JPS62200813A - 圧電薄膜共振子 - Google Patents
圧電薄膜共振子Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
- H03H9/171—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
- H03H9/172—Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
- H03H9/173—Air-gaps
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は圧電性WslIを振動膜に用いた共振子に係り
、特に振動膜の振動部分に対応した位置に空隙層を有す
る圧電薄膜共振子に関する。
、特に振動膜の振動部分に対応した位置に空隙層を有す
る圧電薄膜共振子に関する。
(従来の技術)
VHF帯、UHF帯とし\つた非常に高い周波数帯で使
用でき、しかも集積化に適した共振子として、圧電RI
I共振子が注目されている。これは圧電性NWAを振動
膜に用いたものである。
用でき、しかも集積化に適した共振子として、圧電RI
I共振子が注目されている。これは圧電性NWAを振動
膜に用いたものである。
特開昭60−189307号公報には、このような圧電
薄膜共振子の例として、基板上に該基板との間に一部が
開口した空隙層を有するように形成された誘電体薄膜を
介して、空1層に対応する位置に圧電性Illを形成し
、この圧電性薄膜を挟んで空隙層に対応する位置で互い
に対向する一対の電極を設けた構成の共振器が記載、さ
れている。この場合、−・対の電極間に電気信号を印加
することによって、空隙層に対向した部分の誘電体膜と
圧電性薄膜との複合振動膜が振動し、共振器として動作
する。
薄膜共振子の例として、基板上に該基板との間に一部が
開口した空隙層を有するように形成された誘電体薄膜を
介して、空1層に対応する位置に圧電性Illを形成し
、この圧電性薄膜を挟んで空隙層に対応する位置で互い
に対向する一対の電極を設けた構成の共振器が記載、さ
れている。この場合、−・対の電極間に電気信号を印加
することによって、空隙層に対向した部分の誘電体膜と
圧電性薄膜との複合振動膜が振動し、共振器として動作
する。
この圧電iJH共振子は基板と誘電体膜との間に空隙層
を形成するため、基板自体にエツチングにより空隙とし
ての凹部を加工するものに比べて量産性に優れており、
また基板の機械的強度も損われないといった利点を有す
る。
を形成するため、基板自体にエツチングにより空隙とし
ての凹部を加工するものに比べて量産性に優れており、
また基板の機械的強度も損われないといった利点を有す
る。
しかしながら、この公知例の圧電11N1共撮子におい
ては、圧電性薄膜の支持部である誘電体薄膜が、対向す
る二辺でのみ基板上に支持されている構造のため、振動
膜の機械的強度が十分でない欠点があり、振動膜が破損
したり、撮動膜が撓んで基板面に接触してしまい、基板
中に振動エネルギーが漏れて良好な共振特性が得られな
くなるという問題がある。撮動膜を厚くすればこの難点
は解決されるが、共振周波数を高くできなくなる。
ては、圧電性薄膜の支持部である誘電体薄膜が、対向す
る二辺でのみ基板上に支持されている構造のため、振動
膜の機械的強度が十分でない欠点があり、振動膜が破損
したり、撮動膜が撓んで基板面に接触してしまい、基板
中に振動エネルギーが漏れて良好な共振特性が得られな
くなるという問題がある。撮動膜を厚くすればこの難点
は解決されるが、共振周波数を高くできなくなる。
(発明が解決しようとする問題点)
このように従来の空隙層を有する圧電w1ml!共振子
は、共振周波数を十分に高くとろうとすると、振動膜が
破損したり変形し易くなり、素子の特性が損なわれ、ま
た信頼性および歩留りが低下するという問題があった。
は、共振周波数を十分に高くとろうとすると、振動膜が
破損したり変形し易くなり、素子の特性が損なわれ、ま
た信頼性および歩留りが低下するという問題があった。
本発明はこのような従来技術の問題点を解決すべくなさ
れたもので、誘電体薄膜と圧電性薄膜との複合振動膜の
機械的強度を高くできる、空隙層を有した圧電III共
撮子を提供することを目的とする。
れたもので、誘電体薄膜と圧電性薄膜との複合振動膜の
機械的強度を高くできる、空隙層を有した圧電III共
撮子を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は上記目的を達成するため、空隙層の開口部の面
内方向における幅を、該空隙層の中心部、すなわち誘電
体薄膜と圧電性薄膜との複合振動膜の直下の部分の面内
方向における寸法よりも小さくしたことを特徴とする。
内方向における幅を、該空隙層の中心部、すなわち誘電
体薄膜と圧電性薄膜との複合振動膜の直下の部分の面内
方向における寸法よりも小さくしたことを特徴とする。
(作用)
本発明に係る圧電薄膜共振子では、例えば空隙層の形状
が方形状の場合を例にとると、誘電体薄膜は空隙層の開
口部のない対向する二辺で基板に接触して支持されるの
みならず、開口部が形成された二辺においても、開口部
を除く部分において基板に接触して支持される。このた
め誘電体薄膜と圧電性薄膜との複合振動膜の機械的強度
が著しく増大して、撮動膜の破損や撓みが防止される。
が方形状の場合を例にとると、誘電体薄膜は空隙層の開
口部のない対向する二辺で基板に接触して支持されるの
みならず、開口部が形成された二辺においても、開口部
を除く部分において基板に接触して支持される。このた
め誘電体薄膜と圧電性薄膜との複合振動膜の機械的強度
が著しく増大して、撮動膜の破損や撓みが防止される。
(実施例)
第1図は本発明の一実施例に係る圧電1!l共振子の構
成を示したものであり、(a)は平面図、(b)はA−
A矢視断面図である。
成を示したものであり、(a)は平面図、(b)はA−
A矢視断面図である。
第1図において、基板1は例えば81基板であり、この
基板1上に例えばSiO2躾からなる誘電体薄!112
が、基板1との間に一部が3a、3bの如く開口した空
隙層3を有するように形成されている。この誘電体@W
A2上に第1の電極4、圧電性簿膜5および第2の電極
6が順次形成されている。圧電性1115は例えばZn
0IIであり、誘電体11!2上の空1113に対向し
た位置に形成される。また、第1の電極4と第2の電極
6は、圧電性薄膜5を挟んで空隙層3に対応する位置で
互いに対向している。空隙層3の厚さは、共振子の動作
周波数における振動膜の振動変位の数倍以上あれば十分
であり、作成の容易さから数百人〜数μ乳程度が適当で
ある。
基板1上に例えばSiO2躾からなる誘電体薄!112
が、基板1との間に一部が3a、3bの如く開口した空
隙層3を有するように形成されている。この誘電体@W
A2上に第1の電極4、圧電性簿膜5および第2の電極
6が順次形成されている。圧電性1115は例えばZn
0IIであり、誘電体11!2上の空1113に対向し
た位置に形成される。また、第1の電極4と第2の電極
6は、圧電性薄膜5を挟んで空隙層3に対応する位置で
互いに対向している。空隙層3の厚さは、共振子の動作
周波数における振動膜の振動変位の数倍以上あれば十分
であり、作成の容易さから数百人〜数μ乳程度が適当で
ある。
上記構成において、第1の電極4と第2の電極6との間
に電気信号を印加すると、空隙層3上の誘電体薄[12
と圧電性薄膜5との複合振動膜が振動することにより、
共振子としての動作がなされる。
に電気信号を印加すると、空隙層3上の誘電体薄[12
と圧電性薄膜5との複合振動膜が振動することにより、
共振子としての動作がなされる。
ここで、本実施例においては空隙113は基本的には方
形状であるが、前記した公知例と異なり、対向する二辺
(図でl1の二辺)に形成された開口部3a、3bの面
内方向の幅が、空隙層3の中心部の縦横寸法より小さく
形成されている。従って、誘電体11!2は空隙層3に
おける開口部3a。
形状であるが、前記した公知例と異なり、対向する二辺
(図でl1の二辺)に形成された開口部3a、3bの面
内方向の幅が、空隙層3の中心部の縦横寸法より小さく
形成されている。従って、誘電体11!2は空隙層3に
おける開口部3a。
3bが形成されてない対向する二辺(図で左右の二辺)
基板1に支持されるとともに、開口部3a3bが形成さ
れた残りの二辺においても開口部3a、3bの両側の部
分が基板1に接触して支持される。
基板1に支持されるとともに、開口部3a3bが形成さ
れた残りの二辺においても開口部3a、3bの両側の部
分が基板1に接触して支持される。
このような構成とすることにより、撮動膜の機械的強度
が向上するため、撮動膜の破損が防止され、また振動膜
が撓んで基板1の面に接触することがなくなる。従って
、素子の信頼性および歩留りが向上するとともに、撮動
が基板1中に漏れることがなく、良好な共振特性が得ら
れる。
が向上するため、撮動膜の破損が防止され、また振動膜
が撓んで基板1の面に接触することがなくなる。従って
、素子の信頼性および歩留りが向上するとともに、撮動
が基板1中に漏れることがなく、良好な共振特性が得ら
れる。
また、振動膜の機械的強度が増すことから、撮動膜をよ
り薄く形成できるため、共振周波数を容易に高めること
が可能である。
り薄く形成できるため、共振周波数を容易に高めること
が可能である。
次に、本実施例の圧電Ill共擾子における空隙層3の
形成方法の具体的な一例について説明する。
形成方法の具体的な一例について説明する。
基本的な工程は、特開昭60−189307号公報に記
載された方法と同様である。
載された方法と同様である。
まず、基板1上全面に空隙層形成用均質膜として例えば
非晶質のZnO膜をスパッタリング法等により成膜した
債、第1図(a)の破線で示す形状にエツチングする。
非晶質のZnO膜をスパッタリング法等により成膜した
債、第1図(a)の破線で示す形状にエツチングする。
なお、エツチングの代りに、マスクを用いて選択的にス
パッタリングを行なって、同様な形状の空隙層形成用均
質膜を形成してもよい。次に、誘電体薄膜2としてのS
i 02 m。
パッタリングを行なって、同様な形状の空隙層形成用均
質膜を形成してもよい。次に、誘電体薄膜2としてのS
i 02 m。
第1の電極4、圧電性薄膜5としての結晶質のZn0I
IIおよび第2の電極6を順次形成する。
IIおよび第2の電極6を順次形成する。
このとき、空隙層形成用均質膜は第1図(a)における
上下方向両端部が誘電体膜wA2より基板1上にn出し
ているものとする。この状態で希酸項等の溶液からなる
エッチャントを用いて、空隙層形成用均質膜を第1図に
おける空隙層3の開口部3a、3bとなるべき位置から
エツチングすることにより、空隙層3が形成される。
上下方向両端部が誘電体膜wA2より基板1上にn出し
ているものとする。この状態で希酸項等の溶液からなる
エッチャントを用いて、空隙層形成用均質膜を第1図に
おける空隙層3の開口部3a、3bとなるべき位置から
エツチングすることにより、空隙層3が形成される。
次に、本発明の他の実施例を説明する。第3図に示す実
施例は、第1図の実施例で説明した圧電薄膜共振子の上
に、5JO2,5liN+等の化学的に安定な保護用の
誘電体膜117を設けたものである。
施例は、第1図の実施例で説明した圧電薄膜共振子の上
に、5JO2,5liN+等の化学的に安定な保護用の
誘電体膜117を設けたものである。
このように誘電体11M112上に形成された圧電性薄
膜5および電極4.6からなる振動部を誘電体膜7で被
覆することにより、振動部の電極4,6の酸化および圧
電性簿膜5に対する湿気等の外気の影響を防止し、信頼
性をさらに高めることができ、同時に動作周波数におけ
る振動モードの応力分布の最大点を圧電性薄膜5の中央
部に位置させることができるため、電気機械結合係数を
大きくすることが可能となる。
膜5および電極4.6からなる振動部を誘電体膜7で被
覆することにより、振動部の電極4,6の酸化および圧
電性簿膜5に対する湿気等の外気の影響を防止し、信頼
性をさらに高めることができ、同時に動作周波数におけ
る振動モードの応力分布の最大点を圧電性薄膜5の中央
部に位置させることができるため、電気機械結合係数を
大きくすることが可能となる。
また、保護用のl!!電体薄膜7に圧電性薄膜5と逆符
号の周波数濃度係数を持つ物質を用いることにより、温
度特性に浸れた共振子を実現することができる。さらに
、この誘電体膜I!l!7を空隙層3の形成時の保護膜
として兼用することにより、ホトレジスト等の保護膜の
除去工程を省略することができ、生産性が向上する。
号の周波数濃度係数を持つ物質を用いることにより、温
度特性に浸れた共振子を実現することができる。さらに
、この誘電体膜I!l!7を空隙層3の形成時の保護膜
として兼用することにより、ホトレジスト等の保護膜の
除去工程を省略することができ、生産性が向上する。
第3図〜第5図は空隙層3の形状の他の例を示す実施例
であり、第3図では空隙層3を菱形状に形成し、第4図
では空隙層3を円形状に形成し、また第5図では空隙層
3の関口部を3aのごとく1個所のみに設けている。こ
れらの実施例によっても、先の実施例と同様の効果を得
ることができる。I!するに、空隙層はその開口部の面
内方向における幅が、中心部(゛振動部)の面内方向に
おける寸法よりも小さい形状であればよく、また空隙層
の開口部の数も任意である。
であり、第3図では空隙層3を菱形状に形成し、第4図
では空隙層3を円形状に形成し、また第5図では空隙層
3の関口部を3aのごとく1個所のみに設けている。こ
れらの実施例によっても、先の実施例と同様の効果を得
ることができる。I!するに、空隙層はその開口部の面
内方向における幅が、中心部(゛振動部)の面内方向に
おける寸法よりも小さい形状であればよく、また空隙層
の開口部の数も任意である。
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではな
く、要旨を逸脱しない範囲で次のように種々変形して実
施することができる。
く、要旨を逸脱しない範囲で次のように種々変形して実
施することができる。
例えば、圧電性薄膜の支持部となる誘電体薄膜2の材質
はSiO2に限られるものではなく、Si3N4や、S
iO2にリンをドープしたPSG、あるいはSiO2に
ボロンとリンをドープしたBPSG等のガラス類であっ
てもよく、また複数種類の誘電体薄膜を積層した複合膜
であってもよい。いずれの場合も、周波数温度係数が圧
電性薄膜のそれと逆符号のものが望ましい。
はSiO2に限られるものではなく、Si3N4や、S
iO2にリンをドープしたPSG、あるいはSiO2に
ボロンとリンをドープしたBPSG等のガラス類であっ
てもよく、また複数種類の誘電体薄膜を積層した複合膜
であってもよい。いずれの場合も、周波数温度係数が圧
電性薄膜のそれと逆符号のものが望ましい。
また、圧電性薄膜の材質はznOに限られず、AQN、
Nb20s 、Ta205 、PbT io3等を使用
することもできる。
Nb20s 、Ta205 、PbT io3等を使用
することもできる。
空隙層形成用均質膜についても、ZnOに限られるもの
でなく、空隙形成用エッチャントにより容易に溶解でき
るものであれば、金属、酸化物。
でなく、空隙形成用エッチャントにより容易に溶解でき
るものであれば、金属、酸化物。
半導体、誘電体、^分子材料等の物質を使用することが
できる。
できる。
一方、基板の材質は圧電薄膜共振子を半導体集積回路内
に組込む場合には、Si、GaAs等の半導体を使用し
、また個別部品としてハイブリッド・集積回路等に組込
む場合には、セラミック、ガラス等を使用すればよい。
に組込む場合には、Si、GaAs等の半導体を使用し
、また個別部品としてハイブリッド・集積回路等に組込
む場合には、セラミック、ガラス等を使用すればよい。
さらに、本発明においては、共通の下部電極(第1の電
極)に対して複数の上部電極(第2の電極)を直交する
ように対向させ、各電極対向部間を弾性的結合が無視で
きる程度に離すか、または各電極対向部間に溝や吸音材
を設けることによって、独立した複数の共振子を有する
多素子型共振子を構成することも可能である。
極)に対して複数の上部電極(第2の電極)を直交する
ように対向させ、各電極対向部間を弾性的結合が無視で
きる程度に離すか、または各電極対向部間に溝や吸音材
を設けることによって、独立した複数の共振子を有する
多素子型共振子を構成することも可能である。
また、共通の下部電極に対して複数の下部電極を対向さ
せ、各電極対向部間の弾性的結合を利用した帯域フィル
タを構成することもできる。
せ、各電極対向部間の弾性的結合を利用した帯域フィル
タを構成することもできる。
[発明の効果]
本発明によれば、誘電体薄膜と圧電性81sとの複合振
動膜と基板との間に形成された空隙層を、その開口部の
面内方向の幅が空隙層層の中心部における面内方向の寸
法より小さい形状とすることにより、振動膜の機械的強
度を向上させることができる。その結果、基板への振動
エネルギーの濶れがなく良好な共振特性が得られるとと
もに、信頼性および歩留りが向上し、また共振周波数を
容易に高くすることができる。
動膜と基板との間に形成された空隙層を、その開口部の
面内方向の幅が空隙層層の中心部における面内方向の寸
法より小さい形状とすることにより、振動膜の機械的強
度を向上させることができる。その結果、基板への振動
エネルギーの濶れがなく良好な共振特性が得られるとと
もに、信頼性および歩留りが向上し、また共振周波数を
容易に高くすることができる。
第1図(a)(b)は本発明の一実施例に係る圧電薄膜
共振子の平面図およびA−A矢視断面図、第2図は本発
明の他の実施例に係る圧電!i1m!共振子の断面図、
第3図〜第5図は本発明の他の実施例における空隙層の
形状を示す平面図である。 1・・・基板、2・・・誘電体薄膜、3・・・空隙層、
3a。 3b・・・開口部、4・・・第1・の電極、5・・・圧
電性薄膜、6・・・第2の電極、7・・・保護用誘電体
薄膜゜出願人代理人 弁理士 鈴江武彦第3 図 第4図 第5図
共振子の平面図およびA−A矢視断面図、第2図は本発
明の他の実施例に係る圧電!i1m!共振子の断面図、
第3図〜第5図は本発明の他の実施例における空隙層の
形状を示す平面図である。 1・・・基板、2・・・誘電体薄膜、3・・・空隙層、
3a。 3b・・・開口部、4・・・第1・の電極、5・・・圧
電性薄膜、6・・・第2の電極、7・・・保護用誘電体
薄膜゜出願人代理人 弁理士 鈴江武彦第3 図 第4図 第5図
Claims (1)
- 基板と、この基板上に該基板との間に一部が開口した
空隙層を有するように形成された誘電体薄膜と、この誘
電体薄膜上の前記空隙層に対応する位置に形成された圧
電性薄膜と、この圧電性薄膜を挟んで少なくとも前記空
隙層に対応する位置で互いに対向するように形成された
少なくとも一対の電極とを備えた圧電薄膜共振子におい
て、前記空隙層の開口部の面内方向における幅を、該空
隙層の中心部の面内方向における寸法よりも小さくした
ことを特徴とする圧電薄膜共振子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4293686A JPS62200813A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 圧電薄膜共振子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4293686A JPS62200813A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 圧電薄膜共振子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62200813A true JPS62200813A (ja) | 1987-09-04 |
Family
ID=12649899
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4293686A Pending JPS62200813A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | 圧電薄膜共振子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62200813A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100516571B1 (ko) * | 2002-05-29 | 2005-09-22 | 엘지이노텍 주식회사 | 공진기 |
EP1684424A1 (en) * | 2005-01-12 | 2006-07-26 | Fujitsu Media Devices Limited | Piezoelectric thin-film resonator and filter using the same |
JP2007159123A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-21 | Agilent Technol Inc | 温度補償型薄膜バルク音響共振器デバイス |
US7327209B2 (en) | 2004-09-10 | 2008-02-05 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric thin film resonator |
JP2009100196A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電振動装置 |
US9048812B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-06-02 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Bulk acoustic wave resonator comprising bridge formed within piezoelectric layer |
US9083302B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-07-14 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Stacked bulk acoustic resonator comprising a bridge and an acoustic reflector along a perimeter of the resonator |
US9859205B2 (en) | 2011-01-31 | 2018-01-02 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same |
-
1986
- 1986-02-28 JP JP4293686A patent/JPS62200813A/ja active Pending
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US9083302B2 (en) | 2011-02-28 | 2015-07-14 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Stacked bulk acoustic resonator comprising a bridge and an acoustic reflector along a perimeter of the resonator |
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