JPS63122126A - Automatic processor of chemical for substrate - Google Patents

Automatic processor of chemical for substrate

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Publication number
JPS63122126A
JPS63122126A JP61268140A JP26814086A JPS63122126A JP S63122126 A JPS63122126 A JP S63122126A JP 61268140 A JP61268140 A JP 61268140A JP 26814086 A JP26814086 A JP 26814086A JP S63122126 A JPS63122126 A JP S63122126A
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JP
Japan
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wafer
chemical
belt conveyor
chemical solution
conveyor
Prior art date
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Application number
JP61268140A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Saka
坂 好孝
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Nambu Electric Co Ltd
Original Assignee
Nambu Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nambu Electric Co Ltd filed Critical Nambu Electric Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a device for diffusing chemical to the whole surface to be processed by surface tension and automatically processing with the chemical by supplying the chemical on a belt conveyor made of an anticorrosion material, and so placing the surface to be processed by a wafer as to steadily contact it therewith. CONSTITUTION:A belt conveyor 2 surface-treated with Teflon to be used with aqueous solution of medicine 6 mixed with nitric acid and fluoric acid is provided as chemical for processing a wafer, and a buret unit 3 for supplying the chemical 6 is mounted at the upstream. A placing device 5 for placing a wafer 1 is disposed in one section 2a on the conveyor 2. When the dropped chemical 6 arrives under the wafer 1, the wafer 1 is steadily moved down by a controller 7 to be placed on the conveyor 2 while slightly collapsing the upper surface of the semispherical chemical 6. Accordingly, the chemical 6 is extended on the whole surface to be treated of the wafer 1. A unit device 4 is opposed to the exhaust end of the conveyor 2, and the wafer 1 processed with the chemical is placed on arm rods 4a, 4b by sliding.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はIC等の半導体製造用基板の表面に化学薬液に
よる処理を施す装置に間するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Field of Application) The present invention relates to an apparatus for treating the surface of a semiconductor manufacturing substrate such as an IC with a chemical solution.

(従来の技術) 半導体製造用基板(以下ウェハーと称する)製造工程に
於いて、薬液により、その表面処理を片面のみに行う処
理方法として従来は、たとえば5iO7膜やポリシリコ
ン膜等に形成されている薄膜上に新たなレジスト膜を塗
布し、このレジスト膜上から真空で吸引しながら保持し
裏面に薬液を施して処理するという工程があった。しか
しこの場合ウェハーを真空で吸引して保持しているため
裏面処理の薬液が表に廻ることが避けられず、一部下良
品となることが多く歩留りが悪く、又レジスト膜自体も
高価であり、かつ裏面の薬液処理に多くの時間が費やさ
れていた。これらの問題点を解決する処理方法として本
出願人による先の出願、昭和61年10月25日付出願
特許「基板の化学薬液処理方法」がある。
(Prior Art) In the manufacturing process of semiconductor manufacturing substrates (hereinafter referred to as wafers), the surface treatment is performed on only one side using a chemical solution. There was a process in which a new resist film was applied on top of the existing thin film, the resist film was held while being vacuumed, and a chemical solution was applied to the back surface. However, in this case, since the wafer is held by vacuum suction, it is inevitable that the chemical solution for back side treatment will be transferred to the front side, resulting in some inferior products, resulting in poor yields, and the resist film itself is expensive. In addition, a lot of time was wasted in treating the back side with a chemical solution. As a processing method that solves these problems, there is a patent application filed by the present applicant on October 25, 1986 entitled "Method for treating substrates with chemical solutions."

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は上記光の出願「基板の化学薬液処理方法」を具
体的に実現すべく装置化された基板の化学薬液自動処理
装置に関するもので、これによって既述した従来の処理
技術に対する問題点を解決するとともに自動による連続
処理を実現し、そして同時に、供給された薬液上にウェ
ハーを静かに載置し、片面処理後のウェハーを、薬液の
表面張力で付着した薬液処理面から容易に取り出そうと
するものである。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention relates to an automatic chemical liquid processing device for a substrate that is designed to specifically realize the above-mentioned application of Hikari, “Method for treating a chemical liquid for a substrate.” This solves the problems with the conventional processing technology mentioned above and realizes automatic continuous processing.At the same time, the wafer is placed gently on the supplied chemical solution, and the wafer after single-sided processing is processed using the surface tension of the chemical solution. It is intended to be easily removed from the chemical treatment surface to which it has adhered.

(問題点を解決するための手段) そこで、本発明はウェハーの化学薬液による表面処理装
置であって、少なくとも表面が前記化学薬液に対する耐
蝕性材質より成るベルトコンベアを設けて、前記ベルト
コンベアの上流側に一定量の前記化学薬液を供給する手
段を設ける。そしてこの下流側に前記ベルトコンベアの
前記化学薬液の供給された位置に化学薬液処理を施すべ
き前記ウェハーを載置せしめる手段をもうけ、更にこの
下流側には、搬送されてくる前記ウェハーを取り出す手
段を順次設けて構成したことを特徴とする基板の化学薬
液自動処理装置である。
(Means for Solving the Problems) Therefore, the present invention provides a surface treatment apparatus for wafers using a chemical solution, which includes a belt conveyor whose at least the surface is made of a material resistant to corrosion against the chemical solution, and is provided upstream of the belt conveyor. Means for supplying a certain amount of the chemical solution is provided on the side. Further, on the downstream side, there is provided a means for placing the wafer to be subjected to the chemical solution treatment at the position of the belt conveyor where the chemical solution is supplied, and further on the downstream side, there is provided a means for taking out the wafer being conveyed. This is an automatic substrate chemical processing device characterized in that it is configured by sequentially providing the following.

(実施例) 本発明の一実施例を図面に基づき説明する0本実施例の
ウェハー1の片面表面に薬液処理を施す化学薬液自動処
理装置(以下本装置という)は下記の構成より成る。す
なわち、本実施例のブロック図である第1図、及び本実
施例の概略を図示した側面図である第2図に示すごとく
、本実施例ではウェハー片面の表面に処理を施す化学薬
液として、硝酸とフッ酸を混合した水溶液の薬液6を使
用するため、前記薬液の耐蝕性材質としてテフロンを採
用している。よってウェハーの片面処理を施す場である
耐蝕性材質より成るベルトコンベアとして、前記テフロ
ンで表面処理されたベルトコンベア2を設けており、該
ベルトコンベア2は、搬送面をウェハー1枚を載置し薬
液処理するに十分な長さをもって1区画2aごとに仕切
られている。
(Embodiment) An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. An automatic chemical treatment device (hereinafter referred to as the present device) for performing chemical treatment on one side of a wafer 1 according to this embodiment has the following configuration. That is, as shown in FIG. 1, which is a block diagram of the present embodiment, and FIG. 2, which is a side view schematically illustrating the present embodiment, in this embodiment, as a chemical solution for treating one side of the wafer, Since the chemical solution 6, which is an aqueous solution containing nitric acid and hydrofluoric acid, is used, Teflon is used as a corrosion-resistant material for the chemical solution. Therefore, a belt conveyor 2 whose surface is treated with Teflon is provided as a belt conveyor made of a corrosion-resistant material, which is used for single-sided processing of wafers. Each section 2a is partitioned with a length sufficient for chemical treatment.

前記ベルトコンベア2の上流側には、一定量の前記薬液
6を供給するビューレット装置3が設置され、前記ビュ
ーレット装置3のビューレット3aそのものも、前記薬
液6で満たされるためにテフロン製である。また前記ベ
ルトコンベア2の下流側には、薬液処理済で搬送されて
くるウェハー1を取り出す移載装置4を設置しである。
A burette device 3 that supplies a certain amount of the chemical solution 6 is installed on the upstream side of the belt conveyor 2, and the burette 3a itself of the burette device 3 is also made of Teflon in order to be filled with the chemical solution 6. be. Further, on the downstream side of the belt conveyor 2, a transfer device 4 is installed to take out the wafers 1 that have been treated with a chemical solution and are being transported.

そして前記ベルトコンベア2は、前記ビューレット装置
3から、前記移載装置4へ搬送されており、その搬送途
上の前記ベルトコンベア2の両側には、前記ベルトコン
ベア2上の1区画2aにウェハー1を載置するための載
置装置5を位置付けである。そしてこれら各装置は本装
置近傍に設けられた制御装置7によって制御される。
The belt conveyor 2 is conveyed from the buret device 3 to the transfer device 4, and on both sides of the belt conveyor 2 during the conveyance, wafers are placed in one section 2a on the belt conveyor 2. This is the positioning of the mounting device 5 for mounting. Each of these devices is controlled by a control device 7 provided near the device.

上記の構成による各装置を詳細に説明すると、一定の前
記薬液6を、前記ベルトコンベア2の1区画2aの中央
に滴下する前記ビューレット装置3は、ビューレット3
aと、該ビューレット3a内の薬液6を滴下させるコッ
ク部3bと、該コック部3bを静かに180度回転させ
るために、前記コック部3bに連結された第1の小型モ
ーター3Cと、これらを支えているアーム部3dと、そ
してそれに加えて、前記ビューレット3aを垂直に維持
し、かつ垂直に上下動させるために、前記アーム部3d
の一端を同じく垂直に設けられた第1のスクリューボル
ト3eに軸着し、該第1、のスクリューボルト3eは、
本実施例の本装置に固定しである。そして前記第1のス
クリューボルト3Cは第1のモーター3fに軸止してあ
り、該第1のモーター3fの正転逆転の回転で、前記第
1のスクリューボルト3eに軸着された前記アーム部3
dは垂直に上下動する。また前記アーム部3dの上下動
とは、本装置に固定され前記アーム部3dを検知すべく
取り付けられた第1の光電センサー3gと第2の光電セ
ンサ−3h間を前記アーム部3dが前記第1のスクリュ
ーボルト3eの前記回転によって移動し、前記各光電セ
ンサー3g、3hが前記アーム部3(1,を検知するこ
とで停止する。ところで、前記ビューレット3bの排出
口は前記第1のベルトコンベア2が停止したとき、常に
1区画2aの中央をさし示めしている。
To explain each device having the above configuration in detail, the burette device 3 that drops a certain amount of the chemical solution 6 into the center of one section 2a of the belt conveyor 2 is equipped with a burette 3
a, a cock part 3b for dripping the chemical solution 6 in the buret 3a, a first small motor 3C connected to the cock part 3b to gently rotate the cock part 3b by 180 degrees, and an arm portion 3d for supporting the buret 3a;
One end is pivoted to a first screw bolt 3e also provided vertically, and the first screw bolt 3e is
It is fixed to the device of this embodiment. The first screw bolt 3C is pivotally fixed to a first motor 3f, and when the first motor 3f rotates in the forward and reverse directions, the arm portion pivoted to the first screw bolt 3e. 3
d moves up and down vertically. Further, the vertical movement of the arm portion 3d means that the arm portion 3d moves between the first photoelectric sensor 3g and the second photoelectric sensor 3h, which are fixed to the device and are attached to detect the arm portion 3d. The burette 3b is moved by the rotation of the screw bolt 3e, and stops when the photoelectric sensors 3g and 3h detect the arm part 3 (1).By the way, the discharge port of the burette 3b is connected to the first belt. When the conveyor 2 stops, it always points to the center of one section 2a.

次にウェハーの載置装置5を図示した第3図に示すごと
く、前記第1のベルトコンベア2の搬送途上に設けられ
たウェハー1の載置装置5には、前記第1のベルトコン
ベア2の載置位置の片側に、ウェハー1の収容されたウ
ェハーケース1aを、該ウェハーケース1aに収容され
たウェハー1の面が水平になるように固定したケース挟
持部5aがあり、前記ウェハーケースl器内のウェハー
面を水平に維持して上下動するために、前記挟持部5a
の一端を垂直に設けた第2のスクリューポル)5bに軸
着し、該第2のスクリューボルト5bを本装置に固定す
ることによって、前記第2のスクリューボルト5bに連
結された第2のモーター5Gの正転逆転の回転により、
前記第2のスクリューボルト5bに軸着された前記挾持
部5&は垂直に上下動可能に設けである。そして、前記
挟持部5aは本装置に取り付けられた第4の光電センサ
ー5eと第5の光電センサー5fとの間を上下動して、
まず前記第4の光電センサー5eの位置から降下し、挟
持された前記ウェハーケースl器内のウェハー1を検知
する第3の光電センサー5d(第2図に図示)が、毎回
降下してくる最初のウェハー1を検知すべく取り付けら
れた位置に、前記ウェハー1がくると、上記のごとく前
記第3の光電センサー5dによってウェハー1を検知し
、そのたびに前記第2のモーター5ぐの停止で、前記挟
持部5aにセットされた前記ウェハーケース1&は停止
する。そして前記第3の光電センサー5dによって検知
されたウェハー1に対面するように搬送面を位置づけた
第2のベルトコンベア5gがあり、前記ウェハーケース
1aからウェハー1を水平にスライドしながら取り出す
ように搬送している。
Next, as shown in FIG. 3 which shows the wafer mounting device 5, the wafer 1 mounting device 5 provided on the way of the first belt conveyor 2 has a On one side of the mounting position, there is a case holding part 5a which fixes the wafer case 1a containing the wafer 1 so that the surface of the wafer 1 accommodated in the wafer case 1a is horizontal. In order to move the wafer up and down while maintaining the wafer surface horizontally, the holding part 5a
A second motor connected to the second screw bolt 5b by pivoting one end of the second screw bolt 5b provided vertically and fixing the second screw bolt 5b to the device. Due to the forward and reverse rotation of 5G,
The clamping portion 5&, which is pivotally attached to the second screw bolt 5b, is vertically movable up and down. Then, the holding part 5a moves up and down between the fourth photoelectric sensor 5e and the fifth photoelectric sensor 5f attached to the device,
First, a third photoelectric sensor 5d (shown in FIG. 2) that descends from the position of the fourth photoelectric sensor 5e and detects the wafer 1 held in the wafer case 1 is first lowered each time. When the wafer 1 comes to the position where it is attached to detect the wafer 1, the third photoelectric sensor 5d detects the wafer 1 as described above, and each time the second motor 5 stops, the wafer 1 is detected. , the wafer case 1 & set on the holding part 5a stops. There is a second belt conveyor 5g whose conveyance surface is positioned so as to face the wafer 1 detected by the third photoelectric sensor 5d, and conveys the wafer 1 while sliding it horizontally from the wafer case 1a. are doing.

そして前記挟持部5鳳が前記第5の光電ヤンサー5fに
検知されると、前記第4の光電センサー5eに検知され
るまで上昇する。前記第2のベルトコンベア5gにウェ
ハー1が載置されると矢印A方向に搬送するとともに、
前記第2のベルトコンベア5g自体も水平に移動し、前
記第1のベルトコンベア2を挟んで対面するウェハー1
の載置部5hに向う、前記載置部5hも、前記挟持部5
aと同様に、垂直に本装置に取り付けられた第3のスク
リューボルト51に軸着され、該第3のスクリューボル
ト51に連結された第3のモーター5jの正転逆転の回
転により、本装置に前記載置部5hを検知するように設
けられた第6の光電センサー5により若干高い位置から
第7の光電センサー59.までの間を上下動する。そし
て前記載置部5hは、該載置部5hに向かって対面して
近づいてくる前記第2のベルトコンベア5gに載置され
たウェハー1をスライドして乗り移すヘラ板5m、5−
を有しており、該ヘラ板5m、5mは、第4図及び第5
図に示すごとく、平たく薄い板で、表面はテフロン処理
しである。また前記ヘラ板5m、5mを2本平行にかつ
水平に並べたとき、各ヘラ板の外側の辺部を一部残して
、内側を円弧を描いて凹型になるように曲面状に形成し
、各内側の辺は前記円弧より小さい円弧で凹状に切りか
いである。そして前記ヘラ板5m、5mを2本平行にし
て保持するために、前記ヘラ板511.5Mに固着され
た各軸の他端がそれぞれ各部2の小型モーター5 n、
 5 n!こ軸止しである。そして前記第2の小型モー
ター5n。
When the holding portion 5 is detected by the fifth photoelectric sensor 5f, it rises until it is detected by the fourth photoelectric sensor 5e. When the wafer 1 is placed on the second belt conveyor 5g, it is transported in the direction of arrow A, and
The second belt conveyor 5g itself also moves horizontally, and the wafers 1 facing each other with the first belt conveyor 2 in between are moved horizontally.
The placing portion 5h facing the placing portion 5h also faces the holding portion 5.
Similarly to a, the device is rotated by the forward and reverse rotations of the third motor 5j, which is pivoted on the third screw bolt 51 vertically attached to the device and connected to the third screw bolt 51. The seventh photoelectric sensor 59. is detected from a slightly higher position by the sixth photoelectric sensor 5 provided to detect the mounting portion 5h. Move up and down between. The mounting section 5h has spatula plates 5m, 5- which slide and transfer the wafer 1 placed on the second belt conveyor 5g which approaches the mounting section 5h facing each other.
The spatula plates 5m and 5m are shown in Figs. 4 and 5.
As shown in the figure, it is a flat, thin plate with a Teflon-treated surface. Further, when the two spatula plates 5m and 5m are arranged parallel and horizontally, the outer side of each spatula plate is partially left, and the inner side is formed into a curved shape so as to draw an arc and become concave, Each inner side is concavely notched with an arc smaller than the aforementioned arc. In order to hold the two spatula plates 5m, 5m in parallel, the other end of each shaft fixed to the spatula plates 511.5M is connected to a small motor 5n of each part 2,
5 n! The shaft is fixed. and the second small motor 5n.

5nは、直線に並んだ2本の小型コンベア5g+、59
にそれぞれ固定され、前記小型コンベア59.51)は
、前記小型コンベアsp、5oの一方に軸止された第3
の小型モーター5qの正転逆転の回転によって、搬送す
るように設けであるが、他方の小型コンベア5pは、該
小型コンベアジりに軸止されたギヤーが前記第3の小型
モーター5qに軸止されたギヤーと噛合して、正転逆転
の回転するため、2枚の前記ヘラ板5謡、5−は同時に
同じ速さで接近し、また同時に同じ速さで離れるように
動く、また各ヘラ板5−15論は、前記第2の小型モー
ター5n。
5n is two small conveyors 5g+, 59 lined up in a straight line.
The small conveyors 59 and 51) are fixed to the third conveyor sp and 5o, respectively, and the third conveyor 59, 51) is
The other small conveyor 5p is configured to convey by the forward and reverse rotation of the small motor 5q, and the gear of the other small conveyor 5p is fixed to the third small motor 5q. Because the two spatula plates 5 and 5 move toward each other at the same speed and move away from each other at the same speed, each spatula plate rotates in the forward and reverse directions. Theory 5-15 is the second small motor 5n.

5nに軸止しであるので、前記ヘラ板5 m、 5 m
自体も正転逆転に回転することができる。既述のごとく
構成された載置部5hが降下すると、前記ヘラ板511
.5mは真下を搬送する前記ベルトコンベア2の搬送方
向矢印B方向と直角に交叉し、同時に1区画2aに相対
するように設置されている。
Since the shaft is fixed at 5n, the spatula plates 5m, 5m
It can also rotate in both forward and reverse directions. When the mounting portion 5h configured as described above descends, the spatula plate 511
.. 5 m is installed so as to intersect at right angles to the conveying direction arrow B direction of the belt conveyor 2 conveying directly below, and at the same time to face one section 2a.

そして、前記搬送コンベア2の下流側に設けられた、薬
液処理済のウェハー1を取り出す移載装置4は(第2図
に図示)テフロン処理されたアーム棒4m、4aを平行
にして、前記ベルトコンベア2の排出端を山に、傾斜を
つけて望ませ、前記ベルトコンベア2の搬送とともに、
前記薬液処理済のウェハー1が押し出されることで、前
記アーム棒4m、4mに載せられると、前記移載装置4
によって回動して、次工程の処理装置(図示せず)へ移
載される、ところで、前記アーム棒4m、4mが上下に
回動すると、次工程の処理装置への移載が無理な〈実施
できる。
A transfer device 4 (shown in FIG. 2) for taking out the chemically treated wafer 1 provided on the downstream side of the transport conveyor 2 holds the Teflon-treated arm rods 4m and 4a parallel to each other. The discharge end of the conveyor 2 is made to look like a mountain with an inclination, and along with the conveyance of the belt conveyor 2,
When the chemically treated wafer 1 is pushed out and placed on the arm bars 4m, 4m, the transfer device 4
By the way, if the arm rods 4m, 4m are rotated up and down, it is impossible to transfer to the processing equipment for the next process. Can be implemented.

以上の構成からなる各装置は、制御装置7の制御に基づ
いて動作している。そこで本実施例の薬液自動処理装置
でのウェハー1の片面処理手順を、前記制御装置7の働
きとともに詳細に説明する。
Each device configured as described above operates under the control of the control device 7. Therefore, the single-sided processing procedure of the wafer 1 in the automatic chemical processing apparatus of this embodiment will be explained in detail together with the function of the control device 7.

各装置が待機状態にあることを確認することによって動
作が開始される。すなわち、ビューレット装置3の待機
状態は、アーム部3dが第1の光電センサー3gに検知
されて、停止している状態である。また載置装置5では
、挟持部5aにおいて、第3の光電センサー5dがウェ
ハー1を検知して第2のベルトコンベア5gの搬送面に
、前記ウェハー1が接している状態であり、載置部5h
においては、ヘラ板5 (5曽にウェーハー1が載せら
れ、前記第2のベルトコンベア5gの搬送面から若干高
い位置に待機している。すなわち前記載置部5hは、第
6の光電センサー5kに検知されて停止している状態か
ら若干高い位置が待機状態である。そこで、前記第1の
光電センサー3gからの第1の待機信号、第1のベルト
コンベア2の駆動モーター2bからの停止信号、載置装
置5からの載置信号、及び移載装置4からの第2の待機
信号をうけて、前記制御袋M7から前記ビューレット装
置3に対して滴下指令が出力されると、前記第1の光電
センサー3gに停止している前記アーム部3dが、第1
のモーター3fの回転により静かに降下する。そして第
2の光電センサー3hが前記アーム部3dを検知すると
、前記第1のモーター3fが停止する。この時、前記ビ
ューレット3aの排出口と前記第゛1のベルトコンベア
2間は、前記薬液6をはねることなく滴下させるための
間隔を有して停止する。前記第1のモーター3fが停止
すると、前記ビューレット3aのコック部3bに連結さ
れた第1の小型モーター3Cを180度回板回転る。前
記コック部3bの回転によって、この回転の一部の間、
前記コック部3bが前記ビューレット3a内の薬液流出
通路をさえぎった状態から、開通する状態を生じ、この
開通した状態の間に、前記薬液6を約lee〜1.5c
c滴下するように前記小型モーターの回転速度が調節さ
れている。
Operation begins by confirming that each device is in a standby state. That is, the standby state of the buret device 3 is a state in which the arm portion 3d is detected by the first photoelectric sensor 3g and is stopped. Further, in the mounting device 5, the third photoelectric sensor 5d detects the wafer 1 in the holding section 5a, and the wafer 1 is in contact with the conveying surface of the second belt conveyor 5g, and the wafer 1 is in contact with the conveying surface of the second belt conveyor 5g. 5h
, the wafer 1 is placed on a spatula plate 5 (5) and is waiting at a position slightly higher than the conveying surface of the second belt conveyor 5g. That is, the mounting portion 5h is placed on the sixth photoelectric sensor 5k. The standby state is at a position slightly higher than the stopped state detected by the sensor.Therefore, the first standby signal from the first photoelectric sensor 3g and the stop signal from the drive motor 2b of the first belt conveyor 2. , when a dropping command is outputted from the control bag M7 to the buret device 3 in response to the loading signal from the loading device 5 and the second standby signal from the transfer device 4. The arm portion 3d stopped at the first photoelectric sensor 3g is connected to the first photoelectric sensor 3g.
It descends quietly by the rotation of the motor 3f. When the second photoelectric sensor 3h detects the arm portion 3d, the first motor 3f stops. At this time, the gap between the discharge port of the buret 3a and the first belt conveyor 2 is maintained so that the chemical solution 6 can be dropped without splashing. When the first motor 3f stops, the first small motor 3C connected to the cock portion 3b of the burette 3a is rotated 180 degrees. Due to the rotation of the cock part 3b, during a part of this rotation,
The cock portion 3b changes from the state in which the liquid outflow passage in the buret 3a is blocked to the state in which it opens, and during this opened state, the liquid medicine 6 is poured into the liquid at a rate of about lee to 1.5 cm.
The rotational speed of the small motor is adjusted so that c.

前記排出口から滴下した前記薬液6は、前記第1のベル
トコンベア2上に設けられた1区画2aの中心に表面張
力により半球状に供給される。前記小型モーター3cが
180度回板回転停止すると、今度は前記第1のモータ
ー3fの逆回転によって、第1のスクリューボルト3e
が逆回転し、前記アーム部3dを前記第1の光電センサ
ー3gが検知するまで静かに上昇し停止する。ところで
前記ビューレット3aに満たされた前記薬液6は、連続
的に前記薬液6を、前記ビューレット3aに点滴する従
来の装置によって常に補充されている。前記ビューレッ
ト装置3が再び待機位置に停止すると、前記制御装置7
に対して、第1の待機信号を出力する。既述のごとく前
記制御装置7から前記ビューレット装置3に対して、滴
下指令が出されると、同時に前記載置装置5には同じく
待機状態であることを確認して載置指令を出力する。前
記制御装置7からの載置指令を受けた前記載置装置5で
は、第5図−(イ)のようにすでにヘラ板5+*、5−
にウェハーを載せて待機しており、第3のモーター5j
の回転により、連結された第3のスクリューボルト51
が回転する。これによって待機位置に停止していた載置
部5hが降下し、第7の光電センサー51が検知するこ
とによって停止する。前記載置部5hが停止したとき、
前記ヘラ板5m、5+aに載置されたウェハー1は、前
記第1のベルトコンベア2の1区画2aに供給された前
記薬液6に触れないだけの間隔を保って停止する。前記
第7の光電センサー5rLの検知信号により、前記第3
のモーター5jが停止すると、各ヘラ板5m、5mに連
結された第2の小型モーター5n、5nが、第5図−(
ロ)に図示するように前記ヘラ板5 m、 5 mが半
円球の前記薬液6をはさむように載置されたウェハー1
の外側に対する前記ヘラ板5 m、 5 vaの辺を立
て、谷をつくるように回転し、7字を形成して停止する
。そして続いて、第5図(ハ)〜(ホ)に図示したごと
く、前記ヘラ板5m、5mは、それぞれ離れるように両
側へ広がる。該ヘラ板5m、5mの動きによって、ウェ
ハー1は前記第1のベルトコンベア2に対して、ゆっく
りと静かに降下し前記ヘラ板5論、5輸に形成された湾
曲した曲面の円弧に、ウェハー1の円周が当接し、除々
に降下し、前記第1のベルトコンベア2の1区画2aに
滴下された前記薬液6の上面からゆっくり少しづつ押し
つぶしながら前記第1のベルトコンベア2に置かれるた
め、より自然な表面張力が期待でき、ウェハー1の処理
面の全面に前記薬液6が広がりながら浸る。ウェハー1
が前記第1のベルトコンベア2に置かれると、前記ヘラ
板5m、5mを有する載置部5hは前記第3のスクリュ
ーボルト51の逆回転によって上昇し、前記第6の光電
センサー5kに検知されて停止する。この上昇の間に、
前記ヘラ板5繭、5輪は互いに初期状態に戻り、ウェハ
ーの直径より狭く第2のベルトコンベア51の幅より広
い間隔で接近し、ヘラ板5m+、5mを水平にする。そ
して同時に前記制御装置7に対して、載置信号を出力す
る。前記第6の光電センサー5にの検知によって、前記
載置部5hが一時停止すると、このときすでに第3の充
電センサー5dが挟持部5aの降下により、挟持された
ウェハーケース1a内のウェハー1を検知し、前記第2
のベルトコンベア5gによって取り出されるべく待って
いる。すなわち前記第6の光電センサー5にの検知信号
によって、前記第2のベルトコンベア511が動作し、
該コンベア5gの矢印A方向への搬送によってウェハー
1を平行に取り出し、前記第2のベルトコンベア5gを
搬送させつつ、該コンベア5g自身も矢印A方向に移動
し、この移動方向に対面した前記ヘラ板5+*、5m上
に載置すると、前記第2のベルトコンベア5gが最大突
き出し位置に達したことを確認して、再び前記載置部5
hが前記第3のモーター5jの逆回転により、若干上昇
する。そして制御装置7からの′a1指令を待つ、前記
第2のベルトコンベア511は前記載置部5hの停止に
よって、次のウェハー1を移載すべく前記ウェハーケー
スb ウェハー1の取り出し位置に前記ベルトコンベア5gが
待機すると、前記第3の光電センサー5dが次のウェハ
ー1を検知するまで、前記ウェハーケース1aを降下さ
せる。そして前記第3の光電センサー5dが次のウェハ
ー1を検知することによって、前記ベルトコンベア5g
の搬送面にウェハー1が当接して停止する。ところで挟
持部5aを第5の光電センサー5fが検知すると、すべ
てのウェハーが取り出されたとしてウェハーケース1a
が交換される。また前記第1のベルトコンベア2の排出
端には移載装置4が対面しており、前記第1のベルトコ
ンベア2の1区画2aの移動で、前記移載装置4にアー
ム棒4m、4mに薬液処理済のウェハー1がスライドし
て載せられるため、前記薬液6の表面張力で付着したウ
ェハー1をむりなくベルトコンベア2の薬液処理面から
とりだせる。
The chemical liquid 6 dripped from the discharge port is supplied to the center of one section 2a provided on the first belt conveyor 2 in a hemispherical shape due to surface tension. When the small motor 3c stops rotating by 180 degrees, the first screw bolt 3e is rotated in the opposite direction by the first motor 3f.
rotates in the opposite direction, rises quietly until the arm portion 3d is detected by the first photoelectric sensor 3g, and then stops. By the way, the chemical solution 6 filled in the burette 3a is always replenished by a conventional device that continuously drips the drug solution 6 into the buret 3a. When the buret device 3 stops again at the standby position, the control device 7
A first standby signal is output to the terminal. As described above, when the control device 7 issues a dropping command to the buret device 3, at the same time, it confirms that it is in the standby state and outputs a placing command to the placing device 5. The mounting device 5 that has received the mounting command from the control device 7 has already placed the spatula plates 5+*, 5- as shown in FIG. 5-(a).
The third motor 5j is waiting with a wafer placed on it.
As the third screw bolt 51 is rotated, the connected third screw bolt 51
rotates. As a result, the mounting portion 5h that has been stopped at the standby position is lowered and stopped when detected by the seventh photoelectric sensor 51. When the aforementioned mounting section 5h stops,
The wafers 1 placed on the spatula plates 5m and 5+a stop at a distance that is sufficient to prevent them from touching the chemical solution 6 supplied to one section 2a of the first belt conveyor 2. The detection signal of the seventh photoelectric sensor 5rL causes the third
When the motor 5j stops, the second small motors 5n, 5n connected to the respective spatula plates 5m, 5m,
As shown in (b), a wafer 1 is placed such that the spatula plates 5 m, 5 m sandwich the semicircular chemical solution 6.
The side of the spatula plate 5 m, 5 va is set up against the outside of the plate, rotated so as to create a valley, and stopped after forming a figure 7. Then, as shown in FIGS. 5(C) to 5(E), the spatula plates 5m, 5m spread out to both sides so as to separate from each other. Due to the movement of the spatula plates 5m and 5m, the wafer 1 slowly and quietly descends to the first belt conveyor 2, and the wafer 1 falls into the arc of the curved surface formed by the spatula plates 5m and 5m. The circumference of the liquid medicine 6 comes into contact with the liquid medicine 6, gradually descends, and is placed on the first belt conveyor 2 while slowly crushing it little by little from the upper surface of the liquid medicine 6 that has been dropped into one section 2a of the first belt conveyor 2. A more natural surface tension can be expected, and the chemical solution 6 spreads over the entire surface of the wafer 1 to be treated. wafer 1
is placed on the first belt conveyor 2, the mounting portion 5h having the spatula plates 5m, 5m rises due to the reverse rotation of the third screw bolt 51, and is detected by the sixth photoelectric sensor 5k. and stop. During this rise,
The spatula plates 5 cocoon and 5 wheels return to their initial states and approach each other at an interval narrower than the diameter of the wafer and wider than the width of the second belt conveyor 51, making the spatula plates 5m+ and 5m horizontal. At the same time, a placement signal is output to the control device 7. When the mounting section 5h is temporarily stopped due to the detection by the sixth photoelectric sensor 5, the third charging sensor 5d has already moved the clamped wafer 1 in the wafer case 1a due to the lowering of the clamping section 5a. detecting the second
It is waiting to be taken out by the belt conveyor 5g. That is, the second belt conveyor 511 operates according to the detection signal from the sixth photoelectric sensor 5,
The wafer 1 is taken out in parallel by conveyance in the direction of arrow A by the conveyor 5g, and while the second belt conveyor 5g is conveyed, the conveyor 5g itself also moves in the direction of arrow A, and the spatula facing the direction of movement is moved. When it is placed on the plate 5+*, 5m, it is confirmed that the second belt conveyor 5g has reached the maximum protrusion position, and then the placing part 5 is placed again.
h increases slightly due to the reverse rotation of the third motor 5j. Then, the second belt conveyor 511, which waits for an 'a1 command from the control device 7, moves the belt to the wafer case B and the wafer 1 take-out position in order to transfer the next wafer 1 by stopping the loading section 5h. When the conveyor 5g is on standby, the wafer case 1a is lowered until the third photoelectric sensor 5d detects the next wafer 1. When the third photoelectric sensor 5d detects the next wafer 1, the belt conveyor 5g
The wafer 1 comes into contact with the conveyance surface and stops. By the way, when the fifth photoelectric sensor 5f detects the holding part 5a, it is assumed that all the wafers have been taken out, and the wafer case 1a is
is exchanged. Further, a transfer device 4 faces the discharge end of the first belt conveyor 2, and when one section 2a of the first belt conveyor 2 moves, the transfer device 4 has arm rods 4m, 4m. Since the chemically treated wafer 1 is slid and placed, the wafer 1 attached by the surface tension of the chemical 6 can be smoothly removed from the chemically treated surface of the belt conveyor 2.

前記第1のベルトコンベア2が1区画2aだけ移動し停
止すると、前記制御装置7から前記移載袋r!14に対
して移載指令が出力され、該アーム棒4a、4mの上昇
、降下及び移載装置4の回動によって前記薬液処理のウ
ェハー1を信地点に設けられた次工程の処理装置(図示
せず)へ移載される。そして再び前記第1のベルトコン
ベア2の排出口に対面して停止すると、前記制御装置I
7に対して、第2の待機信号を出力する。上記のごとく
前記制御装置7が前記ビューレット装置3から第1の待
機信号、及び前記載置装置5からの載置信号、及び前記
移載装置4からの第2の待機信号を受信すると、前記第
1のベルトコンベア2を矢印B方向へ1区画2a単位で
搬送させる駆動モーター2bに対して搬送指令を出力す
る。該搬送指令によって前記駆動モーター2bが動作し
、1区画2a搬送して停止する。そして前記制御装置7
に対して停止信号を出力する。ところで、前記第2のベ
ルトコンベア5g自体の平行移動としては、スライドベ
アリングにより、振動のないスライドを実現しており、
また前記ヘラ板515 mの平行移動として、リニアモ
ーターやスライドベアリングを使用しても同じ効果を得
ることができる。また本発明はベルトコンベア2がシー
ト状膜からなり、基台をすべるよう移動し、基台の一端
がシート状膜の搬送方向を変えるように角度を形成し、
シート状膜に載置された薬液処理済ウェハーが前記基台
の一端から飛び出すようにして取り出す場合も含んでい
る。
When the first belt conveyor 2 moves by one section 2a and stops, the control device 7 sends the transfer bag r! A transfer command is output to the wafer 14, and by raising and lowering the arm rods 4a and 4m and rotating the transfer device 4, the wafer 1 to be treated with the chemical solution is transferred to the processing device for the next process (see FIG. (not shown). Then, when the first belt conveyor 2 stops again facing the discharge port, the control device I
7, a second standby signal is output. As described above, when the control device 7 receives the first standby signal from the buret device 3, the placement signal from the placement device 5, and the second standby signal from the transfer device 4, A conveyance command is output to the drive motor 2b that causes the first belt conveyor 2 to convey in the direction of arrow B in units of sections 2a. The drive motor 2b operates according to the transport command, transports one section 2a, and then stops. and the control device 7
Outputs a stop signal to By the way, as for the parallel movement of the second belt conveyor 5g itself, slide bearings are used to achieve vibration-free sliding.
The same effect can also be obtained by using a linear motor or a slide bearing to move the spatula plate 515 m in parallel. Further, in the present invention, the belt conveyor 2 is made of a sheet-like film, moves to slide on a base, and one end of the base forms an angle so as to change the conveying direction of the sheet-like film,
This also includes a case where a chemically treated wafer placed on a sheet-like membrane is taken out by popping out from one end of the base.

(発明の効果) 既述のごとく、耐蝕性材質からなるベルトコンベア上に
薬液を供給し、静かにウェハーの被処理面を接触させる
ように載置し、前記ベルトコンベアとウェハーで薬液を
挟むようにして、表面張力によって被処理面全面に拡散
させ、自動的に薬液処理する装置を提供したことで、S
in、膜等の絶縁薄膜の形成後、裏面に薬液処理を施す
際にSio2膜等の絶縁膜側に薬液が付着するという問
題点を解消し、合わせて5i02膜等の絶縁薄膜のレジ
スト膜を不用にした。そして、加えて薬液処理をベルト
コンベア上で実施したことにより、このベルトコンベア
の搬送で、片面処理後のウェハーを薬液の表面張力で付
着した薬液処理面から容易に取り出すことができた。
(Effects of the Invention) As described above, a chemical solution is supplied onto a belt conveyor made of a corrosion-resistant material, and the wafer is placed gently so that the surface to be processed is in contact with the wafer, and the chemical solution is sandwiched between the belt conveyor and the wafer. By providing a device that automatically processes chemicals by spreading them over the entire surface to be treated using surface tension, S
This solves the problem of chemicals adhering to the insulating film side such as Sio2 film when applying chemical liquid treatment to the back side after forming an insulating thin film such as 5i02 film. Made it unnecessary. In addition, by carrying out the chemical treatment on the belt conveyor, the wafer after single-sided treatment could be easily removed from the chemical treatment surface to which it was attached due to the surface tension of the chemical.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はブロック図、第2図は本発明の概略を図示した
側面図、第3図はウェハーの載置を図示した側面図、第
4図−(イ)はヘラ板の駆動部を図示した平面図、第4
図−(ロ)はその側面図、第5図はヘラ板の斜視図、第
5図−(イ)〜(ホ)はヘラ板の動きを示した正面図。
Fig. 1 is a block diagram, Fig. 2 is a side view illustrating the outline of the present invention, Fig. 3 is a side view illustrating wafer placement, and Fig. 4-(a) illustrates the drive unit of the spatula plate. Plan view, No. 4
Fig. 5-(B) is a side view thereof, Fig. 5 is a perspective view of the spatula plate, and Figs. 5-(A) to (E) are front views showing the movement of the spatula plate.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] IC等の半導体製造用基板の化学薬液による表面処理装
置であって、少なくとも表面が前記化学薬液に対する耐
蝕性材質より成るベルトコンベアを設け、前記ベルトコ
ンベアの上流側に一定量の前記化学薬液を供給する手段
を設け、この下流側に前記ベルトコンベアの前記化学薬
液の供給された位置に化学薬液処理を施すべき前記基板
を載置せしめる手段を設け、更にこの下流側には、搬送
されてくる前記基板を取り出す手段を順次設けたことを
特徴とする基板の化学薬液自動処理装置。
A surface treatment device using a chemical solution for a substrate for manufacturing semiconductors such as ICs, wherein a belt conveyor whose at least the surface is made of a material resistant to corrosion against the chemical solution is provided, and a certain amount of the chemical solution is supplied to the upstream side of the belt conveyor. A means for placing the substrate to be treated with the chemical solution on the belt conveyor at a position where the chemical solution is supplied is provided on the downstream side of the belt conveyor. An automatic processing device for chemical liquids for substrates, characterized in that a means for sequentially taking out the substrates is provided.
JP61268140A 1986-11-11 1986-11-11 Automatic processor of chemical for substrate Pending JPS63122126A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110298176A1 (en) * 2009-03-13 2011-12-08 Giovanni Compagnone Transfer device for flat substrate in a packaging production machine

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110298176A1 (en) * 2009-03-13 2011-12-08 Giovanni Compagnone Transfer device for flat substrate in a packaging production machine
US9828199B2 (en) * 2009-03-13 2017-11-28 Bobst Sa Transfer device for flat substrate in a packaging production machine

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