JPS6247134B2 - - Google Patents
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- JPS6247134B2 JPS6247134B2 JP56072579A JP7257981A JPS6247134B2 JP S6247134 B2 JPS6247134 B2 JP S6247134B2 JP 56072579 A JP56072579 A JP 56072579A JP 7257981 A JP7257981 A JP 7257981A JP S6247134 B2 JPS6247134 B2 JP S6247134B2
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- Japan
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- capacitor
- terminal voltage
- switching element
- voltage
- workpiece
- Prior art date
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Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 45
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 14
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000009760 electrical discharge machining Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 6
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
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- 238000009763 wire-cut EDM Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
- B23H7/04—Apparatus for supplying current to working gap; Electric circuits specially adapted therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ワイヤカツト放電加工の加工速度を
向上し得るワイヤカツト放電加工電源装置に関す
るものである。
向上し得るワイヤカツト放電加工電源装置に関す
るものである。
ワイヤカツト放電加工に於いては、例えば第１
図に示すように、パルス発生器４からのパルスに
よりトランジスタ３をオン、オフ制御し、トラン
ジスタ３がオンのときに、直流電源１から抵抗２
を介してコンデンサ５に充電し、このコンデンサ
５の充電電圧をワイヤ電極７とワーク６との間に
印加して放電加工を行なうもので、８は接触子、
９，１０はガイドを示すものである。
図に示すように、パルス発生器４からのパルスに
よりトランジスタ３をオン、オフ制御し、トラン
ジスタ３がオンのときに、直流電源１から抵抗２
を介してコンデンサ５に充電し、このコンデンサ
５の充電電圧をワイヤ電極７とワーク６との間に
印加して放電加工を行なうもので、８は接触子、
９，１０はガイドを示すものである。
ワイヤ電極７とワーク６との間の電圧即ちギヤ
ツプ電圧は例えば第２図に示すように変化する。
即ちコンデンサ５の充電完了後に放電が生じた
り、充電途中で放電が生じたりするものである。
このように放電時間が異なるのは、ワイヤ電極の
振れ等によつてワイヤ電極とワーク間のギヤツプ
の大きさが異なつた位置で放電が生じるのも一つ
の原因である。つまりワイヤ電極とワーク間のギ
ヤツプが大きい程火花遅れが大きくなるためであ
る。実験結果によると、コンデンサの充電電圧が
低い程加工速度が大きくなることが判つた。この
理由については充分に解明されていないが、例え
ばコンデンサの充電電圧が高いと、ワイヤ電極と
ワークの間のギヤツプが放電加工により拡大し、
次の一点で生じた放電が他の点に移行し難い状態
となる為であると云う説がある。言い換えれば一
回の放電加工量は充電電圧が高い程大きく、また
ワイヤ電極とワークの間のギヤツプが大きい程集
中放電が起こりやすいと言える。即ち充電完了後
時間をおいて放電を生ずる場合は、ワイヤ電極と
ワークの間のギヤツプが大きいため、集中放電が
起こりやすくなる。
ツプ電圧は例えば第２図に示すように変化する。
即ちコンデンサ５の充電完了後に放電が生じた
り、充電途中で放電が生じたりするものである。
このように放電時間が異なるのは、ワイヤ電極の
振れ等によつてワイヤ電極とワーク間のギヤツプ
の大きさが異なつた位置で放電が生じるのも一つ
の原因である。つまりワイヤ電極とワーク間のギ
ヤツプが大きい程火花遅れが大きくなるためであ
る。実験結果によると、コンデンサの充電電圧が
低い程加工速度が大きくなることが判つた。この
理由については充分に解明されていないが、例え
ばコンデンサの充電電圧が高いと、ワイヤ電極と
ワークの間のギヤツプが放電加工により拡大し、
次の一点で生じた放電が他の点に移行し難い状態
となる為であると云う説がある。言い換えれば一
回の放電加工量は充電電圧が高い程大きく、また
ワイヤ電極とワークの間のギヤツプが大きい程集
中放電が起こりやすいと言える。即ち充電完了後
時間をおいて放電を生ずる場合は、ワイヤ電極と
ワークの間のギヤツプが大きいため、集中放電が
起こりやすくなる。
又コンデンサ５の充電電圧を低くする為に、直
流電源１の電圧を低くすることも考えられるが、
コンデンサ５の充電エネルギーが低下することに
より、加工速度を向上することができないものと
なる。又抵抗２を大きくすることも考えられる
が、この場合も充電速度が低下し、且つ電力損失
が大きくなる欠点がある。
流電源１の電圧を低くすることも考えられるが、
コンデンサ５の充電エネルギーが低下することに
より、加工速度を向上することができないものと
なる。又抵抗２を大きくすることも考えられる
が、この場合も充電速度が低下し、且つ電力損失
が大きくなる欠点がある。
本発明は、前述の如き従来の欠点を改善したも
ので、コンデンサの充電電圧を制御し、それによ
つて加工速度を向上し得るようにすることを目的
とするものである。以下実施例について詳細に説
明する。
ので、コンデンサの充電電圧を制御し、それによ
つて加工速度を向上し得るようにすることを目的
とするものである。以下実施例について詳細に説
明する。
第３図は本発明の実施例の要部回路を示し、直
流電源１１、抵抗１２、トランジスタ１３、コン
デンサ１５、ワーク１６、ワイヤ電極１７、接触
子１８、ガイド１９，２０については、第１図に
示す従来例と同様の構成であるが、抵抗２１，２
２により分圧したギヤツプ電圧をパルス発生回路
１４に加え、パルス発生回路１４からの制御パル
スａによりトランジスタ１３を制御すると共に、
制御パルスｂによりトランジスタ２４を制御し、
抵抗２３を介してコンデンサ１５の充電制御を行
なう構成を有するものである。
流電源１１、抵抗１２、トランジスタ１３、コン
デンサ１５、ワーク１６、ワイヤ電極１７、接触
子１８、ガイド１９，２０については、第１図に
示す従来例と同様の構成であるが、抵抗２１，２
２により分圧したギヤツプ電圧をパルス発生回路
１４に加え、パルス発生回路１４からの制御パル
スａによりトランジスタ１３を制御すると共に、
制御パルスｂによりトランジスタ２４を制御し、
抵抗２３を介してコンデンサ１５の充電制御を行
なう構成を有するものである。
パルス発生回路１４は、抵抗２１，２２により
ギヤツプ電圧に比例した電圧が加えられることに
より、コンデンサ１５の充電電圧が所定値に達し
たことを識別してトランジスタ１３をオフとし、
ワイヤ電極１７とワーク１６との間に放電が生じ
ないとき、ギヤツプ間の漏洩電流によつてコンデ
ンサ１５の端子電圧が低下する。この端子電圧が
或る値にまで低下すると、トランジスタ２４をオ
ンとし、漏洩電流に相当する電流を抵抗２３を介
して直流電源１１から供給し、コンデンサ１５の
端子電圧を或る値に維持させる。そして放電が生
じてコンデンサ１５の端子電圧が更に低下したと
き、トランジスタ２４はオフとなるように制御さ
れる。
ギヤツプ電圧に比例した電圧が加えられることに
より、コンデンサ１５の充電電圧が所定値に達し
たことを識別してトランジスタ１３をオフとし、
ワイヤ電極１７とワーク１６との間に放電が生じ
ないとき、ギヤツプ間の漏洩電流によつてコンデ
ンサ１５の端子電圧が低下する。この端子電圧が
或る値にまで低下すると、トランジスタ２４をオ
ンとし、漏洩電流に相当する電流を抵抗２３を介
して直流電源１１から供給し、コンデンサ１５の
端子電圧を或る値に維持させる。そして放電が生
じてコンデンサ１５の端子電圧が更に低下したと
き、トランジスタ２４はオフとなるように制御さ
れる。
第４図はギヤツプ電圧の説明図であり、領域Ｉ
では、トランジスタ１３がオンとなつてコンデン
サ１５の充電が行なわれ、領域では、トランジ
スタ１３がオフで、ギヤツプ間の漏洩電流により
ギヤツプ電圧は低下し、領域ではトランジスタ
２４がオンとなつて漏洩電流に相当する電流が供
給されることにより、ギヤツプ電圧は或る値に維
持される。放電は、領域の充電途中で生じる場
合、領域の充電後で生じる場合、領域の低電
圧維持状態で生じる場合がある。従つて領域の
如く低電圧維持状態で放電を生じさせる場合を含
むので、平均加工電圧を低くすることができ、加
工速度を向上することができる。これは実験によ
つても確認されている。
では、トランジスタ１３がオンとなつてコンデン
サ１５の充電が行なわれ、領域では、トランジ
スタ１３がオフで、ギヤツプ間の漏洩電流により
ギヤツプ電圧は低下し、領域ではトランジスタ
２４がオンとなつて漏洩電流に相当する電流が供
給されることにより、ギヤツプ電圧は或る値に維
持される。放電は、領域の充電途中で生じる場
合、領域の充電後で生じる場合、領域の低電
圧維持状態で生じる場合がある。従つて領域の
如く低電圧維持状態で放電を生じさせる場合を含
むので、平均加工電圧を低くすることができ、加
工速度を向上することができる。これは実験によ
つても確認されている。
第５図はパルス発生回路１４の要部ブロツク図
あり、４１〜４３は比較器、４４は立下りでトリ
ガされる単安定回路、４５は立上りでトリガされ
る単安定回路、４６は初期セツト回路、４７，４
８はフリツプフロツプを構成するナンド回路、４
９，５０はノア回路、５１〜５３は基準電圧、５
４は所定の周期の充電用パルスである。又１５，
１６，１７，２１，２２は第３図のコンデンサ、
ワーク、ワイヤ電極、抵抗をそれぞれ示すもので
ある。比較器４１〜４３の基準電圧５１〜５３
は、第６図に示すように、ギヤツプ電圧即ちコン
デンサ１５の端子電圧の中間レベルＨ１、低レベ
ルＬ１、高レベルＨ２を検出できるように選定さ
れている。
あり、４１〜４３は比較器、４４は立下りでトリ
ガされる単安定回路、４５は立上りでトリガされ
る単安定回路、４６は初期セツト回路、４７，４
８はフリツプフロツプを構成するナンド回路、４
９，５０はノア回路、５１〜５３は基準電圧、５
４は所定の周期の充電用パルスである。又１５，
１６，１７，２１，２２は第３図のコンデンサ、
ワーク、ワイヤ電極、抵抗をそれぞれ示すもので
ある。比較器４１〜４３の基準電圧５１〜５３
は、第６図に示すように、ギヤツプ電圧即ちコン
デンサ１５の端子電圧の中間レベルＨ１、低レベ
ルＬ１、高レベルＨ２を検出できるように選定さ
れている。
コンデンサ１５の端子電圧が零の場合、抵抗２
１，２２により分圧された電圧も零となり、比較
器４１〜４３の出力は“０”となる。この状態で
初期セツト回路４６によりフリツプフロツプをセ
ツトし、Ｑ＝“１”、＝“０”の出力とする。従
つてノア回路４９の出力の制御パルスｂは“０”
となり、ノア回路５０の出力の制御パルスａはパ
ルス５４に従つて“１”、“０”となる。トランジ
スタ２４（第３図参照）は制御パルスｂが“０”
であるからオフとなり、トランジスタ１３は制御
パルスａに従つてオン、オフの繰返しとなる。従
つてトランジスタ１３がオンのときコンデンサ１
５の充電が行なわれ、その端子電圧が上昇する。
１，２２により分圧された電圧も零となり、比較
器４１〜４３の出力は“０”となる。この状態で
初期セツト回路４６によりフリツプフロツプをセ
ツトし、Ｑ＝“１”、＝“０”の出力とする。従
つてノア回路４９の出力の制御パルスｂは“０”
となり、ノア回路５０の出力の制御パルスａはパ
ルス５４に従つて“１”、“０”となる。トランジ
スタ２４（第３図参照）は制御パルスｂが“０”
であるからオフとなり、トランジスタ１３は制御
パルスａに従つてオン、オフの繰返しとなる。従
つてトランジスタ１３がオンのときコンデンサ１
５の充電が行なわれ、その端子電圧が上昇する。
コンデンサ１５の端子電圧が低レベルＬ１以上
となると、比較器４２の出力は“１”となるが、
単安定回路４４はトリガされない。又コンデンサ
１５の端子電圧が中間レベルＨ１に上昇すると、
比較器４１の出力が“１”となり、前記パルスｂ
は“０”のままである。
となると、比較器４２の出力は“１”となるが、
単安定回路４４はトリガされない。又コンデンサ
１５の端子電圧が中間レベルＨ１に上昇すると、
比較器４１の出力が“１”となり、前記パルスｂ
は“０”のままである。
コンデンサ１５の端子電圧が更に上昇し、高レ
ベルＨ２に達すると、比較器４３の出力“１”と
なり、“０”から“１”への立上りにより単安定
回路４５がトリガされ、その出力によつてフリツ
プフロツプがリセツトされて、Ｑ＝“０”、＝
“１”の状態となる。従つてノア回路５０の出力
の制御パルスａは“０”となり、トランジスタ１
３はオフとなる。それによつてコンデンサ１５の
充電は停止され、ワイヤ電極１７とワーク１６と
の間に漏洩電流が流れ、コンデンサ１５の端子電
圧は次第に低下する。
ベルＨ２に達すると、比較器４３の出力“１”と
なり、“０”から“１”への立上りにより単安定
回路４５がトリガされ、その出力によつてフリツ
プフロツプがリセツトされて、Ｑ＝“０”、＝
“１”の状態となる。従つてノア回路５０の出力
の制御パルスａは“０”となり、トランジスタ１
３はオフとなる。それによつてコンデンサ１５の
充電は停止され、ワイヤ電極１７とワーク１６と
の間に漏洩電流が流れ、コンデンサ１５の端子電
圧は次第に低下する。
コンデンサ１５の端子電圧が中間レベルＨ１よ
り低下すると、比較器４１の出力が“０”とな
る。従つてノア回路４９の出力の制御パルスｂは
“１”となり、トランジスタ２４がオンとなつ
て、直流電源１１から漏洩電流に相当する電流が
供給され、コンデンサ１５の端子電圧は中間レベ
ルＨ１近傍に維持される。このトランジスタ２４
を介して供給される電流によりコンデンサ１５の
端子電圧が中間レベルＨ１以上となると、比較器
４１の出力が“１”となり、制御パルスｂは
“０”となるから、トランジスタ２４はオフとな
る。比較器４１〜４３は周知のヒステリシス特性
を有する構成であり、中間レベルＨ１を中心とし
た状態でコンデンサ１５の端子電圧が第４図の領
域として示すようにほぼ一定に維持されること
になる。
り低下すると、比較器４１の出力が“０”とな
る。従つてノア回路４９の出力の制御パルスｂは
“１”となり、トランジスタ２４がオンとなつ
て、直流電源１１から漏洩電流に相当する電流が
供給され、コンデンサ１５の端子電圧は中間レベ
ルＨ１近傍に維持される。このトランジスタ２４
を介して供給される電流によりコンデンサ１５の
端子電圧が中間レベルＨ１以上となると、比較器
４１の出力が“１”となり、制御パルスｂは
“０”となるから、トランジスタ２４はオフとな
る。比較器４１〜４３は周知のヒステリシス特性
を有する構成であり、中間レベルＨ１を中心とし
た状態でコンデンサ１５の端子電圧が第４図の領
域として示すようにほぼ一定に維持されること
になる。
ワイヤ電極１７とワーク１６との間に放電が生
じると、コンデンサ１５の端子電圧は急速に低下
し、低レベルＬ１以下となると、比較器４１〜４
３の出力は“０”となり、単安定回路４４は
“１”から“０”への立下りによりトリガされ、
その出力がセツトパルスとなつて、フリツプフロ
ツプがセツトされ、初期状態に戻ることになる。
じると、コンデンサ１５の端子電圧は急速に低下
し、低レベルＬ１以下となると、比較器４１〜４
３の出力は“０”となり、単安定回路４４は
“１”から“０”への立下りによりトリガされ、
その出力がセツトパルスとなつて、フリツプフロ
ツプがセツトされ、初期状態に戻ることになる。
前述の動作は、中間レベルＨ１で放電が生じる
場合についてのものであるが、高レベルＨ２に上
昇中の領域に於ける放電の場合は、フリツプフ
ロツプはセツト状態のまま、低レベルＬ１以下に
コンデンサ１５の端子電圧が低下し、単安定回路
４４がトリガされてセツトパルスが出力され、フ
リツプフロツプの出力状態は変化しないので、引
続いて制御パルスａがトランジスタ１３に加えら
れて、コンデンサ１５の充電が開始される。
場合についてのものであるが、高レベルＨ２に上
昇中の領域に於ける放電の場合は、フリツプフ
ロツプはセツト状態のまま、低レベルＬ１以下に
コンデンサ１５の端子電圧が低下し、単安定回路
４４がトリガされてセツトパルスが出力され、フ
リツプフロツプの出力状態は変化しないので、引
続いて制御パルスａがトランジスタ１３に加えら
れて、コンデンサ１５の充電が開始される。
又高レベルＨ２から中間レベルＨ１に低下する
途中の領域に於ける放電の場合は、フリツプフ
ロツプがリセツト状態であり、制御パルスａ，ｂ
は“０”でトランジスタ１３，２４はオフであつ
て、放電により低レベルＬ１以下となると、フリ
ツプフロツプがセツトされ、初期状態に戻ること
になる。
途中の領域に於ける放電の場合は、フリツプフ
ロツプがリセツト状態であり、制御パルスａ，ｂ
は“０”でトランジスタ１３，２４はオフであつ
て、放電により低レベルＬ１以下となると、フリ
ツプフロツプがセツトされ、初期状態に戻ること
になる。
前述の動作説明からも判るように、比較器４３
と単安定回路４５とにより放電が生じたことを検
出し、比較器２４と単安定回路４４とによりコン
デンサ１５が所定の値に充電されたことを検出
し、比較器４１によりコンデンサ１５の端子電圧
が中間レベルＨ１であることを検出し、これらに
よつてトランジスタ１３，２４を制御し、平均加
工電圧を低くして、加工速度を向上するものであ
る。又トランジスタ１３，２４は、FETやサイ
リスタ等のスイツチング素子を用いることも可能
であり、ナンド回路やノア回路は、他の論理回路
で構成することができる。
と単安定回路４５とにより放電が生じたことを検
出し、比較器２４と単安定回路４４とによりコン
デンサ１５が所定の値に充電されたことを検出
し、比較器４１によりコンデンサ１５の端子電圧
が中間レベルＨ１であることを検出し、これらに
よつてトランジスタ１３，２４を制御し、平均加
工電圧を低くして、加工速度を向上するものであ
る。又トランジスタ１３，２４は、FETやサイ
リスタ等のスイツチング素子を用いることも可能
であり、ナンド回路やノア回路は、他の論理回路
で構成することができる。
以上説明したように、本発明は、トランジスタ
１３等のスイツチング素子のオン、オフ制御によ
り、オン状態のときコンデンサ１５に充電し、そ
のコンデンサ１５の端子電圧をワイヤ電極１７と
ワーク１６との間に印加して放電加工を行なうと
共に、スイツチング素子に並列的にトランジスタ
２４等の補助スイツチング素子を接続して、コン
デンサ１５の端子電圧が高レベルＨ２になつたこ
とを比較器４３、単安定回路４５等からなる手段
により検出したとき、スイツチング素子をオフと
し、その後ワイヤ電極１７とワーク１６との間の
漏洩電流によりコンデンサ１５の端子電圧が中間
レベルＨ１に低下したことを比較器４１等からな
る手段によつて検出したとき、補助スイツチング
素子をオン状態として、漏洩電流に相当する電流
を供給し、放電が生じてコンデンサ１５の端子電
圧が低レベルＬ１に低下したことを比較器４２、
単安定回路４４等からなる手段により検出したと
き、補助スイツチング素子をオフ状態とすると共
に、スイツチング素子のオン、オフ制御を開始さ
せるもので、直流電源１１の電圧を高くしてコン
デンサ１５の高速充電を可能とし、また放電完了
直後に放電が生ずる場合、即ちワイヤ電極とワー
クの間のギヤツプが小さい場合は充電電圧が高レ
ベルＨ２近傍の高い電圧の時に放電するので放電
加工量を大きくすることができ、また充電完了後
時間をおいての領域で放電を生ずる場合、即ち
ワイヤ電極とワークの間のギヤツプが大きい場合
は充電電圧が中間レベルＨ１の低電圧で放電する
ので集中放電を防ぐことができる。従つて加工速
度を向上することができるものである。
１３等のスイツチング素子のオン、オフ制御によ
り、オン状態のときコンデンサ１５に充電し、そ
のコンデンサ１５の端子電圧をワイヤ電極１７と
ワーク１６との間に印加して放電加工を行なうと
共に、スイツチング素子に並列的にトランジスタ
２４等の補助スイツチング素子を接続して、コン
デンサ１５の端子電圧が高レベルＨ２になつたこ
とを比較器４３、単安定回路４５等からなる手段
により検出したとき、スイツチング素子をオフと
し、その後ワイヤ電極１７とワーク１６との間の
漏洩電流によりコンデンサ１５の端子電圧が中間
レベルＨ１に低下したことを比較器４１等からな
る手段によつて検出したとき、補助スイツチング
素子をオン状態として、漏洩電流に相当する電流
を供給し、放電が生じてコンデンサ１５の端子電
圧が低レベルＬ１に低下したことを比較器４２、
単安定回路４４等からなる手段により検出したと
き、補助スイツチング素子をオフ状態とすると共
に、スイツチング素子のオン、オフ制御を開始さ
せるもので、直流電源１１の電圧を高くしてコン
デンサ１５の高速充電を可能とし、また放電完了
直後に放電が生ずる場合、即ちワイヤ電極とワー
クの間のギヤツプが小さい場合は充電電圧が高レ
ベルＨ２近傍の高い電圧の時に放電するので放電
加工量を大きくすることができ、また充電完了後
時間をおいての領域で放電を生ずる場合、即ち
ワイヤ電極とワークの間のギヤツプが大きい場合
は充電電圧が中間レベルＨ１の低電圧で放電する
ので集中放電を防ぐことができる。従つて加工速
度を向上することができるものである。
第１図は従来のワイヤカツト放電加工電源装置
の要部回路図、第２図はギヤツプ電圧の一例の波
形図、第３図は本発明の実施例の要部回路図、第
４図は第３図に於けるギヤツプ電圧の一例の波形
図、第５図は本発明の実施例のパルス発生回路の
ブロツク図、第６図はレベル設定の説明図であ
る。 １１は直流電源、１２，２１，２２，２３は抵
抗、１３，２４はトランジスタ、１４はパルス発
生回路、１５はコンデンサ、１６はワーク、１７
はワイヤ電極、４１〜４３は比較器、４４，４５
は単安定回路、４６は初期セツト回路、４７，４
８はナンド回路、４９，５０はノア回路である。
の要部回路図、第２図はギヤツプ電圧の一例の波
形図、第３図は本発明の実施例の要部回路図、第
４図は第３図に於けるギヤツプ電圧の一例の波形
図、第５図は本発明の実施例のパルス発生回路の
ブロツク図、第６図はレベル設定の説明図であ
る。 １１は直流電源、１２，２１，２２，２３は抵
抗、１３，２４はトランジスタ、１４はパルス発
生回路、１５はコンデンサ、１６はワーク、１７
はワイヤ電極、４１〜４３は比較器、４４，４５
は単安定回路、４６は初期セツト回路、４７，４
８はナンド回路、４９，５０はノア回路である。
Claims (1)
- １ トランジスタ等の主スイツチング素子のオ
ン、オフ制御を行ない、オン状態のときコンデン
サに充電し、該コンデンサの端子電圧をワイヤ電
極とワークとの間に印加して、前記ワークの放電
加工を行なうワイヤカツト放電加工電源装置に於
いて、前記スイツチング素子に並列的に接続さ
れ、前記ワイヤ電極とワークとの間の漏洩電流に
相当する電流を供給する為の抵抗と補助スイツチ
ング素子とから成る直列回路と、前記コンデンサ
の端子電圧の高レベル、中間レベル及び低レベル
を検出する手段と、該手段により前記コンデンサ
の端子電圧が高レベルとなつたことを検出したと
き前記主スイツチング素子をオフ状態とする手段
と、前記コンデンサの端子電圧が高レベルから中
間レベルに低下したことを検出したとき前記補助
スイツチング素子をオン状態とする手段と、前記
コンデンサの端子電圧が低レベルに低下したこと
を検出したとき、前記補助スイツチング素子をオ
フ状態とすると共に、前記スイツチング素子のオ
ン、オフ制御を開始させる手段とを備えたことを
特徴とするワイヤカツト放電加工電源装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56072579A JPS57211421A (en) | 1981-05-14 | 1981-05-14 | Wire cut discharge machining power source equipment |
| PCT/JP1982/000163 WO1982004001A1 (fr) | 1981-05-14 | 1982-05-12 | Alimentation pour usinage a decharge electrique a decoupage par cable |
| DE8282901427T DE3272125D1 (en) | 1981-05-14 | 1982-05-12 | Wire cut electric discharge machining power source |
| EP82901427A EP0081587B1 (en) | 1981-05-14 | 1982-05-12 | Wire cut electric discharge machining power source |
| US06/456,060 US4469927A (en) | 1981-05-14 | 1982-05-12 | Power source arrangement for wire-cut, electric discharge machining |
| KR8202101A KR860000619B1 (ko) | 1981-05-14 | 1982-05-14 | 와이어-킷 방전가공 전원장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56072579A JPS57211421A (en) | 1981-05-14 | 1981-05-14 | Wire cut discharge machining power source equipment |
Publications (2)
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|---|---|
| JPS57211421A JPS57211421A (en) | 1982-12-25 |
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Family
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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| US5384444A (en) * | 1992-12-23 | 1995-01-24 | Basix Technologies Ltd. | Sleeve forming wire passageway around pickup |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101336A (en) * | 1979-01-30 | 1980-08-02 | Fanuc Ltd | Power source for wire-cut discharge working device |
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|---|---|---|---|---|
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| JPS5689434A (en) * | 1979-12-22 | 1981-07-20 | Fanuc Ltd | Power source to wire-cut electric discharge machining |
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-
1982
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- 1982-05-12 EP EP82901427A patent/EP0081587B1/en not_active Expired
- 1982-05-12 US US06/456,060 patent/US4469927A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-05-14 KR KR8202101A patent/KR860000619B1/ko active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101336A (en) * | 1979-01-30 | 1980-08-02 | Fanuc Ltd | Power source for wire-cut discharge working device |
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| DE3272125D1 (en) | 1986-08-28 |
| EP0081587B1 (en) | 1986-07-23 |
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