JPS6242225A - 時系列デ−タ採集装置 - Google Patents

時系列デ−タ採集装置

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JPS6242225A
JPS6242225A JP60182633A JP18263385A JPS6242225A JP S6242225 A JPS6242225 A JP S6242225A JP 60182633 A JP60182633 A JP 60182633A JP 18263385 A JP18263385 A JP 18263385A JP S6242225 A JPS6242225 A JP S6242225A
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JP
Japan
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time
memory
gain
window
written
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JP60182633A
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JPH0321931B2 (ja
Inventor
Tomohito Akita
智史 秋田
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はA−D変換器を用いた時系列データの採集装置
に関し、特に、T OF (time−of−flig
ht)質量分析針等のデータ採集に用いるのに通した装
置に関する。
〈従来の技術〉 一般に、アナログ検出信号をA−D変換器を用いて刻々
とデジタル化し、そのデジタルデータを順番にメモリに
格納してゆく、いわゆる時系列データ採集装置において
は、従来トリガがかかってから所定の時間が経過した時
点からデータ採集を開始し、設定された時間が経過する
まで、あるいはメモリの容量を使いきるまで、あらかじ
め定められた時間間隔で同一ゲインのもとに入力信号を
デジタル化し、メモリに格納してゆくよう構成されてい
る。
〈発明が解決しようとする問題点〉 上述の如き従来の時系列データ採集装置により、トリガ
発生後長時間継続する現象に係るデータを高速度でサン
プリングする為には、大容量の高速メモリが必要となる
ところで、試料から所定のエネルギでイオン粒子等を飛
び出させ、粒子が検出器に到達するまでの時間から、試
料の質量スペクトル等を求める、TOF質量分析計(飛
行時間型質量分析針)においては、検出器からの信号は
長時間に亘って継続するものの、有効な信号は時間軸上
にグループを形成して散在していることが多い、従って
、このような分析針に従来の時系列データ採集装置を用
いると、メモリ内には不必要なデータが多く格納され、
実質的なメモリ利用効率は著しく低下することになる。
また、TOF質量質量分析台いては、1回の分析動作中
に得られる検出器からの信号強度は、通常、広範囲に亘
るが、現状では高速度で、かつ、高分解能のA−D変換
器が得られないことと、1回の分析動作中におけるデー
タ採集装置の入力ゲインを変更できないことから、装置
のダイナミックレンジの点においても問題となっている
本発明は上記に鑑みてなされたもので、TOF質量質量
分析台高速データ採集装置として、メモリの利用効率が
高(、また、用いるA−D変換器の分解能が低くとも、
実質的に広いダイナミックレンジを得ることのできる、
時系列データ採集装置の提供を目的としている。
く問題点を解決する為の手段〉 上記目的を達成する為の構成を、第1図に示す基本m意
図に基づいて説明すると、本発明は、アナログ検出信号
をA−D変換器1で順次デジタル化して、時系列的にメ
モリ2に格納する装置において、あらかじめ設定された
任意数の時間領域とその各時間領域における入力ゲイン
を記憶する記憶手段aと、トリガ発生後の時間を計測す
る計時手段すと、その計時手段すによる現時刻が記憶手
段a内に設定されている時間領域内にあるか否かを判別
する判別手段Cと、その判別結果に基づいて、A−D変
換器1およびメモリ2に作動指令を与えるサンプリング
指令手段dと、記憶手段a内に、各時間領域に対応して
設定されている入力ゲインに基づいて、アナログ検出信
号のA−D変換器1への入力ゲインを変更するゲイン変
更手段eを備え、連続的なアナログ検出信号から、トリ
ガ発生後所望の時間領域において、各時間領域について
所望の入力ゲインによるデジタルデータをメモリ2に格
納し得るよう構成したことを特徴としている。
く作用〉 TOF質量質量分析台の検出信号のように、有効な信号
が時間軸上に複数のグループを形成しており、そのグル
ープの存在箇所が経験的に又は理論的に予測がつく場合
、その予測に基づいて第3図(A)に示す如く、必要と
される時間領域■。
n、−−一−を設定しておくことにより、同図(C)に
示す如くその時間領域1.n、・−・−内における検出
信号についてのみ、データがデジタル化されてメモリ2
内に格納されることになり、不要なデータがメモリ2内
に格納される率が下がる。
また、各時間領域における信号強度が予測されると、そ
の予測に基づいて第3図(B)に示す如く、入力ゲイン
を設定しておくことにより、実質的にA−D変換器2の
分解能を向上させることができる。
〈実施例〉 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第2図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
入力信号は、ゲイン情報によりそのゲインが可変のアン
プ3によって増巾されてA−D変換B1に導かれ、その
A−D変換器1のデジタル出力はメモリ2に導かれるよ
う構成されている。
A−D変換器1のA−D開始/終了指令信号は後述する
システムコントローラ4から供給され、また、メモリ2
のアドレス指定およびリード/ライト信号は、同じくシ
ステムコントローラ4からの指令により作動するメモリ
コントローラ5から供給される。
スケジュールメモリ6は、あらかじめ任意に設定し得る
任意数の時間軸上の領域(以下、タイムウィンドウと称
する)の、トリガ発生を起点とする各開始/終了時刻と
、同じ(任意に設定し得る各タイムウィンドウごとのア
ンプ3のゲイン、並びに全体の動作終了時刻に関する情
報を記憶している。このスケジュールメモリ6は、シス
テムコントローラ4の支配下にあるスケジュールメモリ
コントローラ7によって読み出し制御が行われ、その読
み出し結果は、タイムウィンドウ情報については比較回
路8に、ゲイン情報についてはアンプ3に、また動作終
了時刻情報についてはシステムコントローラ4に、それ
ぞれ供給される。
基準時刻パルスを発生する発振器9の出力をカウントす
るタイムカウンタ10は、システムコントローラ4によ
り制御されるタイムカウンタコントローラ11からの指
令によって作動し、そのカウント出力を比較回路8に供
給する。比較回路8では、そのタイムカウンタ10の出
力と、上述のスケジュールメモリ6からのタイムウィン
ドウ情報とを比較し、タイムカウンタ10による現時刻
がタイムウィンドウ内にあるか否かを判別し、その判別
結果をシステムコントローラ4に供給する。
システムコントローラ4は、トリガ入力と同時に各部の
制御を開始し、スケジュールメモリ6からの動作終了時
刻情報によりその制御を停止するが、制御の開始と同時
にタイムカウンタコントローラ11を介してタイムカウ
ンタ10によるカウントを開始させる。また、比較回路
8からの判別結果に基づき、現時刻がタイムウィンドウ
内にあるときに限り、A−D変換器1による信号変換の
実行並びにメモリ2へのデジタルデータの書き込みを行
わせしめ、また、スケジュールメモリコントローラ7を
介して必要なタイミングでスケジュールメモリ6の内容
を呼び出すよう構成されている。
次に作用を述べる。まず、トリガ発生前に、スケジュー
ルメモリ6にタイムウィンドウ情報と各タイムウィンド
ウについてのゲイン情報を書き込む、これらの情報は、
TOF質量分析計等に用いる場合、予備的な測定の結果
により、あるいは理論的な推定により決定される。すな
わち、時間軸上において有効信号が形成する各グループ
をそれぞれ包み込むようなタイムウィンドウを設定する
とともに、その各グループ内における信号強度に鑑みて
、微弱な強度の信号で形成されるグループは高いゲイン
で、強い信号の発生が予想されるグループは低いゲイン
下でのデータ採集を行うよう、各タイムウィンドウごと
のアンプ3のゲインを設定しておくわけである。
さて、第3図(A>に示す如くタイムウィンドウl〜■
が設定され、また、各タイムウィンドウごとのゲインが
設定されて、これらがスケジュールメモリ6に記憶され
ているものとすると、トリガ発生と同時にステジュール
メモリ6からタイムウィンドウIに係る情報が読み出さ
れ、アンプ3のゲインがその情報に基づくゲインに設定
される。
そして、タイムカウンタ10の出力による現時刻がタイ
ムウィンドウI内に入ると、A−D変換開始指令がかか
り、入力信号はアンプ3による上述のゲインに基づく増
巾のちとにデジタル化され、メモリ2内に順次書き込ま
れてゆく、現時刻がタイムウィンドウI外に出ると同時
に、A−D変換終了指令がかかり、また、スケジュール
メモリ6から次のタイムウィンドウ■に係る情報が読み
出され、同様な手順でメモリ2内にタイムウィンドウ■
内におけるデータが書き込まれてゆく、最後のタイムウ
ィンドウVのデータを書き込んだ後、動作終了時刻情報
が読み出されるとシステムの動作を終了する。
その結果、第3図(C)にメモリ2のデータ書き込み態
様を模式的に示す如く、各タイムウィンドウ内における
データのみ、いいかえれば、有効信号の発生が予想され
た時間帯における入力信号のデジタル変換データのみが
、メモリ2に書き込まれ、かつ、各タイムウィンドウご
とのデータは、それぞれ所望のゲインのもとに入力信号
を増巾した値となっている。ちなみに、従来のこの種の
装置におけるメモリのデータ書き込み態様は、同図(D
)に示す如く、斜線部で示すエリアに有効でない信号も
全てデジタル変換して書き込まれ、かつ、入力信号のゲ
インは一定である。
なお、スケジュールメモリ6へのタイムウィンドウ情報
の開始/終了を数値として与える方法として、トリガ発
生後の時間を絶対値で与える方法。
各開始/終了点からの相対的時間で与える方法。
およびこれらを組み合わせて与える方法等が考えられる
また、以上は、主としてTOF質量分析針における時系
列データ採集装置に本発明を通用した例を示したが、本
発明はこれに限られることなく、高速で広いダイナミッ
クレンジが要求され、かつ、比較的長時間に亘って、有
効信号がグループを形成して散在しているようなアナロ
グ信号から、時系列データを採集する必要のある場合に
適宜応用してその効果を発揮するものである。    
 。
く効果〉 以上説明したように、本発明によれば、長時間に亘って
継続する入力信号から、あらかじめ推定される有効信号
の発生する時間領域についてのみ、デジタル化してメモ
リに格納するから、従来のように不要信号を多量にデー
タとして記憶することがなく、メモリの利用効率が向上
し、その分、メモリ容量を節約することができる。同時
に、各時間領域について任意に入力ゲインを設定するこ
とができるから、超高速低分解能のA−D変換器を用い
ても、実質的には広いダイナミックレンジを得゛ること
ができ、これにより、時間的分解能が高く、しかも、広
いダイナミックレンジによる測定が可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を示す基本概念図、第2図は本発
明実施例の構成を示すブロック図、第3図は本発明実施
例の作用を、従来例との比較のもとに説明する図である
。 1−A −D変換器 2−メモリ 3−アンプ    ルー・システムコントローラ6・−
スケジュールメモリ 8−・比較回路   9−・−・発振器10−タイムカ
ウンタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. アナログ検出信号をA−D変換器で順次デジタル化して
    、時系列的にメモリに格納する装置において、あらかじ
    め設定された任意数の時間領域とその各時間領域におけ
    る入力ゲインを記憶する記憶手段と、トリガ発生後の時
    間を計測する計時手段と、その計時手段による現時刻が
    上記記憶手段内の上記時間領域内にあるか否かを判別す
    る判別手段と、その判別結果に基づいて上記A−D変換
    器およびメモリに作動指令を与えるサンプリング指令手
    段と、上記記憶手段の内容に基づいて上記アナログ検出
    信号の上記A−D変換器への入力ゲインを変更するゲイ
    ン変更手段とを備え、連続的なアナログ検出信号から、
    トリガ発生後の所望の時間領域において、各時間領域に
    ついて所望の入力ゲインによるデジタル化データを上記
    メモリに格納し得るよう構成したことを特徴とする時系
    列データ採集装置。
JP60182633A 1985-08-19 1985-08-19 時系列デ−タ採集装置 Granted JPS6242225A (ja)

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JP60182633A JPS6242225A (ja) 1985-08-19 1985-08-19 時系列デ−タ採集装置

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JP60182633A JPS6242225A (ja) 1985-08-19 1985-08-19 時系列デ−タ採集装置

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JPS6242225A true JPS6242225A (ja) 1987-02-24
JPH0321931B2 JPH0321931B2 (ja) 1991-03-25

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