JPS62299775A

JPS62299775A - 圧接型コネクタへの電線押込型における導通試験型

Info

Publication number: JPS62299775A
Application number: JP61143523A
Authority: JP
Inventors: Takao Ohashi; 大橋　孝雄
Original assignee: KURIEITO SYST KK
Current assignee: KURIEITO SYST KK
Priority date: 1986-06-19
Filing date: 1986-06-19
Publication date: 1987-12-26
Also published as: JPH0556826B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】３、発明の詳細な説明「技術分野」本発明は、圧接型端子ヲ宵するコネクタと、被覆電線と
を接続するために用いる圧接型コネクタの電線押込型に
間し、特に圧接型端子と被覆電線の導線との導通試験を
押込時に同時に行なうようにした導通試験型に関する。

［従来技術およびその問題点」第４図、第５図は圧接型コネクタＣと被覆電線Ｐとの接
続の概念図で、コネクタＣには区画壁ａによって区画さ
れた複数の電線収納凹部すが形成されであり、各電線収
納凹部す内に、圧接型端子ｄが埋め込まれている。圧接
型端子ｄは周知のように、その凹部ｅ内に被覆電線Ｐを
押し込むと、被覆電線Ｐの被覆Ｓがこの凹部ｅのエツジ
により、剥離され、凹部ｅと内部の導線ｔとが導通する
。

このコネクタＣと被覆電線Ｐを接続するには、コネクタ
Ｃを下型に保持し、コネクタＣの各電線収納凹部す上に
導いた被覆電線Ｐを上型１０によって押し込む、上型１
０は、各被覆電線Ｐ（電線収納凹部ｂ）に対応する櫛歯
状をしていて、その下端部に圧接型端子ｄの逃げ溝］１
を有している。

圧接型コネクタＣには、電線収納凹部すの反対側に接続
ピン挿入孔ｆが穿けられており、被覆電線の押込作業の
終了後アッセンブリ時に、この挿入孔ｆから接続ピンを
挿入することで、該接続ピンと圧電型端子ｄの弾’ｈｍ
ｈ、つまり被Ｆ！電線Ｐの導線ｔが接続される。またこ
の圧接型コネクタＣには、導通試験用の試験ピン挿入孔
９が穿けられでいる。この試験ピン挿入孔９は、接続ピ
ン挿入孔ｆと兼用させることも可能であるが、この例で
は、接続ピン挿入孔ｆと直交する形（電線収納凹部すと
平行に）で試験ピン挿入孔９が設けられでいる。

ところでこの試験ピン挿入孔９には、従来、上記電線押
込作業の終了後に試験どンを挿入し、被覆電線の他端と
この試験ピンとの間で導通試験を行なうことにより、圧
接型端子ｄと被覆電線Ｐの導線ｔとの導通を見るのが普
逢であった。しかしこのように押込工程と別に導通試験
工程を設けるのは、明らかに能率が悪く、コストの増加
につながる。

なお被覆電線Ｐとしでは、複数の被覆電線＠整列させて
接合したいわゆるリボンケーブル、複数の被覆電線の間
に平板部を介在させて接合したフラットケーブル、ある
いは単線のいずれもが対象となる。リボンケーブルおよ
びフラットケーブルの場合は、コネクタＣへの接続前に
、スリッターにより、各被覆電線の先端がコネクタＣの
各電線収納口ｇＢｂに挿入可能な状態に分離切断される
。

「発明の目的」本発明は、従来工程についての以上の問題意識に基づき
、被覆電線の押込工程において、同時に被覆電線と圧接
型端子の導通試験を行なうことができる導通試験型を得
ることを目的とする。

「発明の概要」本発明は、コネクタを支持する下型を上型に対して昇降
可能に設け、この昇降工程に連動させて導通試験を行な
うという発想に基づいてなされたものである。すなわち
本発明は、上型に対して昇降可能に設けた圧接型コネク
タを支持する下型に、これに支持した圧接型コネクタの
試験ピン挿入孔に向けて進退可能であって、該試験ピン
挿入孔に進退する試験ピンを有する試験ピンホルダを支
持するとともに、この試験どンホルダと連動してしてこ
れを進退させる試験ピン作動アームを枢着し、さらにこ
の試験ピン作動アームを、下型の昇降動作に連動させて
揺動させるカム手段を設け、このカム手段により、下型
の下降位置において試験ピンホルダの試験ピンが圧接型
コネクタとの非干渉位置に退避し、上型が被覆電線を押
込む上昇位置において試験ピンが圧接型コネクタの試験
ピン挿入孔に進入するように試験どン作動アームを制御
するようにしたことを特徴としている。

「発明の実施例」以下図示実施例について本発明を説明する。第１図ない
し第３図は本発明の実施例を示すものである。上型１０
に対して昇降する下型２０の本体２１の上面は、圧接型
コネクタＣの支持部２２となっている。この支持部２２
の断面形状はコネクタＣの断面形状と対応している。こ
の支持部２２の側部には、コネクタＣの試験ピン挿入孔
９の位置に対応させで、水平方向の試験ピン進退孔２３
が穿けられており、この試験ピン進退孔２３には、試験
どンホルダ２４に固定した複数の試験ピン２５が進退す
る。試験どンホルダ２４は、試験ピン進退孔２３と平行
なガイドバー２６に移動自在に支持されでいて、試験ピ
ンホルダ２４がこのガイドバー２６に沿って移動すると
、試験どン２５が試験ピン進退孔２３からコネクタＣの
試験ピン挿入孔９に進退する。

下型本体２１には、揺動軸２７によって、試験ピン作動
アーム２８とコネクタ支持アーム２９が同軸に枢着され
ている。試験どン作動アーム２８の上端は、試験ピンホ
ルダ２４に設けた運動ピン３０を挟むフォーク部３１と
なっており、またその下端には、上下方向の試験ピンカ
ム３２と係合するカムフォロア３３が枢着されている。

下型本体２１と試験ピン作動アーム２８の間には、カム
フォロア３３を常時試験ピンカム３２に押し付ける方向
に回動付勢する圧縮ばね３４が挿入されている。試験ピ
ンカム３２は、固定されていて、その下方は試験ピン後
退区間３２ａ、上方が試験ビ　　　　　′ン進出区間３
２ｂとなっている。

他方上記コネクタ支持アーム２９は、その上端部を、コ
ネクタＣの上面の保持開放部３５としたもので、下端部
には、上下方向の支持アームカム３６と係合するカムフ
ォロア３７が枢着されている。３８は、この支持アーム
カム３６とカムフォロア３７が常時接触するようにコネ
クタ支持アーム２９を揺動付勢する圧縮ばねである。支
持アームカム３６は、試験どンカム３２と一体に固定さ
れでいで、下方の保持区Ｍ　３６　ａと上方の開放区間
３６ｂを有しでいる。なお第１図には、比較の便のため
、支持アームカム３６の形状（区間）ヲ鎖線で描いてい
る。

上記構成の本導通試験型は、第１図、第２図に示す状態
では、試験ピンカム３２の試験ピン後退区Ｆｆｆ１３２
　ａとカムフォロア３３が係合しでいるため、試験ピン
作動アーム２８を介して、試験ピンホルダ２４は後退位
置にあり、その試験ピン２５はコネクタＣからの退避位
置にある。またコネクタ支持アーム２９は、そのカムフ
ォロア３７を支持アームカム３６の保持区間３６ａに係
合させて、その保持開放部３５をコネクタＣの保持位置
に位百させている。長尺のコネクタＣは、この状態にお
いて、紙面に垂直な方向から、下型本体２１上の支持部
２２と保持開放部３５の周に導かれる。

コネクタＣｔ保持した下型２０は、図示しない駆動機構
により、上型１０に向かって上昇する。

この際上型１０も下型２ｏに向がって下降するのが普通
である。すると、まずカムフォロア３７の支持アームカ
ム３６に対する接触位置が保持区間３６ａから開放区間
３６ｂに変化し、その結果コネクタ支持アーム２９は第
２図に鎖線で示すように開いてその保持開放部３５をコ
ネクタＣの上面から退避させる。これにより、上型１０
とコネクタＣとの保合が可能となる。被覆電線Ｐは、両
者が係合する十分前に、図示しない送り機構によってコ
ネクタＣの電線収納凹部すの上部に送られでいる。

コネクタ支持アーム２９の保持開放部３５がコネクタＣ
の上面を開放すると、上型１０による被覆電線Ｐの押込
作業が行なわれる。すなわち被覆電線ＰがコネクタＣの
電線収納凹部すに押し込まれる。この押込は、第１図の
区間Ａにおいて行なわれる。この区間Ａは、下型２ｏの
カムフォロア３７が開放区間３６ｂに係合した復、カム
フォロア３３が試験ピンカム３２の試験ピン進出区間３
２ｂに係合する前の区間である。そしてこの押込区間の
終了後、下型２ｏがざらに上昇すると、カムフォロア３
３はやがて試験ピン進出区間３２ｂに係合する。すると
、圧縮ばね３４の力により試験どン作動アーム２８がＭ
１図反時計方向に揺動し、試験ピン作動アーム２８の上
端のフォーク部３１と連動ピン３０によって係合しでい
る試験ピンホルダ２４が同左方に摺動する。したがって
試験ピンホルダ２４に固定されでいる複数の試験どン２
５が、第１図に鎖線で示すように、試験ピン進退孔２３
を通って同時にコネクタＣの試験ピン挿入孔９に挿入さ
れ、圧接型端子ｄと導通することとなる。

導通試験は、この状態においで各試験どン２５と被覆電
線Ｐの他端との間で行なえばよい、一般的には、被覆電
線Ｐの他端にも同様の手順でコネクタｃｂ＜接続される
ことを利用し、この他端のコネクタＣの各圧接型端子ｄ
と試験ピン２５間、あるいは本導通試験型を一対用いて
の試験ピン２５間の導通試験によって、これを行なうこ
とができる。

下型２０を下降させる際の動作は、以上と逆で、試験ピ
ン２５か圧接型コネクタの試験ピン挿入孔９から抜けた
後、コネクタ支持アーム２９の保持開放部３５がコネク
タ保持位置に復帰する。

なお試験ピンホルダ２４（試験ビシ２５）の移動方向は
、コネクタＣに設ける試験ピン挿入孔９の方向によって
変更することができるのは勿論である。

またコネクタＣの形状等の要因によっては、コネクタ支
持アーム２９以外の支持手段によって、下型２０の上昇
工程においてコネクタ保持位置することが可能であり、
この場合には、コネクタ支持アーム２９を設けることを
要しない。

「発明の効果」以上のように本発明によると、圧接型コネクタを支持す
る下型を上型に対して上昇させる被で電線押込工程と同
時に、圧接型端子と被覆電線の導通試験を行なうことが
°できる。よって被覆電線押込工程とは別の導通試験工
程が不要となるから、加工工数を削減し、作業能率の向
上、コストの低減を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

蔦１図は本発明による圧接型コネクタへの電線押込型に
おける導通試験型の英施例そ示す第３図の■−■線に沿
う断面図、第２図は同ＩＩ　−ＩＩ線に沿う断面図、第
３図は同正面図、第４図は圧接型コネクタと被覆電線の
例を示す斜視図、第５図は圧接状態の断面図である。コネクタＣ・・・圧接型コネクタ、ａ・・・区画壁、ｂ
・・・電線収納凹部、ｄ・・・圧接型端子、ｅ・・・凹
部、９・・・試験ピン挿入孔、Ｐ・・・被覆電線、Ｓ・
・・被覆、ｔ・・・導線、１０・・・上型、２０・・・
下型、２１・・・下型本体、２２・・・支持部、ン２３
・・・試験ピン進退孔、２４・・・試験ピンホルダ、２
５・・・試験ピン、２６・・・ガイドバー、２７・・・
揺動軸、２８・・・試験ピン作動アーム、２９・−・コ
ネクタ支持アーム、３０・・・連動ピン、３１・・・フ
ォーク部、３２・・・試験ピンカム、３２　ａ−・・試
験ピン後退区間、３２ｂ・・・試験ピン進出区間、３３
．３７・・・カムフォロア、３４．３８・・・圧縮ばね
、３５・・・保持間ｌｙｉ部、３６・・・支持アーム力
、３６ａ・・・保持区間、３６ｂ・・・開放区間。特許出願人　クリエイト・システム株式会社第１図第３図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）複数並設した電線収納凹部内にそれぞれ圧接型端
子を有する圧接型コネクタを支持する下型と；この圧接
型コネクタの電線収納凹部上に導いた被覆電線をそれぞ
れの電線収納凹部内に押し込む、上記下型に対して相対
移動する上型とを有し、上記圧接型コネクタは、圧接型
端子と導通する試験ピン挿入孔を有する圧接型コネクタ
への電線押込型において、上記下型を上型に向けて昇降可能に設け、この下型に、
これに支持した圧接型コネクタの試験ピン挿入孔に向け
て進退可能であつて、該試験ピン挿入孔に進退する試験
ピンを有する試験ピンホルダを支持するとともに、この
試験ピンホルダと連動してこれを進退させる試験ピン作
動アームを枢着し、さらにこの試験ピン作動アームを、
下型の昇降動作に連動させて揺動させるカム手段を設け
、このカム手段により、下型の下降位置において試験ピ
ンホルダの試験ピンが圧接型コネクタとの非干渉位置に
退避し、上型が被覆電線を押込む上昇位置において試験
ピンが圧接型コネクタの試験ピン挿入孔に進入するよう
に試験ピン作動アームを制御することを特徴とする圧接
型コネクタへの電線押込型における導通試験型。
（２）特許請求の範囲第１項において、下型には、その
上端自由端部が圧接型コネクタの上面を保持開放するコ
ネクタ支持アームが、試験ピン作動アームと同軸に枢着
されており、このコネクタ支持アームは、下型の下降位
置において圧接型コネクタを保持し、上型が被覆電線を
押込む上昇位置において圧接型コネクタの上面を開放す
るように、カム手段によって制御される圧接型コネクタ
への電線押込型における導通試験型。