアドレスまでが指定され、そのアド
レス領域に１アドレス毎に「１」と「０」が反転した自
己診断用データを書込む。この書込動作を第２図に示す
区間Ａで行なう。

ここで先頭アドレスＡＡを記憶装置１の先頭アドレスと
し、ワード数Ｗを記憶装置１の全アドレス数に設定する
ことにより記憶装置１の先頭アドレスＡＡから最終アド
レスＡＺまでの全アドレス領域を指定することができる
。また必要に応じて記憶装置１の一部のアドレス領域を
指定することもできる。

指定したアドレスまで自己診断用データが書込まれると
ゼロ検出器４０がワードカウンタ３０の計数値がゼロに
なったことを検出し、その検出信号を読出書込制御器５
０に与えて動作モードをデータの移し換えモードに切換
る。

データの移し換えモードは先頭アドレスポインタ１０で
指定したアドレスからデータを読出し、そのデータを論
理比較器１００で期待値と比較するのと同時に、送り先
アドレスレジスタ２０に設定したアドレスにブータラ書
込む。自己診断時には先頭アドレスポインタ１０に設定
するアドレスと送り先アドレスとを同一アドレスに設定
するからデータは読出されたアドレスに再書込みされる
。

ここで先頭アドレスポインタ１０と送り先アドレスポイ
ンタ２０はデータの移し換ｔモー）’［切換えられたと
きにダウンカウントモードに切換られ、データの移し換
え動作は最終アドレスＡＺから先頭アドレスに向って歩
進しながら行なわれる。

更に最終アドレスＡＺに達した状態でデータの移し換え
モードに切換りたときにワードレジスタ９０に設定した
ワード数をマルチブレフサ８を通じてワードカウンタ３
０に与え再ロードする。従ってデータの移し換え動作は
ワードカウンタ３０の値がゼロになるまで実行される。

この状態を第２図の区間Ｂに示す。

データの移し換え動作が先頭アドレスＡＡまで行なわれ
ると、ゼロ検出器４０がワードカウンタ３０の計数値が
ゼロになったことを検出し、その検出信号を読出書込制
御器５０に与え、先頭アドレスポインタ１０と送り先ア
トＶ７．１！’（７ｆｉ２０をアップカウントモードに
切換ると共にマルチブレフサ８１！を通じてワードカウ
ンタ３０にワードレジスタ９０に保持したワード数を再
ロードする。

この切換によりデータの移し換え動作は第２図の区間Ｃ
に示すように先頭アドレスＡＡかも最終アドレスＡＺに
向って歩進しながら実行される。

データの移し換え動作中に各アドレスから読出されたデ
ータは全て論理比較器１００において期待値と比較され
る。期待値はデータレジスタ７０に保持した自己診断用
データをデータ反転器８０Ｂを通じて取出され、１アド
レス毎に「１」と「０」が反転した期待値データと、記
憶装置１から読出したデータとを比較し、一致、不一致
を判定し、不一致が発生したとき、不良発生を表わす信
号を論理比較器１００からテストプロセッサ２に送ると
共にアドレスレジスタ１１０から不良アドレスをテスト
プロセッサ２に送出し、テストプロセッサ２に付属する
表示器に不良の有と、そのアドレスを表示させる。

「発明の効果」 以上説明したようＫこの発明てよれば記憶装置ｌに付加
されているデータの移し換え機能を利用して読出書込の
動作を高速度で行なわせ、その読出動作によって読出さ
れたデータを期待値と論理比較し、自己診断を行なう構
成としたから高速度で自己診断を行なわせることができ
る。よって記憶装置１の容量が大きくても短時間に自己
診断を行なうことができる。

因みに１６Ｍバイトの記憶装置１を自己診断する時間は
従来は１２０秒であったものを約２秒程度に短縮するこ
とができた。

またこの発明では従来から持っている機能を有効に使っ
たのでコストの上昇はわずかであるが、自己診断時間を
大幅に短縮できる利点が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を説明するためのブロック
図、第２図はこの発明の詳細な説明するためのグラフ、
第３図は従来の自己診断機能を持つ記憶装置を説明する
ためのブロック図である。 １・・・記憶装置、２・・・テストプロセッサ、３・・
・外部メモリ、４，５，７．８・・・マルチプレクサ、
１０・・・先頭アドレスポインタ、２０・・・送り先ア
ドレスポインタ、３０・・・ワードカウンタ、４０・・
・ゼロ検出器、５０・・・読出書込制御器、６０・・・
クロック発生器、１１０・・・アドレスレノスタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ａ、書込まれているデータを高速度で読出し、そ
   のデータを他の装置に転送する高速転送 手段と、 Ｂ、書込まれているデータを読出し、そのデータを他の
   アドレスに再書込みする書替手 段と、 Ｃ、高速転送手段及び書替手段がその動作を開始するア
   ドレスを与えるアドレスポイン タと、 Ｄ、このアドレスポインタによって設定されたアドレス
   から高速転送動作及び書替動作 を実行するワード数を記憶するワードカウ ンタと、 Ｅ、このワードカウンタの内容が所定の値に達したこと
   を検出する検出器と、 Ｆ、読出されたデータと期待値とを比較する論理比較器
   と、 から成る自己診断機能を具備した記憶装置。