JPS62245109A - ３次元測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （作業上の利用分野） 本発明は３次元測定装置に係り、更に詳細には、３次元
測定装置におけるスピンドルの先端部に設けたプローブ
と制御装置との間を光ファイバーで接続した３次元測定
装置に関するものである。

〔従来の技術〕

従来、３次元測定装置でスピンドルの先端部に設けたプ
ローブが被測定物に接触すると、接点がメカニカルに開
き、チャタリングを生じながら、スレッシュホールドレ
ベルを横切り開放される。

このスレッシュホールドレベルを横切った瞬間にタッチ
信号が制御装置の演算部に送られスケールの位置を読み
取っている。この際、プローブから演算部までの距離が
約１０＋程度で非常に長く種々なノイズを受けている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、プＯ−プからのタッチ信号が制御部の演
算部までに行く間に、種々なノイズを受けているので、
このノイズによりそのレベルが瞬時でも大きいとスレッ
シュホールドレベルを横切り、あたかもプローブが被測
定物に触れたかのように誤ってスケールを読み取ってし
まうことゲある。また、プローブが被測定物に触れる直
前などに、この現象が生じた場合には、ノイズによるも
のか、真の測定であるかの判断が出来ない。すなわち、
測定データのバラツキや真データから桁はずれのデータ
を出力するというトラブルが生じやずい。特に、放電加
工機などのノイズを発生する機械の近くで測定したり、
それらの機械と同じラインから電源を供給したりする場
合に多くのトラブルが見られるのである。

本発明の目的は上記事情に鑑み問題を解決するために提
案されたものであって、プローブと制御装置の演算部と
における信号通信媒体を光ファイバーとして、ノイズな
どの悪影響下においても、ノイズなどの影響を受けない
ようにした３次元測定装置を提供するものである。

（問題を解決するための手段〕 本発明は上記目的を達成するために、３次元測定装置に
おいて被測定物を測定するプローブを設け、該プローブ
に設けられた電気的信号を光学的信号に変換する第１の
変換装置・に光ファイバーの一方を接続し、かつ光、フ
ァイバーをＺ軸、Ｙ軸およびＸ軸内を通して光ファイバ
ーの他方を光学的信号を電気的信号に変換する第２の変
換装置を介して制御装置へ接続したことを特徴とするも
のである。

（作用） 本発明を採用することにより、タッチプローブを被測定
物に接触させタッチ信号を制御装置の演算部に送信する
際に、ノイズなどの悪影響下においても何ら関係なく正
しい信号が送信される。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面に基づいてｉｙｍに説明
する。

第１図を参照するに、３次元測定装置１における機械ベ
ース３が床面などに据付けである。機械ベース３の両側
面にガイドレールとなるラック５゜７がＸ軸方向に延伸
して設けである。機械ベース３の上方には、Ｘ軸方向へ
移動自在なメインキャレッジ９が設けである。メインキ
ャレツジ９の両側下部には、メインキャレッジ９と一体
化された摺動案内部材１１．１３が形成してあって、そ
の内部にはそれぞれ図示省略のビニオンが設けである。

そのビニオンが前記ラック５．７に噛合していて、メイ
ンキャレツジ９が機械ベース１に対してＸ軸方向へ移動
される。

メインキャレッジ９の上部ビーム９Ｕの前方部には、Ｙ
軸方向に延伸したうツク１５が設けである。ラック１５
に噛合した図示省略のビニオンを内蔵したセントラルキ
ャレッジ１７がＹ軸方向へ移動自在に、メインキャレッ
ジ９の上部ビーム９Ｕに設けである。

上記構成により、セントラルキャレッジ１７がメインキ
ャレッジ９の上部ビーム９Ｕに対してＹ軸方向へ移動さ
れる。

セントラルキャレッジ１７には、Ｚ軸方向へ移動自在な
スピンドル１９が設けである。スピンドル１９にはＺ軸
方向へ延伸したラック２１が設けてあり、しかもラック
２１には図示省略のビニオンが噛合している。

上記構成により、スピンドル１９がセントラルキャレッ
ジ１７に対してＺ軸方向へ移動される。

スピンドル１９の先端部にはアダプタ２３を介してプロ
ーブ２５が着脱可能に装着しである。

プローブ２５の第１図において上端部には電気的信号を
光学的に変換する第１の変換装置を介して、光ファイバ
ー２７の一方が接続してあり、光ファイバー２７は第１
図においてはっきりと理解されるように、黒太線で示し
てあり、アダプタ２３、スピンドル１９およびセントラ
ルキャレツジ１７の内部を通っている。さらにメインキ
ャレツジ９の上部ビーム９Ｕの上面およびメインキャレ
ッジ９の右側面を経て、機械ベース３の右側面にＸ軸方
向へ延伸して取付けであるケーブルチャンネル２９を経
由してＸ軸方向の後方部へ延伸しである。而して、光フ
ァイバー２７の他方は光学的信号を電気的信号に変換す
る第２の変換装置を介して２点鎖線で示した制御部３１
へ接続される。

光ファイバー２７をスピンドル１９．セントラルキャレ
ッジ１７およびメインキャレッジ９などに配線する場合
には、極端に曲げないようにして取付ける。

上記構成により、プローブ２５が被測定物に接触しタッ
チ信号が上って制御部３１に送信されるが、ノイズの影
響を受けないで、正確に間違いなく誤動作を生じないで
送信される。

〔効果〕

以上のごとぎ実施例の説明から理解されるように、本発
明によれば、プローブと制御部との間を光ファイバーで
接続したから、プローブが被測定物に接触した際、タッ
チ信号が外部からのノイズの影響を受けないで、制ｗＪ
部へ送信される。したがって、ノイズによる誤動作から
生ずる間違った信号が発せられることがないので、正確
な測定位置が測定でき、信頼性のある測定データが得ら
れる。

光ファイバーとしたことにより、ケーブルを細くするこ
とができ、スプリングバッグが解消される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の３次元測定を示す概略斜視図である。 〔図面の主要部を表わす符号の説明〕 １・・・３次元測定装置、３・・・機械ベース、９・・
・メインキャレッジ、１７・・・セントラルキャレッジ
、１９・・・スピンドル、２５・・・プローブ、２７・
・・光ファイバー

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. ３次元測定装置において被測定物を測定するプローブを
   設け、該プローブに設けられた電気的信号を光学的信号
   に変換する第１の変換装置に光ファイバーの一方を接続
   し、かつ光ファイバーをＺ軸、Ｙ軸およびＸ軸内を通し
   て光ファイバーの他方を光学的信号を電気的信号に変換
   する第２の変換装置を介して制御装置へ接続したことを
   特徴とする３次元測定装置