JPS6244648A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
- Publication number
- JPS6244648A JPS6244648A JP60184793A JP18479385A JPS6244648A JP S6244648 A JPS6244648 A JP S6244648A JP 60184793 A JP60184793 A JP 60184793A JP 18479385 A JP18479385 A JP 18479385A JP S6244648 A JPS6244648 A JP S6244648A
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- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 33
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 21
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、フローサイトメータ等において、光学系を共
有する散乱光等の測光と装置の調整状態の検出とを、幼
時に切換えて実施可能とした粒子解析装置に関するもの
である。
有する散乱光等の測光と装置の調整状態の検出とを、幼
時に切換えて実施可能とした粒子解析装置に関するもの
である。
［従来の技術］
フローサイトメータ等に用いられる粒子解析装置では、
フローセルの中央部の例えば２００ＢｍＸ２００ＪＬｍ
の微小な断面を有する流通部内を、シース液に包まれて
通過する血球細胞などの検体に照射光を照射し、その結
果生ずる前方及び側方散乱光により、検体の形状・大き
さ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である。ま
た、蛍光剤により染色され得る検体に対しては、照射光
とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光を検出する
ことにより、検体を解析するための重要な情報を求める
ことができる。
フローセルの中央部の例えば２００ＢｍＸ２００ＪＬｍ
の微小な断面を有する流通部内を、シース液に包まれて
通過する血球細胞などの検体に照射光を照射し、その結
果生ずる前方及び側方散乱光により、検体の形状・大き
さ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である。ま
た、蛍光剤により染色され得る検体に対しては、照射光
とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光を検出する
ことにより、検体を解析するための重要な情報を求める
ことができる。
このフローサイトメータ等において正確な測定を行うた
めには、検体粒子以外からの信号が混入しないように、
測光用対物レンズによって正確に検体粒子或いはその極
く近傍のみを集光させると共に、検体粒子の流れの軸と
光軸とを正確に一致させなければならない。
めには、検体粒子以外からの信号が混入しないように、
測光用対物レンズによって正確に検体粒子或いはその極
く近傍のみを集光させると共に、検体粒子の流れの軸と
光軸とを正確に一致させなければならない。
そのために、従来装置においては測定前に標準サンプル
を流しながら、操作者が目視により手動で焦点及び軸調
整を行っているので、十分に正確な合焦及び合軸調整を
行うことが困難である。また、測定中の照射ビームの形
状変化及び照射ビームと流通部との相対的なずれの発生
等を検出することが不可能であるため、測定途中で異常
データがあっても調整状態を確認できない。
を流しながら、操作者が目視により手動で焦点及び軸調
整を行っているので、十分に正確な合焦及び合軸調整を
行うことが困難である。また、測定中の照射ビームの形
状変化及び照射ビームと流通部との相対的なずれの発生
等を検出することが不可能であるため、測定途中で異常
データがあっても調整状態を確認できない。
［発明の目的］
本発明の目的は、散乱光測光系と調整状態検出系との切
換えを行う制御手段を設け、随時に散乱光測光系と調整
状態検出系とを切換可能とすることにより、測定精度、
操作性が共に良好となる粒子解析装置を提供することに
ある。
換えを行う制御手段を設け、随時に散乱光測光系と調整
状態検出系とを切換可能とすることにより、測定精度、
操作性が共に良好となる粒子解析装置を提供することに
ある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、フローセ
ル内の流通部を流れる検体粒子に照射された光ビームの
前記検体粒子による散乱光を測定する測光手段と、該測
光手段と一部の光学系を共有し前記流通部における合焦
・合軸状態を検出する調整検出手段と、前記測光手段と
前記調整検出手段の作動の選択を可能とする操作手段と
、前記操作手段の選択により前記測光手段及び調整検出
手段の作動の切換えを行う制御手段とを有することを特
徴とする粒子解析装置である。
ル内の流通部を流れる検体粒子に照射された光ビームの
前記検体粒子による散乱光を測定する測光手段と、該測
光手段と一部の光学系を共有し前記流通部における合焦
・合軸状態を検出する調整検出手段と、前記測光手段と
前記調整検出手段の作動の選択を可能とする操作手段と
、前記操作手段の選択により前記測光手段及び調整検出
手段の作動の切換えを行う制御手段とを有することを特
徴とする粒子解析装置である。
［発明の実施例］
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図は主要部の構成を示す光学的及び電気的な構成図
であり、フローセルｌのノズル部１ａにサンプル液Ｓの
流入口２、シース液流入口３が接続され、ノズル部１ａ
の先端のオリフィスから高速層流となったシース液に包
まれてサンプル液Ｓが流出するようになっており、サン
プル液Ｓはフローセル１の角型部１ｂの流通部ＩＣを上
から下へ通過するようになっている。この流れの中心軸
と直交する方向に図示しないレーザ光源及び結像光学系
が配置され、レーザ光源から出射されたレーザ光は、結
像光学系を介してサンプル液Ｓを照射されるようになっ
ている。サンプル液Ｓによって散乱されたレーザ光の散
乱光を測光する測光光学系の光軸０１上には、集光光学
系４．第１のハーフミラ−５、光信号検出部６が順次に
配置され、光信号検出部６には信号処理部７、測光表示
部８が順次に接続されている。また、第１のハーフミラ
−５の反射側の光軸０２上には、第２のハーフミラ−９
、発光部１０が順次に配置され、更に７５２のハーフミ
ラ−９の反射側の光軸０３上には調整検出部１１が配さ
れている。そして、調整検出ｆｉＢ１１にはマイクロコ
ンピュータ等で構成された制御部１２が接続され、この
制御部１２には光信号検出部６、スイッチパネル等によ
り構成された操作部１３からの信号が入力され、制御部
１２からは信号処理部７、測光表示部８、発光部１０、
調整・測光表示部１４に出力がなされるようになってい
る。
であり、フローセルｌのノズル部１ａにサンプル液Ｓの
流入口２、シース液流入口３が接続され、ノズル部１ａ
の先端のオリフィスから高速層流となったシース液に包
まれてサンプル液Ｓが流出するようになっており、サン
プル液Ｓはフローセル１の角型部１ｂの流通部ＩＣを上
から下へ通過するようになっている。この流れの中心軸
と直交する方向に図示しないレーザ光源及び結像光学系
が配置され、レーザ光源から出射されたレーザ光は、結
像光学系を介してサンプル液Ｓを照射されるようになっ
ている。サンプル液Ｓによって散乱されたレーザ光の散
乱光を測光する測光光学系の光軸０１上には、集光光学
系４．第１のハーフミラ−５、光信号検出部６が順次に
配置され、光信号検出部６には信号処理部７、測光表示
部８が順次に接続されている。また、第１のハーフミラ
−５の反射側の光軸０２上には、第２のハーフミラ−９
、発光部１０が順次に配置され、更に７５２のハーフミ
ラ−９の反射側の光軸０３上には調整検出部１１が配さ
れている。そして、調整検出ｆｉＢ１１にはマイクロコ
ンピュータ等で構成された制御部１２が接続され、この
制御部１２には光信号検出部６、スイッチパネル等によ
り構成された操作部１３からの信号が入力され、制御部
１２からは信号処理部７、測光表示部８、発光部１０、
調整・測光表示部１４に出力がなされるようになってい
る。
散乱光は集光光学系４を介し、第１のハーフミラ−５を
透過して光信号検出部６において検出され、信号処理部
７を経た信号により測光表示部８において、サンプル液
Ｓの性状がサイトグラム、ヒストグラム等として表示さ
れる。
透過して光信号検出部６において検出され、信号処理部
７を経た信号により測光表示部８において、サンプル液
Ｓの性状がサイトグラム、ヒストグラム等として表示さ
れる。
そして、発光部ｌＯから投射される光束は第２のハーフ
ミラ−９を透過し、更に第１のハーフミラ−５により反
射されて左行し、集光光学系４を介してフローセルｌの
流通部ＩＣに投射される。
ミラ−９を透過し、更に第１のハーフミラ−５により反
射されて左行し、集光光学系４を介してフローセルｌの
流通部ＩＣに投射される。
流通部ＩＣによるこの反射像は、再び集光光学系４、第
１のハーフミラ−５を介し第２のハーフミラ−９により
反射され、調整検出部１１により合軸及び合焦状態が検
出される。調整検出部１１によって検出された合軸及び
合焦状態は、制御部１２を介して調整・測光表示部１４
に表示される。なお、調整検出部１１における合軸・合
焦状態の検出は、各種の方式が用いられるところである
が、例えば反射像の光電素子上における位置ずれにより
求めることができる。
１のハーフミラ−５を介し第２のハーフミラ−９により
反射され、調整検出部１１により合軸及び合焦状態が検
出される。調整検出部１１によって検出された合軸及び
合焦状態は、制御部１２を介して調整・測光表示部１４
に表示される。なお、調整検出部１１における合軸・合
焦状態の検出は、各種の方式が用いられるところである
が、例えば反射像の光電素子上における位置ずれにより
求めることができる。
調整を終了した後に散乱光の測光を開始するには操作部
１３から測定開始モードを制御部に入力１ し、発
光部１０からの光が散乱光測光系へ混入して測光の精度
に影響を及ぼさないようにするために、発光部１０から
の光照射を停止する信号が制御部１２から発光部ｌＯに
出力される。また測定時には、制御部１２に光信号検出
部６の出力信号を入力し、調整・測光表示部１４に検体
粒子からの散乱光検出信号を表示すると共に、信号処理
部７に処理制御信号を出力し、測光表示部８には表示制
御信号を出力し、測光表示部８にサイトグラムφヒスト
グラム等の表示を行う。
１３から測定開始モードを制御部に入力１ し、発
光部１０からの光が散乱光測光系へ混入して測光の精度
に影響を及ぼさないようにするために、発光部１０から
の光照射を停止する信号が制御部１２から発光部ｌＯに
出力される。また測定時には、制御部１２に光信号検出
部６の出力信号を入力し、調整・測光表示部１４に検体
粒子からの散乱光検出信号を表示すると共に、信号処理
部７に処理制御信号を出力し、測光表示部８には表示制
御信号を出力し、測光表示部８にサイトグラムφヒスト
グラム等の表示を行う。
また、測光中に調整状態を確認する必要がある場合には
、操作部１３から調整開始モードを制御部１２に入力す
ることにより、信号処理部７、測光表示部８に信号が出
力され散乱光測光系の作動が停止される。そして、測定
前の調整時と同様に発光部１０が作動し、調整検出部１
１の検出内容が調整・測光表示部１４に表示されること
により、任意に合焦・合軸の調整状態の確認を行うこと
ができる。
、操作部１３から調整開始モードを制御部１２に入力す
ることにより、信号処理部７、測光表示部８に信号が出
力され散乱光測光系の作動が停止される。そして、測定
前の調整時と同様に発光部１０が作動し、調整検出部１
１の検出内容が調整・測光表示部１４に表示されること
により、任意に合焦・合軸の調整状態の確認を行うこと
ができる。
なお、第１のハーフミラ−５は光信号検出部６における
光量が減少しないように光路内に出し入れ自在の全反射
の反転ミラーとし、散乱光測光時には光路から退避し、
調整状態検出時には光路内に挿入するようにしてもよい
。
光量が減少しないように光路内に出し入れ自在の全反射
の反転ミラーとし、散乱光測光時には光路から退避し、
調整状態検出時には光路内に挿入するようにしてもよい
。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、検体
粒子の測光信号信号処理部と光軸及び焦点の調整状態検
出系とを分離し、相互に切換える制御手段を設けること
により、検体粒子の解析と装置の調整状態の確認とを随
時選択的に行うことを可能とし、測定中に何らかの疑似
信号が混入し測定値の精度を低下させることを防止し、
常に正確な測定値を得ることを可能としている。
粒子の測光信号信号処理部と光軸及び焦点の調整状態検
出系とを分離し、相互に切換える制御手段を設けること
により、検体粒子の解析と装置の調整状態の確認とを随
時選択的に行うことを可能とし、測定中に何らかの疑似
信号が混入し測定値の精度を低下させることを防止し、
常に正確な測定値を得ることを可能としている。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明に係る粒子解析装置の一実施例を示すもの
であり、第１図は主要部の光学的及び電気的構成図であ
る。 符号１はフローセル、４は集光光学系、５．９はハーフ
ミラ−１６は光信号検出部、７は信号処理部、８は測光
表示部、１０は発光部、１１は調整検出部、１２は制御
部、１３は操作部、１４は調整・測光表示部である。
であり、第１図は主要部の光学的及び電気的構成図であ
る。 符号１はフローセル、４は集光光学系、５．９はハーフ
ミラ−１６は光信号検出部、７は信号処理部、８は測光
表示部、１０は発光部、１１は調整検出部、１２は制御
部、１３は操作部、１４は調整・測光表示部である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、フローセル内の流通部を流れる検体粒子に照射され
た光ビームの前記検体粒子による散乱光を測定する測光
手段と、該測光手段と一部の光学系を共有し前記流通部
における合焦・合軸状態を検出する調整検出手段と、前
記測光手段と前記調整検出手段の作動の選択を可能とす
る操作手段と、前記操作手段の選択により前記測光手段
及び調整検出手段の作動の切換えを行う制御手段とを有
することを特徴とする粒子解析装置。 ２、前記制御手段は前記測光手段及び調整検出手段の一
方の手段が作動しているときには、他方の手段は作動し
ないように制御するようにした特許請求の範囲第１項に
記載の粒子解析装置。 ３、前記測光手段の作動中に随時に前記操作手段により
前記調整検出手段の作動の選択を行い、前記合焦・合軸
状態を確認可能とした特許請求の範囲第１項に記載の粒
子解析装置。 ４、前記測光手段及び調整検出手段からの信号を表示す
る表示手段を設け、前記制御手段により前記両手段から
の信号を前記表示手段に対して切換えるようにした特許
請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置。 ５、前記測光手段と調整検出手段との光路を光路分割手
段によって分割するようにした特許請求の範囲第１項に
記載の粒子解析装置。 ６、前記調整検出手段は検出光を流通部に照射してその
反射像を基に合焦・合軸状態を検出するようにした特許
請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60184793A JPS6244648A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60184793A JPS6244648A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 粒子解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6244648A true JPS6244648A (ja) | 1987-02-26 |
Family
ID=16159386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60184793A Pending JPS6244648A (ja) | 1985-08-22 | 1985-08-22 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6244648A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101923036A (zh) * | 2009-06-10 | 2010-12-22 | 索尼公司 | 微粒测量设备 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5082882A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-04 | ||
| JPS5322787A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-02 | Hitachi Ltd | Measuring apparatus for corpuscle |
| JPS5386298A (en) * | 1976-11-05 | 1978-07-29 | Leeds & Northrup Co | Measuring method and apparatus for volume and volumetric distribution of fine particles |
| JPS56168532A (en) * | 1980-05-30 | 1981-12-24 | Rion Co Ltd | Automatic calibration device for light scattering fine grain meter |
| JPS59107238A (ja) * | 1982-12-10 | 1984-06-21 | Hitachi Ltd | 光散乱を用いた粒子測定装置 |
| JPS59184840A (ja) * | 1983-04-06 | 1984-10-20 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 液体中のダスト測定法及びその装置 |
-
1985
- 1985-08-22 JP JP60184793A patent/JPS6244648A/ja active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5082882A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-04 | ||
| JPS5322787A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-02 | Hitachi Ltd | Measuring apparatus for corpuscle |
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| JPS59107238A (ja) * | 1982-12-10 | 1984-06-21 | Hitachi Ltd | 光散乱を用いた粒子測定装置 |
| JPS59184840A (ja) * | 1983-04-06 | 1984-10-20 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 液体中のダスト測定法及びその装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101923036A (zh) * | 2009-06-10 | 2010-12-22 | 索尼公司 | 微粒测量设备 |
| JP2010286292A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Sony Corp | 微小粒子測定装置 |
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