JPS6230361B2 - - Google Patents
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- JPS6230361B2 JPS6230361B2 JP55026310A JP2631080A JPS6230361B2 JP S6230361 B2 JPS6230361 B2 JP S6230361B2 JP 55026310 A JP55026310 A JP 55026310A JP 2631080 A JP2631080 A JP 2631080A JP S6230361 B2 JPS6230361 B2 JP S6230361B2
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- JP
- Japan
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- tire
- sidewall portion
- output
- detection signal
- sidewall
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/34—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、タイヤの検査装置、詳しくは、プ
ライコード間隔の乱れを原因とする不良タイヤを
判別するため、内圧のかけられたタイヤのサイド
ウオール部の凹凸を検査する装置に関する。
ライコード間隔の乱れを原因とする不良タイヤを
判別するため、内圧のかけられたタイヤのサイド
ウオール部の凹凸を検査する装置に関する。
近年、タイヤの生産コストの低減および自動車
の燃費向上を図るため、タイヤの構造を簡素化し
て重量を軽減することが要求されており、このた
めラジアルタイヤにあつては2枚のプライコード
をはり合わせて作つていたカーカスを、1枚のプ
ライコードにして作るようになつてきた。このよ
うにカーカスが1枚のプライコードで作られる場
合は、プライコード内のコード間隔の乱れにより
コード間隔が疎となる部分が生ずると、その部分
の強度が特に弱くなることがあるため、製造され
たタイヤのプライコードの乱れを検査する必要が
ある。
の燃費向上を図るため、タイヤの構造を簡素化し
て重量を軽減することが要求されており、このた
めラジアルタイヤにあつては2枚のプライコード
をはり合わせて作つていたカーカスを、1枚のプ
ライコードにして作るようになつてきた。このよ
うにカーカスが1枚のプライコードで作られる場
合は、プライコード内のコード間隔の乱れにより
コード間隔が疎となる部分が生ずると、その部分
の強度が特に弱くなることがあるため、製造され
たタイヤのプライコードの乱れを検査する必要が
ある。
従来、このため製造されたタイヤに内圧をかけ
てプライコードのコード間隔の乱れから生ずるサ
イドウオール部の凹凸を効率良く高精度に検査す
ることが出来なかつた。コード間隔の乱れから生
ずるサイドウオール部の凹凸を、特公昭48―
35388(U.S.P.3550442)に示されるようなトレツ
ド部のラジアルランナアウトを測定する作動トラ
ンスを用いて検査することも考えられるが、この
検査方法は以下に述べるいくつかの点で不都合で
ある。すなわち、タイヤのサイドウオール部に検
出器を一点接触させて凹凸を検出するため、サイ
ドウオール部にある文字やスピユーなどの凹凸
と、プライコードのコード間隔の乱れにより生ず
る凹凸とを判別するのに困難である。タイヤのサ
イドウオール部に検出器を接触させるため、検出
器の耐久性が良くなく、また測定速度を高速化す
るのに一定の限度があり、なおまた被測定物を傷
つける虞れがある。
てプライコードのコード間隔の乱れから生ずるサ
イドウオール部の凹凸を効率良く高精度に検査す
ることが出来なかつた。コード間隔の乱れから生
ずるサイドウオール部の凹凸を、特公昭48―
35388(U.S.P.3550442)に示されるようなトレツ
ド部のラジアルランナアウトを測定する作動トラ
ンスを用いて検査することも考えられるが、この
検査方法は以下に述べるいくつかの点で不都合で
ある。すなわち、タイヤのサイドウオール部に検
出器を一点接触させて凹凸を検出するため、サイ
ドウオール部にある文字やスピユーなどの凹凸
と、プライコードのコード間隔の乱れにより生ず
る凹凸とを判別するのに困難である。タイヤのサ
イドウオール部に検出器を接触させるため、検出
器の耐久性が良くなく、また測定速度を高速化す
るのに一定の限度があり、なおまた被測定物を傷
つける虞れがある。
この発明は、このような従来の問題点に着目し
てなされたもので、タイヤに内圧をかけると、プ
ライコードのコード間隔の乱れにより生ずるサイ
ドウオール部の凹凸が特定の形状を有しているこ
とに基づき、静電容量型センサーをサイドウオー
ル部に非接触的に接近させて配設するとともに測
定範囲がサイドウオール部の半径方向に広く、周
方向に狭くなるようにその測定面を選定して、タ
イヤの回転軸を回転軸心としてタイヤと相対的に
回転させ、この静電容量型センサーが発信するセ
ンサー測定面とサイドウオール部表面との距離の
相対的変位を示す検出信号から前記特定の形状を
有する凹凸を表示するものであるか否かを判別す
ることにより、高速、高精度で、しかも検査装置
および被測定物の両者を傷つけることのない検査
装置を提供することを目的としている。
てなされたもので、タイヤに内圧をかけると、プ
ライコードのコード間隔の乱れにより生ずるサイ
ドウオール部の凹凸が特定の形状を有しているこ
とに基づき、静電容量型センサーをサイドウオー
ル部に非接触的に接近させて配設するとともに測
定範囲がサイドウオール部の半径方向に広く、周
方向に狭くなるようにその測定面を選定して、タ
イヤの回転軸を回転軸心としてタイヤと相対的に
回転させ、この静電容量型センサーが発信するセ
ンサー測定面とサイドウオール部表面との距離の
相対的変位を示す検出信号から前記特定の形状を
有する凹凸を表示するものであるか否かを判別す
ることにより、高速、高精度で、しかも検査装置
および被測定物の両者を傷つけることのない検査
装置を提供することを目的としている。
まず、プライコードのコード間隔の乱れにより
生ずるサイドウオール部の凹凸が如何なる形状を
有するものかを説明し、次にこの凹凸を静電容量
型センサーの検出信号により如何に判別するかを
説明する。
生ずるサイドウオール部の凹凸が如何なる形状を
有するものかを説明し、次にこの凹凸を静電容量
型センサーの検出信号により如何に判別するかを
説明する。
第1〜4図は、タイヤのサイドウオール部を周
方向に切断して見た断面の一部を示す図である。
プライコードのコード間隔の乱れによりコード間
隔が疎になるところは、他の部位より膨張して第
1図に示すような半径方向に延在する凸を生ず
る。コード間隔の乱れによりコード間隔が密にな
るところは、他の部位より膨張が押さえられて第
2図に示すような半径方向に延在する凹を生ず
る。以上がプライコードのコード間隔の乱れによ
り生ずる凹凸である。ところで、タイヤの強度上
特に問題となるのは、プライコード間隔が乱れて
コード間隔が広くなり、コードが疎になつて強度
が落ちることである。したがつて第1図に示すよ
うな凸を生ずるタイヤは、安全上好ましくないの
で除去されなければならない。この凸の周方向の
広がりlと高さhは、タイヤの種類とそれに加え
られる内圧によつて一定範囲の値に決まるため、
後述の強度上あまり問題とならない凹凸より区別
することができる。なお、第2図の凹はタイヤの
強度上さほど問題とならないが、このような凹を
生ずるタイヤも除去されることが望ましい。サイ
ドウオール部に生じ、タイヤの強度上あまり問題
とならない凹凸は以下のものがある。すなわち、
タイヤに内圧をかけると、プライコードの結合の
ための重なり合い部分などには第3・4図に示す
ような半径方向に延在する段差が生ずる。また、
サイドウオール部には文字およびスピユーがあ
る。文字は周方向に延在する一群の凸としてとら
えることができ、スピユーは点状の突起としてと
らえることができる。
方向に切断して見た断面の一部を示す図である。
プライコードのコード間隔の乱れによりコード間
隔が疎になるところは、他の部位より膨張して第
1図に示すような半径方向に延在する凸を生ず
る。コード間隔の乱れによりコード間隔が密にな
るところは、他の部位より膨張が押さえられて第
2図に示すような半径方向に延在する凹を生ず
る。以上がプライコードのコード間隔の乱れによ
り生ずる凹凸である。ところで、タイヤの強度上
特に問題となるのは、プライコード間隔が乱れて
コード間隔が広くなり、コードが疎になつて強度
が落ちることである。したがつて第1図に示すよ
うな凸を生ずるタイヤは、安全上好ましくないの
で除去されなければならない。この凸の周方向の
広がりlと高さhは、タイヤの種類とそれに加え
られる内圧によつて一定範囲の値に決まるため、
後述の強度上あまり問題とならない凹凸より区別
することができる。なお、第2図の凹はタイヤの
強度上さほど問題とならないが、このような凹を
生ずるタイヤも除去されることが望ましい。サイ
ドウオール部に生じ、タイヤの強度上あまり問題
とならない凹凸は以下のものがある。すなわち、
タイヤに内圧をかけると、プライコードの結合の
ための重なり合い部分などには第3・4図に示す
ような半径方向に延在する段差が生ずる。また、
サイドウオール部には文字およびスピユーがあ
る。文字は周方向に延在する一群の凸としてとら
えることができ、スピユーは点状の突起としてと
らえることができる。
静電容量型センサーに検出された検出信号か
ら、第1図に示す凸を判別するには以下のように
する。まず、静電容量型センサーの測定面を、そ
の測定範囲がサイドウオール部の半径方向に広
く、周方向に狭くなるように選んでおき、検出信
号に対する文字やスピユーなどの影響を第1図の
凸より相対的に弱くし、文字やスピユーが検出信
号に表われるのを防ぐ。このようになされた静電
容量型センサーの検出信号が、タイヤと静電容量
型センサーの相対回転速度を一定とした時一定時
間α内に、静電容量型センサーとサイドウオール
部表面との接近を示す方向に一定値β以上変化
し、さらに両者の離反を示す方向に一定値γ以上
変化するならばこれを凸と判断する。あるいは、
静電容量型センサーの検出信号が、所定値α′以
上の微係数でもつて増加する場合にその増加量を
測定し、次にその増加量がある一定値β′に達
し、かつ、その値β′に達したサイドウオール部
位置から静電容量型センサーが所定の周方向長移
動する時間γ′内において、検出信号が所定値
δ′以上の微係数でもつて減少してその減少量が
ある一定の値ε′に達する時はこれを凸と判定す
る。前述のα,β,γまたはα′,β′,γ′,
δ′,ε′の値を第1図の凸の形状と合致するよう
に選択することにより、第1図の凸を他の凹凸か
ら正確に判別することができる。
ら、第1図に示す凸を判別するには以下のように
する。まず、静電容量型センサーの測定面を、そ
の測定範囲がサイドウオール部の半径方向に広
く、周方向に狭くなるように選んでおき、検出信
号に対する文字やスピユーなどの影響を第1図の
凸より相対的に弱くし、文字やスピユーが検出信
号に表われるのを防ぐ。このようになされた静電
容量型センサーの検出信号が、タイヤと静電容量
型センサーの相対回転速度を一定とした時一定時
間α内に、静電容量型センサーとサイドウオール
部表面との接近を示す方向に一定値β以上変化
し、さらに両者の離反を示す方向に一定値γ以上
変化するならばこれを凸と判断する。あるいは、
静電容量型センサーの検出信号が、所定値α′以
上の微係数でもつて増加する場合にその増加量を
測定し、次にその増加量がある一定値β′に達
し、かつ、その値β′に達したサイドウオール部
位置から静電容量型センサーが所定の周方向長移
動する時間γ′内において、検出信号が所定値
δ′以上の微係数でもつて減少してその減少量が
ある一定の値ε′に達する時はこれを凸と判定す
る。前述のα,β,γまたはα′,β′,γ′,
δ′,ε′の値を第1図の凸の形状と合致するよう
に選択することにより、第1図の凸を他の凹凸か
ら正確に判別することができる。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第5〜8図は、この発明の一実施例を示す図で
ある。まず、構成を説明する。
ある。まず、構成を説明する。
第5図はこの実施例の検査装置のセンサーの部
分を概略的に示すものであり、1は検査対象のタ
イヤであり、モーター2により回転軸3を回転軸
心として一定の角速度で回転されるようになつて
いる。4,5はタイヤ1の両側のサイドウオール
部1aに非接触的に近接された上側および下側の
静電容量型センサーであり、タイヤ1の回転によ
りサイドウオール部1a表面上を相対的に回転す
る。これら静電容量型センサー4,5は第1,第
2アーム6,7により矢印a,bに示す上下方向
に移動することができるようになつており、また
第3アーム8により矢印c,dに示す前後方向に
移動することができるようになつている。これら
モーター2、第1〜3アーム6,7,8により回
転手段9が構成される。なお、検査装置10はタ
イヤ1のユニフオミテイを測定するユニフオミテ
イマシン11と並設し、タイヤ1のユニフオミテ
イ測定中にサイドウオール部1aの凹凸の検査を
同時にするようにしてもよい。
分を概略的に示すものであり、1は検査対象のタ
イヤであり、モーター2により回転軸3を回転軸
心として一定の角速度で回転されるようになつて
いる。4,5はタイヤ1の両側のサイドウオール
部1aに非接触的に近接された上側および下側の
静電容量型センサーであり、タイヤ1の回転によ
りサイドウオール部1a表面上を相対的に回転す
る。これら静電容量型センサー4,5は第1,第
2アーム6,7により矢印a,bに示す上下方向
に移動することができるようになつており、また
第3アーム8により矢印c,dに示す前後方向に
移動することができるようになつている。これら
モーター2、第1〜3アーム6,7,8により回
転手段9が構成される。なお、検査装置10はタ
イヤ1のユニフオミテイを測定するユニフオミテ
イマシン11と並設し、タイヤ1のユニフオミテ
イ測定中にサイドウオール部1aの凹凸の検査を
同時にするようにしてもよい。
静電容量型センサ4,5は、例えば筒状の外筒
電極とその先端側中央部に位置する中間電極とい
う2つの対向電極を有するものが用いられ、これ
らの対向電極の間には所定の高周波信号が供給さ
れる。そして、各センサ4,5はこれらの対向電
極と被測定面であるサイドウオール部1aの表面
との距離の変動により、各対向電極と該表面との
間における静電容量を変化させて上記高周波信号
の変化を電圧信号として出力する。静電容量型セ
ンサー4,5は、第1図に示すようなコード間隔
の乱れにより生じ半径方向に延在する凸を、文字
や点状に突起するスピユーよりも相対的に強く検
出して、文字、スピユーによる影響を小さくする
ために、第6図に示すようにその測定範囲が矢印
e,fに示すサイドウオール部1aの半径方向に
広く、矢印g,iに示す周方向に狭くなるよう
に、測定面4a,5aの形状を選んでいる。第7
図は、この実施例の判断回路のブロツク構成を示
すものである。判断回路12は、入力部13が上
下切換スイツチ14、前処理回路15とA/D変
換器16とで構成されており、判別部17が入力
ポート18、アドレスレコーダ19、メモリ2
0、マイクロプロセツサ21と出力ポート22と
で構成されており、出力ポート22は図外の表示
器に接続している。判別部17微分手段、測定手
段、検知手段および判別手段としての機能を有す
る。この動作を第7図および第8図の検出信号を
参照しで説明する。上下の静電容量型センサー
4,5の検出信号は上下切換スイツチ14でどち
らか一方に選択され前処理回路15で増幅、高周
波成分の除去、サプレツシヨンなど適当な信号の
前処理をされた後A/D変換器16に入力され
る。A/D変換器16は第8図に示す検出信号を
時間間隔△t毎における検出信号の大きさに分割
して、デジタル化し、入力ポート18に入力す
る。判別部17は、検出信号が第1図に示す凸の
広がりlに対応する時間T内に、サイドウオール
部1a表面の一定値h以上の立上がりを示す変化
Mをし、かつ、一定値h以上の立下がりを示す変
化nをした場合は、これを異常として、出力ポー
ト22より図外の表示器をONして、異常を知ら
せる。具体的には第8図T内の最大値とその前後
それぞれの最小値との差を演算するようにすれば
良い。さらに第2図の凹も同様に検出することが
出来ることは言うまでもない。
電極とその先端側中央部に位置する中間電極とい
う2つの対向電極を有するものが用いられ、これ
らの対向電極の間には所定の高周波信号が供給さ
れる。そして、各センサ4,5はこれらの対向電
極と被測定面であるサイドウオール部1aの表面
との距離の変動により、各対向電極と該表面との
間における静電容量を変化させて上記高周波信号
の変化を電圧信号として出力する。静電容量型セ
ンサー4,5は、第1図に示すようなコード間隔
の乱れにより生じ半径方向に延在する凸を、文字
や点状に突起するスピユーよりも相対的に強く検
出して、文字、スピユーによる影響を小さくする
ために、第6図に示すようにその測定範囲が矢印
e,fに示すサイドウオール部1aの半径方向に
広く、矢印g,iに示す周方向に狭くなるよう
に、測定面4a,5aの形状を選んでいる。第7
図は、この実施例の判断回路のブロツク構成を示
すものである。判断回路12は、入力部13が上
下切換スイツチ14、前処理回路15とA/D変
換器16とで構成されており、判別部17が入力
ポート18、アドレスレコーダ19、メモリ2
0、マイクロプロセツサ21と出力ポート22と
で構成されており、出力ポート22は図外の表示
器に接続している。判別部17微分手段、測定手
段、検知手段および判別手段としての機能を有す
る。この動作を第7図および第8図の検出信号を
参照しで説明する。上下の静電容量型センサー
4,5の検出信号は上下切換スイツチ14でどち
らか一方に選択され前処理回路15で増幅、高周
波成分の除去、サプレツシヨンなど適当な信号の
前処理をされた後A/D変換器16に入力され
る。A/D変換器16は第8図に示す検出信号を
時間間隔△t毎における検出信号の大きさに分割
して、デジタル化し、入力ポート18に入力す
る。判別部17は、検出信号が第1図に示す凸の
広がりlに対応する時間T内に、サイドウオール
部1a表面の一定値h以上の立上がりを示す変化
Mをし、かつ、一定値h以上の立下がりを示す変
化nをした場合は、これを異常として、出力ポー
ト22より図外の表示器をONして、異常を知ら
せる。具体的には第8図T内の最大値とその前後
それぞれの最小値との差を演算するようにすれば
良い。さらに第2図の凹も同様に検出することが
出来ることは言うまでもない。
第9図は、この発明の他の実施例の検査装置の
判断回路のブロツク図を示すものである。この実
施例の判断回路以外の部分は、第5,6図に示す
前述の実施例と同じである。この実施例の判断回
路は、前述の実施例の判断回路が検出信号をデジ
タル化して判断したのに対して、検出信号をアナ
ログ量のままで判断している。まず、この実施例
の判断回路50の構成を説明する。入力部51が
上下切替スイツチ52、バツフアー増幅器53、
ローパスフイルター54とサプレツシヨン器55
とで構成されている。微分手段56がサンプリン
グホールド器57と引算増幅器58とで構成され
ており、測定手段59が2つの比較器60,6
0′、2つのサンプリングクロツク作成器61,
61′、2つのサンプリングホールド器62,6
2′と2つの引算増幅器63,63′とで構成され
ており、検知手段64が2つの比較器65,6
5′で構成されており、判別手段66が2つの判
別タイマー67,67′、凸判別器68と凹判別
器69とで構成されている。
判断回路のブロツク図を示すものである。この実
施例の判断回路以外の部分は、第5,6図に示す
前述の実施例と同じである。この実施例の判断回
路は、前述の実施例の判断回路が検出信号をデジ
タル化して判断したのに対して、検出信号をアナ
ログ量のままで判断している。まず、この実施例
の判断回路50の構成を説明する。入力部51が
上下切替スイツチ52、バツフアー増幅器53、
ローパスフイルター54とサプレツシヨン器55
とで構成されている。微分手段56がサンプリン
グホールド器57と引算増幅器58とで構成され
ており、測定手段59が2つの比較器60,6
0′、2つのサンプリングクロツク作成器61,
61′、2つのサンプリングホールド器62,6
2′と2つの引算増幅器63,63′とで構成され
ており、検知手段64が2つの比較器65,6
5′で構成されており、判別手段66が2つの判
別タイマー67,67′、凸判別器68と凹判別
器69とで構成されている。
なお、この検査装置は第1図の凸に加えて、第
2図の凹も判別することができるように構成され
ている。
2図の凹も判別することができるように構成され
ている。
上下切替スイツチ52は、上下の静電容量型セ
ンサー4,5が発信したそれぞれの検出信号を、
いずれか一つに選択してバツフアー増幅器53に
入力するものであり、バツフアー増幅器53は、
後述の回路群の影響が静電容量型センサー4,5
に及ばないようにするものであり、その出力はロ
ーパスフイルター54に入力している。ローパス
フイルター54は、高周波雑音を除去するもので
あり、その出力はサプレツシヨン器55に入力し
ている。サプレツシヨン器55は、ローパスフイ
ルター54から出力された検出信号を次に来るサ
ンプルホールド器57の入力ダイナミツクレンジ
内に入るように基準値周辺に移動させて増幅する
ものである。サンプホールド器57には、サプレ
ツシヨン器55より出力された検出信号Aとクロ
ツクパルスBとが入力し、クロツクパルスBがH
レベルのとき検出信号A(サンプル出力)をその
まま出力し、クロツクパルスBがLレベルのとき
検出信号Aの前の値をそのまま保持して出力する
ものである。引算増幅器58には、サプレツシヨ
ン器55より出力された検出信号Aとサンプリン
グホールド器57の出力Cとが入力している。比
較器60,60′には、比較電圧j,j′がそれぞ
れ与えられており、かつ、引算増幅器58の出力
Dが入力している。サンプリングクロツク作成器
61,61′には、それぞれ比較器60,60′の
出力E,E′とクロツクパルスBとが入力してい
る。サンプルホールド器62,62′には、それ
ぞれサンプリングクロツク作成器61,61′よ
り出力されたサンプリングクロツク信号F,
F′とサプレツシヨン器55より出力された検出
信号Aとが入力しており、サンプリングクロツク
信号F,F′がHレベルのとき検出信号A(サン
プル出力)をそのまま出力しサンプリングクロツ
ク信号F,F′がLレベルのとき検出信号Aの前
の値をそのまま保持して出力するものである。引
算増幅器63,63′には、それぞれサンプルホ
ールド器62,62′の出力G,G′と検出信号A
とが入力している。比較器65,65′には、そ
れぞれ引算増幅器63,63′の出力H,H′が入
力しており、また比較電圧k,k′が与えられてい
る。判別タイマ67,67′には、それぞれ比較
器65,65′の出力I,I′が入力しており、こ
れらの出力I,I′により一定の判別時間巾を有す
るパルス信号出力J,J′を出力するものである。
凸判別器68には、判別タイマ67の出力Jと比
較器65′の出力I′とが入力しており、これら2
つの出力I′,Jのアンド条件を取るものである。
凸判別器68の出力Kは図外の凸表示器に入力し
ている。凹判別器69は判別タイマ67′の出力
J′と比較器65の出力Iとが入力しており、これ
ら2つの出力I,J′のアンド条件を取るものであ
る。凹判別器69の出力K′は図外の凹表示器に
入力している。
ンサー4,5が発信したそれぞれの検出信号を、
いずれか一つに選択してバツフアー増幅器53に
入力するものであり、バツフアー増幅器53は、
後述の回路群の影響が静電容量型センサー4,5
に及ばないようにするものであり、その出力はロ
ーパスフイルター54に入力している。ローパス
フイルター54は、高周波雑音を除去するもので
あり、その出力はサプレツシヨン器55に入力し
ている。サプレツシヨン器55は、ローパスフイ
ルター54から出力された検出信号を次に来るサ
ンプルホールド器57の入力ダイナミツクレンジ
内に入るように基準値周辺に移動させて増幅する
ものである。サンプホールド器57には、サプレ
ツシヨン器55より出力された検出信号Aとクロ
ツクパルスBとが入力し、クロツクパルスBがH
レベルのとき検出信号A(サンプル出力)をその
まま出力し、クロツクパルスBがLレベルのとき
検出信号Aの前の値をそのまま保持して出力する
ものである。引算増幅器58には、サプレツシヨ
ン器55より出力された検出信号Aとサンプリン
グホールド器57の出力Cとが入力している。比
較器60,60′には、比較電圧j,j′がそれぞ
れ与えられており、かつ、引算増幅器58の出力
Dが入力している。サンプリングクロツク作成器
61,61′には、それぞれ比較器60,60′の
出力E,E′とクロツクパルスBとが入力してい
る。サンプルホールド器62,62′には、それ
ぞれサンプリングクロツク作成器61,61′よ
り出力されたサンプリングクロツク信号F,
F′とサプレツシヨン器55より出力された検出
信号Aとが入力しており、サンプリングクロツク
信号F,F′がHレベルのとき検出信号A(サン
プル出力)をそのまま出力しサンプリングクロツ
ク信号F,F′がLレベルのとき検出信号Aの前
の値をそのまま保持して出力するものである。引
算増幅器63,63′には、それぞれサンプルホ
ールド器62,62′の出力G,G′と検出信号A
とが入力している。比較器65,65′には、そ
れぞれ引算増幅器63,63′の出力H,H′が入
力しており、また比較電圧k,k′が与えられてい
る。判別タイマ67,67′には、それぞれ比較
器65,65′の出力I,I′が入力しており、こ
れらの出力I,I′により一定の判別時間巾を有す
るパルス信号出力J,J′を出力するものである。
凸判別器68には、判別タイマ67の出力Jと比
較器65′の出力I′とが入力しており、これら2
つの出力I′,Jのアンド条件を取るものである。
凸判別器68の出力Kは図外の凸表示器に入力し
ている。凹判別器69は判別タイマ67′の出力
J′と比較器65の出力Iとが入力しており、これ
ら2つの出力I,J′のアンド条件を取るものであ
る。凹判別器69の出力K′は図外の凹表示器に
入力している。
次に、動作を第9図および第10図のタイムチ
ヤート図を参照して説明する。
ヤート図を参照して説明する。
まず、第9図中の上下の静電容量センサー4,
5から発信された検出信号は、上下切替スイツチ
52によりどちらか一方に選択されて、バツフア
ー増幅器53に入力し、ローパスフイルター54
で高周波雑音を除去され、次に、サプレツシヨン
器55で次のサンプリングホールド器57の入力
ダイナミツクレンジ内に入るように基準値周辺に
移動されて増幅される。
5から発信された検出信号は、上下切替スイツチ
52によりどちらか一方に選択されて、バツフア
ー増幅器53に入力し、ローパスフイルター54
で高周波雑音を除去され、次に、サプレツシヨン
器55で次のサンプリングホールド器57の入力
ダイナミツクレンジ内に入るように基準値周辺に
移動されて増幅される。
サプレツシヨン器55より出力された検出信号
Aを第10図Aに示す。なお、検出信号Aは図示
の簡略化のため正弦波で示している。
Aを第10図Aに示す。なお、検出信号Aは図示
の簡略化のため正弦波で示している。
サンプリングホールド器57は、第10図Bに
示すクロツク信号BがHレベルのときは検出信号
Aをそのまま出力し、クロツク信号BがLレベル
のときは検出信号Aの前の値を保持して出力する
もので、第10図Cに示す出力Cを出力する。引
算増幅器58は、検出信号Aと出力Cを引算し、
第10図Dに示す出力Dを出力する。すなわち、
ここでは微分を行なつており、タイヤ1の角速度
よりサイドウオール部1aの周方向単位長に対す
る検出信号Aの増加量または減少量、すなわちサ
イドウオール部1a表面の上昇量または下降量の
比、つまり、微係数が求められる。比較器60,
60′は、それぞれ検出信号Aの立上がり、立下
がりの微係数の絶対値が比較電圧j,j′で示され
る一定値以上である場合は、第10図Eまたは
E′に示す出力E,E′を出力する。すなわち、こ
こではサイドウオール部表面の緩慢な上昇および
下降による検出信号Aの変動を無視するようにし
ている。サンプリングクロツク作成器61,6
1′は、比較器60,60′の出力E,E′とクロ
ツクパルスBとを入力して、第10図F,F′に
示すサンプリングクロツクF,F′を作成して出
力する。このサンプリングクロツクF,F′の長
さは、クロツクパルスBの一周期分程度の誤差が
生ずることがあつてもクロツクパルスBの周期は
実際は図示よりも非常に短いので問題とはならな
い。
示すクロツク信号BがHレベルのときは検出信号
Aをそのまま出力し、クロツク信号BがLレベル
のときは検出信号Aの前の値を保持して出力する
もので、第10図Cに示す出力Cを出力する。引
算増幅器58は、検出信号Aと出力Cを引算し、
第10図Dに示す出力Dを出力する。すなわち、
ここでは微分を行なつており、タイヤ1の角速度
よりサイドウオール部1aの周方向単位長に対す
る検出信号Aの増加量または減少量、すなわちサ
イドウオール部1a表面の上昇量または下降量の
比、つまり、微係数が求められる。比較器60,
60′は、それぞれ検出信号Aの立上がり、立下
がりの微係数の絶対値が比較電圧j,j′で示され
る一定値以上である場合は、第10図Eまたは
E′に示す出力E,E′を出力する。すなわち、こ
こではサイドウオール部表面の緩慢な上昇および
下降による検出信号Aの変動を無視するようにし
ている。サンプリングクロツク作成器61,6
1′は、比較器60,60′の出力E,E′とクロ
ツクパルスBとを入力して、第10図F,F′に
示すサンプリングクロツクF,F′を作成して出
力する。このサンプリングクロツクF,F′の長
さは、クロツクパルスBの一周期分程度の誤差が
生ずることがあつてもクロツクパルスBの周期は
実際は図示よりも非常に短いので問題とはならな
い。
サンプリングホールド器62,62′は、それ
ぞれサンプリングクロツクF,F′と検出信号A
とを入力し、サンプリングクロツクF,F′がH
レベルのときは検出信号をそのまま出力し、サン
プリングクロツクF,F′がLレベルのときはそ
の前の検出信号Aの値を保持して出力し、第10
図G,G′に示す出力G,G′を出力する。引算増
幅器63,63′は、それぞれ出力G,G′と検出
信号A,A′とを入力して引算し、第10図H,
H′に示す出力H,H′を出力する。すなわち、出
力Hは検出信号Aの微係数が一定値以上の時の増
加量、つまりサイドウオール部1a表面の上昇量
を示し、出力H′は検出信号Aの微係数が一定値
以下の時の減少量、つまりサイドウオール部1a
表面の下降量を示している。比較器65は、出力
Hを入力し、その増加量が第1図の凸の形状に対
応する比較値k以上の場合は、第10図Iに示す
パルスの出力Iを出力する。比較器65′は、出
力H′を入力して、その減少量が第1図の凸の形
状に対応する比較値k′以下の場合は第10図I′に
示すパルスの出力I′を出力する。判別タイマー6
7,67′は、比較器65,65′の出力I,I′よ
りパルスが入力すると第10図J,J′に示すよう
な、第1図の凸の形状に対応する時間(t)をも
つパルスの出力J,J′を出力する。時間(t)
は、サイドウオール部1aの風速度、および静電
容量型センサー4,5の測定範囲の大きさにより
決定される。
ぞれサンプリングクロツクF,F′と検出信号A
とを入力し、サンプリングクロツクF,F′がH
レベルのときは検出信号をそのまま出力し、サン
プリングクロツクF,F′がLレベルのときはそ
の前の検出信号Aの値を保持して出力し、第10
図G,G′に示す出力G,G′を出力する。引算増
幅器63,63′は、それぞれ出力G,G′と検出
信号A,A′とを入力して引算し、第10図H,
H′に示す出力H,H′を出力する。すなわち、出
力Hは検出信号Aの微係数が一定値以上の時の増
加量、つまりサイドウオール部1a表面の上昇量
を示し、出力H′は検出信号Aの微係数が一定値
以下の時の減少量、つまりサイドウオール部1a
表面の下降量を示している。比較器65は、出力
Hを入力し、その増加量が第1図の凸の形状に対
応する比較値k以上の場合は、第10図Iに示す
パルスの出力Iを出力する。比較器65′は、出
力H′を入力して、その減少量が第1図の凸の形
状に対応する比較値k′以下の場合は第10図I′に
示すパルスの出力I′を出力する。判別タイマー6
7,67′は、比較器65,65′の出力I,I′よ
りパルスが入力すると第10図J,J′に示すよう
な、第1図の凸の形状に対応する時間(t)をも
つパルスの出力J,J′を出力する。時間(t)
は、サイドウオール部1aの風速度、および静電
容量型センサー4,5の測定範囲の大きさにより
決定される。
凸判別器68には、判別タイマー67の出力J
と比較器65′の出力I′とが入力して、アンド条
件を取つており、判別タイマー67の出力Jのパ
ルスと比較器65′の出力I′のパルスが同時に入
力すると第10図Kに示すパルスの出力Kを出力
して図外の凸表示器をONする。すなわち、第1
図に示すような特別な形状をもつ凸に対してのみ
凸表示器をONし、それ以外の高さおよび広がり
をもつ凸および段差などに対してONしない。な
お、凹判別器69には、判別タイマー67′の出
力J′と比較器65の出力Iとが入力してアンド条
件を取つており、判別タイマー67′の出力J′の
パルスと比較器65の出力Iのパルスが同時に入
力すると第8図K′に示すパルスの出力K′を出力
して図外の凹表示器をONする。
と比較器65′の出力I′とが入力して、アンド条
件を取つており、判別タイマー67の出力Jのパ
ルスと比較器65′の出力I′のパルスが同時に入
力すると第10図Kに示すパルスの出力Kを出力
して図外の凸表示器をONする。すなわち、第1
図に示すような特別な形状をもつ凸に対してのみ
凸表示器をONし、それ以外の高さおよび広がり
をもつ凸および段差などに対してONしない。な
お、凹判別器69には、判別タイマー67′の出
力J′と比較器65の出力Iとが入力してアンド条
件を取つており、判別タイマー67′の出力J′の
パルスと比較器65の出力Iのパルスが同時に入
力すると第8図K′に示すパルスの出力K′を出力
して図外の凹表示器をONする。
以上説明してきたように、この発明によれば、
タイヤに内圧をかけた際、プライコードのコード
間隔の乱れにより生ずるサイドウオール部の凹凸
が特定の形状を有していることに基づき、静電容
量型センサーをサイドウオール部に非接触的に近
接させて配設するとともに、測定範囲がサイドウ
オール部の半径方向に広く、周方向に狭くなるよ
うに、その測定面を選定して、タイヤの回転軸を
回転軸心としてタイヤと相対的に回転させ、この
静電容量型センサーが発信するセンサー測定面と
サイドウオール部表面との距離の相対的変位を示
す検出信号から前記特定の形状を有する凹凸を表
示するものであるか否かを判別することとしたた
め、プラコードのコード間隔の乱れによる不良の
タイヤを高速、高精度で検査することができ、し
かも検査装置の耐久性が良く、タイヤを傷つける
ことがないという効果がある。
タイヤに内圧をかけた際、プライコードのコード
間隔の乱れにより生ずるサイドウオール部の凹凸
が特定の形状を有していることに基づき、静電容
量型センサーをサイドウオール部に非接触的に近
接させて配設するとともに、測定範囲がサイドウ
オール部の半径方向に広く、周方向に狭くなるよ
うに、その測定面を選定して、タイヤの回転軸を
回転軸心としてタイヤと相対的に回転させ、この
静電容量型センサーが発信するセンサー測定面と
サイドウオール部表面との距離の相対的変位を示
す検出信号から前記特定の形状を有する凹凸を表
示するものであるか否かを判別することとしたた
め、プラコードのコード間隔の乱れによる不良の
タイヤを高速、高精度で検査することができ、し
かも検査装置の耐久性が良く、タイヤを傷つける
ことがないという効果がある。
第1〜第4図はタイヤのサイドウオール部に生
ずる凹凸を示すために周方向に切断して見たタイ
ヤの一部断面図、第5図はこの発明の一実施例に
よるタイヤの検査装置の概略図、第6図はこの検
査装置の静電容量型センサーの測定面を示す概略
図、第7図はこの検査装置の判断回路の回路構成
を示すブロツク図、第8図はこの判断回路の動作
を示すための検出信号のグラフ図、第9図はこの
発明の他の実施例によるタイヤの検査装置の判断
回路の回路構成を示すブロツク図、第10図はこ
の判断回路の動作を示すためのタイムチヤート図
である。 1……タイヤ、1a……サイドウオール部、
4,5……静電容量型センサー、4a,5a……
測定面、9……回転手段、12,50……判断回
路、56……微分手段、59……測定手段、64
……検知手段、66……判別手段。
ずる凹凸を示すために周方向に切断して見たタイ
ヤの一部断面図、第5図はこの発明の一実施例に
よるタイヤの検査装置の概略図、第6図はこの検
査装置の静電容量型センサーの測定面を示す概略
図、第7図はこの検査装置の判断回路の回路構成
を示すブロツク図、第8図はこの判断回路の動作
を示すための検出信号のグラフ図、第9図はこの
発明の他の実施例によるタイヤの検査装置の判断
回路の回路構成を示すブロツク図、第10図はこ
の判断回路の動作を示すためのタイムチヤート図
である。 1……タイヤ、1a……サイドウオール部、
4,5……静電容量型センサー、4a,5a……
測定面、9……回転手段、12,50……判断回
路、56……微分手段、59……測定手段、64
……検知手段、66……判別手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 a 内圧のかけられたタイヤのサイドウオー
ル部の表面に非接触的に近接して配設されると
ともに、測定範囲がサイドウオール部の半径方
向に広く、周方向に狭くなるようにその測定面
が選定され、サイドウオール部との相対的距離
の変動を検出する静電容量型センサと、 b タイヤをその回転軸を回転軸心として、静電
容量型センサに対して相対回転させる回転手段
と、 c 静電容量型センサとタイヤのサイドウオール
部表面との相対的距離の変動を表す静電容量型
センサの出力を、サイドウオール部の周方向長
に対して微分する微分手段と、 d 微分手段で得られた検出信号の微係数の絶対
値が所定値以上であるとき、この検出信号の変
化量を測定する測定手段と、 e 測定手段で測定された変化量の絶対値が一定
値に達したとき、これを検知する検知手段と、 f 検知手段より発信された信号が静電容量型セ
ンサとサイドウオール部表面との接近状態を示
すものであるとき、この信号の発信時点から静
電容量型センサがサイドウオール部周方向に一
定距離移動する時間内に、前記検知手段から静
電容量型センサとサイドウオール部表面との離
反状態を示す信号が発信されると、これを異常
と判別する判別手段と、 を備えたことを特徴とするタイヤの検査装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2631080A JPS56122931A (en) | 1980-03-03 | 1980-03-03 | Method and device for checking tire |
US06/157,243 US4327580A (en) | 1980-03-03 | 1980-06-06 | Method of and apparatus for inspecting pneumatic tire |
GB8105494A GB2072346B (en) | 1980-03-03 | 1981-02-20 | Method and apparatus for inspecting a pneumatic tyre |
DE19813107699 DE3107699A1 (de) | 1980-03-03 | 1981-02-28 | Verfahren und vorrichtung zum untersuchen eines luftreifens |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2631080A JPS56122931A (en) | 1980-03-03 | 1980-03-03 | Method and device for checking tire |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56122931A JPS56122931A (en) | 1981-09-26 |
JPS6230361B2 true JPS6230361B2 (ja) | 1987-07-02 |
Family
ID=12189793
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2631080A Granted JPS56122931A (en) | 1980-03-03 | 1980-03-03 | Method and device for checking tire |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4327580A (ja) |
JP (1) | JPS56122931A (ja) |
DE (1) | DE3107699A1 (ja) |
GB (1) | GB2072346B (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4402218A (en) * | 1981-06-03 | 1983-09-06 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Method and apparatus for sidewall bulge and valley detection |
US4434652A (en) * | 1982-01-18 | 1984-03-06 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Automated tire measurement techniques |
US4440018A (en) * | 1982-01-18 | 1984-04-03 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Tire sidewall deformation detection techniques |
KR960000995B1 (ko) * | 1987-06-12 | 1996-01-15 | 이글 피쳐 인더스트리즈 인코포레이티드 | 물체 균일 측정 장치 및 방법 |
US4783992A (en) * | 1987-06-26 | 1988-11-15 | Bridgestone Corporation | Method of detecting configuration of tire |
US4984393A (en) * | 1987-07-01 | 1991-01-15 | The Uniroyal Goodrich Tire Company | Method for tire uniformity correction |
US4910411A (en) * | 1988-02-12 | 1990-03-20 | Sumitumo Rubber Industries | Apparatus for inspecting a side wall of a tire |
US5313827A (en) * | 1992-09-28 | 1994-05-24 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Method and apparatus for detecting ply defects in pneumatic tires |
DE4304451C2 (de) * | 1993-02-13 | 1995-12-14 | Seichter Gmbh | Meßsystem zur Erfassung von Unebenheiten auf der Oberfläche eines Meßobjektes |
US5639962A (en) * | 1996-03-06 | 1997-06-17 | The Goodyear Tire & Rubber Company | Enhanced tire uniformity machine data utilizing first and second derivative calculations |
DE19608528C2 (de) * | 1996-03-06 | 1998-08-20 | Continental Ag | Ermittlung von Unregelmäßigkeiten von Festigkeitsträgern in dehnbaren Bereichen eines Fahrzeugluftreifens |
DE19849793C1 (de) * | 1998-10-28 | 2000-03-16 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung und Verfahren zur berührungslosen Erfassung von Unebenheiten in einer gewölbten Oberfläche |
GB2351346A (en) * | 1999-06-23 | 2000-12-27 | Dunlop Tyres Ltd | Determining the uniformity of a tyre |
DE10062251C2 (de) * | 2000-12-14 | 2002-12-12 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätsüberprüfung eines Körpers |
JP2009031034A (ja) * | 2007-07-25 | 2009-02-12 | Bridgestone Corp | タイヤのラジアルランナウト測定方法および装置 |
KR101022915B1 (ko) | 2008-10-06 | 2011-03-16 | 금호타이어 주식회사 | 타이어 제조용 바디플라이의 오픈 및 오버랩량 측정장치 |
US8712720B2 (en) | 2008-12-19 | 2014-04-29 | Michelin Recherche at Technigue S.A. | Filtering method for improving the data quality of geometric tire measurements |
WO2010071657A1 (en) * | 2008-12-19 | 2010-06-24 | Michelin Recherche Et Technique, S.A. | Filtering method to eliminate tread features in geometric tire measurements |
US8011235B2 (en) * | 2009-04-16 | 2011-09-06 | Bridgestone Americas Tire Operations, Llc | Apparatus and method for measuring local tire stiffness |
WO2011159272A1 (en) | 2010-06-14 | 2011-12-22 | Michelin Recherche Et Technique, S.A. | Method for prediction and control of harmonic components of tire uniformity parameters |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3928796A (en) * | 1973-11-30 | 1975-12-23 | Int Lead Zinc Res | Capacitive displacement transducer |
US4258567A (en) * | 1979-09-27 | 1981-03-31 | The Firestone Tire & Rubber Company | Tire sidewall deformity tester and method |
-
1980
- 1980-03-03 JP JP2631080A patent/JPS56122931A/ja active Granted
- 1980-06-06 US US06/157,243 patent/US4327580A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-02-20 GB GB8105494A patent/GB2072346B/en not_active Expired
- 1981-02-28 DE DE19813107699 patent/DE3107699A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2072346B (en) | 1984-09-19 |
US4327580A (en) | 1982-05-04 |
JPS56122931A (en) | 1981-09-26 |
GB2072346A (en) | 1981-09-30 |
DE3107699A1 (de) | 1982-01-14 |
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