JPS62298750A - プリント基板検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 （産業上の利用分野） 本発明は、部品が実装された被検査プリント基板を撮像
して得られる画像を処即して前記被検査プリン１〜基板
十の部品のも無９位首ずれ雪を検査するプリント基板検
査装：ａ　１．：関する。

（従来の技術） プリント基板に抵抗器や半ｉ９　（４ん了等の各種−チ
ップ部品をマリン１−するどきにおいて自動ζ７ウント
装防を用いた場合、マリンｌ−４１においてマウントデ
ータどうりに部品がマウントされてい住いことがある。

このため、このような自動マリン１−装置等を用いる場
合には、マウント後にプリント基板をチェックして、こ
のプリント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正
しい姿勢（１１７冒、方向）でマウントされているがど
うが、また！ｌ（（落がないがどうかを検査する必要が
ある。

しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査でおこなっていたのでは、検査ミスの発生を完全
に無くすことができず、また検査速度を高めることがで
きないという問題がある。

そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装ｄが各メ−力から種々提
案されている。

第９図は、このような自動検査装置の一例を示すブロッ
ク図である。

この図に示す自動検査装置は、予め入力されている基準
データと、プリント基板１をｆｆｄＦ（＋して得られる
被検査データとを比較して前記被検査プリント基板１土
に部品２が全て載ゼられているかどうか、およびこれら
の部品２が位置ずれ等を起こしていないかどうか等を自
動的に検査づるものであり、キーボード３と、記憶部４
と、−［ｖカメラ５と、処理部６と、表示部７とを備え
ている。

キーボード３は、ファンクションキー、テンキー等の各
種キーを備えており、オペレータ等によって前記プリン
ト基板１を検査するときの基準データ、つまりこのプリ
ント基板１の秤類データ、このプリント基板１十にある
べき部品２の色データ、取付は位置データ、取付は姿勢
データ、形状データ等の各特徴データ、およびこれら各
特徴データに基づいて前記プリント基板１土の各部品２
の良否を検査するときに必要な許容誤差値データ等が入
力されたとき、これらの名データを記憶部４に供給する
。

記憶部４はＲＡＭ　（ランダム・アクセス・メモリ）等
を備えており、前記キーボード３がら供給された各デー
タを記憶するとともに、これを処理部６へ供給する。

処理部６はＴＶカメラ５にＪ：ってｖｌらねた前記プリ
ント基板１の画像を処即して、このプリン１へ基板１土
に取すイ（口Ｊられてぃろ各部品２の各ｆｉ徴データ（
被検査データ）を抽出するととらに、前記配憶部４に記
憶されている前記１、口１（データに幇づいてこの被検
査データをチ１’ｉ　”：ｌりし、ごのヂＴツク結果を
表示部７に供給し−（前計：各部品２の良否を表示させ
る。

（発明が解決しようとする間ｒｈ　ａ　＞ところで、こ
のような従来の自動検査装置においては、キーボード３
から入力された！；ｉ　Ｔ￥データと、プリント基板１
を撮像して１ｑられた被検査データとを比較して、この
プリント基板Ｉ　Ｊ−１：部品２が正しくマウントされ
ているがどうかを検査するようにしているので、プリン
ト基板１のバラツキが大きいときには、被検査データの
奢動幅が大きすぎて部品２のマウント状態を検査するこ
とができないという問題があった。

特に、クリームハンダを用いて部品２をハンダ付けする
ものでは、クリームハンダの塗布状態によって部品２を
配置する部分りの画像信号Ｓ１が第１０図（Ａ＞に示す
如く大きく変化するので、これを閾値ＴＨで２値化した
とき、たとえこの部分りに部品２がマウントされていな
くとも、第１０図（Ｆ３）に示す如くビクセル中位で部
品有りの信ＮＳ２が出てしまい、部品２の位置ずれや、
脱落を検出することができなくなってしまうことが多い
。

本発明は上記の事情に鑑み、部品を実装する前において
プリント基板の状態がバラついていても、このプリント
基板に部品がマウントされた後で、このプリント基板上
に部品が位置ずれなしに、全てマウントされているかど
うかを検査することができるプリント基板検査装置を提
供することを目的としている。

（問題点を解決するための手段） 上記問題を解決するため本発明によるプリント基板検査
装置は、プリント基板を顕像して得られた特徴パラメー
タに基づいて前記プリント基板十の部品を検査するプリ
ント基板検査装置において、プリント基板に部品がマウ
ントされる前に前記プリント基板を撮像する第１撮像部
と、前記プリント基板に部品がマウントされた後に前記
プリント基板を撮像する第２県像部と、前記第１踊像部
によって得られたプリント基板画像の特徴パラメータと
前記第２撮像部によって得られたプリント基板画像の特
徴パラメータとを比較して前記プリント基板上の部品を
検査する判定部とを備えたことを特徴としている。

（実施例） 第１図は本発明によるプリント基板検査装置の第１実施
例を示すブロック図である。

この図に示すプリント基板検査装置１ｊ、　、マウンタ
１０の前に配置される前処理部１１と、この前処理部１
１の出力を一時的に配憶するバッファメモリ１２と、前
記マウンタ１０の後に配量されるメイン処理部１３とを
備えており、前記前処理部１１の―像１１１７によって
１ｑられる未実ＭＭ板（部品搭載前のプリント基板）９
ａの画像と、前記メイン処理部１３のｌ１ｉｆｌｌｌｊ
１２８によって得られる実装基板（部品搭載後のプリン
ト基板）９ｂの画像とを比較して実装基板９ｂ上に部品
８が正しくマウントされているかどうかを検査する。

＃Ｊ処理部１１は、前の処理工程から搬入された未実装
基板９ａが載ゼられるＸ−Ｙテーブル部１６と、このＸ
−Ｙテーブル部１６十に載せられて位置出しされた未実
装基板９ａを撮像する撤像機（例えば、カラーＴＶカメ
ラなど）１７と、この撤像機１７によって得られた未実
装基板９ａの画像を処理する前処理部本体１８とを備え
ており、この前処理部本体１８内には第２図に示１如く
Ａ／Ｄ変換部（アナログ・デジタル変換部）１９と、Ｘ
−Ｙステージコントローラ２０と、メモリ２１と、ＣＰ
Ｕ　（中央処理装置）２２と、２つのインターフェース
２３．２４とが設けられている。

Ａ／Ｄ変換部１つは、前記ＣＰ　Ｕ　２２の制御の下に
、前記鰭像機１７によって冑られた前記未実装基板９ａ
の画像信号をＡ／Ｄ変換して画像データを作成し、これ
を前記ＣＰＵ２２へ供給する。

また、Ｘ−Ｙステージ」ントローラ２０は、前記ＣＰＵ
２２と、前記Ｘ−Ｙテーブル部１６の各パルスモータ（
図示略）とを接続するインターフェースを備えており、
前記ＣＰＬＪ２２の出力に基づいて前記Ｘ−Ｙテーブル
部１６を制御する。

またメモリ２１は、前記ＣＰＵ２２の作業エリアとして
使用されるＲＡＭ　（ランダム・アクセス・メモリ）と
、前記ＣＰ　Ｕ　２２の動作などが記述されたＲＯＭ（
リード・オンリ・メモリ）とを備えており、ＣＰＵ２２
はこのメモリ２１をアクセスしながら各種の処理を行な
う。

また一方のインターフェース２３は、前記ＣＰｔＪ２２
と、前記メイン処理部１３やマウンタ１０とを接続する
通信インターフ１−スであり、このインターフェース２
３を介して前記ＣＰ　Ｕ　２２は前記メイン処理部１３
やマウンタ１０と通信する。

また他方のインターフェース２４（よ、前記ＣＰＩＪ２
２と、前記バッファメモリ１２とを接続するものであり
、前記ＣＰＬＪ２２はこのインターフェース２４を介し
て前記Ａ／Ｄ変換部１９で得られた画像データをバッフ
ァメモリ１２に転送する。

バッファメモリ１２は、前記前処理部１１１）＼ら供給
される画像データを、−し記憶づるＪ：うに構成されて
おり、ここに配憶された内位（データはメイン処理部１
３によって順次読み出される。

メイン処理部１３は、マウンタ１０から搬出された実装
基板９ｂが載せられるＸ−Ｙテーブル部２７と、コ（７
）Ｘ　　Ｙチー１１部２７−トｔ、Ｔ　４．１．１！　
ラｈて位置だしされた実装基板９ｂを撮像する踊像機（
例えば、カラーＴＶカメラなど）２８と、このＶＡ像機
２８によって得られた実装基板９ｂの画像信号と前記バ
ッファメモリ１２に記憶されている未実装基板９ａの画
像データとを処理するメイン処理部本体２９とを備えて
おり、このメイン処理部本体２９内には、第３図に示す
如く２つのインター７エース３０．３１．！＝、Ａ／Ｄ
変換部３２ど、画像処理部３３と、Ｘ−Ｙステージ−〕
ン１−　ｎ−ラ３５と、メモリ３６ど、ＣＰ　Ｕ　３７
と、キーボード３８と、ＣＲＴ表示器３９と、プリンタ
４０と、ティーチングテーブル４２とが設【Ｊられてい
る。

一方のインターフェース３０は、ＣＰ　ＩＪ　３７ど、
前記前処理部１１とを接ｒＡ″！ｊる通仁インターフニ
ｌ−スであり、前記ＣＰ　Ｕ　３７はこのインター７丁
−ス３０を介して前記前処理部１１へ指令を出したり、
このインターフ１−ス３０を介してＡｒｔ　９ｊ１叩部
１１が出力する応答信号を受けたりづる。

また他方のインターフェース３１は、前記ＣＰＵ３７と
、前記バッファメモリ１２とを接続するものであり、前
記ＣＰ　ｔＪ　３７はこのインターフェース３１を介し
てバッファメモリ１２から未実装基板９ａの画像データ
を取込む。

ま７ｊ　Ａ　／　Ｄ変換部３２は、前記撮像機２８から
画像信号を供給されたとき、これをＡ／Ｄ変換して画像
データを作成し、これをＣＰＵ３７へ供給する。

またメモリ３６は、ＲＡＭ等を備えて構成されるもので
あり、前記ＣＰＵ３７の作ｌＴリアとして使われる。

また画像処理部３３は、前記ＣＰｊＪ　３７から画像デ
ータを供給されたとき、この画像データを２値化したり
するものであり、ここで得られたデータは前記ＣＰｔＪ
３７へ供給される。

またティーチングテーブル４２は、フロッピーディスク
装置等を備えており、ティーチング時において、前記Ｃ
ＰＵ３７からデータファイル等を供給されたときに、こ
れを記憶し、また検査時において前記ＣＰｔＪ３７が転
送要求を出力したとき、この要求に応じてこのデータフ
ァイル等を読み出して、これをＣＰＵ３７などへ供給り
°る。

またＸ−Ｙステージコントローラ３５は、前記ＣＰＵ３
７と前記Ｘ−Ｙテーブル部２７の各パルスモータ（図示
路）とを接続するインウー７丁−ス等を備えており、前
記ＣＰ　Ｕ　３７の出力に基づいて前記Ｘ−Ｙテーブル
部２７を制御する。

またＣＲ７表示器３９はブラウン管（ＣＲＴ　）を備え
ており、前記ＣＰＵ３７から画像データ、判定結果、キ
ー人力データ等を供給されたとき、これを画面上に表示
させる。

またプリンタ４０は、前記ＣＰＬＪ　３７から判定結果
等を供給されたとき、これを予め決められた書式（フォ
ー７ット）でプリンｈアウトする。

また、キーボード３８は、操伯情報等を入力するのに必
要な各種キーを備えており、このキーボード３８から入
力された情報等はＣＰＵ３７へ供給される。

またＣ　Ｐ　Ｕ　３７は、マイクロプロセラ４ノや、こ
　・のマイクロブロセツ勺の動作が記述されたＲＯＭな
どを備えており、このＲＯＭに格納さねているプログラ
ムに基づいて装置各部を制御したり、各秤データの処理
を行なつたりする。

次に第４図（Ａ）、（ｂ）に示１フローチャートを参照
しながらこの実施例のｕ＋　ｆｌを説明Ｊろ。

まず新たな種類のプリント基板を検査する場合には、こ
の検査に先だってこのプリン１−　Ｉｔ板に関するデー
タの教示が行なわれる。

この教示動作では、まず第４図（Ａ）に示すフローチャ
ートのステップＳＴ１でＣＰＵ３７が装置各部をイニシ
ャライズして、これら各部をティーチングモードにする
。

次いでＣＰＬＪ３７は、ステップＳＴ２でＸ−Ｙテーブ
ル部２７十にテーチングボード（図示路）がセットされ
たかどうかをチェックし、もしこれがセットされていれ
ば、撮像ｔ１２８にこれを撮像させるとともに、この撮
像動作によって得られた画像信号をＡ／Ｄ変換部３２で
画像データに変換させて、これをメモリ２６にリアルタ
イムで配憶させる。

この場合、ティーチングボードは、未実装基板９ａ上に
マウントされる部品８の位置と形状とを装置に教示する
ためのボードであり、その素基板部分には黒色のペイン
ト塗装が施され、またその部品部分には白色のペイント
塗装が施され、これによってその画像を容易に２値化し
得るようになっている。

次いで、このティーチングボードのｉｌ像が終了すれば
、ＣＰＵ３７は前記メ干り２６がら前記ティーチングボ
ードの画像データを順次読み出すとともに、これを画像
処理部３３に供給して、この画像データを２値化させる
。

そして、２値化画像が得られれば、ＣＰＵ３７はこの２
値画像から各部品の画像を抽出して、各部品８毎に第５
図に示すようなウィンドウ４３を作成し、これをティー
チングテーブル４２に記憶させる。

次いでＣＰＵ３７は、ステップＳＴ３で、Ｘ−Ｙテーブ
ル部１６上に１枚目の未実装基板９ａがセットされたか
どうかをチェックし、もしこれがセットされていれば、
ＣＰｔＪ２２を制御して撮像機１７にこれを撮像させる
とともに、この撮像動作によって得られた画像信号をＡ
／Ｄ変換部１９で画像データに変換させて、これをバッ
ファメモリ１２に転送させる。

そしてこの撮像動作が終了すれば、ＣＰＵ３７は前処理
部１１に設けられたブツシャ（図示路）等を動作させて
Ｘ−Ｙテーブル部１６から前記床実装基板９ａを外させ
て、これをマウンタ１（１１，Ｔ搬入させる。

これにより、マウンタ１０が動作を開’ｌＦｉ　シてこ
の未実装基板９ａ上の決められた位置に、決められた部
品８をマウントし始める。

またこのマウンタ１０の動作と並行して、ＣＰＵ３７は
ステップＳＴ４でティーチングテーブル４２に記憶され
ているウィンドウデータを画像処理部３３に転送させる
とともに、前記バッファメモリ１２から未実装基板９ａ
の画像データを読み出して、これを前記画像処理部３３
に転送させて、この画像データからウィンドウ４３部分
の画像を切り出させる。

次いで、ＣＰＵ３７は、このウィンドウ４３部分の画像
から種々の特徴パラメータを抽出するとともに、これを
未実装基板９ａの特徴パラメータとしてティーチングテ
ーブル４２に記憶させる。

この場合、特徴パラメータとしては、ウィンドウ４３部
分の画像を構成するＲ、Ｇ、１３信号の１つ、またはこ
れらを組み合せ演粋して得られるパラメータ等が用いら
ねる。

この後、このマウンタ１０が動作を終了して部品１１１
を湾のプリン１へ基板（実装基板）９ｂをメイン処理部
１３側に押し出し、これをＸ−Ｙテーブル部２７十（こ
載せれば、メイン処理部木ｔ４２９のＣＰ　ｔＪ　３７
がステップＳＴ５で、１展像機２８にこの実装基板９ｂ
を画像させるとともに、この九像動作によって得られた
画像信号をＡ／Ｄ変換部３２で画像データに変換させて
、これをリアルタイムでメモリ３６に記憶させる。

次いでＣＰＵ３７は、ステップＳＴ６でティーチングテ
ーブル４２に記憶されているウィンドウデータを画像処
理部３３に転送させるとともに、前記メモリ３６から実
装基板９ｂの画像データを読み出して、これを前記画像
処理部３３に転送させ、この画像データからウィンドウ
４３部分の画像を切り出させる。

次いでＣＰｔＪ３７は、このウィンドウ４３部分の画像
から種々の特徴パラメータを抽出するとともに、これを
実装基板９ｂの特徴パラメータとしてティーチングテー
ブル４２に記憶させる。

このＩＣＰＬＪ３７は、このティーチングテーブル４２
から未実装基板９ａの特徴パラメータと、実装基板９ａ
の特徴パラメータとを読み出してこれらの差を求め、各
部品８毎に、部品の有無、位置ずれ等を検出するのに最
適なパラメータの種類と、その処理手順とを決定すると
ともに、ステップＳＴ８でこれをティーチングテーブル
４２にファイルしてティーチング動作を終了する。

また、このティーチング動作が終了すれば、プリント基
板の連続検査動作に入いる。

この検査動作では、まず第４図（８）に示づ一フローチ
ャートのステップ５Ｔ１０でＣＰ　Ｕ　３７が装置各部
をイニシャライズして、これら各部を検査モードにする
。

次Ｍ−ＣＰＵ３７は、ステップ５Ｔ１１でｘ−Ｙテーブ
ル部１６上に２枚目の未実装填板９ａがセットされたか
どうかをチェックし、もしこれがセットされていれば、
ＣＰＵ２２を制御して撮像機１７にこれを撮像させると
ともに、この撮像動作によって得られた画像信号をＡ／
Ｄ変換部１９で画像データに変換させて、これをバッフ
ァメモリ１２に転送させる。

そしてこの撮像動作が終了すれば、ＣＰ　Ｕ　３７は前
処理部１１に設置−Ｊられたブツシャ等を勅イ１させて
Ｘ−Ｙテーブル部１６から前記未実装基板９ａを外させ
て、これをマウンタ１０に搬入させろ。

これにより、マウンタ１０が動作を開始してこの未実装
基板９ａ十に部品８をマリン１〜し始める。

またこのマウント１０の動作と！ｌ（、行して、ＣＩ）
Ｕ３７はステップ５Ｔ１２でティー−１ングテーブル４
２に記憶されているウィンドウデータを内作１処理部３
３に転送ざ１１ろととも（Ｊ、前記バッフ）′メモリ１
２から画像データを読Ｊメ出して、これを前記画像処理
部３３に転送させて、この画像データからウィンドウ４
３部分の画像を切り出させる。

次いでＣＰ　ＬＪ　３７は、ティーチングテーブル４２
から各部品８毎の最適パラメータ種類と、その処理手順
とを読み出した後、この処理手順で前記ウィンドウ４３
部分の画像を処理して、各部品８毎に最適なパラメータ
を抽出するとともに、これを未実装基板９ａの特徴パラ
メータとしてメモリ３６に記憶させる。

この後、マウンタ１０が部品０＃＆湾のプリン１〜基板
（実装基板＞９ｂをメイン処理部１３側に押し出して、
これをＸ−Ｙテーブル部２７十に載せれば、ＣＰｔＪ３
７はステップ５Ｔ１３でこの実装基１板９ｂを撮像させ
るとともに、この撮像動伯によって得られた画像信号を
Ａ／Ｄ変換部３２で画像データに変換させて、これをリ
アルタイムでメモリ３６に記憶させる。

次いでＣＰＵ３７は、ステップ５Ｔ１４でこのメモリ３
６に記憶されている画像データを画像処理部３３に転送
させて、この画像データからウィンドウ４３部分の画像
データを切り出させるとともに、このウィンドウ４３部
分の画像をティーチングテーブル４２に記憶されている
部品８毎の処理手順で処理して部品８毎に決められてい
る最適な種類の特徴パラメータを抽出し、これをメモリ
３６に記憶させる。

−１９＝ 次いでＣＰＬＪ３７は、ステップ５Ｔ１５でメモリ３６
に記憶されている未実装基板９ａの特徴パラメータと、
実装基板９ｂの特徴パラメータとを、各々読み出すとと
もに、これらをビクセルψ位で比較して、実装基板９ｂ
の特徴パラメータが部品８のパラメータかどうかを判定
する。

この場合、第６図（Ａ）に示す如く、１つのウィンドウ
４３に対する未来実装幇板９ａの特徴パラメータＰ１と
、実装基板９ｂの特徴パラメータＰ２とがビクセル単位
で一致していれば、ＣＰＵ３７はこの特徴パラメータＰ
２をν板部分のパラメータと判定する。

また、第６図（Ｂ）に示ず如く、このウィンドウ４３に
対する各特徴パラメータＰ１．Ｐ２がビクセル単位で一
致していなければ、ＣＰｔＪ　３７　ｌｅｔ。

この特徴パラメータＰ２を部品８のパラメータと判定す
る。

そしてＣＰ　ＬＪ　３７は、この判定結果にすづいて実
装基板９ｂ上に部品８が位置ずれなしで全てマウントさ
れているかどうかを判定した後、ステツー　２〇　− プ５Ｔ１６でこの判定結果をＣＲＴ表示器３９ど、プリ
ンタ４０とに供給して、これを表示さ１！たり、プリン
トアウトさせたりする。

このようにこの実施例においては、未実装基板９ａと、
この未実装基板９ａに部品８を登載して得られた実装基
板９ｂとを各々撮像するとともに、これら未実装基板９
ａの画像と、実６ｇ板９ｂの画像とを各々比較して実装
基板９ｂ十に部品８がｍｌずれなしに、全てマウントさ
れているかどうかを検査するようにしているので、未実
装基板９ａの状態がバラついても、部品８の脱落や位置
ずれ等を精度良く検査することができる。

第７図は本発明によるプリント基板検査装置の第２実施
例を示すブロック図である。なおこの図において第１図
の各部と対応する部分には同一の符号が付しである。

この図に示すプリント基板検査装置が第１図に示す装置
と異なる点は、撮像機１７によって得られた未実装基板
９ａの画像信号をメイン処理部１３−２のメイン処理部
本体２つ−２に直接供給して、第８図に示す如くこのメ
イン処理部本体２９−２内に設けられたＡ／Ｄ変換部４
４によって前記未実装基板９ａの画像信号をＡ／Ｄ変換
するようにしたことである。

このようにしても、ＣＰＵ３７に未実装基板９ａの画像
データと、実装基板９ｂの画像データとを比較させて、
実装基板９ｂ上に部品８が仲間ずれなしに、全てマウン
トされているかどうかを検査させることができる。

また上述した各実施例においては、前処理部１１．１１
−２と、メイン処理部１３．１３−２とをマウンタ１０
の前後に配置して部品８のマウント状態を検査するよう
にしているが、これら前処理部１１．１１−２と、メイ
ン処理部１３．１３−２とをハンダペースト塗布機（ま
たは、接着剤塗布機、リフロー炉など）の前後に配置す
れば、ハンダペーストの塗布状態、接着剤の塗布状態等
を検査することもできる。

また上述した各実施例においては、ＴＶカメラとしてカ
ラーＴＶカメラを用いているが、これをモノクロＴＶカ
メラにしても、またラインゼンリ等を用いるようにして
ら良い。

また上述した実施例においては、２つの泥像機１７．２
８を設けているが、マウンタ１０の１ｊ板搬入口と、基
板搬出口とが隣接している堪合ヤ）、検査速度が遅くて
も食い場合などには、１′つの撮色：機１：　Ｊ：つて
未実装す板９ａと、実装罎１を恢９ｂとを１ｌｌｉ像す
るようにしても良い。

（発明の効梁） 以上説明したように本発明にＪ：れば、検査対象となる
プリント基板の状態がバラついてし、このプリント基板
に部品が正しくマウントされているかどうかを検査する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図１１本発明の第１実施例を示す回路ブロック図、
第２図は第１図に示す前処理部本体の詳細な回路ブロッ
ク図、第３図は第１図に示すメイン処理部本体の詳細な
回路ブロック図、第４図（Ａ）、（Ｂ）は各々この第１
実施例の動作例を示すフローチャート、第５図はこの第
１実施例で用いらるウィンドウの一例を示す模式図、第
６図（Δ）、（Ｆ３）は各々この第１実施例で得られた
特徴パラメータの一例を示す波形図、第７図は本弁明の
第２実施例を示す回路ブロック図、第８図は第７図に示
すメイン処理部本体の詳細イｊ−回路Ｊｎツ／７図、第
９図は従来の基板検査装置の一例を−示す回路ブロック
図、第１０図（Ａ）、（１１）　１．１各々コノ基板検
査装置の動作を説明するための波形図である。 ８・・・部品、９ａ・・・プリントυ析（未実４４上（
板）、９ｂ・・・プリント基板（実＄１基板）　、　−
１０・・・マウンタ、１１・・・前処理部、１２・・・
バッファメモリ、１３・・・メイン処理部、１７・・・
第１蹟像部（扼像機）、２８・・・第２泥像部（纏像機
）、２’）・・・メイン処理部本体く判定部）。 代理人　　　弁理士　　岩倉哲二（仙１名）第４１（Ａ
）　　　　　第４図（Ｂ） 第　５　面 ？３３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　プリント基板を撮像して得られた特徴パラメータに基
   づいて前記プリント基板上の部品を検査するプリント基
   板検査装置において、プリント基板に部品がマウントさ
   れる前に前記プリント基板を撮像する第１撮像部と、前
   記プリント基板に部品がマウントされた後に前記プリン
   ト基板を撮像する第２撮像部と、前記第１撮像部によっ
   て得られたプリント基板画像の特徴パラメータと前記第
   ２撮像部によって得られたプリント基板画像の特徴パラ
   メータとを比較して前記プリント基板上の部品を検査す
   る判定部とを備えたことを特徴とするプリント基板検査
   装置。