JPS6228677A - 検出素子の故障識別装置 - Google Patents

検出素子の故障識別装置

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JPS6228677A
JPS6228677A JP60169576A JP16957685A JPS6228677A JP S6228677 A JPS6228677 A JP S6228677A JP 60169576 A JP60169576 A JP 60169576A JP 16957685 A JP16957685 A JP 16957685A JP S6228677 A JPS6228677 A JP S6228677A
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JP
Japan
Prior art keywords
detection element
capacitor
circuit
time
short
Prior art date
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Pending
Application number
JP60169576A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Matsubara
松原 昭
Kazunori Sakai
和憲 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Ten Ltd
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Denso Ten Ltd
Toyota Motor Corp
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Publication date
Application filed by Denso Ten Ltd, Toyota Motor Corp filed Critical Denso Ten Ltd
Priority to JP60169576A priority Critical patent/JPS6228677A/ja
Publication of JPS6228677A publication Critical patent/JPS6228677A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、検出素子の故障識別装置に関する。
背景技術 自動車の車輪のロック状態を防ぐ、いわゆるアンチスキ
ッド装置などでは、車輪の回転状況したがって車速を検
出するための検出素子が使用されている。検出素子は、
4つの各車輪毎に設けられる。典型的な先行技術では、
このような4つの検出素子のすべてが断線または短絡し
て、検出信号が導出されなくなることはきわめて少なり
、シたがって成る検出素子からの信号が導出されず、残
余の検出素子から検出信号が導出されている状態を識別
し、これによって断線または短絡が生じたものと判定す
る。このような先付技術では、自動車の走行中でなけれ
ば、検出素子の断線または短絡を発見することはできな
い。このような検出素子の故障の判定は、自動車の走行
開始前に行なうことが望まれ、これによって安全な走行
を行なうことができる。走行開始前において検出素子が
故障しているにもかかわらず、自!ellLの走行中に
おいてそのことが検出されると、その故障を知った運転
者はうろたえてしまい、安全な運転を行なうことができ
ない、また、この先行技術では、4つの検出素子のすべ
てが断線していたり、または短絡しているときには、判
定を行なうことができない。さらにまた、この先行技術
では、検出素子が単−個であるときには判定を行なうこ
とができない、なお検出素子の断線は、たとえばその検
出素子と後続の電気回路とを接続するコネクタが外れて
いる場合においても生じ得る。
他の先行技術は第8図に示されるよう1こ、電磁誘導式
の検出素子1からの信号は、ライン2,3開に導出され
る。ライン2には抵抗R1,R2,抵抗R3およびコン
デンサC1が接続される。ライン2,3開の検出素子1
からの検出信号は、波形整形回路4を介してマイクロプ
ロセッサなどの処理回路5に与えられる。抵抗R3とコ
ンデンサC1との接続点は、比較回路6の一方の入力に
与えられる。比較回路6の他方の入力には、レベル設定
回路7からの出力が与えられる。比較回路6は、抵抗R
3とコンデンサC1との接続点の電圧が、レベル設定回
路7において設定された弁別レベル以上であるときに、
ライン8にローレベルの信号を導出しで、処理回路5に
与える。検出素子1のインダクタンスは参照符LOで示
され、それの直流抵抗は参照符ROで示されている。こ
こで、抵抗R2はRO<R2に定められる。
検出素子1が断線していない状態では、ライン2の電圧
は低く、したがって比較回路6はハイレベルの信号をラ
イン8に導出しており、処理回路5は検出素子1が正常
であるものと判定する。
検出索子1が断線を生じると、ライン2の電圧が上昇し
、これによって比較回路6はローレベルの信号をライン
8に導出し、処理回路5は検出素子1が1liIiシた
ものと判定する。
発明が解決すべき問題点 このような第8図の先行技術では、検出素子1が短絡し
たことを検出することができない。また、検出索子1の
断線を検出するために、抵抗R1〜R3、コンデンサC
1、比較回路6およびレベル設定回路7を設けなければ
ならず、構成が複雑である。
本発明の目的は、検出素子が単−個であっても、また検
出動作可能な状態でなくても、断線および短絡のいずれ
をも検出することができ、しかも構成が簡略化された改
良された検出素子の故障識別装置を提供することである
問題点を解決するための手段 本発明は、インダクタンスまたは直流抵抗のうちの少な
くとも一方を有している検出素子と、検出素子に関連し
て接続されるコンデンサと、コンデンサを充電する回路
と、 コンデンサの充電後からのコンデンサの放電波形の時1
111変化を識別して、検出素子の断線または短絡を識
別する手段とを含むことを特徴とする検出素子の故障識
別装置である。
作  用 インダクタンスまたは直流抵抗のうちの少なくとも一方
を有している検出素子が、断線または短絡を生じたとき
には、コンデンサの放電波形の時IIl変化が、その断
線または短絡によって変化する。
この放電波形の時IIl変化を識別することによって、
11tAilたは短絡のうちの少なくともいずれか一方
または両者を識別することが可能となる。このような構
成は、検出素子が単−個であっても、またそれが検出動
作を行なっていないときにおいても、故障識別を行なう
ことができるとともに、主な構成をマイクロプロセッサ
などの処理回路によって達成することができ、したがっ
て構成が簡略化される。
実施例 第1図は、本発明の一実施例の電気回路図である。自動
車の車輪の回転状況、したがって車速を検出するために
、検出素子11が各車輪毎に設けられる。各車輪には検
出板12が固定される。この検出板12は、強磁性材料
から成り、周方向に切欠きが形成されている。この検出
板12に近接して、検出素子11が配置される。検出索
子11のインダクタンスは参照符LOで示されており、
直流抵抗は参照符ROで示されている。検出素子11は
コネクタ13から比較機能を有する波形整形回路14を
経て、マイクロプロセッサなどによって実現される処理
回路15の入力端子15aに接続される。
波形整形回路14において、コネクタ13を介する検出
素子11がらの検出信号は、ライン16゜17間に導出
される。ライン16.17開には、ノイズを除去するた
めのコンデンサC1lが接続される。ライン16.17
に関連して抵抗R11〜R17、コンテ゛ンサC12,
C13およびダイオードDI、D2が接続されるととも
に、比較機能を行なう演算増幅器18が設けられる。こ
のようにして検出素子11からの検出信号は、波形整形
回路14において矩形波に波形整形されて処理回路15
の入力端子15aに入力される。
処理回路15は、出力端子15bからライン19にロー
レベルのリフレッシュ用信号を導出する。
このリフレッシュ用信号は、コネクタ13において経年
変化によって接触抵抗が大きくなるのを防ぐために、そ
のコネクタ13に予め定めた電流を一定時間たとえば1
輸Sだけ流して、コネクタ13の酸化膜を破壊するため
に導出される。このリフレッシュ用信号は、トランジス
タQ1に与えられる。す7レツシユ用信号によってトラ
ンジスタQ1は導通され、したがって抵抗R18および
ダイオードD3を介して、ライン16からコネクタ13
に電流が一定時開流れる。こうして酸化膜が破壊され、
コネクタ13において経年変化によって接触抵抗が大き
くなることが防がれる。
MS2図は、検出素子11および波形整形回路14に1
!する簡略化した等価回路図である。波形。
整形回路14のライン16.17がら見た入力インピー
ダンスを、参照符Ziで示し、トランジスタQ1、抵抗
R18およびダイオードD3の抵抗値は、参照tf−R
19で示されている。
fjS3図は処理回路15の動作を説明するだめの70
−チャートであり、第4図は検出素子11が断線および
短絡を生じていない正常時における波形図である。これ
らの図面を参照して、ステップn1からステップn2に
移り、時刻10  においてマイクロプロセッサ15は
出力端子15bからライン19にローレベルのりフレッ
シュ用信号を導出し、トランジスタQ1を導通する。こ
れによってコンデンサC11が充電される。第4図(1
)はライン16の電位を示す。ステップn3  におい
て1was経過したかが判断される。こうして時刻10
−11における一定時闇1ms中において、コネクタ1
3の酸化膜が破壊されてり7レツシユが行なわれる。時
刻L1では、ステップn4においてライン19がハイレ
ベルにもどる。ステップn5  では波形整形回路14
からの出力がローレベルであるかが判断され、ステップ
n7において時刻t1から予め定める時開WO(たとえ
ば350μ!I)経過したかが判断され、そうであれば
ステップn8  に移り、波形整形回路14からの出力
がハイレベルであるががi1断される。時刻t1  で
はコンデンサC11は等価入カインビーグンスZiによ
って放電されてゆく。波形整形回路14は処理回路15
の入力端子15aに第4図(2)で示される信号を導出
する。コンデンサC1lの電圧は、時刻t1  におい
て弁別レベル11未満となり、このとき入力端子15a
はハイレベルとなる。検出素子11が正常な状態では、
時刻し1〜t2の時間W1は、前記予め定める時間WO
未満である。したがってステップn8  では、処理回
路15は波形整形回路14の出力がハイレベルであるも
のと判断し、これによってステップn9  では検出素
子11が正常であるものと判断されてステップni1 
において故障識別動作が終了する。
検出素子11が断線しているときには、コンデンサC1
lのライン16における電位は、第5図(1)に示され
るとおりとなる。第5図(2)は、波形整形回路14の
出力を示す。コンデンサC1lの出力電圧が弁別レベル
11未満となるまでの時刻t1〜t3の時間W2は、前
記予め定める時間WOよりも長い。
ここで Wl<WO<W2          ・・・(1)し
たがってステップn8からステップnloに移り、検出
゛素子11が断線していることが識別される。
検出素子11が低インピーダンスで短絡しているときに
は、ステップn4  におけるリフレッシュ完了時にお
いて、コンデンサC11の出力電圧は弁別レベルJ!1
未満のままであり、したがって波形整形回路14の出力
はローレベルであり、ステップn6  において検出素
子11が短絡していることが識別される。
検出素子11が比較的高いインピーダンスで短絡してい
ると−きには、コンデンサC1lのライン16における
電位は第6図(1)で示される波形となり、このとき波
形整形回路14の出力は、第6図(2)で示されるとお
りとなる。時刻t1  以降において、コンデンサC1
1の出力電圧が弁別レベル11未満となる時刻t1  
までの時開W3は、予め定める時間WOより艮い。
WO<W3              ・・・(2)
これによって処理回路15は、検出素子11が短絡を生
じていることを識別する1時間W2  (第5図(2)
参照)および時開W3  (第6図(2)参照)は相互
に異なっており、この時開W 2 、W 3を識別する
ことによって、検出素子11が断線しているか、または
短絡しているかを区別して識別することが可能である。
第7図は、本発明の他の実施例の電気回路図である。こ
の実施例は前述の実施例に類似し、対応する部分には同
一の参照符を付す、注目すべきは、この実施例では検出
素子11に直列に微分動作を行なうコンデンサC21が
接続されていることである。リフレッシュ用信号が、ラ
イン19から与えられてトランジスタQ1が導通された
とき、コンデンサC21が充電される。検出素子11が
断線しているときには、ライン16はリフレッシュ完了
後においてローレベルのままである。また、検出素子1
1が短絡しているときには、コンデンサC21は波形整
形回路14の等価入カインビーグンスZiによって放電
される。このようにしてコンデンサC21のりフレッシ
ュ完了後における時開経過に依存した波形整形回路14
の出力を識別することによって、検出素子11の断線ま
たは短絡を識別することができる。
本発明は自動車の車速を検出するための検出素子11に
関連して実施されるだけでなく、インダクタンスまたは
直流抵抗のうちの少なくとも一方を有している検出素子
に関連して広範囲に実施することができる。検出素子に
接続されるコンデンサは、上述のように並列および直列
だけでなく、その他の接続態様で接続されていてもよい
。本発明では、検出素子の断線および短絡のうちの少な
くともいずれか一方が検出されてもよい。
効  果 以上のように本発明によれば、検出素子が1個であって
も断線または短絡を識別することができ、このような識
別は検出素子が動作可能な状態でなくてもよい。しかも
また、検出素子の断線または短絡のだめの検出を、マイ
クロプロセッサなどを用いて行なうことができ、回路構
成の簡略化ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の電気回路図、PIS2図は
第1図に示された実施例の簡略化した等価回路図、第3
図は処理回路15の動作を説明するための70−チャー
ト、第4図は検出素子11が正常であるときの動作を説
明するための波形図、第5図は検出素子11がm線して
いるときにおける動作を説明するための波形図、第6図
は検出素子11が短絡しているときの動作を説明するた
めの波形図、第7図は本発明の他の実施例の電気回路図
、第8図は先行技術の電気回路図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 インダクタンスまたは直流抵抗のうちの少なくとも一方
    を有している検出素子と、 検出素子に関連して接続されるコンデンサと、コンデン
    サを充電する回路と、 コンデンサの充電後からのコンデンサの放電波形の時間
    変化を識別して、検出素子の断線または短絡を識別する
    手段とを含むことを特徴とする検出素子の故障識別装置
JP60169576A 1985-07-30 1985-07-30 検出素子の故障識別装置 Pending JPS6228677A (ja)

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