JPS62222161A - 板波探傷装置 - Google Patents
板波探傷装置Info
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- JPS62222161A JPS62222161A JP61064884A JP6488486A JPS62222161A JP S62222161 A JPS62222161 A JP S62222161A JP 61064884 A JP61064884 A JP 61064884A JP 6488486 A JP6488486 A JP 6488486A JP S62222161 A JPS62222161 A JP S62222161A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 36
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 38
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 210000003127 knee Anatomy 0.000 description 1
- 238000011326 mechanical measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000033458 reproduction Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔浬業上の利用分野〕
この発明は、板波(薄い板状の弾性体中を伝搬する波)
を用いて薄板の欠陥を非破壊的に検量する板波探傷装置
に関するものである。
を用いて薄板の欠陥を非破壊的に検量する板波探傷装置
に関するものである。
第5図は、従来の板波探傷装置を示すブロック図である
。図において、(1)は被検材、(5)は可変角探触子
、(2)、[3)、(4)シュ可変角探触子(5)を構
成する圧電素子、可動シュー、固定ン・ニー、(6)は
可変角探触子(5)の圧電素子(2)を電気的に駆動す
るためのパルサ、(7)は圧電素子(2ンが検出し、電
気に変換した信号を増幅する増幅器、(8)は増幅器(
7)の出力信号を検波する検波器、(9)は検波器(8
)で検波された信号を表示する表示器、Fは被検材1内
の欠陥。
。図において、(1)は被検材、(5)は可変角探触子
、(2)、[3)、(4)シュ可変角探触子(5)を構
成する圧電素子、可動シュー、固定ン・ニー、(6)は
可変角探触子(5)の圧電素子(2)を電気的に駆動す
るためのパルサ、(7)は圧電素子(2ンが検出し、電
気に変換した信号を増幅する増幅器、(8)は増幅器(
7)の出力信号を検波する検波器、(9)は検波器(8
)で検波された信号を表示する表示器、Fは被検材1内
の欠陥。
θiは板波Wの入射角、θtは屈折角である。
次に動作について説明する。可変角探触子(5)は、固
定シュー(4)、可動シュー(3)と圧電素子(2)と
から成り、圧電素子(2)は可動ンユー(3)に接着さ
れていて、固定シュー(4)と音響的に結合(例えば接
触面に油を浸入)されたま一回転できるようになってい
る。
定シュー(4)、可動シュー(3)と圧電素子(2)と
から成り、圧電素子(2)は可動ンユー(3)に接着さ
れていて、固定シュー(4)と音響的に結合(例えば接
触面に油を浸入)されたま一回転できるようになってい
る。
バルブ(6)は、一定周期毎にパルスを発生し、圧電素
子(2)に、高電圧パルスを与え、圧電素子(2)の有
する固有周波数で振動させる。この振動は、超音波とし
て可動シェー(3)を通り固定シュー(4)に伝わって
行く。固定シュー(4)と、被検材(1)とは、水ある
いは油の膜で音響的に結合されているので、固定シュー
(4)から、被検材(1)へ超音波が入って行く。この
時、一般に被検材(1)は、固定シュー(4)と材質が
異るので、その境界で、超音波は屈折される。図のよう
に入射角をθi、屈折角をθtとし、固定シュー(4)
中の音速をC+、i横材(1)中の音速をC1とすると
、矢の関係がある。
子(2)に、高電圧パルスを与え、圧電素子(2)の有
する固有周波数で振動させる。この振動は、超音波とし
て可動シェー(3)を通り固定シュー(4)に伝わって
行く。固定シュー(4)と、被検材(1)とは、水ある
いは油の膜で音響的に結合されているので、固定シュー
(4)から、被検材(1)へ超音波が入って行く。この
時、一般に被検材(1)は、固定シュー(4)と材質が
異るので、その境界で、超音波は屈折される。図のよう
に入射角をθi、屈折角をθtとし、固定シュー(4)
中の音速をC+、i横材(1)中の音速をC1とすると
、矢の関係がある。
一般に板の中を伝わる弾性波には、いろいろなモード〔
例えば縦波、横波1表面波、板波(対称Sモートカ、板
波(斜対称Aモード少第7図参照ンがあり、各々の伝播
速度および位相速度(Cp)(phase v61oc
it丼i続した正弦波の波動が進む速度、縦波、横波1
丁周波数によって位相速度が変化しないが、板波シ;変
化する。)は板の材質、板の厚さ、超音波の周波数など
によって異る。そして、上記の方法であるモードの板波
(4)を発生させるには式(1)の値が、そのモードの
板波(5)の位相速度(Cp)に等しいこと、即ち C! 廁ot p ・・・(2)とな
るようにしなげればならない。
例えば縦波、横波1表面波、板波(対称Sモートカ、板
波(斜対称Aモード少第7図参照ンがあり、各々の伝播
速度および位相速度(Cp)(phase v61oc
it丼i続した正弦波の波動が進む速度、縦波、横波1
丁周波数によって位相速度が変化しないが、板波シ;変
化する。)は板の材質、板の厚さ、超音波の周波数など
によって異る。そして、上記の方法であるモードの板波
(4)を発生させるには式(1)の値が、そのモードの
板波(5)の位相速度(Cp)に等しいこと、即ち C! 廁ot p ・・・(2)とな
るようにしなげればならない。
そこで可変角探触子(5)の可動シェー(3)の入射角
(θi)を調節することにより、(2)式を実現する。
(θi)を調節することにより、(2)式を実現する。
そうすると、被検材(1)中に、所定のモードの板波(
4)が発生して伝播する。被検材(1)中に、欠陥(ト
)があると、板波(4)は一部反射され、可変角探触子
(5)の方向へ戻って来る。この波は発生の場合と逆の
動作により、可動シュー(3)が調節されている入射角
(θ1)VC対応したモードの板波(5)が検出される
、検出された1ε号は、増幅器(7)で増巾、検波器(
8)で検波された後、表示器(9)で表示される。賢示
器(9)には、パルサ(6)より圧電素子(2)を駆動
する時刻と同期した信号が、時間掃引トリガ信号として
与えられ、第6図のように表示される。図において、(
tlは駆動信号の増巾器(7)側へのもれこ入信号、(
f)は欠陥(F′)による反射信号であるうσ)は、圧
電素子(2)を駆動してから、欠陥(F)により反射信
号(flが戻って来て、圧電素子(2)により検出され
るまでの時間、Aは欠陥(Flで反射された信号の大き
さを示している。この表示より、所定のモードの板波(
4)を反射する欠陥(杓の有無1位置即ち時間(T)、
犬ぎさく〜を知ることができる。欠陥(F)の有無は1
反射信号(f)の有無により、欠陥(F)の位置ハ、使
用したモードの板波(イ)の伝搬速度が予め知れている
ので。
4)が発生して伝播する。被検材(1)中に、欠陥(ト
)があると、板波(4)は一部反射され、可変角探触子
(5)の方向へ戻って来る。この波は発生の場合と逆の
動作により、可動シュー(3)が調節されている入射角
(θ1)VC対応したモードの板波(5)が検出される
、検出された1ε号は、増幅器(7)で増巾、検波器(
8)で検波された後、表示器(9)で表示される。賢示
器(9)には、パルサ(6)より圧電素子(2)を駆動
する時刻と同期した信号が、時間掃引トリガ信号として
与えられ、第6図のように表示される。図において、(
tlは駆動信号の増巾器(7)側へのもれこ入信号、(
f)は欠陥(F′)による反射信号であるうσ)は、圧
電素子(2)を駆動してから、欠陥(F)により反射信
号(flが戻って来て、圧電素子(2)により検出され
るまでの時間、Aは欠陥(Flで反射された信号の大き
さを示している。この表示より、所定のモードの板波(
4)を反射する欠陥(杓の有無1位置即ち時間(T)、
犬ぎさく〜を知ることができる。欠陥(F)の有無は1
反射信号(f)の有無により、欠陥(F)の位置ハ、使
用したモードの板波(イ)の伝搬速度が予め知れている
ので。
その値と、時間(Tlより求まるう
また、欠陥(F)の犬ササは、それが反射信号(flの
犬ぎさくA)と相関があるとの前提で推定できる。
犬ぎさくA)と相関があるとの前提で推定できる。
ところで、板et(ト)は、欠陥(F)の厚さ方向の位
置や、形状により反射特注が異り、それらの闇の関係は
モードによって違う。また、あるモードの板波(5)が
欠陥(F)に当ると、全エスルキが同一モードで反射す
るのではなく反射波はいろいろなモードに分散的に変換
されている。これらのことは、日本非破壊検査協会雑誌
「非破壊検査J VOI、 22. A4−pI)20
6〜208(井元:「板波探傷と205小委員会」)、
同誌PP214〜220 (足止:「板波探傷の展望」
)に詳しく述べられている。
置や、形状により反射特注が異り、それらの闇の関係は
モードによって違う。また、あるモードの板波(5)が
欠陥(F)に当ると、全エスルキが同一モードで反射す
るのではなく反射波はいろいろなモードに分散的に変換
されている。これらのことは、日本非破壊検査協会雑誌
「非破壊検査J VOI、 22. A4−pI)20
6〜208(井元:「板波探傷と205小委員会」)、
同誌PP214〜220 (足止:「板波探傷の展望」
)に詳しく述べられている。
上記のことを考慮すると特定のモードの板波(4)だゆ
では正確に、欠陥の有無の判定、欠陥(F)の犬ぎさく
A)及び厚さ方向の位置の評価などを行なうことはでき
ない。
では正確に、欠陥の有無の判定、欠陥(F)の犬ぎさく
A)及び厚さ方向の位置の評価などを行なうことはでき
ない。
また、上記の説明では、被検材(1)での板波(ホ)の
位相速度(Cp)が知れた上で、式(2)を満足するよ
うに屈折角(θりを調節するように述べたが、実際には
、被検材(1)中での位相速度(Cp)は正確にわから
ないので1被検材(1)の端部からのエコーを観測しな
がら、その大ぎさが最大となるように屈折角(九)を調
節することKなり、多くの手間な装する。
位相速度(Cp)が知れた上で、式(2)を満足するよ
うに屈折角(θりを調節するように述べたが、実際には
、被検材(1)中での位相速度(Cp)は正確にわから
ないので1被検材(1)の端部からのエコーを観測しな
がら、その大ぎさが最大となるように屈折角(九)を調
節することKなり、多くの手間な装する。
従来の板波探傷装置は、μ上のように構成されているの
で、一つのモードでの欠陥からのエコーしか知ることが
できず、正確な評価ができな(・とい5問題があった。
で、一つのモードでの欠陥からのエコーしか知ることが
できず、正確な評価ができな(・とい5問題があった。
また、この問題解決のために。
いくつかのモードで、遂仄データをとることも考えられ
るが、モード変更時の調節が、大変わずられしく、実用
性に欠けるという問題があった。又屈折角を調節する方
法においても、一つのモードから他のモードに変換され
る様子を観測することはできなかった。
るが、モード変更時の調節が、大変わずられしく、実用
性に欠けるという問題があった。又屈折角を調節する方
法においても、一つのモードから他のモードに変換され
る様子を観測することはできなかった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、いろいろなモードの板波を順次発生、検出
でさ、それら各モードでの欠陥の反射エコーの位置、強
さを測定する′と共に、それらを統合化して視覚的に知
ることができ、欠陥な正しく評価できる板波探傷装置を
得ることを目的とする。
れたもので、いろいろなモードの板波を順次発生、検出
でさ、それら各モードでの欠陥の反射エコーの位置、強
さを測定する′と共に、それらを統合化して視覚的に知
ることができ、欠陥な正しく評価できる板波探傷装置を
得ることを目的とする。
C問題点な解決するだめの手段〕
この発明に係る板波探傷装置は、板波の発生検出の条件
を#A矢変更して行さ、その条件な一部に。
を#A矢変更して行さ、その条件な一部に。
検出した信号の時間的立直を、別の一軸に、つまり2欠
元座標系に、検出した信号の強さを輝度または色に対応
させて表示するようにしたもの、換言すれば超音波を薄
板の中に導入し、この薄板内にある欠陥からの反射波を
表示器に表示して上記欠陥の位置と大きさを計測する装
置において、計測条件設定装置とこの計測条件設定装置
よりの指令によりパルス信号を発生して上記計測条件設
定装置内の可変探触子に板波を発生させると共に時間掃
引信号発生回路にトリガなかけるバパルサと上記時間掃
引信号発生回路の出力と上記計測条件設定装置の他の出
力と上記可変角探触子の検出信号を入力とする増巾器と
この増巾器の出力を人力とする検波器の出力によって動
?’¥jる表示器によって構成されたものである。
元座標系に、検出した信号の強さを輝度または色に対応
させて表示するようにしたもの、換言すれば超音波を薄
板の中に導入し、この薄板内にある欠陥からの反射波を
表示器に表示して上記欠陥の位置と大きさを計測する装
置において、計測条件設定装置とこの計測条件設定装置
よりの指令によりパルス信号を発生して上記計測条件設
定装置内の可変探触子に板波を発生させると共に時間掃
引信号発生回路にトリガなかけるバパルサと上記時間掃
引信号発生回路の出力と上記計測条件設定装置の他の出
力と上記可変角探触子の検出信号を入力とする増巾器と
この増巾器の出力を人力とする検波器の出力によって動
?’¥jる表示器によって構成されたものである。
〔作用〕
この発明においては、角度・周波数I’制御装置とパル
サからの人力によって動作する可変角探触子を被検材の
我直に接触させ超音波を入射すれば板波を生じ、この板
波は被検材の中を移動する。もし被検材の甲に欠陥があ
ればこの板波の一部は反射され再び可変角探触子にもど
って来る。この板に送られる。−万表示器には角度・周
波数PJII御装置主装置射角度(θt)の信号が、又
パルサより時間掃引信号発生回路を介して時間(1)の
信号が人力され、この6つの信号が表示器(ブラウン管
)の上に例えばスポットライトの輝度又は色とt−θを
座標(直交座標−として表示される。
サからの人力によって動作する可変角探触子を被検材の
我直に接触させ超音波を入射すれば板波を生じ、この板
波は被検材の中を移動する。もし被検材の甲に欠陥があ
ればこの板波の一部は反射され再び可変角探触子にもど
って来る。この板に送られる。−万表示器には角度・周
波数PJII御装置主装置射角度(θt)の信号が、又
パルサより時間掃引信号発生回路を介して時間(1)の
信号が人力され、この6つの信号が表示器(ブラウン管
)の上に例えばスポットライトの輝度又は色とt−θを
座標(直交座標−として表示される。
第1図はこの発明の一実施例を示てブロック図である。
図において、(1)は被検材、(5)は被検材(1)の
表面に設置した可変角探触子、αOはこの可変角探触子
(5)の入射角01を順次変更すると共に後述て検出の
条件Yll1次変更でる手段、即ち計測条件設定装置!
tCL5である。(6)ハ角度・周波数制御装置αOよ
りの指令により、可変角探触子(5)より板波hv発生
すべく駆動するパルサ、(7)は可変角探触子(5)が
検出した欠陥(F+の反射信号(fl Y #!幅する
増幅器、(8)は増幅器(7)の出力信号を検波fる検
波器、αDはパルサ(6)が可変角探触子(5)y駆動
するタイミングに合せてのこぎり波を発生する時間掃引
信号発生回路、(9a)&j内角度周波数制御装置αO
よつ出力されろ入射角θiに対応した電圧により第1軸
(横軸)の座標が決められ時間掃引信号発生回路α℃の
出力信号により第2軸(縦軸)の座標が決められ、その
点に、検波器(8)の出力信号で輝度変調表示すろ表示
器である、 第2図は上記表示器(93)のパターンσ)−例を示て
表示例図である。図において、柳軸lヱ可変角探触子(
5)から被検材(1)へ超音波が入る時の彷横材(1)
側での屈折角θt(第5図参照)で、0″から91fの
範囲?もっている。
表面に設置した可変角探触子、αOはこの可変角探触子
(5)の入射角01を順次変更すると共に後述て検出の
条件Yll1次変更でる手段、即ち計測条件設定装置!
tCL5である。(6)ハ角度・周波数制御装置αOよ
りの指令により、可変角探触子(5)より板波hv発生
すべく駆動するパルサ、(7)は可変角探触子(5)が
検出した欠陥(F+の反射信号(fl Y #!幅する
増幅器、(8)は増幅器(7)の出力信号を検波fる検
波器、αDはパルサ(6)が可変角探触子(5)y駆動
するタイミングに合せてのこぎり波を発生する時間掃引
信号発生回路、(9a)&j内角度周波数制御装置αO
よつ出力されろ入射角θiに対応した電圧により第1軸
(横軸)の座標が決められ時間掃引信号発生回路α℃の
出力信号により第2軸(縦軸)の座標が決められ、その
点に、検波器(8)の出力信号で輝度変調表示すろ表示
器である、 第2図は上記表示器(93)のパターンσ)−例を示て
表示例図である。図において、柳軸lヱ可変角探触子(
5)から被検材(1)へ超音波が入る時の彷横材(1)
側での屈折角θt(第5図参照)で、0″から91fの
範囲?もっている。
先ず、角度・周波数制御装置α(hKより、可変角探触
子(5)が制御され、θt=Qと設定されろ。次に、角
度・周波数制御装置αOは、パルサ(6)に指令を出し
、それによりパルスが発生し、可変角探触子(5)より
、被検材(1)中に板波Wを発生させる。−万、バルブ
(6)からそのパルス発生と共に時間掃引信号発生回路
α刀に、トリガ信号が与えられ、時間掃引信号発生回路
αDから時間に比例した電圧の信1号が発生され、表示
器(9a)に与えられ、表示器(9a)上で、輝点が縦
軸にそって図中のAのように移動てろ。その輝点の輝度
は、発生された板波尚が被検材(1)中を伝搬し、欠陥
(nにより反射され、可変角探触子(5)で検出され、
増幅器(7)により増幅され、検波器(8)で検波され
た信号により変調がかけられる。従って、欠陥iFlか
らのエコーが大きげれば明る(、エコーが小さければ暗
(表示される。
子(5)が制御され、θt=Qと設定されろ。次に、角
度・周波数制御装置αOは、パルサ(6)に指令を出し
、それによりパルスが発生し、可変角探触子(5)より
、被検材(1)中に板波Wを発生させる。−万、バルブ
(6)からそのパルス発生と共に時間掃引信号発生回路
α刀に、トリガ信号が与えられ、時間掃引信号発生回路
αDから時間に比例した電圧の信1号が発生され、表示
器(9a)に与えられ、表示器(9a)上で、輝点が縦
軸にそって図中のAのように移動てろ。その輝点の輝度
は、発生された板波尚が被検材(1)中を伝搬し、欠陥
(nにより反射され、可変角探触子(5)で検出され、
増幅器(7)により増幅され、検波器(8)で検波され
た信号により変調がかけられる。従って、欠陥iFlか
らのエコーが大きげれば明る(、エコーが小さければ暗
(表示される。
この時間掃引が終ると、角度・周波数制御装置αdはθ
tY1°に設定し、同様の動作7行なう。θ1=1°で
の時間掃引が終ると、θtて変更されまk、同じ動作が
(つかえされる。この動作は、順次θt=9[]’にな
るまでくりカ・えされた後、θt=Qの状態に戻り、上
記動作がくりかえされる。その結果、例えば被検材(1
)が板厚2.3鵡の鉄板(spaりで、上下に貫通した
穴状欠陥がある場合、第2図のfst。
tY1°に設定し、同様の動作7行なう。θ1=1°で
の時間掃引が終ると、θtて変更されまk、同じ動作が
(つかえされる。この動作は、順次θt=9[]’にな
るまでくりカ・えされた後、θt=Qの状態に戻り、上
記動作がくりかえされる。その結果、例えば被検材(1
)が板厚2.3鵡の鉄板(spaりで、上下に貫通した
穴状欠陥がある場合、第2図のfst。
fs1+ fklのような像が得られる。これらは各々
S、モード、SIモート°、A1モードの板波故を欠陥
(8に当てたときの反射エコーのうち同じ欠陥fFlの
煉である。各モードは、各々、約2f、sf、sfで1
発生、検出条件が整うが、現実には図のJ5に点ではな
く、その前後に広がる。
S、モード、SIモート°、A1モードの板波故を欠陥
(8に当てたときの反射エコーのうち同じ欠陥fFlの
煉である。各モードは、各々、約2f、sf、sfで1
発生、検出条件が整うが、現実には図のJ5に点ではな
く、その前後に広がる。
この表示結果より、各モードの板波Wが、同一欠陥(F
′lに対して、どのように反射されるかを知ることがで
きる。
′lに対して、どのように反射されるかを知ることがで
きる。
第6図はこの発明に係る表示器(9a)の他の欠陥(F
+を示す表示例図である。図においてfS!l fs1
1f/Jは第2図の場合と同保の板波(ロ)のモードに
よる像であるがこの図は、欠陥が上下用通していない例
の一つでfs、の像がうてい。欠陥CF+の厚さ方何の
位置によってfs、が出にくかったり、fA、がでVこ
(かったつ変化でることを示している。従って、欠陥に
対応させてこれらの像を得ておけば、It’Y見ること
により、欠陥の類別が可能である。
+を示す表示例図である。図においてfS!l fs1
1f/Jは第2図の場合と同保の板波(ロ)のモードに
よる像であるがこの図は、欠陥が上下用通していない例
の一つでfs、の像がうてい。欠陥CF+の厚さ方何の
位置によってfs、が出にくかったり、fA、がでVこ
(かったつ変化でることを示している。従って、欠陥に
対応させてこれらの像を得ておけば、It’Y見ること
により、欠陥の類別が可能である。
第4[’a+−z、:σ)発明の他の実施例〉示すブロ
ック図である。図において、(11,(5a)〜(至)
及び苗。
ック図である。図において、(11,(5a)〜(至)
及び苗。
fFl 、げ)は第1図の例と同−又は相当部分を示し
ているが、可変角探触子(5a)と検出用可変角探触子
(5b〕とに分離し、発生は一つのモード乞選択し、検
出は順次屈折角(θt)乞変更(第5図錠照りして行く
ようにした。この様にすると欠陥(F′lの形状とモー
ド変換とに関する情報が得られ、欠陥(jの類別、評価
が更に正確になる。
ているが、可変角探触子(5a)と検出用可変角探触子
(5b〕とに分離し、発生は一つのモード乞選択し、検
出は順次屈折角(θt)乞変更(第5図錠照りして行く
ようにした。この様にすると欠陥(F′lの形状とモー
ド変換とに関する情報が得られ、欠陥(jの類別、評価
が更に正確になる。
また、上記実施例では、機械式の可変角探触子(5a)
、 (5h)で板波発生、板波検出の条件を変更Y ;
L 5 VCgl 明シたが、微小超音波エレメント
を並べたアレイ型探触子を用いても良い。
、 (5h)で板波発生、板波検出の条件を変更Y ;
L 5 VCgl 明シたが、微小超音波エレメント
を並べたアレイ型探触子を用いても良い。
このようにすると、条件の高速変更、一つの探触子によ
り発生、検出の条件を独立に変更できるなど優れた点が
あり、本発明の効果tより大きくできる。
り発生、検出の条件を独立に変更できるなど優れた点が
あり、本発明の効果tより大きくできる。
また、座標系ン直交座標系で示したが、別の座標系にし
ても、何ら、本発明の効果のさまたげにならない。例え
ば、極座標系にして、角度方向乞、前述のθt、あるい
は、θ1IK−てることにより、可変角探触子(5)と
の物理的対応がつきゃて(なる。
ても、何ら、本発明の効果のさまたげにならない。例え
ば、極座標系にして、角度方向乞、前述のθt、あるい
は、θ1IK−てることにより、可変角探触子(5)と
の物理的対応がつきゃて(なる。
さらに、上記では板波の発生、検出条件の変数としてO
tχ用い1こが、位相速度(Cp)Y用いても良(、ま
た、アレイ型探触子(5)を用いろ場合には、エレメン
ト間の位相差(あるいは時間差)ン用いても良い。
tχ用い1こが、位相速度(Cp)Y用いても良(、ま
た、アレイ型探触子(5)を用いろ場合には、エレメン
ト間の位相差(あるいは時間差)ン用いても良い。
また、上記実施例では、エコーの大きさ即ち反射波(f
lで、表示の輝度ン変y4てろ例ン示し1こが、エコー
の大きさに対応した色で表示させても艮い。
lで、表示の輝度ン変y4てろ例ン示し1こが、エコー
の大きさに対応した色で表示させても艮い。
さらにまた、上記実施例では、座標軸の一つ7時間的に
掃引′fろように示したが、各モード毎に群速度(実際
の板波伝搬速度つと、時間とから距離ン求め、これによ
って掃引しても良い。
掃引′fろように示したが、各モード毎に群速度(実際
の板波伝搬速度つと、時間とから距離ン求め、これによ
って掃引しても良い。
また、上記実施例では、板波の発生条件を角度1°毎に
変(ヒさせているが、何度でも良く、ま1こ、一定間隔
に限らず選択的に決定しても良いことは言うまでもない
。
変(ヒさせているが、何度でも良く、ま1こ、一定間隔
に限らず選択的に決定しても良いことは言うまでもない
。
以上のように、この発明によれば、板波の発生検出ある
いは検出の条件を順次変更し、欠陥からのエコーを得、
検出の条件(Ol)と、エコー検出時間[tlとで構成
される二次元座標系に、エコーの大きさを輝度あるいは
色で衣わてようにしたので、欠陥の類別もでき、正確な
探傷が可能なものが得られろ効果がある。
いは検出の条件を順次変更し、欠陥からのエコーを得、
検出の条件(Ol)と、エコー検出時間[tlとで構成
される二次元座標系に、エコーの大きさを輝度あるいは
色で衣わてようにしたので、欠陥の類別もでき、正確な
探傷が可能なものが得られろ効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による板波探傷装置It?
示すブロック図、第2図を工この発明による表示例図、
第3図はこの発明による他の表示例図、第4図1はこの
発明の他の実施例を示すブロック図。 第5図は、従来の板波探傷装置を示すブロック図、第6
図は、従来のものによる表示例図、第7図(at〜(e
lは広義の板波の七−ドン示す説明図である。 図において、(1)は被検材、(5)は可変探噛子、(
6)(ユパルサ、(7)は増幅器、(8)は検波器、(
9a)、 (9b)は表示器、αOは角度・周波数制御
装置、■は時間掃引信号発生回路、用工計測条件設定装
置である。 なお各図中、同一符号は同−又は相当部分Z示す。
示すブロック図、第2図を工この発明による表示例図、
第3図はこの発明による他の表示例図、第4図1はこの
発明の他の実施例を示すブロック図。 第5図は、従来の板波探傷装置を示すブロック図、第6
図は、従来のものによる表示例図、第7図(at〜(e
lは広義の板波の七−ドン示す説明図である。 図において、(1)は被検材、(5)は可変探噛子、(
6)(ユパルサ、(7)は増幅器、(8)は検波器、(
9a)、 (9b)は表示器、αOは角度・周波数制御
装置、■は時間掃引信号発生回路、用工計測条件設定装
置である。 なお各図中、同一符号は同−又は相当部分Z示す。
Claims (4)
- (1)超音波を薄板の中に導入し、この薄板内にある欠
陥からの反射波を表示器に表示して上記欠陥の位置と大
きさを計測する装置において、計測条件設定装置とこの
計測条件設定装置よりの指令によりパルス信号を発生し
て上記計測条件設定装置内の可変探触子に板波を発生さ
せると共に時間掃引信号発生回路にトリガをかけるパル
サと上記時間掃引信号発生回路の出力と上記計測条件設
定装置の他の出力と上記可変角探触子の検出信号を入力
とする増巾器とこの増巾器の出力を入力とする検波器の
出力によつて動作する表示器によつて構成されたことを
特徴とする板波探傷装置。 - (2)上記可変探触子は超音波の発生及び検出を併用し
ているか又は各々独立した構成であることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の板波探傷装置。 - (3)上記表示器は直交座標又は極座標によつて欠陥の
位置と大きさを表示できることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の板波探傷装置。 - (4)上記可変探触子は機械式可変探触子又はアレイ型
探触子であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の板波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61064884A JPH0754318B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 板波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61064884A JPH0754318B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 板波探傷装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62222161A true JPS62222161A (ja) | 1987-09-30 |
JPH0754318B2 JPH0754318B2 (ja) | 1995-06-07 |
Family
ID=13270977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61064884A Expired - Fee Related JPH0754318B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 板波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0754318B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007004574A1 (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Independent Administrative Institution Japan Aerospace Exploration Agency | 超音波試験方法及びこれを用いた超音波試験装置 |
CN112051329A (zh) * | 2020-08-31 | 2020-12-08 | 四川云卓创新科技有限公司 | 超声板波自动检测方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS571966A (en) * | 1980-06-06 | 1982-01-07 | Hitachi Ltd | Indicator for ultrasonic sectional view |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP61064884A patent/JPH0754318B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS571966A (en) * | 1980-06-06 | 1982-01-07 | Hitachi Ltd | Indicator for ultrasonic sectional view |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007004574A1 (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Independent Administrative Institution Japan Aerospace Exploration Agency | 超音波試験方法及びこれを用いた超音波試験装置 |
US8024975B2 (en) | 2005-07-04 | 2011-09-27 | Independent Administrative Institution Japan Aerospace Exploration Agency | Ultrasonic testing method and ultrasonic testing device using this |
CN112051329A (zh) * | 2020-08-31 | 2020-12-08 | 四川云卓创新科技有限公司 | 超声板波自动检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0754318B2 (ja) | 1995-06-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |