JPS62269375A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS62269375A
JPS62269375A JP11400186A JP11400186A JPS62269375A JP S62269375 A JPS62269375 A JP S62269375A JP 11400186 A JP11400186 A JP 11400186A JP 11400186 A JP11400186 A JP 11400186A JP S62269375 A JPS62269375 A JP S62269375A
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JP
Japan
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waveguide
laser
light
semiconductor
gaas
Prior art date
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Pending
Application number
JP11400186A
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English (en)
Inventor
Hideaki Nojiri
英章 野尻
Toshitami Hara
利民 原
Yoshinobu Sekiguchi
芳信 関口
Mitsutoshi Hasegawa
光利 長谷川
Seiichi Miyazawa
宮沢 誠一
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は複数個の半導体発光素子がモノリシックに形成
された半導体装置に関する。
〔従来技術〕
従来、例えば特開昭59−126に開示されているよう
に、半導体レーザまたは発光ダイオード(LED)を複
数個用いて光走査装置を設計する場合、第5図に示すよ
うに発光体からの光の出射方向が一点P。
で交わるように光源を配置し、複数の走査スポットを良
好な結像状態を保ちながら被走査面(不図示)に対して
走査できるよう工夫されていた。
第5図はその典型的な従来例を示したものであり、光源
と偏向器の間の光学系を偏向走査面と垂直な方向から見
た図である。51a、51bは半導体レーザであり、各
レーザはマウント52の上にその光束発生面がマウント
52の端面と平行になるように配されている。半導体レ
ーザ51a、51bが設けられているマウント52の端
面52a、52bは、各レーザ51a。
51bからの発散光束の中心光線ha、hbが同一の点
Poを通過して来たかの如く設定される。換言すれば、
半導体レーザ(51a、51b)が設けられている位置
で、端面52aと52bに各々法線をたてると、各々の
法線がP。を通過するように、端面52aと52bは設
定されている。更に、偏向走査面と平行な方向から見れ
ば、各々の半導体レーザの中心光線h a +h bの
P。点を通過する位置が、偏向走査面と直交する方向に
わずかに変位するように、マウント32上に設けられる
半導体レーザの位置は設定される。
上記P。点と偏向器の偏向反射面53の所定の近傍の点
Pとは、結像レンズ54により光学的共役な関係に保た
れている。
このように、複数個の半導体発光素子(例えば半導体レ
ーザ)をそれぞれの光の出射方向が異なるように配置す
るためには、」二記例に示したようにマウント−1−に
位置合せをしてハイブリッドに構成する必要があった。
以下便宜」二、複数個の半導体発光素子としてアレーレ
ーザという言葉を使用するが、原理的にはLEDアレー
のような発光体にも当てはまる。
また、モノリシックに形成されたアレーレーザを使用す
る場合には、アレーレーザの前面に何らかの光学系を設
置する必要がある。特開昭58−211735に開示さ
れている例としては、プリズムがアレーレーザの前面に
配置されている。これを第6図に示す。
第6図は半導体アレーレーザが5つの発光部を有する場
合のプリズムの断面を示すものである。61は5つの発
光部(61a、61b、61c、61d、61e)を有
する半導体アレーレーザであり、62はプリズムである
。発光部6]aからの光束の中心光線haは傾斜面62
aにより屈折され、あたかもP。を通過して来たかのよ
うに曲げられる。同じく61bからの中心光線hbは傾
斜面62により、61dからの中心光線hdは傾斜面6
2dにより、61eからの中心光線heは傾斜面62e
により、それぞれあたかもP。
を通過して来たかのように曲げられる。なお61cから
の中心光線heは平面62cを垂直に通過して行き、こ
の中心光線hcの延長線上にP。が存在する。
このように各発光部に対応して傾斜角を定めた傾斜平面
が設けられ、プリズム62を出射後の各光束の中心光線
は、あたかもP。から出射したかのようにその方向を制
御されている。このP。は前述したように偏向反射面の
近傍の所望の位置P(不図示)と光学系を介して共役に
保たれる。
この場合の問題点はプリズム62の微細加工精度および
方法、プリズム62とアレーレーザ61との位置合せお
よび接合方法などであり、アレーレーザのピッチが小さ
くなる程難しくなる。実際、100μm以下ではほぼ不
可能である。
一方、第7図は光学系即ちリレー光学系73で同様の効
果を持たせようとしたもので、アレーレーザ7]a、7
1bから出射した光を平行化して結像させるコリメータ
レンズ72とシリンドリカルレンズ75との間にリレー
光学系73を介在させてポリゴン面74に結像した例で
あり、良好な結像状態で被走査面(不図示)」二に結像
される。
この場合の問題点は光路長であり、リレー系自体で約2
0cm長(なってしまう。
一方、上記の如き問題点を解決するため、本出願人は特
願昭59−240/118号、特願昭60−424号等
で、複数個の半導体レーザがモノリシックに形成され、
かつ、各々の半導体レーザの出射方向が異なっている半
導体装置を既に提案している。
〔発明の概要〕
本発明は、簡単に製造でき、レンズ等と組み合せて光路
長の短い光学系を構成出来る半導体レーザ装置を提供す
ることを目的とし、更に実際の使用状態に対応して、上
記既提案の装置の性能をより向上させるものである。
本発明による半導体装置は、上記目的を達成する為に、
複数個の半導体発光素子がモノリシックに形成されてい
る半導体装置において、」二連の半導体発光素子のそれ
ぞれに対応し、これら半導体発光素子とモノリシックに
導波路を形成する際、半導体発光素子の活性層に多重量
子井戸構造を持ち、導波路部分の多重量子井戸構造を無
秩序化する事により導波路から射出される時点で、それ
ぞれの光出射方向が異なっている事を特徴とする。
なお、以下の記載において用いられる[それぞれのレー
ザからの光の出射方向が異なる」という表現は同一方向
に出射するものが1組もないという意味ではな(、広義
には出射方向の異なるものが1組以上存在するという意
味である。
多数の半導体レーザを高密度に集積する場合の問題点と
して発振のためのキャリア注入にともなう発熱と温度上
昇によって発光効率が低下し、一定の注入電流によって
、もはや一定の光出力が得られなくなる。
これは半導体レーザを光記録装置の光源として使用する
場合は深刻であり、記録のエラーや記録品位の低下を招
く。
更に通常、GaAs/GaAA!As系半導体レーザの
活性層はG a A sもしくはGaAj?As層で、
この活性層部分を先導波路部分として用いる場合、活性
層に平行な面に対して光は広がる為、不純物の拡散等に
より屈折率分布を生じさせて光を閉じ込める様な工夫を
している。しかし、この場合導波路の屈折率差が非常に
小さい為、光は充分に閉じこもらず、導波路内での損失
が大きくなる。この様な導波路を用いると、導波路出射
端面でのpowerが小さくなり、光記録装置の光源部
分として用いる事は出来ない。
本発明において提示する具体的な解決法は上記の様な発
光効率の低下を半導体レーザの構造にU S P 3 
982.207に開示されている多重量子井戸構造を採
用して発光の温度特性を改善し、光導波路部分の多重量
子井戸構造において、多重量子井戸を無秩序化する事に
より、より大きな屈折率の差を達成するものである。
即ち、以下の実施例で述べるように」1記構造を採用す
る事により、 (1)発光に要する注入電流が減少し、同程度の光出力
を得る為の発熱量が少なくなり、動作温度が低(なる。
(2)MQW構造では一定温度の変化に対する先の出力
変化が少ない。
(3)無秩序化する事により、屈折率差が大きくできる
ので充分な光閉じ込め効果が期待できる。
(1)(2)(3)の複合効果により本発明のように高
密度に集積化された光導波路をもちいた斜め出射アレー
レーザにおいても良好な発光特性が達成された。
多重量子井戸構造は電荷の注入や電界の印加により吸収
特性が変化する事を利用しての光変調器としての用途、
量子効果により実効バンドギャップが変化する事を利用
した短波長レーザ発振双安定光素子等に利用されている
が、本発明の様に発光効率が良いこと、温度特性の良好
な点、更に無秩序化により、屈折率を大きく変化できる
点に注目して高密度斜出レーザとしてデバイス化した例
はなく、使用形態での適合化を追及する中で本発明に到
達したものである。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
第1図は本発明の一実施例で、以下、GaAs。
G a A 12 A sをもちいて製造プロセスを説
明する。
まず、n型GaAs基板Ill上に順次、バッファ層と
してn型GaAs112を1μm1クラツド層としてn
型A l O,4G a o、a A s l ] 3
を2 p m 、活性層としてノンドープGaAs10
0人、 An!o、2Gao、5As30人を4回(り
返し最後にG ’a A s 100人種層した。
多重量子井戸構造の活領域114を形成した。1次にク
ラッドとしてP型Afo4Gao、aAs115を1.
5μm、キャップ層としてP形GaAs116を0.5
μm分子線エピタキシ法によって形成した。
続いてプラズマCVD法により窒化シリコン膜120を
形成する。次に第2図に示すようなマスクパターン12
1を上記ウェハー119上に転写し、不純物拡散用マス
クとする。転写されたウェハー119はZnAs213
1と一緒に第3図のアンプル130中に真空封じされ、
約600°C1O分加熱する事により、第4図に示す如
く、MOW構造は不純物により無秩序化されて光導波路
140を形成する無秩序化部分を斜線の141とする。
続いて、電流注入域を形成する為、第5図に示す如く窒
化シリコン膜120に幅3μm、長さ500μmの窓1
51を開ける。次に上部電極としてCr、Auオーミッ
ク電極161を形成し、電極として必要な部分以外はエ
ツチングをして第6図の如くになる。第7図にチップ化
した時の斜視図を示す。導波路部とレーザ部を分離する
為の溝171を基板111とバッファ層112の境界付
近までエツチングにより作成する。次にレーザ部の共振
器ミラーのうち、一方は溝171のレーザ部壁面により
得られ、もう一方は溝と反対側の面をヘギカイする事に
より得られる。又導波路の端面は入射面は溝171の壁
面により得られ、もう一方はヘキカイする事により得ら
れる。
尚、172,173,174はそれぞれ光出射方向を示
す。各構成要素の寸法は、電極間隔100μm、キャビ
ティ長300μm、溝171の幅は1〜数1107z。
その深さは3〜5μmで導波路] 75 a −cの長
さは数]、007zm、各導波路の巾は数μmで出射方
向の広がり角θは数度である。
第7図に示した実施例では、各導波路175 a −c
が予めある角度θを有して直線状に形成されているが、
形成態様は直線に限定されない。すなわち、最終的に同
波路から光が出射される時点において放射状に光が広が
れば良く、例えば第団8図に示すように曲りだ導波路も
可能である。
第8図は本発明の変形例を示し、破線で示した導波路+
 85 a −cは、溝171の近傍では直線的である
が、光が出射される端面に近づ(につれて徐々に放射状
に曲っている。
これらの装置では、電流注入によりアレーレーザを発振
させると3本の平行なレーザビームが得られる。これら
の平行なビームは溝171を通して放射状の導波路17
5a〜Cまたは185a〜C内に入り、それぞれ放射状
のレーザビームとして取り出される。したがって、3本
のビームが1個所から出射されたものとして取扱うこと
ができるため、アレーレーザ光の集束を容易に行なうこ
とができる。
」1記説明では導波路部の形成方法として、不純物の拡
散によって導波路と導波路以外の部分との間に屈折率の
差を持たせたが、この他に、イオン注入を利用すること
も可能である。
第7図および第8図に示したようなファブリペロ−共振
器を持つレーザを用いる場合には、共振器を形成するた
めにレーザ光を空気中または屈折率の異なる媒質中(溝
171に相当する)を通過させた後、導波路内へそのレ
ーザ光を導く。そのために、レーザ光の広がりや溝17
1側の導波路端面での光の反射が生じて、導波路内に入
射する光の割合が減少したり、あるいはクロスト−りが
発生することがある。
これに対する改善策としては、溝171を屈折率の大き
い物質で充填すればよい。この場合の屈折率の大きさは
、前述した導波路部における導波路175 a −c 
、あるいは185 a −c以外の部分の屈折率の大き
さより小さく選定される。
第9図(a)、(b)はDBR(Distribute
d BraggReflection )レーザを用い
た例であり、それぞれ断面図、平面図を示す。
まず、基板191上に順次、クラッド層192.MQW
構造の活性層193.クラッド層194を作成する。
次に、プラグ反射(DBR)部並びにDBRおよび導波
路部に対応するクラッド層194を厚さ数百nmまでエ
ツチング除去し、この上に干渉露光により周期数百nm
の回折格子195を作成する。さらに、活性部に対応す
るクラッド層194の上面に電極196a、196b、
196cを形成する。
最後に、導波路部において活性層193と平行な面内で
導波路197a、197b、197cが形成される。
この場合、導波路の形状は直線状でもあるいは放射状で
もよいが、いずれの場合にも光が出射される時点におい
ては、ある角度θを有して光が出射されるように形成さ
れる必要がある。
このようなりBRレレーを用いた場合には、レーザ光が
伝わってい(媒質が、レーザ部と導波路部で変化しない
ため、レーザ光の広がりや導波路端面での光の反射はほ
とんど生じないという利点がある。
同様な効果は、DFB (Distributed  
FeedBack)レーザを用いた場合にも期待できる
■ 前記実施例ではレーザ部はGaAs系を用いた利得
導波形の電極ストライプ構造を例にとって述べたが、B
H構造、csp構造電流、光の為の狭すクの吸収層を活
性層近傍に設けた構造等の屈折率導波形のレーザに対し
ても有効である。
■ 前記実施例では光導波路部を形成した後、レーザ部
を作成したか、レーザ部も光導波路部と同様に不純物拡
散による電流、光の狭すクを行なう事で、光導波路、レ
ーザ部を同時に作成する事が出来る。
なお、各レーザからの光出射方向の異なり角θ(度)の
値はアレーの間隔(jl’ m mとする)と用いる光
学系の焦点距離とに依存するが、通常用いられる焦点距
離20 m m程度のものでは1゜≦θ/I!≦50ぐ
らいが適当である。例えば第12図の試作例ではl =
100 μm、P、)=13mm、  θ=1.2度で
良好な結果を得た。
また、光走査の方法を第5図に示されるような偏向反射
面53を用いた系に限定する必要がないのは言うまでも
ない。例えば結像レンズ54の背後に回折格子のような
ものを設置して変更することも可能である。
さらに、予め設定された光出射方向の異なり角θは一定
値ずつシフトしているのが一般的であるが、例えばθ1
.θ2.θ3・・・・・・・・・というように必要に応
じて異なった値をとってもよい。そして、このような光
出射方向の異なるアレーレーザは走査光学系を有する装
置にのみ適用されるものでないことは言うまでもない。
すなわち、本発明による半導体装置におけるアレーレー
ザは、単一レンズにより異なった発光点からのレーザを
ほぼ同じ方向へ平行化させるような操作に対して極めて
有利である。
以上、各実施例あるいは変形例において主としてアレー
レーザを例にとって述べたが、LEDなどの他の半導体
発光素子についても同様の効果が期待される。更に、材
料もGaAs、GaAlAsに限定されるわけではな(
、■−■族化合物半導体のInP。
I u G a A s P系やAjNnGaP系等に
も適用できる。
〔発明の効果〕
本発明は以上述べたように、複数個の半導体発光素子を
単一基板上に形成する際半導体発光素子のそれぞれから
の光の出射方向を異ならせるような導波路を設ける際に
活性層にMQW構造を用いる事により、出力のリレキの
如何によらず出力変動を小さくできるばかりでな(、導
波路形成においても、MQW構造を無秩序化する事で容
易に屈折率差を大きくする事が可能となり光閉じ込め効
果の大きい導波路を形成する事ができた。上記の様な簡
単な工夫で、多数の点からのレーザ光の平行化を容易に
し、走査光学系を用いて媒体上に結像、走査するような
光学装置(例えばレーザビームプリンタなど)の光源と
して極めて有効となる効果を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第9図は本発明の詳細な説明する図、第10図
はレーザがハイブリッドに配置された従来例を示す図、
第11図は出射方向一定のアレーレーザとプリズムを合
体して出射方向を異ならせた従来例を示す図、−第12
図は出射方向一定のアレーレーザを光学系で補正しよう
とした場合の従来例を示す図である。 175 a 、 175 b 、 l 75 c −−
−−−−=−導波路、172.173,174・・・・
・・・・・・・・・・・光出射方向。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数個の半導体発光素子と導波路をモノリシック
    に形成し、導波路を通して出射方向が異なるようにレー
    ザ光が放出される半導体装置であって、前記半導体発光
    素子の活性層が多重量子井戸構造を持ち、且つ導波路部
    分が多重量子井戸構造の無秩序化により形成されている
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. (2)前記半導体発光素子と導波路がIII−V族化合物
    半導体である特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。
JP11400186A 1986-05-19 1986-05-19 半導体装置 Pending JPS62269375A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8731018B2 (en) 2011-01-27 2014-05-20 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor laser

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US8731018B2 (en) 2011-01-27 2014-05-20 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor laser

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