JPS62262420A - 半導体加熱用耐熱管のシ−ル方法 - Google Patents

半導体加熱用耐熱管のシ−ル方法

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Publication number
JPS62262420A
JPS62262420A JP10473086A JP10473086A JPS62262420A JP S62262420 A JPS62262420 A JP S62262420A JP 10473086 A JP10473086 A JP 10473086A JP 10473086 A JP10473086 A JP 10473086A JP S62262420 A JPS62262420 A JP S62262420A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tube
groove
heat
cover
gas
Prior art date
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Pending
Application number
JP10473086A
Other languages
English (en)
Inventor
Akiyuki Furuya
古屋 明雪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP10473086A priority Critical patent/JPS62262420A/ja
Publication of JPS62262420A publication Critical patent/JPS62262420A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体素子の製造工程に不可欠な加熱炉と併
用する耐熱性筒体のシール方法に関する。
(従来の技術) 最近、半導体製品の生産規模はますます増大の傾向にあ
り、このために生産性の高い製造ラインの確立が求めら
れており、その−環として、半導体ウェーハも大口径化
の方向にある。
このような傾向により、人手によるハンドリングは困難
となり半導体ウェーハの搬送や装置へのセツティング等
は必然的に自動化が必要となってくる。
一方、超LSIに代表されるように最近の半導体デバイ
スは高集積化、高性能化の方向を辿っており、これに伴
って製造プロセスは複離多岐にわたっており、製造ライ
ンの清浄度が少滴りに与える影響も大きく、じんあいの
発生源である人体を遠ざける意味からも自動化の意義は
大きい。
ところで製造ラインの清浄度が半導体素子の少滴りに影
響を与える度合いが増している昨今では。
いわゆるソフトランダが開発され実用化の段階に入って
いるほかに、耐熱管ならびに蓋体の洗滌にも工夫が加え
られている。すなわち、耐熱管に嵌合した蓋体をクリー
ンルーム内に位置させその洗滌に当ってはクリーンルー
ム外に配置する加熱炉の開口部から蓋体と一体化した耐
熱管を取出してクリーンルーム内の汚染を防いでいる。
半導体ウェーハの製造工程に不可欠な拡散炉等の加熱設
備ではヒータ等の加熱源を埋設した断熱性管体を準備し
、こ\に耐熱管を挿入可能とするが、被加熱体である半
導体ウェーハの不純物による汚染を防止するために半導
体表面の安定化物質と化学的成分や性質が近似した材料
である石英ならびにSiCが選択されている。゛ 前記断熱性管体に配置される耐熱管10は第3図に示す
ようにその端末に同材質からなる蓋体10を設け、この
両者10.11の端末部に形成するテーパ部12によっ
て両者を一体とすると共にその嵌合部には摺り合せ加工
を施して滑らかにして着脱を助ける手段が採られている
更に、加熱処理に必要な気体は蓋体10のはゾ中心部に
設けた開孔部13から排出する構造となっており、把手
14も設置されている。
(発明が解決しようとする問題点) 前述のようにクリーンルーム内の清浄度を保持するため
、耐熱管を利用した熱処理工程ではそのシールを確実に
する必要がある。従って耐熱管と蓋体の嵌合部にOリン
グを適用し更に高温度によるその劣化を防止するためそ
の外周に水冷機構を付設する構造も考えられるが、熱処
理に必要な約1000℃による昇温に耐えるOリング材
質は今のところ見当らない。
更に、耐熱管と蓋体の嵌合部には摺り合せ加工を施しか
つテーパ部を設けてその着脱を容易にしているのは前述
の通りであるが、材質に石英を使用するとこの摺り合せ
加工は精密にできないためその気密性は充分でない。
一方、耐熱管を利用した熱処理工程では塩酸等クリーン
ルーム内に漏洩させたくない材料を使用する頻度が大き
いが、摺り合せ加工部の気密性が充分でないためにどう
しても漏洩する難点は否めない。
更に、耐熱管と蓋体の嵌合状態は1対1に対応して良好
な状態にしてもすべてのものに共通した状況を再現する
ことは難がしくクリーンルーム内へのガス漏洩を生じる
欠点がある。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 本発明に係る半導体加熱用耐熱管のシール方法では耐熱
管の端末部分に設けるテーパ部に蓋体を嵌合してシール
し、この嵌合部に形成した摺り合せ加工部には蓋体外に
導出する溝を設置し、この溝に耐熱管内で使用する有害
気体を吸引する機構を付設可能とする方法を採用した。
(作 用) 本発明の一端を封止した半導体加熱用耐熱管のシール方
法は外挿する蓋体との嵌合部にテーパ部を形成すると共
に摺り合せ加工を施し、更にOリングを設置する溝をこ
の嵌合部に設けその端末を蓋体外に導出する。この溝端
末に気体吸引機構を付設しこれをクリーンルームに設け
られるダクトに接続する。この結果耐熱管に導入され、
しかもクリーンルーム内に漏洩すると有害な塩化水素等
が高温下でこの溝を通じて排出され、クリーンルームの
清浄度を一定に保持しひいては半導体素子の少滴り向上
に資することになる。
(実施例) 第1図に示すように耐熱管すなわち石英管1は通常11
00n乃至300 mmの内径を持ち、その一端を密封
し、外径5nm〜20nnの気体導入管が溶着されてお
り、(図示せず)他端にはテーパ部2を設けその外周に
は摺り合せ加工を施した部分3を形成する。
この石英管のテーパをつけた摺り合せ加工部3には石英
製の蓋体4を嵌め合せ、中央部にはこの石英管1内に導
入する気体の排出口5が設けられており、更に石英管1
の摺り合せ部3に対応する位置に同様な摺り合せ部を形
成する。
この店り合せ加工を施した部分3には溝6をその外周に
わたって形成しその一部7を蓋体4の外部に導出する。
この外周を囲む溝6にはOリング8を設置して石英管1
との気密性を維持し、蓋体4外に導出する溝6からは導
入気体の流出を図り、このため二\に気体吸引機構9を
付設しクリーンルームに必ず取付けるダクトに連結する
。この溝6の設置によって石英管1と蓋体4の嵌合部に
施される摺り合せ加工の不充分な気密性を補うことが可
能となる。
尚温度上昇に伴う○リングの機能劣化を防ぐために水冷
機溝を蓋体4に付設可能であることは勿論である。又第
2図に示すように石英管1端末にフランジ部10を設け
る方式も可能である。
〔発明の効果〕
以上のように本発明方法にあっては石英管と蓋体の嵌合
部分に溝を形成することによってその気密性を向上させ
クリーンルーム内への不所望な気体漏洩を防止する。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明方法を実施するのに適用する
装置の一部を示す断面図、第3図は従来方法に使用する
装置の断面図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  加熱源を配置する断熱性管体に挿入する一端を封止し
    た半導体加熱用耐熱性筒体端末付近に耐熱性蓋体を嵌合
    してシールし、この嵌合部に形成する摺り合せ加工部に
    前記蓋体外に導出する溝を設置することを特徴とする半
    導体加熱用耐熱管のシール方法。
JP10473086A 1986-05-09 1986-05-09 半導体加熱用耐熱管のシ−ル方法 Pending JPS62262420A (ja)

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JP10473086A JPS62262420A (ja) 1986-05-09 1986-05-09 半導体加熱用耐熱管のシ−ル方法

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01158725A (ja) * 1987-12-15 1989-06-21 Tel Sagami Ltd 熱処理装置
JPH01161829A (ja) * 1987-12-18 1989-06-26 Tel Sagami Ltd 熱処理装置
JPH01170017A (ja) * 1987-12-25 1989-07-05 Toshiba Corp 半導体処理装置
JPH06326047A (ja) * 1994-05-30 1994-11-25 Kokusai Electric Co Ltd 拡散装置の反応ガス導入管と反応管との接合部構造
CN105508744A (zh) * 2016-01-07 2016-04-20 湖州奥博石英科技有限公司 一种斜形磨口石英管结构

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