JPS63123579A - 抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法 - Google Patents
抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法Info
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- JPS63123579A JPS63123579A JP26767786A JP26767786A JPS63123579A JP S63123579 A JPS63123579 A JP S63123579A JP 26767786 A JP26767786 A JP 26767786A JP 26767786 A JP26767786 A JP 26767786A JP S63123579 A JPS63123579 A JP S63123579A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、樹脂被膜を有する金属複合材料の抵抗溶接時
に発生する金属表面の局部的な焼け、穴開きなどの暇疵
の発生を検出する方法に関するものである。
に発生する金属表面の局部的な焼け、穴開きなどの暇疵
の発生を検出する方法に関するものである。
[従来の技術]
近年、鋼板間に樹脂被膜を有して制振性や防音性をもた
せた金属複合材料が、自動車の車体等の材料として大量
に使用されるようになってきた。
せた金属複合材料が、自動車の車体等の材料として大量
に使用されるようになってきた。
ところが、この種の金属複合材料に抵抗溶接を施した場
合、鋼板表面の溶接部以外の個所が局部的に脹れたり、
黒く焼けたり、穴が開く等の暇疵が発生することがある
。このような珊疵部のできた金属複合材料が、例えば、
自動車のオイルパンに使用された場合には、油漏れや疲
労による破壊を生じやすくなる。
合、鋼板表面の溶接部以外の個所が局部的に脹れたり、
黒く焼けたり、穴が開く等の暇疵が発生することがある
。このような珊疵部のできた金属複合材料が、例えば、
自動車のオイルパンに使用された場合には、油漏れや疲
労による破壊を生じやすくなる。
このような暇疵部は、鋼板間に樹脂被膜の代わりに鉄粉
が混入したり、鋼板の樹脂被膜側に凸状傷ができている
ような場合に、上記の鉄粉混入個所や凸状傷部分に発生
することが確認されている。
が混入したり、鋼板の樹脂被膜側に凸状傷ができている
ような場合に、上記の鉄粉混入個所や凸状傷部分に発生
することが確認されている。
つまり、鋼板間に鉄粉が混入している場合には、この鉄
粉を通して鋼板間が短絡されて、短絡電流が流れ、この
短絡電流により上記鉄粉が高温加熱・溶融されて暇疵部
ができる一方、樹脂被膜に傷がある場合には、当該部が
絶縁破壊されることにより、鋼板と樹脂被膜との間に微
小間隔が形成され。
粉を通して鋼板間が短絡されて、短絡電流が流れ、この
短絡電流により上記鉄粉が高温加熱・溶融されて暇疵部
ができる一方、樹脂被膜に傷がある場合には、当該部が
絶縁破壊されることにより、鋼板と樹脂被膜との間に微
小間隔が形成され。
この微小間隔にスパークが生じて珊疵部ができるものと
考察される。
考察される。
ところで、一般に、鋼板間に樹脂被膜を有した金属複合
材料に抵抗溶接を施す場合、第5図(a)に示すように
、溶接電極間(または鋼板間)の電圧(および電流)は
、正弦波をサイリスタ等のスイッチング信号で制限した
波形となるが、溶接中に鋼板表面の焼けや鋼板の穴開き
等の暇疵部が生じる際には、上記波形に符号vhで示す
ような乱れ(高周波歪)が発生する。
材料に抵抗溶接を施す場合、第5図(a)に示すように
、溶接電極間(または鋼板間)の電圧(および電流)は
、正弦波をサイリスタ等のスイッチング信号で制限した
波形となるが、溶接中に鋼板表面の焼けや鋼板の穴開き
等の暇疵部が生じる際には、上記波形に符号vhで示す
ような乱れ(高周波歪)が発生する。
このような高周波歪を検知して瑞疵部の発生を検出する
ために、従来、第4図に示すような装置を用いて、高周
波成分vhを第5図(b)に示すように分離して取り出
し、この高周波数成分vhの有無に基づいて珊疵部の有
無を判定することが行なわれている。
ために、従来、第4図に示すような装置を用いて、高周
波成分vhを第5図(b)に示すように分離して取り出
し、この高周波数成分vhの有無に基づいて珊疵部の有
無を判定することが行なわれている。
即ち、第4図において、1,1は鋼板、2は鋼板1,1
間に介装されて金属複合材料Aを構成する樹脂被膜、4
,4は鋼板1,1の溶接部にそれぞれ当接して溶接を行
なう一対の溶接電極、10は溶接電極4,4へ電力を供
給する溶接電源(商用電源とする)、11は電圧検出器
である。この電圧検出器11は、鋼板1,1間の電圧(
以下、電圧信号Vxという)を取り込んで図示しない増
幅器に入力するものである。
間に介装されて金属複合材料Aを構成する樹脂被膜、4
,4は鋼板1,1の溶接部にそれぞれ当接して溶接を行
なう一対の溶接電極、10は溶接電極4,4へ電力を供
給する溶接電源(商用電源とする)、11は電圧検出器
である。この電圧検出器11は、鋼板1,1間の電圧(
以下、電圧信号Vxという)を取り込んで図示しない増
幅器に入力するものである。
また、12は高周波分離フィルタであって、上記増幅器
によりレベル調整された上記電圧信号Vxが導かれる。
によりレベル調整された上記電圧信号Vxが導かれる。
この高周波分離フィルタ12は、電圧信号Vxを、溶接
電源10が供給する電源電圧の周波数(1!源周波数f
、)以下の周波数をもつ電源電圧成分Vと、電源周波数
f0よりも高い周波数fhをもつ上記高周波成分vhと
に分離し、後者つまり高周波成分vhを比較器13へ送
出するものである。
電源10が供給する電源電圧の周波数(1!源周波数f
、)以下の周波数をもつ電源電圧成分Vと、電源周波数
f0よりも高い周波数fhをもつ上記高周波成分vhと
に分離し、後者つまり高周波成分vhを比較器13へ送
出するものである。
この比較器13は、しきい値電圧設定器14に設定され
たしきい値電圧E0と上記高周波成分vhとのレベルを
比較して、Vh>E、である場合に、電圧パルスである
瑠疵検出信号P(Hレベル)を出力するものである。な
お、しきい値電圧E6は検出誤差レベルの電圧である。
たしきい値電圧E0と上記高周波成分vhとのレベルを
比較して、Vh>E、である場合に、電圧パルスである
瑠疵検出信号P(Hレベル)を出力するものである。な
お、しきい値電圧E6は検出誤差レベルの電圧である。
また、比較器20は、電圧検出器11からの電圧信号V
Xとしきい値電圧設定器19からのしきい値電圧v0と
を比較し、IVxl>V、となった場合に、Hレベルの
出力を送出するものである。
Xとしきい値電圧設定器19からのしきい値電圧v0と
を比較し、IVxl>V、となった場合に、Hレベルの
出力を送出するものである。
なお、しきい値電圧V、はスイッチング素子のスイッチ
ング動作に伴うスイッチング信号(高周波電圧成分すな
わちノイズ)Vs[第5図(b)参照]のレベルよりも
大なるレベルを有している。
ング動作に伴うスイッチング信号(高周波電圧成分すな
わちノイズ)Vs[第5図(b)参照]のレベルよりも
大なるレベルを有している。
そして、比較器13からの珊疵検出信号Pおよび比較器
20からの出力信号は、いずれもアンドゲート21へ入
力され、これらの信号がいずれもHレベルの場合にアン
ドゲート21からブリップフロップ15へ信号が出力さ
れるようになっている。このフリップフロップ15は、
アンドゲート21からの信号によりセットされセット出
力により警報表示灯(もしくはブザー)16を点灯駆動
するものである。
20からの出力信号は、いずれもアンドゲート21へ入
力され、これらの信号がいずれもHレベルの場合にアン
ドゲート21からブリップフロップ15へ信号が出力さ
れるようになっている。このフリップフロップ15は、
アンドゲート21からの信号によりセットされセット出
力により警報表示灯(もしくはブザー)16を点灯駆動
するものである。
なお、17はパルス計数器であって、瑕疵検出信号Pが
導かれ、この珊疵検出信号Pの発生回数を計数してその
計数値Nを計数値表示器18に送出するものである。
導かれ、この珊疵検出信号Pの発生回数を計数してその
計数値Nを計数値表示器18に送出するものである。
上述のような装置により、従来1次のような手順で珊疵
の発生が検出される。
の発生が検出される。
金属複合材料Aに焼けや穴開き等の瑞疵部が発生しない
正常溶接時には、電圧信号Vxは電源周波数f0で正弦
変化する電源電圧成分Vだけであるので、高周波分離フ
ィルタ12の出力はなく。
正常溶接時には、電圧信号Vxは電源周波数f0で正弦
変化する電源電圧成分Vだけであるので、高周波分離フ
ィルタ12の出力はなく。
比較器13の出力はLレベルにあり、取疵検出信号Pは
出力されず、警報表示灯16や計数値表示器18は駆動
されない。
出力されず、警報表示灯16や計数値表示器18は駆動
されない。
一方、金属複合材料Aに焼けや穴開き等の暇疵部が発生
すると、その発生時に、電圧信号Vxは、前述したよう
な高周波成分vhが載った波形となるので、高周波分離
フィル゛り12は該高周波成分vhを分離して出力し、
比較器13がHレベルの瑞疵検出信号Pを発生する。
すると、その発生時に、電圧信号Vxは、前述したよう
な高周波成分vhが載った波形となるので、高周波分離
フィル゛り12は該高周波成分vhを分離して出力し、
比較器13がHレベルの瑞疵検出信号Pを発生する。
このとき、比較器20からの出力信号もHレベルとなっ
て、アンドゲート21がらフリップフロップ15へ信号
が出力され、この信号によりフリップフロップ15がセ
ットされてそのセット出力により警報表示灯16が点灯
し、瑞疵部が発生したことがオペレータ等に報知される
。また、これと同時にパルス計数器17を通して計数値
表示器18により暇疵部発生回数が表示される。
て、アンドゲート21がらフリップフロップ15へ信号
が出力され、この信号によりフリップフロップ15がセ
ットされてそのセット出力により警報表示灯16が点灯
し、瑞疵部が発生したことがオペレータ等に報知される
。また、これと同時にパルス計数器17を通して計数値
表示器18により暇疵部発生回数が表示される。
なお、しきい値電圧設定器19と比較器20とは、スイ
ッチング素子のスイッチング動作に起因するスイッチン
グ信号Vsを除去して、このスイッチング信号V、sを
誤って瑞疵部発生時の高周波成分として検出するのを防
止するために設けられている。スイッチング信号Vsの
除去については、このスイッチング信号Vsがスイッチ
ング素子に与えられるトリガ信号に同期することから、
比較器13が送出する電圧パルス列から該トリガ信号に
同期する電圧パルスを除去するようにしてもよい。
ッチング素子のスイッチング動作に起因するスイッチン
グ信号Vsを除去して、このスイッチング信号V、sを
誤って瑞疵部発生時の高周波成分として検出するのを防
止するために設けられている。スイッチング信号Vsの
除去については、このスイッチング信号Vsがスイッチ
ング素子に与えられるトリガ信号に同期することから、
比較器13が送出する電圧パルス列から該トリガ信号に
同期する電圧パルスを除去するようにしてもよい。
このようにして暇疵の発生が検出され、警報表示灯1G
および計数値表示器18によりオペレータ等に報知され
るのである。
および計数値表示器18によりオペレータ等に報知され
るのである。
[発明が解決しようとする問題点コ
ところで、樹脂被膜2を有する金属複合材料Aを自動車
の車体材料等に適用する場合、コイル材やシート材を適
当サイズの切り板にして使用するが、このとき、上述し
た従来の抵抗溶接時の瑕疵発生検出手段では1次のよう
な問題が生じる。
の車体材料等に適用する場合、コイル材やシート材を適
当サイズの切り板にして使用するが、このとき、上述し
た従来の抵抗溶接時の瑕疵発生検出手段では1次のよう
な問題が生じる。
つまり、切り板材のエツジ部にはパリ(金属複合材料A
の切断時に生じるもの)が存在するために、抵抗溶接の
初期時には、このパリ間に飛ぶスパークによる第3図(
a)、(b)に示すようなスパーク信号Vaが、高周波
分離フィルタ12を通過することになる。
の切断時に生じるもの)が存在するために、抵抗溶接の
初期時には、このパリ間に飛ぶスパークによる第3図(
a)、(b)に示すようなスパーク信号Vaが、高周波
分離フィルタ12を通過することになる。
また、第3図(a)、(b)に示すように1本来の溶接
個所での溶接が行なわれる時の溶接信号vbも高周波分
離フィルタ12を通過することがある。
個所での溶接が行なわれる時の溶接信号vbも高周波分
離フィルタ12を通過することがある。
従って、これらの信号Va、Vbが高周波分離後の波形
に含まれるため、高周波成分vhのみを取り出して暇疵
の発生を確実に検出するのは極めて困難となっている。
に含まれるため、高周波成分vhのみを取り出して暇疵
の発生を確実に検出するのは極めて困難となっている。
パリによるスパーク信号Vaの発生を防止すべく、エツ
ジ部のパリ取りを行なうことも考えられるが、このパリ
取り作業は、樹脂被膜2の厚さが100μm以下と薄い
ため、研磨等によっても効果的に行なわれず、多大な手
間とコストとを要する。
ジ部のパリ取りを行なうことも考えられるが、このパリ
取り作業は、樹脂被膜2の厚さが100μm以下と薄い
ため、研磨等によっても効果的に行なわれず、多大な手
間とコストとを要する。
本発明は、このような問題点解決しようとするもので、
金属複合材料に抵抗溶接を施す場合に生じた焼けや穴開
き等の暇疵部を、自動的に且つ高い信頼性をもって確実
に検出することができるようにした、抵抗溶接時の瑕疵
発生検出方法を得ることを目的としている。
金属複合材料に抵抗溶接を施す場合に生じた焼けや穴開
き等の暇疵部を、自動的に且つ高い信頼性をもって確実
に検出することができるようにした、抵抗溶接時の瑕疵
発生検出方法を得ることを目的としている。
[問題点を解決するための手段]
このため、本発明の抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法は、
一対の溶接電極間(もしくは同溶接電極の当接する金属
間)の電圧または電流を検出して、その検出信号を、溶
接電源周波数よりも大である周波数を持つ高周波成分を
通過させる高周波分離フィルタに通し、さらに、上記検
出信号の最初の数周期以降の数周期分のみを通過させる
ゲートに通して、このゲートの出力信号に上記高周波成
分が含まれている場合に瑕疵検出信号を発生せしめるこ
とを特徴としている。
一対の溶接電極間(もしくは同溶接電極の当接する金属
間)の電圧または電流を検出して、その検出信号を、溶
接電源周波数よりも大である周波数を持つ高周波成分を
通過させる高周波分離フィルタに通し、さらに、上記検
出信号の最初の数周期以降の数周期分のみを通過させる
ゲートに通して、このゲートの出力信号に上記高周波成
分が含まれている場合に瑕疵検出信号を発生せしめるこ
とを特徴としている。
[作 用]
上述の本発明の抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法では、金
属複合材料に当接する一対の溶接電極間(もしくは同溶
接電極の当接する金属間)の電圧または電流が検出され
、その検出信号が、高周波分離フィルタを通さ九で、溶
接電源周波数よりも大である周波数をもつ高周波成分が
分離される。
属複合材料に当接する一対の溶接電極間(もしくは同溶
接電極の当接する金属間)の電圧または電流が検出され
、その検出信号が、高周波分離フィルタを通さ九で、溶
接電源周波数よりも大である周波数をもつ高周波成分が
分離される。
そして、上記高周波分離フィルタを通過した検出信号は
、ゲートを通され同検出(H号の最初の数周期以降の数
周期分のみを取り出された後、このゲートを通過した同
ゲートからの出力信号に上記高周波成分が含まれている
場合に、瑕疵検出信号が発生され、抵抗溶接初期時に発
生するパリによるスパーク信号や本来の溶接時における
溶接信号が暇疵発生時の高周波成分と誤って検出される
ことはなくなる。
、ゲートを通され同検出(H号の最初の数周期以降の数
周期分のみを取り出された後、このゲートを通過した同
ゲートからの出力信号に上記高周波成分が含まれている
場合に、瑕疵検出信号が発生され、抵抗溶接初期時に発
生するパリによるスパーク信号や本来の溶接時における
溶接信号が暇疵発生時の高周波成分と誤って検出される
ことはなくなる。
[発明の実施例]
以下、図面により本発明の一実施例としての抵抗溶接時
の珊疵発生検出方法について説明すると。
の珊疵発生検出方法について説明すると。
第1図は本方法を適用される装置および本方法の手順を
説明するためのブロック図、第2図は上記装置の動作状
態を説明するためのタイミングチャートであるが、これ
を説明する前に1本発明の原理について説明する。
説明するためのブロック図、第2図は上記装置の動作状
態を説明するためのタイミングチャートであるが、これ
を説明する前に1本発明の原理について説明する。
本発明者等は、実験を繰り返した結果、焼けや穴開き等
の瑞疵部に起因する高周波成分vhが、第3図(a)、
(b)に示すように、金属複合材料の切り板エツジ部の
パリによるスパーク信号Vaと。
の瑞疵部に起因する高周波成分vhが、第3図(a)、
(b)に示すように、金属複合材料の切り板エツジ部の
パリによるスパーク信号Vaと。
本来の溶接時における溶接信号vbとの間で発生するこ
とを発見した。
とを発見した。
即ち、スパーク信号Vaは、溶接電源周期の第1周期あ
るいは数周期までに発生し、暇疵部に起因して発生する
高周波成分vhよりも時間的に早く発生する一方、本来
の溶接個所で鋼板が次第に加熱されて溶接が行なわれれ
ば、その電極直下の個所が短絡部となるので、溶接信号
vbの発生以降には、高周波成分vhが発生しないので
ある。
るいは数周期までに発生し、暇疵部に起因して発生する
高周波成分vhよりも時間的に早く発生する一方、本来
の溶接個所で鋼板が次第に加熱されて溶接が行なわれれ
ば、その電極直下の個所が短絡部となるので、溶接信号
vbの発生以降には、高周波成分vhが発生しないので
ある。
本発明の方法は、スパーク信号vaと溶接信号vbとの
間(最初の数周期以降の数周期分)に検出される高周波
成分の有無に基づいて、上記暇疵部の発生の有無を判定
するものである。
間(最初の数周期以降の数周期分)に検出される高周波
成分の有無に基づいて、上記暇疵部の発生の有無を判定
するものである。
なお、第1図において、第4図により説明した従来手段
に係る装置と同一の符号はほぼ同一の部分を示すので、
その説明は省略する。
に係る装置と同一の符号はほぼ同一の部分を示すので、
その説明は省略する。
第1図において、30はスイッチング信号除去回路であ
り、このスイッチング信号除去回路30は、第4図に示
したしきい値電圧設定器19および比較器20に代わっ
て設けられ、スイッチング素子のスイッチング動作に起
因するスイッチング信号Vsを除去しこのスイッチング
信号vSを誤って暇疵部発生時の高周波成分として検出
するのを防止するものであって、スイッチング素子に与
えられるトリガ信号(即ち、スイッチング信号Vs)に
同期して、第2図に示すような一定パルス幅の負論理信
号をアンドゲート21へ出力するものである。
り、このスイッチング信号除去回路30は、第4図に示
したしきい値電圧設定器19および比較器20に代わっ
て設けられ、スイッチング素子のスイッチング動作に起
因するスイッチング信号Vsを除去しこのスイッチング
信号vSを誤って暇疵部発生時の高周波成分として検出
するのを防止するものであって、スイッチング素子に与
えられるトリガ信号(即ち、スイッチング信号Vs)に
同期して、第2図に示すような一定パルス幅の負論理信
号をアンドゲート21へ出力するものである。
そして、31は初期除去周期数設定器、32は検出周期
数設定器、33は検出周期範囲発生回路であり、初期除
去周期数設定器31は、スパーク信号Vsによる高周波
成分がアントゲ−、ト21を通過するのを阻止すべく、
比較器13からのデータの検出を行なわない最初の数周
期(溶接電源10からの電源電圧のスイッチング周期を
基準とする)を検出周期範囲発生回路33へ出力して設
定するものである。
数設定器、33は検出周期範囲発生回路であり、初期除
去周期数設定器31は、スパーク信号Vsによる高周波
成分がアントゲ−、ト21を通過するのを阻止すべく、
比較器13からのデータの検出を行なわない最初の数周
期(溶接電源10からの電源電圧のスイッチング周期を
基準とする)を検出周期範囲発生回路33へ出力して設
定するものである。
また、検出周期数設定器32は、溶接信号vbによる高
周波成分がアンドゲート21を通過するのを阻止すべく
、初期除去周期数設定器31により設定された最初の数
周期以降において、比較器13からのデータがアンドゲ
ート21を通過できる期間、即ち比較器13からのデー
タの検出を行なう期間を、上記スイッチング周期の周期
数に基づき検出周期範囲発生回路33へ出力して設定す
るものである。
周波成分がアンドゲート21を通過するのを阻止すべく
、初期除去周期数設定器31により設定された最初の数
周期以降において、比較器13からのデータがアンドゲ
ート21を通過できる期間、即ち比較器13からのデー
タの検出を行なう期間を、上記スイッチング周期の周期
数に基づき検出周期範囲発生回路33へ出力して設定す
るものである。
さらに、検出周期範囲発生回路33は、初期除去周期数
設定器31および検出周期数設定器32からの設定信号
により、比較器13からのデータがアンドゲート21を
通過できる範囲、即ち比較器13からのデータの検出を
行なう範囲を、第2図に示すように、Hレベルの論理信
号としてアンドゲート21八出力し設定するものである
。
設定器31および検出周期数設定器32からの設定信号
により、比較器13からのデータがアンドゲート21を
通過できる範囲、即ち比較器13からのデータの検出を
行なう範囲を、第2図に示すように、Hレベルの論理信
号としてアンドゲート21八出力し設定するものである
。
上述のように構成された装置を用いて、本発明の一実施
例としての抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法は次のように
実施される。
例としての抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法は次のように
実施される。
つまり、抵抗溶接は、溶接電源10から電極4゜4間へ
スイッチングされた電力(商用周波数)を供給すること
により行なわれ、このとき、鋼板1゜1間の電圧を電圧
検出器11で検出する。
スイッチングされた電力(商用周波数)を供給すること
により行なわれ、このとき、鋼板1゜1間の電圧を電圧
検出器11で検出する。
この電圧検出器11で検出された検出電圧信号[第3図
(a)参照コは、高周波分離フィルタ12により、高周
波成分のみに分離されて[第3図(b)参照]比較器1
3へ出力される。
(a)参照コは、高周波分離フィルタ12により、高周
波成分のみに分離されて[第3図(b)参照]比較器1
3へ出力される。
そして、比較器13は、入力された高周波分層フィルタ
12からの信号がしきい値電圧設定器14により設定さ
れた電圧以上となると、第2図に示すように、Hレベル
の論理信号をアンドゲート21へ出力する。
12からの信号がしきい値電圧設定器14により設定さ
れた電圧以上となると、第2図に示すように、Hレベル
の論理信号をアンドゲート21へ出力する。
一方、アンドゲート21には、スイッチング信号除去回
路30から、スイッチング素子に与えられるトリガ信号
(即ち、スイッチング信号Vs)に同期した第2図に示
すような一定パルス幅の負論理信号が入力され、この負
論理信号によりスイッチング素子のスイッチング動作に
起因するスイッチング信号Vsが除去されて、このスイ
ッチング信号Vsを誤って理法部発生時の高周波成分と
して検出するのを防止できるようになっている。
路30から、スイッチング素子に与えられるトリガ信号
(即ち、スイッチング信号Vs)に同期した第2図に示
すような一定パルス幅の負論理信号が入力され、この負
論理信号によりスイッチング素子のスイッチング動作に
起因するスイッチング信号Vsが除去されて、このスイ
ッチング信号Vsを誤って理法部発生時の高周波成分と
して検出するのを防止できるようになっている。
また、アンドゲート21に検出周期範囲発生回路33か
ら入力されるHレベルの論理信号により、比較器13か
らのデータを検出すべき範囲が設定され、第2図に示す
ように、この範囲の期間において発生するスイッチング
信号Vs以外の信号がアンドゲート21を通過する。つ
まり、理法検出信号Pとして検出すべき高周波成分vh
が存在する場合には、この高周波成分vhのみが、第2
図に示すように、アンドゲート21を通過する。
ら入力されるHレベルの論理信号により、比較器13か
らのデータを検出すべき範囲が設定され、第2図に示す
ように、この範囲の期間において発生するスイッチング
信号Vs以外の信号がアンドゲート21を通過する。つ
まり、理法検出信号Pとして検出すべき高周波成分vh
が存在する場合には、この高周波成分vhのみが、第2
図に示すように、アンドゲート21を通過する。
従って、検出周期範囲発生回路33によって設定される
最初の数周期以降の数周期分の論理信号(検出された電
圧信号に基づくもので、比較器13から出力されたもの
)のみが、アンドゲート21を通過すべきデータの対象
となり、エツジパリのスパーク信号Vaおよび本来の溶
接時における溶接信号vbに基づく高周波成分が、理法
検出信号Pとして誤ってアンドゲート21を通過するこ
とはなく、理法が発生した場合のみその暇疵発生による
高周波成分vhが確実に検出さ、れ、フリップフロップ
15がセットされてそのセット出力により表示灯16が
点灯し、珊疵部の発生がオペレータ等に報知されるので
ある。
最初の数周期以降の数周期分の論理信号(検出された電
圧信号に基づくもので、比較器13から出力されたもの
)のみが、アンドゲート21を通過すべきデータの対象
となり、エツジパリのスパーク信号Vaおよび本来の溶
接時における溶接信号vbに基づく高周波成分が、理法
検出信号Pとして誤ってアンドゲート21を通過するこ
とはなく、理法が発生した場合のみその暇疵発生による
高周波成分vhが確実に検出さ、れ、フリップフロップ
15がセットされてそのセット出力により表示灯16が
点灯し、珊疵部の発生がオペレータ等に報知されるので
ある。
そして、従来と同様に、金属複合材料Aに焼けや穴開き
等の瑞疵部が発生しない正常溶接時には。
等の瑞疵部が発生しない正常溶接時には。
電圧信号Vxは電源周波数f0で正弦変化する電源電圧
成分Vだけであるので、高周波分離フィルタ12の出力
はなく、比較器13の出力はLレベルにあり、瑕疵検出
信号Pは出力されず、警報表示灯16は駆動されない。
成分Vだけであるので、高周波分離フィルタ12の出力
はなく、比較器13の出力はLレベルにあり、瑕疵検出
信号Pは出力されず、警報表示灯16は駆動されない。
このように、本実施例では、スパーク信号Vaと溶接信
号vbとの間(最初の数周期以降の数周期分)に検出さ
れる高周波成分の有無に基づいて、上記理法部の発生の
有無が判定されるので、上記の信号Va、Vbが理法部
発生の際に生じた高周波成分と間違って検出されるのを
防止でき、暇疵部発生に起因する高周波成分vhのみを
取り出せるのであり、理法の発生を高い信頼性をもって
確実に検出できるようになる。
号vbとの間(最初の数周期以降の数周期分)に検出さ
れる高周波成分の有無に基づいて、上記理法部の発生の
有無が判定されるので、上記の信号Va、Vbが理法部
発生の際に生じた高周波成分と間違って検出されるのを
防止でき、暇疵部発生に起因する高周波成分vhのみを
取り出せるのであり、理法の発生を高い信頼性をもって
確実に検出できるようになる。
従って、本実施例によれば、金属複合材料Aの抵抗溶接
時に発生する鋼板1,1表面の焼けや穴開き等の理法部
の発生を確実に検出できるだけでなく、金属複合材料A
を切り板にして自動車の車体材料等に用いる場合に、こ
の切り板のエツジ部にパリが生じていても、このパリに
よる検出電圧信号中の高周波成分を理法部発生による高
周波成分と間違うことはなく、多大な手間やコストのか
かるパリ取り作業を省くことができる利点もある。
時に発生する鋼板1,1表面の焼けや穴開き等の理法部
の発生を確実に検出できるだけでなく、金属複合材料A
を切り板にして自動車の車体材料等に用いる場合に、こ
の切り板のエツジ部にパリが生じていても、このパリに
よる検出電圧信号中の高周波成分を理法部発生による高
周波成分と間違うことはなく、多大な手間やコストのか
かるパリ取り作業を省くことができる利点もある。
なお、上記実施例では、鋼板1,1間の電圧を□取り出
すようにしているが、溶接電極4,4間の電圧を取り出
すようにしてもよく、また、電圧ではなく、電流を取り
呂し、これを電圧信号に変換して高周波分離フィルタ1
2に入力する構成としても同様の効果を得ることができ
る。
すようにしているが、溶接電極4,4間の電圧を取り出
すようにしてもよく、また、電圧ではなく、電流を取り
呂し、これを電圧信号に変換して高周波分離フィルタ1
2に入力する構成としても同様の効果を得ることができ
る。
また、上記実施例では、初期除去周期数設定器31、検
出周期数設定器32および検出周期範囲発生回路33に
より溶接電源1oからの電源電圧のスイッチング周期に
同期させて検出範囲を設定しているが、上記スイッチン
グ周期に関係なく、溶接開始から一定時間経過後に検出
を開始し、さらに一定時間経過後に検出を終了させるよ
うにしてもよい。
出周期数設定器32および検出周期範囲発生回路33に
より溶接電源1oからの電源電圧のスイッチング周期に
同期させて検出範囲を設定しているが、上記スイッチン
グ周期に関係なく、溶接開始から一定時間経過後に検出
を開始し、さらに一定時間経過後に検出を終了させるよ
うにしてもよい。
さらに、上記実施例では、上記スイッチング動作に起因
するスイッチング信号Vsがトリガ信号に同期すること
から、比較器13が送出する電圧パルス列から該トリガ
信号に同期する電圧パルスをスイッチング信号除去回路
30により除去するように構成したが、第4図に示す従
来のものと同様に、しきい値電圧設定器19と比較器2
0とを用いて、上記スイッチング信号Vsを除去するよ
うにしてもよい。また、このスイッチング信号Vsが周
期性を有しており、スパークが発生すると比較器13が
送出する電圧パルス列は周期性を失うので、該周期性が
くずれた場合に上記理法部が発生したものと判定するよ
うにしてもよい。
するスイッチング信号Vsがトリガ信号に同期すること
から、比較器13が送出する電圧パルス列から該トリガ
信号に同期する電圧パルスをスイッチング信号除去回路
30により除去するように構成したが、第4図に示す従
来のものと同様に、しきい値電圧設定器19と比較器2
0とを用いて、上記スイッチング信号Vsを除去するよ
うにしてもよい。また、このスイッチング信号Vsが周
期性を有しており、スパークが発生すると比較器13が
送出する電圧パルス列は周期性を失うので、該周期性が
くずれた場合に上記理法部が発生したものと判定するよ
うにしてもよい。
なお、金属複合材料は、上記実施例のものに限定される
ものではなく、鋼板等金属の表面に樹脂被膜もしくは樹
脂層を有するものであれば、本発明を実施して同様の効
果を得ることができる。
ものではなく、鋼板等金属の表面に樹脂被膜もしくは樹
脂層を有するものであれば、本発明を実施して同様の効
果を得ることができる。
また、上記実施例は、鋼板の表面に樹脂被膜を有す・る
金属複合材料の重ね合わせ抵抗溶接の場合であるが、本
発明はこれに限定されるものではなく、ジグルダイレク
トスポット溶接、シリーズ溶接、マルチ溶接等の通常用
いられている重ね合わせ抵抗溶接に実施しても同様の効
果を得ることができる。
金属複合材料の重ね合わせ抵抗溶接の場合であるが、本
発明はこれに限定されるものではなく、ジグルダイレク
トスポット溶接、シリーズ溶接、マルチ溶接等の通常用
いられている重ね合わせ抵抗溶接に実施しても同様の効
果を得ることができる。
[発明の効果]
以上詳述したように、本発明の抵抗溶接時の堰疵発生検
出方法によれば、取り出された電圧信号もしくは電流信
号の最初の数周期以降の数周期分について、脹れ、焼け
や穴開き等の理法部発生時に溶接電極間の電圧やこれを
通して流れる電流に現われる高周波成分を分離・検出し
て上記瑞疵部発生を検出する構成としたことにより、瑞
疵の発生を高い信頼性をもって確実に検出できるように
なり、金属複合材料溶接品の生産性および信頼性を大幅
に向上することができる利点がある。
出方法によれば、取り出された電圧信号もしくは電流信
号の最初の数周期以降の数周期分について、脹れ、焼け
や穴開き等の理法部発生時に溶接電極間の電圧やこれを
通して流れる電流に現われる高周波成分を分離・検出し
て上記瑞疵部発生を検出する構成としたことにより、瑞
疵の発生を高い信頼性をもって確実に検出できるように
なり、金属複合材料溶接品の生産性および信頼性を大幅
に向上することができる利点がある。
また、金属複合材料を切り板にして用いる場合に、この
切り板のエツジ部にパリが生じていても。
切り板のエツジ部にパリが生じていても。
このパリによる電圧信号もしくは電流信号中の高周波成
分を瑞疵部発生による高周波成分と間違うことはなく、
多大な手間やコストのかかるパリ取り作業を省くことが
できる効果もある。
分を瑞疵部発生による高周波成分と間違うことはなく、
多大な手間やコストのかかるパリ取り作業を省くことが
できる効果もある。
第1〜3図は本発明の一実施例としての抵抗溶接時の理
法発生検出方法を示すもので、第1図は本方法を適用さ
れる装置および本方法の手順を説明するためのブロック
図、第2図は上記装置の動作状態を説明するためのタイ
ミングチャート、第3図(a)、(b)は本発明の詳細
な説明するための波形図であり、第4,5図は従来の抵
抗溶接時の瑠疵発生検出手段を示すものであり、第4図
は従来手段を適用される装置および同手段の手順を説明
するためのブロック図、第5図(a)、(b)は従来手
段の原理を説明するための波形図である。 図において、1・−・鋼板、2−+M脂被被膜4・−・
−溶接電極、10−・−溶接電源、11・−電圧検出器
、12−・−高周波分離フィルタ、13−比較器、14
−L。 きい値電圧設定器、15 =−フリップフロップ、16
−・−・警報表示灯、21・−・アンドゲート、30−
スイッチング信号除去回路、31−初期除去周期数設定
器、32−検出周期数設定器、33−検出周期範囲発生
回路、A・・−金属複合材料。
法発生検出方法を示すもので、第1図は本方法を適用さ
れる装置および本方法の手順を説明するためのブロック
図、第2図は上記装置の動作状態を説明するためのタイ
ミングチャート、第3図(a)、(b)は本発明の詳細
な説明するための波形図であり、第4,5図は従来の抵
抗溶接時の瑠疵発生検出手段を示すものであり、第4図
は従来手段を適用される装置および同手段の手順を説明
するためのブロック図、第5図(a)、(b)は従来手
段の原理を説明するための波形図である。 図において、1・−・鋼板、2−+M脂被被膜4・−・
−溶接電極、10−・−溶接電源、11・−電圧検出器
、12−・−高周波分離フィルタ、13−比較器、14
−L。 きい値電圧設定器、15 =−フリップフロップ、16
−・−・警報表示灯、21・−・アンドゲート、30−
スイッチング信号除去回路、31−初期除去周期数設定
器、32−検出周期数設定器、33−検出周期範囲発生
回路、A・・−金属複合材料。
Claims (1)
- 金属表面に樹脂被膜もしくは樹脂層を形成した金属複合
材料に抵抗溶接を行なう場合において、溶接部に当接さ
れる一対の溶接電極間の電圧または電流もしくは上記溶
接電極が当接される金属間の電圧または電流を検出して
、その取り出した電圧もしくは電流信号を、溶接電源周
波数よりも大である周波数をもつ高周波成分を通過させ
る高周波分離フィルタに通すとともに、上記の取り出し
た電圧もしくは電流信号の最初の数周期以降の数周期分
を通過させるゲートに通し、このゲートの出力信号に上
記高周波成分が含まれている場合に瑕疵検出信号を発生
せしめることを特徴とする抵抗溶接時の瑕疵発生検出方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26767786A JPS63123579A (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26767786A JPS63123579A (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63123579A true JPS63123579A (ja) | 1988-05-27 |
Family
ID=17447991
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26767786A Pending JPS63123579A (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | 抵抗溶接時の瑕疵発生検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63123579A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0685289A1 (de) * | 1994-05-31 | 1995-12-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur Schweissstromregelung beim Punktschweissen mit einem Fuzzy-Messgeber zur quantifizierten Erfassung der Stärke von Schweissspritzern |
-
1986
- 1986-11-12 JP JP26767786A patent/JPS63123579A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0685289A1 (de) * | 1994-05-31 | 1995-12-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung zur Schweissstromregelung beim Punktschweissen mit einem Fuzzy-Messgeber zur quantifizierten Erfassung der Stärke von Schweissspritzern |
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