JPS62293543A - 光磁気記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光磁気記録情報再生光学系に係り、特に光磁
気ディスクや光磁気カードなどの光学ヘッドに用いる情
報再生光学系に関する。

〔従来の技術〕

光磁気記録再生装置では、ディスクやカードなどの記録
媒体の垂直磁化膜の磁化方向を反転させることにより情
報の記録を行う。再生は、直線偏光を垂直磁化膜に照射
して、その反射光の偏光面が回転する現象（カー効果）
を用いる。例えば、水平直線偏光を垂直磁化膜の未記録
部分に照射すると反射光の偏光面は一〇に回転し、記録
部分に照射すると偏光面は十〇８回転する。そこで、反
射光の偏光成分をもとの水平直線偏光の偏光面の方向（
水平方向）に対して±４５度傾むいた２つの方向に分離
すると、未記録部分に照射した場合−４５度方向の偏光
成分が多くなり、記録部分に照射した場合＋４５度方向
の偏光成分が多くなるので、分離した２つの偏光成分を
光検出器でそれぞれ受光した後、２つの光検出器の出力
の差を取る、いわゆる差動法によって再生信号が得られ
る。

差動法は、特にノイズ低減に有効である。反射光を２つ
の偏光成分に分離するには、ウオーラストンプリズム、
トムソンプリズム、ロションプリズ！１などの結晶を用
いた偏光ビームスプリッタ等が用いられるが、コスト的
、量産的に薄膜型偏光ビームスプリッタが好ましい。

しかしながら、差動法を利用する場合、特開昭５１１１
−１９１１５６号に記載のように、偏光ビームスプリッ
タを４５度傾むける必要があり、その結果１分層された
２本の中心光軸は水平面内にはなくなり、ねじれた配置
になる。特に薄膜型偏光ビームスプリッタを用いた場合
、薄膜型偏光ビームスプリッタによづて分離された反射
光成分の中心光軸は水平面と４５度をなす、一般に、中
心光軸を９０度以外の角度に配置することは、加工や組
立て調整などの点で好ましくない、また、差動出力のバ
ランスをとってノイズを低減する目的で、薄膜型偏光ビ
ームスプリッタの回転調整が必要であるが、薄膜型偏光
ビームスプリッタの回転調整によって、反射光成分の中
心光軸が４５度からずれるので、反射光成分を受光する
光検出器の位置調整も同時に行わなくてはならず、調整
が困難になる。

そこで、特開昭５９−１９１１５６号に記載のように、
２分の１波長板やファラデーローテータなどを偏光ビー
ムスプリッタの前に配置し、偏光ビームスプリッタに入
射する光の偏光方向を４５度向回転せておく方式が提案
されている。この方式では、分離された２本の中心光軸
は水平面内にあり、また、偏光ビームスプリッタの回転
調整のかわりに２分の１波長板を回転することにより差
動出力のバランス調整が行えるので、加工や組立て調整
などが改良されている。しかし、薄膜型偏光ビームスプ
リッタを用いた場合、２つの分割された偏光成分の中心
光軸が９０度になるため、２つの光検出器を一体化する
ことは困難である。さらに、各各の光検出器の位置調整
を行わなくてはならない。

また、２分の１波長板は、特定の波長にのみ２分の１波
長の位相差を与えるものであるから、光源の波長のばら
つきや環境変化による波長変動に対して２分の１波長の
位相差からずれを生じ、また、２分の１波長板自体のば
らつきもあり、その結果、差動出力のバランスをくずし
、特にノイズが増加する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

以上述べたように、上記従来技術は、薄膜型偏光ビーム
スプリッタによって反射された偏光光束の中心光軸が水
平面と４５度をなし、さらに薄膜型偏光ビームスプリッ
タの回転調整によって反射光束の中心光軸が４５度から
ずれるので光検出器の位置調整を必要とするなど、加工
や組立調整などに問題があった。また、薄膜型偏光ビー
ムスプリッタによって分離された２つの偏光光束の中心
光軸が９０度になるため、２つの光検出器を一体化でき
ず、さらに、２分の１波長板のばらつきや波長の変化に
よってノイズが増加するという問題があった。

本発明の目的は、２分の１波長板などを用いず、薄膜型
偏光ビームスプリッタによって分離された２つの偏光光
束を同一方向に出射することにより。

２つの光検出器の一体化を可能とし、しかも薄膜型偏光
ビー１１スプリツタの回転調整を行っても光検出器の位
置７Ｉ４整を必要としない光磁気記録情報再生光学系を
提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記目的は、薄膜型偏光ビームスプリッタに偏光分離の
ための反射面とは異なる他の反射面を設け、薄膜型偏光
ビームスプリッタと光検出器の間にレンズを配置し、レ
ンズによる２つの偏光光束の集束面内に光検出器受光面
を配置することにより、達成される。

〔作用〕

薄膜型偏光ビーｌ〜スプリッタに設けられた偏光分離面
とは異なる他の反射面は、偏光分離された２つの光束を
同一方向に出射する作用があり、そのため、２つの光検
出器を一体化することができる。又、レンズは、平行光
束を一点に集束させろ作用があり、そのため、偏光ビー
ムズブリッタの回転調整により偏光ビームスプリッタか
らの出射光に平行ずれが生じても、集束点は光検出器受
光面からずれることはない。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。第１
図は、本発明を光磁気ディスクの光学ヘッドに用いたも
ので、半導体レーザ１から出射した水平直線偏光２をコ
リメートレンズ３で平行光束にし、ハーフプリズム４を
通過してフォーカスレンズ５によりディスク６の垂直磁
化膜７に照射させる。反射光８は、再度フォーカスレン
ズ５により平行光束になり、ハーフプリズム４で反射さ
れる。反射光９は、本発明による。平行型偏光ビームス
プリッタ１０と複合レンズ１．１と２つの光検出素子１
２ａと１２ｂを有する光検出器１２とからなる光磁気記
録情報再生光学系に導かれ、差動回路１３によって光検
索子１．２８と】２ｂの出力の差を取って、再生信号１
４を得る。

第２図は、平行型偏光ビームスプリッタ１０を水平面に
置き上から見た図である０例えば、入射偏光１５は、薄
膜型の偏光分離面１６によってＰ偏光１７とＳ偏光１８
に分離される。、Ｓ偏光１８は、反射面１９によって反
射され、Ｐ偏光１７と同一方向に出射される。第３図は
、第２図の平行型偏光ビー１１スプリツタ１０を、出射
光側から見た図である。第１図における実施例では、第
３図のＰ偏光１７の中心光軸を中心に平行型偏光ビーム
スプリッタ１０を４５度回転して配置する。第４図は、
第１図の平行型偏光ビームスプリッタ１０と複合レンズ
１コを光検出器１２側から見た図である。第１図の反射
光９は平行型偏光ビー１１スプリツタ１０で偏光分離面
１６に対するＰ偏光２０とＳ偏光２１に分離され、複合
レンズ］１に入射する。

第５図は、第１図の反射光９の偏光方向９′と。

平行型°偏光ビームスプリッタ１０を出射するＰ偏光２
０の偏光方向２０′と、Ｓｉ光２１の偏光方向２１′を
示す。ディスク６の垂直磁化膜７の磁化方向のちがいに
より、反射光９の偏光方向９′は、例えば、情報の未記
録部では一〇に傾き、Ｐ偏光方向２０′のＰ偏光成分が
増え、逆に、情報記録部では＋θに傾きＳ偏光方向２１
′のＳ偏光成分が増える。そこで、光検出素子１２ａと
１２ｂの出力の差を差動回路１３で取って再生信号１４
が得られろ。又１本発明による差動方式では、平行型偏
光ビームスプリッタ１０を反射光９の中心光軸を中心に
回転調整を行い、Ｐ偏光２ｏとＳ偏光２１の平均光量を
等しくすることによってノイズを減少することができる
。

複合レンズ１１は、第４図に示す対角線２２で分割され
た２つのレンズ素子からなる。それらのレンズ光軸を２
３と２４で示す、Ｐ偏光２０とＳ偏光２］はともに平行
光束であるから、平行型偏光ビームスプリッタ１０の回
転調整を行っても、Ｐ偏光２ｏとＳ偏光２１の集束点は
レンズ光軸２３と２４上にあって変動しない。よって、
光検出器１２の２つの光検出素子１２ａと」２１）がレ
ンズ光＠２３と２４上の集束点にあるようにあらかじめ
調整しておけば、その後の平行型偏光ビームスプリッタ
の回転調整時にも、光検出器１２の位置調整は不要にな
る６ 本発明は、第１図に示す実施例に限られることはない。

例えば、半導体レーザ１の偏光方向やハーフプリズ１１
４の設定角に充分注意をはらえば、平行型偏光ビームス
プリッタ１０の回転調整範囲は、数度程度になり、ノイ
ズ増加をある程度許容すれば、調整を不要にすることも
可能である。平行型偏光ビームスプリッタ１０の回転調
整範囲が小さいか、又は不要な場合、第１図の複合レン
ズ１１を取り除くことも出来る。第６図の破線１０は平
行型偏光ビー１１スプリツタを示し、２５はＰ偏光平行
光束の外径、２ＧはＳ偏光平行光束の外径を示す。この
場合、回転調整によってずれろＳ偏光平行光束の外径（
破線の丸で示す２６′）の位置より大きな受光部〕２ａ
′と１２ｂ′を持つ光検出器を用いれば良い。

又、平行偏光ビー１１スプリツタは、第２図、第３図に
示された形状に限らず、例えば、第７図の】０′で示す
ようなものでも良い。入射光９は、薄１１’ｔｍ型偏光
分離面１６でＳＰ偏光成分にそれぞれ分離され、Ｐ偏光
２０は透過する。Ｓ偏光２１は、反射面２７と２８で反
射された後、Ｐ偏光２０と同一方向に出射する。

又、複合レンズは、第８図の１１′で示すようにＰ偏光
２０が入射する領域の光軸が２３′で、Ｓ偏光２１の入
射する光軸が２４′であるものでも良い、このような複
合レンズ１１′を用いると。

光検出素子１２ａと１２ｂに入射する光は斜め入射にな
るので、光検出素子面からの反射光が、もとの光学系を
通ってレーザに戻ることがないので、戻り光によるレー
ザノイズを低減することができる。

又、第９図に示すように、平行型偏光ビームスプリンタ
１０や１０′のＳ偏光反射面１９′を傾むけてＳ偏光２
１がＰ偏光２０に対して傾くような偏光ビームスプリッ
タ１０′を用いることもできる。この場合、レンズ１１
′は通常の単レンズ（光軸は２３′）で良く、Ｓ偏光２
１とＰ偏光２０が傾むいているため、単レンズ１，１′
　によって集束点を分離できる。

又、本発明では、偏光ビー１１スプリツタの前に２分の
１波長板などを配置する必要がないので、従来技術のよ
うに、偏光ビーＩｓスプリッタの前にざ 配置様れた偏光素子のバラツキや性能変動によるノイズ
の増加がない。

〔発明の効果〕 本発明によれば、偏光ビームスプリッタによって分離さ
れた２つの偏光成分を同一方向に出射することができる
ので、２つの光検出器を一体化して部品点数と調整箇所
を低減できる、又、偏光ビームスプリッタの回転調整に
伴う光検出器の位置調整が不要なため、調整を容易に行
うことができる、さらに、２分の１波長板などを用いな
いので２分の１波長板などのばらつきや波長変化によっ
てノイズが増加することがない、などの効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図と第３図は
平行型偏光ビームスプリッタの作用を示す図、第４図は
平行型偏光ビームスプリッタと複合レンズの配置を示す
図、第５図は偏光方向を示す図、第６図は本発明の他の
実施例における光検出器形状を示す図、第７図は他の平
行型偏光ビームスプリッタを示す図、第８図と第９図は
それぞれ本発明の別の実施例を示す図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光磁気記録媒体からの反射偏光を方向が互いに直交
   する２成分の直線偏光に分離する偏光ビームスプリッタ
   と、該分離された２つの直線偏光をそれぞれ受光する光
   検出素子を有する光磁気記録情報再生光学系において、
   上記偏光ビームスプリッタに偏光分離反射面とは異なる
   反射面を設けたことを特徴とする光磁気記録情報再生光
   学系。 ２、上記偏光ビームスプリッタと上記光検出器との間に
   レンズを設け、上記分離された２つの直線偏光の該レン
   ズによるほぼ集束位置に上記光検出器を配置したことを
   特徴とする、特許請求の範囲第１項記載の光磁気記録情
   報再生光学系。