JPS63139258A - High resistance measuring device - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は高電圧電気装置に利用される絶縁材料の絶縁特
性を測定する測定装置に係り、特に測定レンジを自動的
に選択する手段を備えたディジタル式の高抵抗測定装置
(高電圧メガオームメータ)に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a measuring device for measuring the insulation properties of an insulating material used in high-voltage electrical equipment, and particularly to a measuring device that is equipped with a means for automatically selecting a measurement range. This invention relates to a digital high resistance measuring device (high voltage megohmmeter).
(従東技術及び発明が解決しようとする問題点)電気装
置、ケーブル、各種材料等の絶縁特性及び吸収率を測定
する例えば高抵抗測定枝、メガオームメータのような通
常の高抵抗測定装置においては、測定値を表示するため
に電磁駆動機構により駆動される針穴の表示器が使われ
ていた。(Problems to be solved by Juto technology and invention) In ordinary high resistance measuring devices such as high resistance measuring branches and megohmmeters, which measure the insulation properties and absorption rates of electrical devices, cables, various materials, etc. , a needle-hole indicator driven by an electromagnetic drive mechanism was used to display the measured value.
しかしながら、これらの装置による読取りの精度はほと
んど測定者次第であり、このことは測定誤差を極めて大
きくするとともに、測定操作を極めて不便にしていた。However, the accuracy of reading by these devices depends mostly on the measurer, which makes measurement errors extremely large and makes measurement operations extremely inconvenient.
特に、この装置を用いて被測定対象物の吸収率を測定す
ることは非常に難しいものであった。この吸収率に関し
、中華人民共和国においては次のように規定されている
。すなわち、被測定対象物に高電圧が印加されてから6
0秒後に測定された測定瞬時値をR60とし、15秒後
に測定された測定瞬時値をRI5とするとともに、R1
5に対するR60の比(R60/R15)が被測定対象
物の吸収率として定義される。そこで、前記針穴の測定
枝を利用した場合には、高電圧源のスイッチを投入する
人、測定値を読取る人及び時間を計るとともにデータを
記録する人からなる少なくとも3人の測定者の調和のと
れた操作がなければ、絶縁抵抗及び吸収率の測定ができ
ない。In particular, it has been extremely difficult to measure the absorption rate of an object to be measured using this device. Regarding this absorption rate, the People's Republic of China stipulates as follows. In other words, 6 seconds have passed since the high voltage was applied to the object to be measured.
The instantaneous value measured after 0 seconds is R60, the instantaneous value measured after 15 seconds is RI5, and R1
The ratio of R60 to R5 (R60/R15) is defined as the absorption rate of the object to be measured. Therefore, when using the measurement branch in the needle hole, at least three people are required to perform the measurement, including a person who turns on the high voltage source, a person who reads the measured values, and a person who measures the time and records the data. Without proper operation, insulation resistance and absorption rate cannot be measured.
また、測定者の不注意又は間違いがあると、測定材料の
放電のために、測定枝が破損するおそれがある。さらに
、例えば時間計測の操作、測定者による読取り、目盛り
の非線形性等の種々の要素が測定誤差を産み出すので、
測定結果が被測定対象物の実際の絶縁特性をよりよく表
さないという問題があった。Furthermore, if there is carelessness or mistake on the part of the measurer, the measuring arm may be damaged due to discharge of the measuring material. Furthermore, various factors such as time measurement operation, reading by the measurer, non-linearity of the scale, etc. produce measurement errors.
There was a problem that the measurement results did not better represent the actual insulation properties of the object to be measured.
そこで、近年、多くのディジタル式の高抵抗測定装置が
開発されてきている。しかし、これらの全てのものにお
いては、基準抵抗に被測定対象物を直列に接続した単一
のサンプリング分岐回路が考慮されている。Therefore, in recent years, many digital high resistance measuring devices have been developed. However, in all of these, a single sampling branch circuit with a reference resistor connected in series with the object to be measured is considered.
この種の装置に関する例は特開昭59−5969号公報
に示されており、同公報では基準抵抗から取出されたサ
ンプル電圧がA/D変換器に供給され、それからコンピ
ュータが計算後にその結果を出力するようになっている
。この種の測定装置の欠点は高電圧電源に対して高精度
が要求されること、リップルの影響を除去できないこと
、及びコストが高くなることである。An example of this type of device is given in Japanese Patent Laid-Open No. 59-5969, in which a sample voltage taken from a reference resistor is fed to an A/D converter and then a computer calculates the result. It is designed to be output. Disadvantages of this type of measuring device are the high accuracy required for the high voltage power supply, the inability to eliminate ripple effects, and the high cost.
他の例はアメリカ特許第4217453号の明細書に示
されており、同特許では単一の分岐回路から取出された
二つのサンプル電圧が2重積分形(デュアル スロープ
)A/D変換器に供給され、それから測定結果が計算さ
れる。この特許はディジタル式の抵抗測定装置及びディ
ジタル式の導電度測定装置を構成するために利用され得
る2種の異なる2重積分法を説明している。Another example is shown in U.S. Pat. No. 4,217,453, in which two sample voltages taken from a single branch circuit are fed into a dual slope A/D converter. and then the measurement results are calculated. This patent describes two different double integration methods that can be used to construct digital resistance measurement devices and digital conductivity measurement devices.
しかし、係る装置においても、単に単一のサンプル分岐
回路が採用されかつ積分される電圧が被測定対象物から
直接取出されるので、後続のA/D変換器及び積分器の
入力レベルの制限のために、被測定対象物に約20ボル
トを越えた電圧を印加できない、それゆえ、この種のデ
ィジタル式の抵抗測定装置では、被測定対象物の高電圧
絶縁抵抗を測定することはできない。また、同理由によ
り、前述のディジタル式の導電度測定装置では、被測定
対象物の高電圧絶縁導電度を測定することはできない。However, even in such devices, only a single sample branch circuit is employed and the voltage to be integrated is taken directly from the object under test, thereby limiting the input level of the subsequent A/D converter and integrator. Therefore, a voltage exceeding about 20 volts cannot be applied to the object to be measured.Therefore, this type of digital resistance measuring device cannot measure the high voltage insulation resistance of the object to be measured. Further, for the same reason, the above-mentioned digital conductivity measuring device cannot measure the high voltage insulation conductivity of the object to be measured.
さらに、このディジタル式の導電度測定装置によれば、
同装置の間接的な測定結果に基づく付加的な逆数計算が
必要とされる。Furthermore, according to this digital conductivity measuring device,
Additional reciprocal calculations are required based on indirect measurements of the device.
本発明は上記問題に鑑み案出されたもので、その目的と
するところは被測定対象物の絶縁抵抗及び吸収率を正確
に測定できる新しい高抵抗測定装置を提供することにあ
る。The present invention was devised in view of the above problems, and its purpose is to provide a new high resistance measuring device that can accurately measure the insulation resistance and absorption rate of an object to be measured.
また、本発明の他の目的は、高電圧電源のリップルの影
響及び電圧変動を除去して安定性を改良するために2分
岐電圧比サンプリング回路からなるディジタル表示式の
高抵抗測定装置を提供することにある。Another object of the present invention is to provide a digital display type high resistance measuring device comprising a two-branch voltage ratio sampling circuit in order to eliminate the effects of ripples and voltage fluctuations of a high voltage power supply and improve stability. There is a particular thing.
また、本発明の他の目的は、2重積分形集積回路の入力
電圧用端子(INl(I)と基準電圧用端子(vR)が
互いに入れ替えて使われて広いレンジに渡る抵抗が直接
的表示で正確に測定され得るディジタル式の直接読取り
層高抵抗測定装置を提供することにある。Another object of the present invention is to directly display the resistance over a wide range by using the input voltage terminal (INl (I) and the reference voltage terminal (vR) of the double integral integrated circuit interchangeably with each other. An object of the present invention is to provide a digital direct read layer high resistance measuring device that can accurately measure the resistance of the layer.
さらに、本発明の他の目的は、交流又は直流電源から電
力が供給されテ500V、 1.000V、2.500
V、5.000V、 10,0OOV又は15.000
Vからなる一連の高電圧を発生する組込み式の直流高電
圧発生手段と、測定操作を楽にするために表示器のホー
ルド機能及びブザー注意機能とを備えた測定レンジ自動
選択手段付きのディジタル式高抵抗測定装置を提供する
ことにある。Furthermore, another object of the present invention is to provide power from an AC or DC power source such as 500V, 1.000V, 2.500V.
V, 5.000V, 10.0OOV or 15.000
A built-in DC high voltage generator that generates a series of high voltages consisting of V, and a digital high voltage sensor with automatic measurement range selection means that has a display hold function and a buzzer warning function to ease measurement operations. An object of the present invention is to provide a resistance measuring device.
(発明の構成及びその作用効果)
本発明によれば、入力回路と、電圧値を抵抗値に変換す
る電圧/抵抗変換手段と、測定レンジを自動的に選択す
る制御回路と、測定値を表示する出力手段と、直流高電
圧発生手段と、前記電圧/抵抗変換手段にクロックパル
スを供給するクロックパルス発生手段とを備えたディジ
タル式の高抵抗測定装置が提供される。(Structure of the Invention and Its Effects) According to the present invention, there is provided an input circuit, a voltage/resistance conversion means for converting a voltage value into a resistance value, a control circuit for automatically selecting a measurement range, and a display for displaying a measured value. A digital high-resistance measuring device is provided, which includes output means for generating a DC high voltage, and clock pulse generation means for supplying clock pulses to the voltage/resistance conversion means.
上記のように構成した本発明によれば、直流高電圧発生
手段は被測定対象物を含む入力回路に直流高電圧を供給
し、入力回路から測定サンプリング電圧と基準サンプリ
ング電圧とが取出され、電圧、/抵抗変換手段がクロッ
クパルス発生手段により制御されて測定サンプリング信
号及び基準サンプリング信号を出力手段によって表示さ
れる抵抗値に変換する。According to the present invention configured as described above, the DC high voltage generating means supplies the DC high voltage to the input circuit including the object to be measured, the measurement sampling voltage and the reference sampling voltage are taken out from the input circuit, and the voltage , /resistance conversion means are controlled by the clock pulse generation means to convert the measurement sampling signal and the reference sampling signal into resistance values displayed by the output means.
本発明のある特徴は、電圧/抵抗変換用の!A積回路(
IC)の入力電圧用及び基準電圧用の両人カビン(端子
)”INIII”、”VR”を互いに入れ替えて利用す
る点である。これにより、被測定対象物の抵抗を測定す
るなめに必要な演算処理が製造コストの増加なくなされ
る。A feature of the present invention is that ! for voltage/resistance conversion! A product circuit (
The point is that the terminals "INIII" and "VR" for the input voltage and reference voltage of the IC are used interchangeably. This eliminates the arithmetic processing necessary to measure the resistance of the object to be measured without increasing manufacturing costs.
また、本発明の他の特徴は、入力回路から二つの信号を
取出すために2分岐サンプリング回路が利用されている
点である。これにより、回路上の乱れ及びリップルによ
り引き起こされるR ”13饗を除去できる。Another feature of the present invention is that a two-branch sampling circuit is used to extract two signals from the input circuit. This can eliminate R''13 noise caused by disturbances and ripples on the circuit.
(実施例)
本発明の実施例を詳細に説明する前に、本発明の詳細な
説明しておくと、本発明は材料の高電圧電気絶縁特性を
検出する装置に向けられている。EXAMPLES Before describing embodiments of the present invention in detail, a detailed description of the present invention is provided.The present invention is directed to an apparatus for detecting high voltage electrical insulation properties of materials.
本発明による装置は電圧比測定の原理に基づいており、
測定される抵抗値を表示するディジタル表示器とともに
2分枝サンプリング電圧比回路及びA /’ D変換用
の大規模!積回路LSIモジュールで構成した電圧/抵
抗変換器を使用している。この装置は直流及び交流の両
者により電力が供給されて駆動されるもので、広範囲に
渡る高電圧を提供する。この装置によれば、電気装置の
絶縁抵抗及び吸収率を±0.1%の精度でかつ20〜2
0,000メガオームに渡る測定レンジで正確に測定で
きる。また、この装置に若干の変更を施せば、1,00
0,000メガオームを越える抵抗値の測定も可能であ
る。The device according to the invention is based on the principle of voltage ratio measurement,
Large scale for two-branch sampling voltage ratio circuit and A/'D conversion along with digital display to display the resistance value being measured! A voltage/resistance converter configured with a product circuit LSI module is used. This device is powered and driven by both direct current and alternating current, providing a wide range of high voltages. According to this device, the insulation resistance and absorption rate of electrical equipment can be measured with an accuracy of ±0.1% and between 20 and 20%.
Accurate measurements can be made over a measurement range of 0,000 megohms. Also, if you make some changes to this device, 1,000
It is also possible to measure resistance values in excess of 0,000 megohms.
以下、本発明によるディジタル式の高抵抗測定装置の好
ましい実施例を詳細に説明すると、本発明に係る高抵抗
測定装置は、第1図に示すように、直流高電圧発生器と
、入力回路と、制御回路と、電圧/抵抗変換器(以下単
にV/R変換器という)と、クロック信号発生器と、出
力システムとを備えている。直流高電圧発生器は第1図
の直流高電圧電源1で構成され、測定されるべき異なる
対象物によって、直流高電圧電源1は各国によりそれぞ
れ規定されている一連の異なる値の電圧を供給するよう
になっている。例えば、中華人民共和国においては、前
記一連の電圧値は500v、1.000V。Hereinafter, a preferred embodiment of the digital high resistance measuring device according to the present invention will be described in detail. As shown in FIG. 1, the high resistance measuring device according to the present invention includes a DC high voltage generator and an input circuit. , a control circuit, a voltage/resistance converter (hereinafter simply referred to as a V/R converter), a clock signal generator, and an output system. The DC high-voltage generator consists of a DC high-voltage power supply 1 shown in Fig. 1, and depending on the different objects to be measured, the DC high-voltage power supply 1 supplies a series of different values of voltage, each regulated by each country. It looks like this. For example, in the People's Republic of China, the series of voltage values are 500V and 1.000V.
5.0OOV、in、0OOV、 +5.QOOV等で
ある。測定されるべき対象物R×は直流高電圧電源1の
端子E、L間に接続される。5.0OOV, in, 0OOV, +5. QOOV etc. The object Rx to be measured is connected between terminals E and L of the DC high voltage power supply 1.
入力回路は2分岐電圧比サンプリング回路2と二つの全
く同じローパスフィルタ3,4とを含む。The input circuit includes a two-branch voltage ratio sampling circuit 2 and two identical low-pass filters 3, 4.
第2図は並列に接続された基準サンプリング技と測定サ
ンプリング技とからなる2分岐電圧比サンプリング回路
2の詳細回路を示している。基準サンプリング技は直列
接続された固定抵抗R1,R2がらなり、節Pとシール
ド端子Gとの間の電圧(すなわち、抵抗R2に付与され
る電圧)が基準電圧として取出される。測定サンプリン
グ技は直列接続された被測定対象物Rxと固定抵抗Rs
とがらなり、測定される電圧は節X(線路端子L)とシ
ールド端子Gとの間の電圧(すなわち、抵抗Rsに行手
される電圧)である。これらの2枝は節E、G間に並列
に接続されている。一般的には、R1> R2,Rx>
Rsなる関係を満足する。直流高電圧電源1により与え
られる高電圧は2分岐電圧比サンプリング回路2の端子
E、G間に付与されて、端子P、G間の電圧が基準電圧
Vpどして取出されるとともに、端子X、G間の電圧が
測定電圧Vxとして取出される。これらの二つの電圧V
p、 Vxはローパスフィルタ3.4にそれぞれ送られ
る。FIG. 2 shows a detailed circuit diagram of a two-branch voltage ratio sampling circuit 2 consisting of a reference sampling technique and a measurement sampling technique connected in parallel. The reference sampling technique consists of fixed resistors R1 and R2 connected in series, and the voltage between the node P and the shield terminal G (ie, the voltage applied to the resistor R2) is extracted as the reference voltage. The measurement sampling technique is to connect the object to be measured Rx and fixed resistance Rs in series.
The voltage measured is the voltage between node X (line terminal L) and shield terminal G (ie, the voltage across resistor Rs). These two branches are connected in parallel between nodes E and G. Generally, R1>R2,Rx>
Satisfies the relationship Rs. The high voltage provided by the DC high voltage power supply 1 is applied between the terminals E and G of the two-branch voltage ratio sampling circuit 2, and the voltage between the terminals P and G is taken out as a reference voltage Vp, etc. , G is taken out as the measurement voltage Vx. These two voltages V
p and Vx are each sent to a low pass filter 3.4.
第3図はローパスフィルタ3及びローパスフィルタ4の
典型的な回路を示している。これは通常の2次能動型R
Cローパスフィルタである。回路要素R3,R4,CI
、 C3と演算増幅器AIとからなるフィルタ3,4は
ここでは電気回路の変動及びリップルの影響をなくし、
電圧発生器のコストを低減し、かつ装置の動作安定性を
改良するためにそれぞれ用いられている。二つの同じフ
ィルタは2分枝サンプリングのために必要とされる。演
算増幅器AIに関しては、シャンハイ部品工場第5番に
よって製造された5G7650又は集積回路ICT65
1]を用いるようにすればよい。2分岐電圧比サンプリ
ング回路2からの基準電圧Vpはローパスフィルタ4に
よって濾波されて、V/R変換器の入力電圧用端子(ビ
ン)”I N HI”に供給される。測定電圧VXはロ
ーパスフィルタ3によって濾波されて、制御回路に供給
される。FIG. 3 shows a typical circuit of the low-pass filter 3 and the low-pass filter 4. This is a normal secondary active type R
It is a C low pass filter. Circuit elements R3, R4, CI
, C3 and operational amplifier AI eliminate the effects of fluctuations and ripples in the electric circuit,
They are used to reduce the cost of the voltage generator and improve the operational stability of the device, respectively. Two identical filters are required for bifurcated sampling. For operational amplifier AI, 5G7650 or integrated circuit ICT65 manufactured by Shanghai Parts Factory No. 5
1] may be used. The reference voltage Vp from the two-branch voltage ratio sampling circuit 2 is filtered by the low-pass filter 4 and supplied to the input voltage terminal (bin) "I N HI" of the V/R converter. The measured voltage VX is filtered by a low-pass filter 3 and supplied to the control circuit.
制御回路は測定レンジ自動選択回路5と、シフト論理回
路6と、スターI・制御回路7とからなる。The control circuit consists of an automatic measurement range selection circuit 5, a shift logic circuit 6, and a star I/control circuit 7.
第4図は測定レンジ自動選択回路5の詳細回路を示して
おり、その中で、上述した製造者によって製造された5
G765Qがボlレテージフォロア人3−^5として選
択され、CD4066 (又はC544)が論理スイッ
チGO−Glとして選択されるとよい。また、前、述と
同じ製造者によって製造された5G14574又はMC
I4574が電圧比較器A6−^7として選択されると
よい。FIG. 4 shows a detailed circuit of the automatic measurement range selection circuit 5, in which the automatic measurement range selection circuit 5 is shown in detail.
G765Q may be selected as the voltage follower 3-^5 and CD4066 (or C544) may be selected as the logic switch GO-Gl. Also, 5G14574 or MC manufactured by the same manufacturer as mentioned above.
Preferably, I4574 is selected as voltage comparator A6-^7.
高精度の定電圧源としての1403高精度エネルギスロ
ッl−電、電源から出力される電圧は比較器A6−AV
の基準電圧として選択される。測定電圧Vxはローパス
フィルタ3によって濾波される。フィルタ3の出力vy
は測定レンジ自動選択回路5の入力端子Yに送られる。1403 high precision energy throttle power supply as a high precision constant voltage source, the voltage output from the power supply is the comparator A6-AV
is selected as the reference voltage. The measured voltage Vx is filtered by a low-pass filter 3. Output vy of filter 3
is sent to the input terminal Y of the automatic measurement range selection circuit 5.
もしvyが比較器^7の基準電圧より低ければ、比較器
^6の出力端子DPI及び比較器肩の出力端子DPOの
両方には論理値゛O”が現れてスイッチGO,Glが開
き、測定電圧は減圧されない。If vy is lower than the reference voltage of the comparator ^7, a logical value "O" appears at both the output terminal DPI of the comparator ^6 and the output terminal DPO of the comparator shoulder, and the switches GO and GI are opened, and the measurement is started. Voltage is not reduced.
もしvyが比較器A7の基準電圧より高くかつ比較器A
6の基準電圧より低ければ、比較雅人6の論理出力[I
Plは”0”となってスイッチG1が開き、一方、比較
器A7の論理出力DPOは”1′°となってスイッチG
Oが閏じる。これにより、測定レンジ自動選択回路5は
全体で測定信号vyを抵抗R9,910の選択によりあ
る量のデシベル値(例えば20dB)だけ減圧すること
ができる。もしvyが比較器^6の基準電圧より高けれ
ば、比較器^6.^7の論理出力DPI、DPOは共に
”1”となって論理スイッチGO,Glが閉じる。これ
により、測定レンジ自動選択回路5は全体で測定信号v
yをより大きな量のデシベル値(例えば40dB)だけ
減圧することができる。ボルテージフォロアA5の出力
Vzは節2を介してV/R変換器8の基準電圧入力用端
子(ビン) VRに送られるとともに、節Fを介してス
タート制御口!!87に送られる。比較器A6.AVの
論理出力DPI、DI’0はシフト論理回路6に送られ
る。If vy is higher than the reference voltage of comparator A7 and comparator A
If it is lower than the reference voltage of Comparison Masato 6, the logic output [I
Pl becomes "0" and switch G1 is opened, while the logic output DPO of comparator A7 becomes "1'°" and switch G1 is opened.
O interjects. As a result, the automatic measurement range selection circuit 5 as a whole can reduce the pressure of the measurement signal vy by a certain amount of decibel value (for example, 20 dB) by selecting the resistors R9 and 910. If vy is higher than the reference voltage of comparator ^6, then comparator ^6. The logic outputs DPI and DPO of ^7 both become "1" and the logic switches GO and Gl are closed. As a result, the measurement range automatic selection circuit 5 as a whole receives the measurement signal v.
y can be reduced by a larger amount of decibel values (eg, 40 dB). The output Vz of voltage follower A5 is sent via node 2 to the reference voltage input terminal (bin) VR of V/R converter 8, and is also sent to the start control port via node F! ! Sent to 87. Comparator A6. The logic outputs DPI, DI'0 of AV are sent to the shift logic circuit 6.
第5図はシフト論理回路6の詳細な回路を示している。FIG. 5 shows a detailed circuit of the shift logic circuit 6.
シフト論理回路6はシャンハイ部品工場第5番によって
製造された4−アントゲ−1−5G4807と6−イン
バートゲート5GJQ69とにより構成できる。シフト
論理回路6の論理出力DPL、DPM、DPR及び論理
人力DPO,I)PIの論理関係は次の通りである。The shift logic circuit 6 can be constructed by a 4-invert gate 1-5G4807 and a 6-invert gate 5GJQ69 manufactured by Shanghai Parts Factory No. 5. The logical relationship between the logic outputs DPL, DPM, DPR of the shift logic circuit 6 and the logic outputs DPO, I)PI is as follows.
DPL=DPI −DPO
DPR=DPI ・ ロPO
DPM=DPI ・ OPo +[)PI ・ ロ
POまた、前記回路6の真理値表は次の通りである。DPL=DPI-DPO DPR=DPI・ROPO DPM=DPI・OPo+[)PI・ROPO Further, the truth table of the circuit 6 is as follows.
シフト論理回路6の機能は測定レンジを自動的に選択す
るために、論理入力信号D P 1. 、 D P O
の異なる論理状態によりディジタル表示スクリーン上に
3個の小数点く点し9点M1点R)のうちの1個を点灯
させ又は出現させる。The function of the shift logic circuit 6 is to use the logic input signal D P 1. to automatically select the measurement range. , D P O
The different logic states cause one of the three decimal points (M1, R) to illuminate or appear on the digital display screen.
第7図はスターI・制御回路7の例を示している。FIG. 7 shows an example of the star I control circuit 7.
スタート制御回路7は測定サンプル信号VFによって初
期化される無安定発信器である。被測定対象物が入力回
路に接続されかつ直流高電圧が印加されたときに初めて
、測定電圧Vxが現れる。ローパスフィルタ3と測定レ
ンジ自動選択回路5とを通過した後に、前記電圧はスタ
ート信号VFを第7図の比較器A8の入力端子に到達さ
せるようにし、そして論理スイッチG2をオン状態にし
て前述の発信器を動作させる。この回路は次のような制
御信号を出力する2重の時間基準(ダブル タイムベー
ス)回路用集積回路IC5G7556(又はICM75
56)で構成するとよい。The start control circuit 7 is an astable oscillator initialized by the measurement sample signal VF. The measurement voltage Vx appears only when the object to be measured is connected to the input circuit and a high DC voltage is applied. After passing through the low-pass filter 3 and the automatic measurement range selection circuit 5, the voltage causes the start signal VF to reach the input terminal of the comparator A8 in FIG. 7, and turns on the logic switch G2 as described above. Activate the transmitter. This circuit is based on the integrated circuit IC5G7556 (or ICM75) for dual time base circuits that outputs control signals such as:
56).
(1,)V、/R変換器8のR/ I−1端子に供給さ
れるサンプルホールド信号。この信号は可変のホールド
時間及びサンプリング時間を有する発信信号である。例
えば、サンプリング時間は1秒で、ホールド時間は14
秒であり、そのため測定者はディジタル表示器14によ
って示されたデータを書取るための十分な時間を有する
。(1,) V, sample hold signal supplied to the R/I-1 terminal of the /R converter 8; This signal is an outgoing signal with variable hold and sample times. For example, the sampling time is 1 second and the hold time is 14
seconds, so the operator has sufficient time to dictate the data shown by the digital display 14.
(2)時間表示器12の作動及び時間表示を開始させる
ための時間計数スタート信号。(2) A time counting start signal for starting the operation of the time display 12 and time display.
(3)注意信号として15秒毎に音を発生させるために
ブザー13によって使われる音信号。(3) A sound signal used by the buzzer 13 to generate a sound every 15 seconds as a caution signal.
時間計数回路12はヂャンヂョウ(ZhaBzhou)
半導体装置工場で製造された集積回路ICICL102
で構成することができる。The time counting circuit 12 is ZhaBzhou.
Integrated circuit ICICL102 manufactured at a semiconductor equipment factory
It can be composed of
第6図はV/R変換器の典型的な構成を示している。2
分枝電圧比サンプリング回路2の測定サンプリング技か
ら取出された測定電圧はローパスフィルタ3及び測定レ
ンジ自動選択回路5を通過した後V/R変換器8の基準
電圧入力用端子(ビン)”VR”に送られる。一方、2
分枝電圧比サンプリング回路2の基準サンプリング技か
ら取出された基準電圧はV/R変換器8の入力電圧用端
子(ビン)”INIII”に送られる。FIG. 6 shows a typical configuration of a V/R converter. 2
The measurement voltage extracted from the measurement sampling technique of the branch voltage ratio sampling circuit 2 passes through the low-pass filter 3 and the measurement range automatic selection circuit 5, and then passes through the reference voltage input terminal (bin) "VR" of the V/R converter 8. sent to. On the other hand, 2
The reference voltage extracted from the reference sampling technique of the branch voltage ratio sampling circuit 2 is sent to the input voltage terminal (bin) "INIII" of the V/R converter 8.
言い換えると、本件実施例でこれらの2信号を付与する
方法は、測定信号が入力電圧用端子(ビン)”INI(
I”に送られかつ基準電圧が基準電圧入力用端子(ビン
)”VR”に送られるような通常の装置で信号を付与す
る方法とは反対である。このような方法で信号を付与す
る目的は次の通りである。In other words, the method of providing these two signals in this embodiment is such that the measurement signal is connected to the input voltage terminal (bin) "INI (
This is contrary to the method of applying a signal in a conventional device, where the reference voltage is sent to the reference voltage input terminal (bin) ``VR''. is as follows.
すなわち、サンプリング電圧Vxは被測定対象物の抵抗
Rxに反比例するなめ、直接読取りの便を考えるとサン
プリング電圧に対して除算演算を施す必要があるからで
ある。この除算演算は、端子(ビン)”IN旧”と端子
(ビン)“VR”が互いに入れ替えて使われるのみで、
V/R変換器8によって簡単に成し遂げられる。電子技
術で高精度のアナログ除算器を実現することは非常に高
価である。このようにして製造コストを低減するために
、本発明者は2重積分形AD変換器5G7175(又は
5GI4433、ICL7106,1cL7+26)を
選んで52重積分形除算器を構成する。That is, since the sampling voltage Vx is inversely proportional to the resistance Rx of the object to be measured, it is necessary to perform a division operation on the sampling voltage in order to facilitate direct reading. In this division operation, the terminal (bin) "IN old" and the terminal (bin) "VR" are used simply by exchanging each other.
This can be easily accomplished by a V/R converter 8. Implementing a high-precision analog divider with electronic technology is very expensive. In order to reduce the manufacturing cost in this manner, the inventor selected the double integral AD converter 5G7175 (or 5GI4433, ICL7106, 1cL7+26) to construct a 52 double integral divider.
また、第6図はクロックパルス発生器9と、ビットドラ
イバ10、デコーダ11及びディジタル表示器14を含
む出力システムとを示している。FIG. 6 also shows a clock pulse generator 9 and an output system including a bit driver 10, a decoder 11 and a digital display 14.
これらは従来からよく知られたものであるので、ここで
は各回路の詳細な説明を省略する。Since these circuits are well known, a detailed explanation of each circuit will be omitted here.
V 、/ R変換器8の端子(ビン)vFL”と端子(
ビン〉“INHI”とに供給される測定サンプリング電
圧と基準サンプリング電圧とに基づき、同変換器8はク
ロックパルス発生器9からのクロック信号によって電圧
/抵抗変換を実行する。結果は出力端子(ビン)Bi、
82.B3.B4及びDI、D2.[13,D4.D5
を介して出力され、ビットドライバ10により駆動され
かつデコーダ11によりデコードされた後、ドロ・ツブ
DPL、DPM、DI’Rとともにディジタル表示器1
4上に表示される。その結果、最終的な結果としての表
示は被測定対象物の抵抗が現れる。Terminal (bin) vFL” of V,/R converter 8 and terminal (
Based on the measured sampling voltage and the reference sampling voltage supplied to the bin>“INHI”, the converter 8 performs a voltage/resistance conversion by means of a clock signal from a clock pulse generator 9. The result is the output terminal (bin) Bi,
82. B3. B4 and DI, D2. [13, D4. D5
After being outputted via the bit driver 10 and decoded by the decoder 11, it is output to the digital display 1 along with the doro-tube DPL, DPM, and DI'R.
4 will be displayed on top. As a result, the final resulting display shows the resistance of the object being measured.
次の表は摂氏21度かつ湿度70%の条件下でこの発明
による高抵抗測定装置によって測定されたデータである
。The following table shows data measured by the high resistance measuring device according to the present invention under conditions of 21 degrees Celsius and 70% humidity.
なお、この発明の属する技術において通常の知識を有す
る者によれば、本発明の技術的範囲を逸脱することなく
種々の修正、変形が可能であることは理解されるべきで
ある。It should be understood that those with ordinary knowledge in the art to which this invention pertains can make various modifications and variations without departing from the technical scope of the invention.
第1図は本発明に係るディジタル式の高抵抗測定装置の
一例を示す全体概略ブロック図、第2図は第1図の2分
岐電圧比サンプリング回路の回路図、第3図は第1図の
ローパスフィルタの典型的な例を示す回路図、第4図は
第1図の測定レンジ自動選択回路の一例を示す回路図、
第5図は典型的なシフト論理回路を示す回路図、第6図
は第1図の電圧/抵抗変換器の典型的な構成を示す構成
図、及び第7図は第1図の典型的なスタート制御回路を
示す回路図である。
符号の説明
1・・・直流高電圧電源、E・・・外部接続用接地端子
、G・・・外部接続用シールド端子、L・・・外部接続
用線路端子、2・・・2分岐電圧比サンプリング回路、
3.4・・・ローパスフィル号6・・・シフト論理回路
、7・・・スタート制御回路、8・・・電圧、/抵抗変
換器(V/R変換器〉、9・・・クロックパルス発生器
、10・・・ビットドライバ、11・・・デコーダ、1
2・・・時間表示器、13・・・ブザー、14・・・デ
ィジタル表示器。
出願人 中華人民共和国科技大学
(外1名)
代理人 弁理士 長 谷 照 −
(外1名〉
第41
第5図
第6図FIG. 1 is an overall schematic block diagram showing an example of a digital high resistance measuring device according to the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of the two-branch voltage ratio sampling circuit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram of the two-branch voltage ratio sampling circuit shown in FIG. A circuit diagram showing a typical example of a low-pass filter; FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of the measurement range automatic selection circuit shown in FIG. 1;
FIG. 5 is a circuit diagram showing a typical shift logic circuit, FIG. 6 is a block diagram showing a typical configuration of the voltage/resistance converter shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 3 is a circuit diagram showing a start control circuit. Explanation of symbols 1: DC high voltage power supply, E: Ground terminal for external connection, G: Shield terminal for external connection, L: Line terminal for external connection, 2: 2-branch voltage ratio sampling circuit,
3.4...Low-pass fill signal 6...Shift logic circuit, 7...Start control circuit, 8...Voltage/resistance converter (V/R converter), 9...Clock pulse generation device, 10... bit driver, 11... decoder, 1
2...Time display, 13...Buzzer, 14...Digital display. Applicant: People's Republic of China University of Science and Technology (1 other person) Agent: Patent attorney Teru Hase - (1 other person) Figure 41 Figure 5 Figure 6
Claims (6)
が取出される入力回路と、 該入力回路に接続され自動的に測定レンジを選択する制
御手段と、 該制御回路に接続され前記測定電圧及び基準電圧を抵抗
値に変換する変換手段と、 該変換手段に接続され前記抵抗値を表示する出力手段と
、 前記変換手段に接続されクロック信号を前記変換手段に
供給するクロック信号発生手段と を備えたことを特徴とする高抵抗測定装置。(1) A DC high voltage generation means, an input circuit connected to the DC high voltage generation means and from which a measurement voltage and a reference voltage are taken out, and a control means connected to the input circuit for automatically selecting a measurement range; a converting means connected to the control circuit and converting the measured voltage and the reference voltage into a resistance value; an output means connected to the converting means displaying the resistance value; and an output means connected to the converting means converting the clock signal to the converting means. A high resistance measuring device characterized by comprising: a clock signal generating means for supplying a clock signal to a clock signal.
固定抵抗からなる測定枝と、直列接続された二つの固定
抵抗からなる基準枝とを並列接続した2分枝サンプリン
グ回路を有するとともに、前記測定電圧が前記測定枝内
の固定抵抗端から取出されるようにした前記特許請求の
範囲第1項記載の高抵抗測定装置。(2) The input circuit has a two-branch sampling circuit in which a measurement branch consisting of a resistor to be measured and a fixed resistance connected in series, and a reference branch consisting of two fixed resistances connected in series are connected in parallel, and 2. A high resistance measuring device according to claim 1, wherein the measuring voltage is taken out from a fixed resistance end in the measuring branch.
換集積回路で構成するとともに、同集積回路の入力電圧
用端子“INHI”にフィルタで濾波された基準電圧が
供給されかつ同集積回路の基準電圧用端子“V_R”に
フィルタで濾波された測定電圧が供給されるようにして
なる前記特許請求の範囲第1項記載の高抵抗測定装置。(3) The conversion means is constituted by a double integral type analog-to-digital conversion integrated circuit, and a reference voltage filtered by a filter is supplied to the input voltage terminal "INHI" of the integrated circuit, and the reference voltage of the integrated circuit is 2. The high resistance measuring device according to claim 1, wherein the measurement voltage filtered by a filter is supplied to the terminal "V_R".
れた測定枝及び基準枝からなって測定電圧及び基準電圧
がそれぞれ取出される入力回路と、該入力回路に接続さ
れた制御手段と を備えた高抵抗測定装置であって、 前記制御手段を、 測定レンジを自動的に選択する測定レンジ自動選択回路
と、 該測定レンジ自動選択回路に接続されスタート信号を時
間表示器に供給するとともに音信号を音警告器に供給す
るスタート制御回路と、 前記測定レンジ自動選択回路に接続され表示画面上の小
数点をシフトするシフト論理制御回路と、前記測定レン
ジ自動選択回路に接続され前記測定電圧及び基準電圧を
抵抗値に変換する変換回路と、 該変換回路に接続され前記抵抗値を表示する出力手段と
、 前記変換回路に接続されクロック信号を前記変換回路に
供給するクロック信号発生手段と で構成したことを特徴とする高抵抗測定装置。(4) DC high voltage generation means, an input circuit connected to the DC high voltage generation means and consisting of a measurement branch and a reference branch connected in parallel, from which the measurement voltage and the reference voltage are taken out, respectively; and the input circuit. A high resistance measuring device comprising: a control means connected to the control means; an automatic measurement range selection circuit that automatically selects a measurement range; a start control circuit that supplies the time display and an audible signal to the audible alarm; a shift logic control circuit that is connected to the automatic measurement range selection circuit and shifts the decimal point on the display screen; and the automatic measurement range selection circuit. a conversion circuit connected to and converting the measurement voltage and reference voltage into resistance values; output means connected to the conversion circuit and displaying the resistance value; and output means connected to the conversion circuit and supplying a clock signal to the conversion circuit. 1. A high resistance measuring device characterized by comprising clock signal generating means.
固定抵抗からなる測定枝と、直列接続された二つの固定
抵抗からなる基準枝とを並列接続した2分枝サンプリン
グ回路を有するとともに、前記測定電圧が前記測定枝内
の固定抵抗端から取出されるようにした前記特許請求の
範囲第4項記載の高抵抗測定装置。(5) The input circuit has a two-branch sampling circuit in which a measurement branch consisting of a resistor to be measured and a fixed resistance connected in series and a reference branch consisting of two fixed resistances connected in series are connected in parallel, and 5. The high resistance measuring device according to claim 4, wherein the measuring voltage is taken out from a fixed resistance end in the measuring branch.
換集積回路で構成するとともに、同集積回路の入力電圧
用端子“INHI”にフィルタで濾波された基準電圧が
供給されかつ同集積回路の基準電圧用端子“V_R”に
フィルタで濾波された測定電圧が供給されるようにして
なる前記特許請求の範囲第4項記載の高抵抗測定装置。(6) The conversion circuit is constituted by a double integral type analog-to-digital conversion integrated circuit, and a reference voltage filtered by a filter is supplied to the input voltage terminal "INHI" of the integrated circuit, and the reference voltage of the integrated circuit is 5. The high resistance measuring device according to claim 4, wherein the measuring voltage filtered by a filter is supplied to the terminal "V_R".
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JP2021058829A (en) * | 2019-10-04 | 2021-04-15 | 日本製鉄株式会社 | Evaluation method for electrophoretic coating property of weld joint, electrophoretic coating property evaluation device for weld joint, and method of manufacturing weld joint |
Families Citing this family (6)
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1987
- 1987-09-02 JP JP22008287A patent/JPS63139258A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021058829A (en) * | 2019-10-04 | 2021-04-15 | 日本製鉄株式会社 | Evaluation method for electrophoretic coating property of weld joint, electrophoretic coating property evaluation device for weld joint, and method of manufacturing weld joint |
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