JPS62194504A - 調節計 - Google Patents
調節計Info
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- JPS62194504A JPS62194504A JP3655886A JP3655886A JPS62194504A JP S62194504 A JPS62194504 A JP S62194504A JP 3655886 A JP3655886 A JP 3655886A JP 3655886 A JP3655886 A JP 3655886A JP S62194504 A JPS62194504 A JP S62194504A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000011112 process operation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、少なくとも比例(P)、積分(1)演算定数
を最適な値に自動的に調整する調節計に関する。
を最適な値に自動的に調整する調節計に関する。
(従来の技術)
フィードバック制御に用いられるプロセス用PI調節計
において、Pliil算定数の設定は、プロセス運転者
あるいは計装エンジニアの長年の知識と経験に基づいて
手動によって行なわれているのが現状である。しかしな
がら、手動設定によるものは、プロセスのスタートアッ
プ時、負荷変動時、予期しない外乱混入時、あるいは非
線形ゲイン特性を持つ系等の状況の下では、一時的ある
いは定常的にプロセス運転の乱れを生じ、状況によって
は経済的損失を及ぼすことがあった。
において、Pliil算定数の設定は、プロセス運転者
あるいは計装エンジニアの長年の知識と経験に基づいて
手動によって行なわれているのが現状である。しかしな
がら、手動設定によるものは、プロセスのスタートアッ
プ時、負荷変動時、予期しない外乱混入時、あるいは非
線形ゲイン特性を持つ系等の状況の下では、一時的ある
いは定常的にプロセス運転の乱れを生じ、状況によって
は経済的損失を及ぼすことがあった。
そこで、Plill定数をセルフチューニングするよう
にした調節計が提案されている。これまで提案されてい
るセルフチューニング調節計は、補助コントローラを主
コントローラに対して並列的に接続し、補助コントロー
ラのゲインをあげ、振動を起させ、その振幅2周波数か
ら、2ieglar。
にした調節計が提案されている。これまで提案されてい
るセルフチューニング調節計は、補助コントローラを主
コントローラに対して並列的に接続し、補助コントロー
ラのゲインをあげ、振動を起させ、その振幅2周波数か
ら、2ieglar。
N1ekolsによる所m Z −N限界感度法に基づ
いてPI定数を同定するものく昭和45年計測自動制御
学会論文集Mol 6. Ha、 6. P55〜P6
0 限界感度法を利用した適応制御系の研究、北森俊
行)、オン。
いてPI定数を同定するものく昭和45年計測自動制御
学会論文集Mol 6. Ha、 6. P55〜P6
0 限界感度法を利用した適応制御系の研究、北森俊
行)、オン。
オフ発生器を使用してリミットサイクルを発生させ、そ
の振幅等から最適なPI演算定数を同定するようにした
もの(昭和48年計測自動制御学会第12回学術講演会
予稿集 P617〜PG14 pHll自動設定自動
設定子アダプティブローラ 須見、福田)等がある。ま
た、出願人は、先に、特願昭60− N8451号にて
、プロセスに外乱を与えることなく、ランダムに発生す
る外乱等による制御量の変化をみて、最適の応答となる
ようにPI演算定数を調整するセルフチューニング調節
計を提案している。
の振幅等から最適なPI演算定数を同定するようにした
もの(昭和48年計測自動制御学会第12回学術講演会
予稿集 P617〜PG14 pHll自動設定自動
設定子アダプティブローラ 須見、福田)等がある。ま
た、出願人は、先に、特願昭60− N8451号にて
、プロセスに外乱を与えることなく、ランダムに発生す
る外乱等による制御量の変化をみて、最適の応答となる
ようにPI演算定数を調整するセルフチューニング調節
計を提案している。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで、これらのセルフチューニング調節計は、いず
れのものも自動運転の下で、セルフチューニングが行な
えるようになっている。それ故に、例えば、pH(mを
制御するようなプロセスにおいて、PHセンサーを定期
的に洗浄するため、あるいはバッチ・オフの場合等、自
動運転を中断すると、一時的にプロセスが乱れることが
あり、セルフチューニングをすることがかえって制御性
を悪化させるという問題点があった。
れのものも自動運転の下で、セルフチューニングが行な
えるようになっている。それ故に、例えば、pH(mを
制御するようなプロセスにおいて、PHセンサーを定期
的に洗浄するため、あるいはバッチ・オフの場合等、自
動運転を中断すると、一時的にプロセスが乱れることが
あり、セルフチューニングをすることがかえって制御性
を悪化させるという問題点があった。
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたもので、
その目的は、自動運転の中断が発生した場合、セルフチ
ューニングの制御動作を停止するようにしたa筒針を実
現しようとするものである。
その目的は、自動運転の中断が発生した場合、セルフチ
ューニングの制御動作を停止するようにしたa筒針を実
現しようとするものである。
(問題点を解決するための手段)
前記した問題点を解決する本発明は、少なくとも比例、
積分演算を行なうPI演算手段と、制御量の変化をみて
この制御量が最適の応答となるように前記PI演算手段
におけるPI演算定数を調整するセルフチューニング制
御手段を備えた調節計において、当該調節計による自動
運転の中断を検出する検出手段を設け、この検出手段か
らの信号によって前記セルフチューニング制御手段の動
作、停止を行なうようにしたことを特徴とする。
積分演算を行なうPI演算手段と、制御量の変化をみて
この制御量が最適の応答となるように前記PI演算手段
におけるPI演算定数を調整するセルフチューニング制
御手段を備えた調節計において、当該調節計による自動
運転の中断を検出する検出手段を設け、この検出手段か
らの信号によって前記セルフチューニング制御手段の動
作、停止を行なうようにしたことを特徴とする。
(実施例)
第1図は、本発明に係る装置の一例を示す機能ブロック
図である。図において、1はプロセス対象を示すブロッ
クで、運転対象によってその動特性が変化するものとす
る。2は設定値Svとプロセス1からのプロセス量P■
との偏差(を入力信号とするPI市0御ブロックで、P
I演算定数は、破線で囲んだセルフチューニングブロッ
ク3からの信号によって自動設定される。このPI制御
ブロック2からの出力信号MVは、プロセス1に印加さ
°れる。
図である。図において、1はプロセス対象を示すブロッ
クで、運転対象によってその動特性が変化するものとす
る。2は設定値Svとプロセス1からのプロセス量P■
との偏差(を入力信号とするPI市0御ブロックで、P
I演算定数は、破線で囲んだセルフチューニングブロッ
ク3からの信号によって自動設定される。このPI制御
ブロック2からの出力信号MVは、プロセス1に印加さ
°れる。
セルフチューニングブロック3において、3Iは設定値
S V、プロセス量PVをそれぞれ入力し、S■とPV
の偏差信号(の波形観測を行なう波形観測手段で、偏差
信号(のオーバーシュート量OVS、ダンピング量DM
P、振動周期Tpを求める機能を有している。32は制
御性の目標となる目標値を設定する目標設定手段で、こ
こには少なくともプロセス1における理想的なオーバー
シュート量OVSと、ダンピング偵DMPとが設定され
る。33はPI演算定数を演算によって求めるパラメー
タ演算手段で、波形観測手段31から得られるオーバー
シュート量とダンピングイ直とが、目標設定手段32で
設定された目標値に近づくようにPI演算定数を演算す
る。これらの各手段31,32゜33は、いずれも調節
計内に搭載されたマイクロコンピュータによるプログラ
ムによって実現されるものとする。4は調節計による自
動運転の中断を検出する検出手段で、例えばpHセンサ
ーの洗浄を指示する信号、パッチオフを指示する信号等
(すレー等の接点入力、電圧レベル信号等)を入力する
ディジタル入力回路で構成されている。この検出手段4
からの信号は、セルフチューニングブロック3に印加さ
れ、ここでのセルフチューニングの動作、停止を指示す
る。
S V、プロセス量PVをそれぞれ入力し、S■とPV
の偏差信号(の波形観測を行なう波形観測手段で、偏差
信号(のオーバーシュート量OVS、ダンピング量DM
P、振動周期Tpを求める機能を有している。32は制
御性の目標となる目標値を設定する目標設定手段で、こ
こには少なくともプロセス1における理想的なオーバー
シュート量OVSと、ダンピング偵DMPとが設定され
る。33はPI演算定数を演算によって求めるパラメー
タ演算手段で、波形観測手段31から得られるオーバー
シュート量とダンピングイ直とが、目標設定手段32で
設定された目標値に近づくようにPI演算定数を演算す
る。これらの各手段31,32゜33は、いずれも調節
計内に搭載されたマイクロコンピュータによるプログラ
ムによって実現されるものとする。4は調節計による自
動運転の中断を検出する検出手段で、例えばpHセンサ
ーの洗浄を指示する信号、パッチオフを指示する信号等
(すレー等の接点入力、電圧レベル信号等)を入力する
ディジタル入力回路で構成されている。この検出手段4
からの信号は、セルフチューニングブロック3に印加さ
れ、ここでのセルフチューニングの動作、停止を指示す
る。
このように構成した装置の動作を次に説明する。
第2図は波形観測手段31における波形観測手法の説明
図である。波形観測手段31は、はじめに、設定m S
Vとプロセス量P■の偏差iを求め、この偏差ζが、
予じめ目標設定手段32に設定した所定の鐘ΔEより大
きくなった時、波形観測を開始する。いま、この偏差(
が図示するように時間とともに変化するものとすれば、
この偏差εがΔEより大きくなった時点より波形観測を
始め、波形のピーク値El、 82. E3を検出する
とともに、このピーク値になるまでの時間 tl、 L
2. t3を測定する。これらの値を用いて、オーバー
シュート量OVS、ダンピング値DMP、振動周期Tp
を次の演算式によって求め、演算結果をパラメータ演算
手段33に与える。
図である。波形観測手段31は、はじめに、設定m S
Vとプロセス量P■の偏差iを求め、この偏差ζが、
予じめ目標設定手段32に設定した所定の鐘ΔEより大
きくなった時、波形観測を開始する。いま、この偏差(
が図示するように時間とともに変化するものとすれば、
この偏差εがΔEより大きくなった時点より波形観測を
始め、波形のピーク値El、 82. E3を検出する
とともに、このピーク値になるまでの時間 tl、 L
2. t3を測定する。これらの値を用いて、オーバー
シュート量OVS、ダンピング値DMP、振動周期Tp
を次の演算式によって求め、演算結果をパラメータ演算
手段33に与える。
Tp=t3−tl
パラメータ演算手段33は、波形観測手段31によって
得られた演算結果に基づいて、PI制御ブロック2に設
定されている現在の比例定数、積分定数が、目標設定手
段32で設定されているオーバーシュート量とダンピン
グ値とを実現するための目標となる比例定数、積分定数
に対して、どんな関係にあるかを認識し、それぞれの関
係によって決まるいくつかの区分に応じて、それぞれ異
なった演算式を適用し、少なくとも新しい比例定数と積
分定数(現在値からの変更量)を演算する。このように
して得られた新しい比例定数と積分定数は、PI制御ブ
ロック2に再設定され、PI制御ブロック2は、次に、
この新しく設定された定数に基づいてPI演算を行ない
、操作信号をプロセス1に出力する。
得られた演算結果に基づいて、PI制御ブロック2に設
定されている現在の比例定数、積分定数が、目標設定手
段32で設定されているオーバーシュート量とダンピン
グ値とを実現するための目標となる比例定数、積分定数
に対して、どんな関係にあるかを認識し、それぞれの関
係によって決まるいくつかの区分に応じて、それぞれ異
なった演算式を適用し、少なくとも新しい比例定数と積
分定数(現在値からの変更量)を演算する。このように
して得られた新しい比例定数と積分定数は、PI制御ブ
ロック2に再設定され、PI制御ブロック2は、次に、
この新しく設定された定数に基づいてPI演算を行ない
、操作信号をプロセス1に出力する。
第3図は、パラメータ演算手段33の動作の一例を示す
フローチャートである。ここでは4つの区分を決めたも
のを例示する。
フローチャートである。ここでは4つの区分を決めたも
のを例示する。
はじめに、波形観測手段31で得られたダンピング値D
MPが「0」より小さいか判断する(ステップ1)。こ
れによって、PI制御ブロック2に現在設定されている
P、I定数が後述するへ区分にあるかどうか判断する。
MPが「0」より小さいか判断する(ステップ1)。こ
れによって、PI制御ブロック2に現在設定されている
P、I定数が後述するへ区分にあるかどうか判断する。
すなわち、ダンピング値DMPがrOJより小さい場合
、非振動的な応答特性を示しており、現在のP、I演算
定数による制御性はA区分にあるものと判断し、目標設
定手段32に設定した目標値に近ずくようにP、I演算
定数を変更する演算を行なう(ステップ2)。
、非振動的な応答特性を示しており、現在のP、I演算
定数による制御性はA区分にあるものと判断し、目標設
定手段32に設定した目標値に近ずくようにP、I演算
定数を変更する演算を行なう(ステップ2)。
ダンピング(tm DMP≧0 の協会(ステップ1
で“NOパの場合)、(積算演算定数Tr)/(振動周
期Tp)のIRを演算しくステップ3)、この値Rの大
きさを判断する(ステップ4)、すなわち、R<0.2
であれば、現在設定され′CいるPI演算定数は、8区
分にあるものと判断し、ステップ5に移る。また、0.
2≦R≦0.4であれば、C区分にあるものと判断し、
ステップ6に、R>0.4であれば、0区分にあるもの
と判断し、ステップ7にそれぞれ移る。このように、ダ
ンピング(W4 、振動周期、Rの大きさによって、A
、B、C,Dの4区分に分けたのは、これまでの経験則
に基づくもので、各区分の概念と、各区分における演算
式を第4図に示す。第4図において、横軸はRの値であ
り縦軸は、ダンピング値DMPをとっである。
で“NOパの場合)、(積算演算定数Tr)/(振動周
期Tp)のIRを演算しくステップ3)、この値Rの大
きさを判断する(ステップ4)、すなわち、R<0.2
であれば、現在設定され′CいるPI演算定数は、8区
分にあるものと判断し、ステップ5に移る。また、0.
2≦R≦0.4であれば、C区分にあるものと判断し、
ステップ6に、R>0.4であれば、0区分にあるもの
と判断し、ステップ7にそれぞれ移る。このように、ダ
ンピング(W4 、振動周期、Rの大きさによって、A
、B、C,Dの4区分に分けたのは、これまでの経験則
に基づくもので、各区分の概念と、各区分における演算
式を第4図に示す。第4図において、横軸はRの値であ
り縦軸は、ダンピング値DMPをとっである。
この図でハツチングを施した付近(ダンピング値DMP
ミLm、 R= 11.2付近)が目標値となる領域で
、各区分ごとに示しである比例演算定数PB。
ミLm、 R= 11.2付近)が目標値となる領域で
、各区分ごとに示しである比例演算定数PB。
積分演算定数Tiを求めるための所定の演算を行なうこ
とによって、どの区分からも制御性が目標値に向かうよ
うな、P演算定数、■演算定数が求められる。なお、本
発明は、微分(D)演算をも含む調節計にも同様に適用
できるものであって、第4図には、微分演算定数Tdを
得るための演算式についても参考までに示しである。
とによって、どの区分からも制御性が目標値に向かうよ
うな、P演算定数、■演算定数が求められる。なお、本
発明は、微分(D)演算をも含む調節計にも同様に適用
できるものであって、第4図には、微分演算定数Tdを
得るための演算式についても参考までに示しである。
第4図に示す各演算式において、PHI、PH1は今回
1次回の比例演算定数、 Til、Ti2は今回1次回
の積分演算定数(積分時間)、Eovrは誤差オーバー
シュート、Edmpは誤差ダンピングである。
1次回の比例演算定数、 Til、Ti2は今回1次回
の積分演算定数(積分時間)、Eovrは誤差オーバー
シュート、Edmpは誤差ダンピングである。
区分Aにおける(IA)式、(2A)式は、ステップ2
において適用され、比例演算定数PB2.B2前算定数
Ti2は、誤差ダンピングEdmp、誤差オーバーシュ
ートEovrの値に応じてそれぞれ今回の定数よりいず
れも増大するような値が求められる。Edmp、 Eo
vrが0であれば、PH1,Ti2は、今回のFBI、
Titと同じ値となる。
において適用され、比例演算定数PB2.B2前算定数
Ti2は、誤差ダンピングEdmp、誤差オーバーシュ
ートEovrの値に応じてそれぞれ今回の定数よりいず
れも増大するような値が求められる。Edmp、 Eo
vrが0であれば、PH1,Ti2は、今回のFBI、
Titと同じ値となる。
区分Bにおける(IB)式、(2B)式は、ステップ5
において適用され、比例演算定数P!12.摂分演算泥
分演算定数、R10,2(ここではRは0.2より小さ
い)の割合でそれぞれ今回の定数より減少するような値
が求められる。
において適用され、比例演算定数P!12.摂分演算泥
分演算定数、R10,2(ここではRは0.2より小さ
い)の割合でそれぞれ今回の定数より減少するような値
が求められる。
以下、同じように、区分Cにおける(1c)式。
(2C)式は、ステップ6において適用され、区分りに
おける(ID)式、(2D)式はステップ7において適
用される。
おける(ID)式、(2D)式はステップ7において適
用される。
ステップ8では、ステップ2,5,6,7のいずれかに
おいて得られた比例演算定数、1分演算定数を、PI制
御ブロックに再設定する。
おいて得られた比例演算定数、1分演算定数を、PI制
御ブロックに再設定する。
以上のような動作によって、PIff+Omブロック2
には、そこに設定されている比例演算定数、積分演算定
数がどのような値であっても、最終的に制御性が最適な
目標値になるように自動的に調整されることになる。
には、そこに設定されている比例演算定数、積分演算定
数がどのような値であっても、最終的に制御性が最適な
目標値になるように自動的に調整されることになる。
ここで、検出手段4が調節計の自動運転の中断を検出す
ると、セルフチューニングブロック3にその旨を示す信
号を出力する。セルフチューニングブロック3は、この
信号を受けると、セルフチューニングの動作を停止する
。これによって、一時的にプロセスが乱れても、その後
のセルフチューニング動作に影響のないようにしている
。
ると、セルフチューニングブロック3にその旨を示す信
号を出力する。セルフチューニングブロック3は、この
信号を受けると、セルフチューニングの動作を停止する
。これによって、一時的にプロセスが乱れても、その後
のセルフチューニング動作に影響のないようにしている
。
第5図は、本発明装置の池の例を示す機能ブロック図で
ある。この実施例においては、セルフチューニングブロ
ック3と、PI制御ブロック2との間に、パラメータ演
算ブロック3からの制御出力をオフとするスイッチSW
を設けるとともに、検出手段4からの信号及び外部設定
スイッチSWUからの信号によってスイッチswを駆動
するようにしたものである。これによって、自動運転状
態のままで、スイッチSWUの操作により、外部よりセ
ルフチューニングの動作を停止させることができる。
ある。この実施例においては、セルフチューニングブロ
ック3と、PI制御ブロック2との間に、パラメータ演
算ブロック3からの制御出力をオフとするスイッチSW
を設けるとともに、検出手段4からの信号及び外部設定
スイッチSWUからの信号によってスイッチswを駆動
するようにしたものである。これによって、自動運転状
態のままで、スイッチSWUの操作により、外部よりセ
ルフチューニングの動作を停止させることができる。
なお、上記の説明では、セルフチューニング調節計とし
て、特願昭60−248451号で提案したものを用い
たものであるが、他のセルフチューニング調節計に用い
てもよい。また、PID制御ブロックを用いたものでも
よい。
て、特願昭60−248451号で提案したものを用い
たものであるが、他のセルフチューニング調節計に用い
てもよい。また、PID制御ブロックを用いたものでも
よい。
(i@明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、セルフチューニ
ングの動作、停止をプロセスの自動運転の状況、中断等
に応じて自動的に行なえるセルフチューニング調節計が
実現できる。
ングの動作、停止をプロセスの自動運転の状況、中断等
に応じて自動的に行なえるセルフチューニング調節計が
実現できる。
第1図は本発明に係る装置の一例を示す機能ブロック図
、第2図は波形観測手段における波形観測手法の説明図
、第3図はパラメータ演算手段の動作の一例を示すフロ
ーチャート、第4図はパラメータfiIg手段において
定められる各区分の概念図、第5図は本発明装置の他の
例を示す機能フロック図である。 l・・・プロセス、2・・・PI制御ブロック、3・・
・パラメータ演算ブロック、4・・・検出手段、31・
・・波形観測手段、3z・・・目標設定手段、33・・
・パラメータ演算手段。 )、′ −。 θ \第3図 第5図
、第2図は波形観測手段における波形観測手法の説明図
、第3図はパラメータ演算手段の動作の一例を示すフロ
ーチャート、第4図はパラメータfiIg手段において
定められる各区分の概念図、第5図は本発明装置の他の
例を示す機能フロック図である。 l・・・プロセス、2・・・PI制御ブロック、3・・
・パラメータ演算ブロック、4・・・検出手段、31・
・・波形観測手段、3z・・・目標設定手段、33・・
・パラメータ演算手段。 )、′ −。 θ \第3図 第5図
Claims (2)
- (1)少なくとも比例、積分演算を行なうPI演算手段
と、制御量の変化をみてこの制御量が最適の応答となる
ように前記PI演算手段におけるPI演算定数を調整す
るセルフチューニング制御手段を備えた調節計において
、 当該調節計による自動運転の中断を検出する検出手段を
設け、この検出手段からの信号によって前記セルフチュ
ーニング制御手段の動作、停止を行なうようにしたこと
を特徴とする調節計。 - (2)セルフチューニング制御手段は、プロセス量又は
プロセス量と設定値との偏差との偏差信号の波形を観測
し当該信号が所定値以上となつた場合オーバーシュート
量、ダンピング個及び振動周期を求める波形観測手段と
、前記プロセスの制御性の目標となる少なくともオーバ
ーシュート量とダンピング値とを設定する目標設定手段
と、前記波形観測手段から得られるオーバーシュート量
とダンピング値と振動周期及び前記目標設定手段で設定
された目標値とをそれぞれ入力し、この目標値との誤差
の大きさに応じてそれぞれ異なる演算式を適用し、少な
くとも比例定数、積分定数を演算し、得られた比例定数
、積分定数をPI制御手段に設定するパラメータ演算手
段とで構成される特許請求の範囲第1項記載の調節計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61036558A JPH0610762B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 調節計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61036558A JPH0610762B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 調節計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62194504A true JPS62194504A (ja) | 1987-08-27 |
JPH0610762B2 JPH0610762B2 (ja) | 1994-02-09 |
Family
ID=12473083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61036558A Expired - Lifetime JPH0610762B2 (ja) | 1986-02-21 | 1986-02-21 | 調節計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0610762B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108696210A (zh) * | 2018-05-21 | 2018-10-23 | 东南大学 | 基于参数辨识的直流电机电流环控制器参数自整定方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5866107A (ja) * | 1981-10-15 | 1983-04-20 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
JPS6024602A (ja) * | 1983-07-21 | 1985-02-07 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | モデル規範適応系 |
-
1986
- 1986-02-21 JP JP61036558A patent/JPH0610762B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0610762B2 (ja) | 1994-02-09 |
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