JPS62245109A - 3次元測定装置 - Google Patents
3次元測定装置Info
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- JPS62245109A JPS62245109A JP8616486A JP8616486A JPS62245109A JP S62245109 A JPS62245109 A JP S62245109A JP 8616486 A JP8616486 A JP 8616486A JP 8616486 A JP8616486 A JP 8616486A JP S62245109 A JPS62245109 A JP S62245109A
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- probe
- fiber
- carriage
- signal
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 20
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(作業上の利用分野)
本発明は3次元測定装置に係り、更に詳細には、3次元
測定装置におけるスピンドルの先端部に設けたプローブ
と制御装置との間を光ファイバーで接続した3次元測定
装置に関するものである。
測定装置におけるスピンドルの先端部に設けたプローブ
と制御装置との間を光ファイバーで接続した3次元測定
装置に関するものである。
従来、3次元測定装置でスピンドルの先端部に設けたプ
ローブが被測定物に接触すると、接点がメカニカルに開
き、チャタリングを生じながら、スレッシュホールドレ
ベルを横切り開放される。
ローブが被測定物に接触すると、接点がメカニカルに開
き、チャタリングを生じながら、スレッシュホールドレ
ベルを横切り開放される。
このスレッシュホールドレベルを横切った瞬間にタッチ
信号が制御装置の演算部に送られスケールの位置を読み
取っている。この際、プローブから演算部までの距離が
約10+程度で非常に長く種々なノイズを受けている。
信号が制御装置の演算部に送られスケールの位置を読み
取っている。この際、プローブから演算部までの距離が
約10+程度で非常に長く種々なノイズを受けている。
しかしながら、プO−プからのタッチ信号が制御部の演
算部までに行く間に、種々なノイズを受けているので、
このノイズによりそのレベルが瞬時でも大きいとスレッ
シュホールドレベルを横切り、あたかもプローブが被測
定物に触れたかのように誤ってスケールを読み取ってし
まうことゲある。また、プローブが被測定物に触れる直
前などに、この現象が生じた場合には、ノイズによるも
のか、真の測定であるかの判断が出来ない。すなわち、
測定データのバラツキや真データから桁はずれのデータ
を出力するというトラブルが生じやずい。特に、放電加
工機などのノイズを発生する機械の近くで測定したり、
それらの機械と同じラインから電源を供給したりする場
合に多くのトラブルが見られるのである。
算部までに行く間に、種々なノイズを受けているので、
このノイズによりそのレベルが瞬時でも大きいとスレッ
シュホールドレベルを横切り、あたかもプローブが被測
定物に触れたかのように誤ってスケールを読み取ってし
まうことゲある。また、プローブが被測定物に触れる直
前などに、この現象が生じた場合には、ノイズによるも
のか、真の測定であるかの判断が出来ない。すなわち、
測定データのバラツキや真データから桁はずれのデータ
を出力するというトラブルが生じやずい。特に、放電加
工機などのノイズを発生する機械の近くで測定したり、
それらの機械と同じラインから電源を供給したりする場
合に多くのトラブルが見られるのである。
本発明の目的は上記事情に鑑み問題を解決するために提
案されたものであって、プローブと制御装置の演算部と
における信号通信媒体を光ファイバーとして、ノイズな
どの悪影響下においても、ノイズなどの影響を受けない
ようにした3次元測定装置を提供するものである。
案されたものであって、プローブと制御装置の演算部と
における信号通信媒体を光ファイバーとして、ノイズな
どの悪影響下においても、ノイズなどの影響を受けない
ようにした3次元測定装置を提供するものである。
(問題を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するために、3次元測定装置に
おいて被測定物を測定するプローブを設け、該プローブ
に設けられた電気的信号を光学的信号に変換する第1の
変換装置・に光ファイバーの一方を接続し、かつ光、フ
ァイバーをZ軸、Y軸およびX軸内を通して光ファイバ
ーの他方を光学的信号を電気的信号に変換する第2の変
換装置を介して制御装置へ接続したことを特徴とするも
のである。
おいて被測定物を測定するプローブを設け、該プローブ
に設けられた電気的信号を光学的信号に変換する第1の
変換装置・に光ファイバーの一方を接続し、かつ光、フ
ァイバーをZ軸、Y軸およびX軸内を通して光ファイバ
ーの他方を光学的信号を電気的信号に変換する第2の変
換装置を介して制御装置へ接続したことを特徴とするも
のである。
(作用)
本発明を採用することにより、タッチプローブを被測定
物に接触させタッチ信号を制御装置の演算部に送信する
際に、ノイズなどの悪影響下においても何ら関係なく正
しい信号が送信される。
物に接触させタッチ信号を制御装置の演算部に送信する
際に、ノイズなどの悪影響下においても何ら関係なく正
しい信号が送信される。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいてiymに説明
する。
する。
第1図を参照するに、3次元測定装置1における機械ベ
ース3が床面などに据付けである。機械ベース3の両側
面にガイドレールとなるラック5゜7がX軸方向に延伸
して設けである。機械ベース3の上方には、X軸方向へ
移動自在なメインキャレッジ9が設けである。メインキ
ャレツジ9の両側下部には、メインキャレッジ9と一体
化された摺動案内部材11.13が形成してあって、そ
の内部にはそれぞれ図示省略のビニオンが設けである。
ース3が床面などに据付けである。機械ベース3の両側
面にガイドレールとなるラック5゜7がX軸方向に延伸
して設けである。機械ベース3の上方には、X軸方向へ
移動自在なメインキャレッジ9が設けである。メインキ
ャレツジ9の両側下部には、メインキャレッジ9と一体
化された摺動案内部材11.13が形成してあって、そ
の内部にはそれぞれ図示省略のビニオンが設けである。
そのビニオンが前記ラック5.7に噛合していて、メイ
ンキャレツジ9が機械ベース1に対してX軸方向へ移動
される。
ンキャレツジ9が機械ベース1に対してX軸方向へ移動
される。
メインキャレッジ9の上部ビーム9Uの前方部には、Y
軸方向に延伸したうツク15が設けである。ラック15
に噛合した図示省略のビニオンを内蔵したセントラルキ
ャレッジ17がY軸方向へ移動自在に、メインキャレッ
ジ9の上部ビーム9Uに設けである。
軸方向に延伸したうツク15が設けである。ラック15
に噛合した図示省略のビニオンを内蔵したセントラルキ
ャレッジ17がY軸方向へ移動自在に、メインキャレッ
ジ9の上部ビーム9Uに設けである。
上記構成により、セントラルキャレッジ17がメインキ
ャレッジ9の上部ビーム9Uに対してY軸方向へ移動さ
れる。
ャレッジ9の上部ビーム9Uに対してY軸方向へ移動さ
れる。
セントラルキャレッジ17には、Z軸方向へ移動自在な
スピンドル19が設けである。スピンドル19にはZ軸
方向へ延伸したラック21が設けてあり、しかもラック
21には図示省略のビニオンが噛合している。
スピンドル19が設けである。スピンドル19にはZ軸
方向へ延伸したラック21が設けてあり、しかもラック
21には図示省略のビニオンが噛合している。
上記構成により、スピンドル19がセントラルキャレッ
ジ17に対してZ軸方向へ移動される。
ジ17に対してZ軸方向へ移動される。
スピンドル19の先端部にはアダプタ23を介してプロ
ーブ25が着脱可能に装着しである。
ーブ25が着脱可能に装着しである。
プローブ25の第1図において上端部には電気的信号を
光学的に変換する第1の変換装置を介して、光ファイバ
ー27の一方が接続してあり、光ファイバー27は第1
図においてはっきりと理解されるように、黒太線で示し
てあり、アダプタ23、スピンドル19およびセントラ
ルキャレツジ17の内部を通っている。さらにメインキ
ャレツジ9の上部ビーム9Uの上面およびメインキャレ
ッジ9の右側面を経て、機械ベース3の右側面にX軸方
向へ延伸して取付けであるケーブルチャンネル29を経
由してX軸方向の後方部へ延伸しである。而して、光フ
ァイバー27の他方は光学的信号を電気的信号に変換す
る第2の変換装置を介して2点鎖線で示した制御部31
へ接続される。
光学的に変換する第1の変換装置を介して、光ファイバ
ー27の一方が接続してあり、光ファイバー27は第1
図においてはっきりと理解されるように、黒太線で示し
てあり、アダプタ23、スピンドル19およびセントラ
ルキャレツジ17の内部を通っている。さらにメインキ
ャレツジ9の上部ビーム9Uの上面およびメインキャレ
ッジ9の右側面を経て、機械ベース3の右側面にX軸方
向へ延伸して取付けであるケーブルチャンネル29を経
由してX軸方向の後方部へ延伸しである。而して、光フ
ァイバー27の他方は光学的信号を電気的信号に変換す
る第2の変換装置を介して2点鎖線で示した制御部31
へ接続される。
光ファイバー27をスピンドル19.セントラルキャレ
ッジ17およびメインキャレッジ9などに配線する場合
には、極端に曲げないようにして取付ける。
ッジ17およびメインキャレッジ9などに配線する場合
には、極端に曲げないようにして取付ける。
上記構成により、プローブ25が被測定物に接触しタッ
チ信号が上って制御部31に送信されるが、ノイズの影
響を受けないで、正確に間違いなく誤動作を生じないで
送信される。
チ信号が上って制御部31に送信されるが、ノイズの影
響を受けないで、正確に間違いなく誤動作を生じないで
送信される。
以上のごとぎ実施例の説明から理解されるように、本発
明によれば、プローブと制御部との間を光ファイバーで
接続したから、プローブが被測定物に接触した際、タッ
チ信号が外部からのノイズの影響を受けないで、制wJ
部へ送信される。したがって、ノイズによる誤動作から
生ずる間違った信号が発せられることがないので、正確
な測定位置が測定でき、信頼性のある測定データが得ら
れる。
明によれば、プローブと制御部との間を光ファイバーで
接続したから、プローブが被測定物に接触した際、タッ
チ信号が外部からのノイズの影響を受けないで、制wJ
部へ送信される。したがって、ノイズによる誤動作から
生ずる間違った信号が発せられることがないので、正確
な測定位置が測定でき、信頼性のある測定データが得ら
れる。
光ファイバーとしたことにより、ケーブルを細くするこ
とができ、スプリングバッグが解消される。
とができ、スプリングバッグが解消される。
第1図は本発明の3次元測定を示す概略斜視図である。
〔図面の主要部を表わす符号の説明〕
1・・・3次元測定装置、3・・・機械ベース、9・・
・メインキャレッジ、17・・・セントラルキャレッジ
、19・・・スピンドル、25・・・プローブ、27・
・・光ファイバー
・メインキャレッジ、17・・・セントラルキャレッジ
、19・・・スピンドル、25・・・プローブ、27・
・・光ファイバー
Claims (1)
- 3次元測定装置において被測定物を測定するプローブを
設け、該プローブに設けられた電気的信号を光学的信号
に変換する第1の変換装置に光ファイバーの一方を接続
し、かつ光ファイバーをZ軸、Y軸およびX軸内を通し
て光ファイバーの他方を光学的信号を電気的信号に変換
する第2の変換装置を介して制御装置へ接続したことを
特徴とする3次元測定装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8616486A JPS62245109A (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 | 3次元測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8616486A JPS62245109A (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 | 3次元測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62245109A true JPS62245109A (ja) | 1987-10-26 |
Family
ID=13879108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8616486A Pending JPS62245109A (ja) | 1986-04-16 | 1986-04-16 | 3次元測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62245109A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE33774E (en) * | 1988-03-02 | 1991-12-24 | Wegu-Messtechnik Gmbh | Coordinate measuring and testing machine |
JP2014039248A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-27 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co Ltd | 3d表示製品の光学検出方法及びシステム |
-
1986
- 1986-04-16 JP JP8616486A patent/JPS62245109A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE33774E (en) * | 1988-03-02 | 1991-12-24 | Wegu-Messtechnik Gmbh | Coordinate measuring and testing machine |
JP2014039248A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-27 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co Ltd | 3d表示製品の光学検出方法及びシステム |
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