JPS62192610A - 非接触変位測定装置 - Google Patents

非接触変位測定装置

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Publication number
JPS62192610A
JPS62192610A JP3572386A JP3572386A JPS62192610A JP S62192610 A JPS62192610 A JP S62192610A JP 3572386 A JP3572386 A JP 3572386A JP 3572386 A JP3572386 A JP 3572386A JP S62192610 A JPS62192610 A JP S62192610A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
video signal
intersection
measured
point
slice level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3572386A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Matsumoto
公一 松本
Tsunemitsu Koseki
小関 恒光
Akira Hirabashi
平橋 明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Kawatetsu Keiryoki KK
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
Kawatetsu Keiryoki KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Steel Corp, Kawatetsu Keiryoki KK filed Critical Kawasaki Steel Corp
Priority to JP3572386A priority Critical patent/JPS62192610A/ja
Publication of JPS62192610A publication Critical patent/JPS62192610A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、寸法1測定、形状測定等に用いる非接触変
位測定装置に関する。
〈従来の技術〉 電荷転送素子(CTD)等の固体撮像素子を利用した従
来の非接触変位測定装置は、第7図に示すように、発光
ダイオード(LED)等の光源100より照射レンズ+
01を通し、1本の光線を被測定物体lO3に照射して
、被測定物体103上A点に光点つまり反射点を形成す
る。この反射点からの反射光を集光レンズ105を通し
て、固体撮像素子106上に結像スポットA°を形成す
る。
この光路系において、A点がB点に移動すると、結像ス
ポットはA°点からB°点に移動する。反射点のA点か
らB点への移動量をd1結像スボツトのへ°点からB°
点への移動mをXとすると、d=kxの関係がある。
ここでkは光学系より定められる定数である。
従って、Xの値を測定すれば、被測定物体の変位dが非
接触にて測定できる。
第8図は結像スポットA°点とB°点を模式的に書いた
ものである。結像スポットの移動型xを求めるには、結
像スポットの結像代表点、つまり固体撮像素子106の
画素107の画素ナンバーをある方法にて定め、それら
の差Δnを求め、素子ビソヂをPとすれば、移動mXは
Δn−Pとして求められ、被測定物体103の変位dが
求まる。
ここで、結像代表点を求める方法としては、スライスレ
ベルとビデオ信号を比較し、スライスレベルを超えたビ
デオ信号の始端または終端の画素のナンバーを結像代表
点とする方法、あるいはスライスレベルを超えたビデオ
信号の画素のナンバーの平均値を求め、これを結像代表
点とする方法がある。
前述の様に、従来法では、基本的には反射スポットのビ
デオ信号とスライスレベルを比較する事で結像代表点を
求めている。
この際、外乱光が被測定物体103上に当たり、そのビ
デオ信号がスライスレベルより大きくなると、反射光よ
り生じるビデオ信号との識別が困難になり、結像代表点
を求めるのに誤差を生じる事になる。これを防ぐため、
従来法ではスライスレベルをノイズレベルより充分大き
く設定し、SZN比(信号対雑音比)を大きくなるよう
にしている。
この状態において、被測定物体103の表面性状の変化
等により、反射光量が減少し、スライスレベルよりビデ
オ信号が小さくなると、結像代表点を求める事ができな
くなる。
従って、従来法では、この場合、被測定物体103への
入射光量を増加させるか、クロック周波数の変更により
素子感度を増加させるか等の制御方法を採用し、ビデオ
信号を常にスライスレベルより大きくしている。
なお、この制御方法を採用していない従来の変位計では
、被測定物体の表面性状に合わせて、スライスレベルを
手動により初期設定する機能を具備しているのが一般的
である。
〈発明が解決しようとする問題点〉 ところが、ビデオ信号を常にスライスレベル以上にする
ための制御方法を採用している従来の非接触変位測定装
置では、反射光量検知器を具備したモニタ回路と測定光
重調整回路又は固体撮像素子の感度調整回路が必要とな
る。
そこで、本発明の目的は、上記の回路を具備せずに、被
測定物体の表面性状が変化しても、結像代表点を自動的
に求め、変位測定値が被測定物体の表面性状の影響を受
けない様にする事である。
く問題点を解決するための手段〉 上記目的を達成するため、本発明の非接触変位測定装置
は、第1図に例示するように、複数個のレベルの異なる
スライスレベルとビデオ信号とを比較して、各スライス
レベルでスライスレベルとビデオ信号との交点数を算出
する交点数算出手段7と、上記交点数算出手段7で得た
交点数に基づいて、交点数が2個であるスライスレベル
を選択して、この交点数が2個となるスライスレベルと
ビデオ信号との交点情報を出力する選択手段8と、上記
選択手段8からの交点情報に基づいて結像代表点を算出
する結像代表点算出手段9とを備えたことを特徴として
いる。
く作用〉 交点数算出手段7にて、複数のレベルの異なるスライス
レベルとビデオ信号との交点数が算出される。この交点
数はスライスレベルによって次のA種、B種、0種の3
種のうちのいずれか1種に区分される。
A種ニスライスレベルがビデオ信号より大きいため、交
点がないもの。第2図にこの状態を示す。
8種ニスライスレベルとビデオ信号が交わり、これらの
交点が3点以上あるもの。第3図と第4図はこの状態を
示したしのである。
第3図はビデオ信号の上端部とスライ スレベルが同一レベルになった時に生じる状態であり、
これらの複数交点を表す2値化信号より結像代表点を決
めると、被測定物体の表面粗度等の影響が含まれたもの
になる。
第4図は、外来光等のノイズにより生 じたビデオ信号との交点110を含むため、これらの複
数交点より、結像代表点を決めると、誤差を含んだもの
になる。
0種ニスライスレベルとビデオ信号との交点数が2個の
ものである。第5図はこの状態を示したものであり、被
測定物体の反射点のビデオ信号のみが、スライスレベル
と交わった状態を示す。
選択手段8は交点数算出手段7で得た交点数に基づいて
、交点数が2個となるスライスレベルを選択して、この
スライスレベルとビデオ信号との交点情報を出力する。
すなわち、選択手段8は0種を選択して、被測定物体2
の反射点のビデオ信号のみがスライスレベルと交わった
ときの交点情報を出力する。これにより、外乱光等のノ
イズや被測定物体の表面粗度等の影響が除去され、反射
点の正確な位置を表す交点情報が得られる。
結像代表点算出手段9は、上記選択手段8からのたとえ
ばディジタル化された2つの交点情報より結像代表点を
演算する。この演算はたとえば2つの交点情報の平均値
を求める演算である。
去して、この結像代表点の移動面後の値より被測定物体
2の変位が算出される。
〈実施例〉 第1図に本発明の具体的構成を示す。
lは測定光を被測定物体2に入射させるための光源であ
る。3は被測定物体2上の反射点からの光を集光し、固
体撮像素子4上に結像するための集光レンズである。5
は固体撮像素子4を駆動するためのクロックドライバー
である。6は固体撮像素子4からの信号を受け、ビデオ
信号を作成するビデオ信号作成器である。7は複数の交
点算出回路7 a、 7 b、 7 c、 7 dを含
む交点数算出手段である。上記交点算出回路7 a、 
7 b、 7 c、 7 dは互いにレベルが異なるス
ライスレベルを使用し、各スラ     ゝイスレベル
とビデオ信号とを比較して、各スライスレベルとビデオ
信号との交点位置を表す交点情報および交点数を表す交
点数情報を選択手段8に出力する。上記選択手段8は交
点算出回路7a、7b、7c、7dで得た交点数情報よ
り、交点数が2個である先に述べた0種のスライスレベ
ルを選択して、このスライスレベルとビデオ信号との交
点情報のみを結像代表点算出手段9に出力する。この交
点情報は第5図に示すように、交点が2点のみの情報で
第3図や第4図のものと異なり、被測定物体2の表面粗
度の影響や外乱光等のノイズを含まないものである。上
記交点情報は第5図に示すように、0種のスライスレベ
ルを超えたビデオ信号を2値化し、その両端の値、つま
り、対応する固体撮像素子4の結像スポットの両端の2
つの画素のナンバー(第8図参照)である。結像代表点
算出手段9は上記2つの交点情報を平均して、その平均
値を結像代表点とする。変位算出器IOは結像代表点算
出手段9力1ら人力される被測定物体2の移動爪を算出
して、被測定物体2の変位を表す情報を出力する。
表面性状の異なる被測定物体として、白紙、黄銅、ステ
ンレス、木材の3種を使用し、それについて変位測定を
行った。
第6図の(a) 、 (b) 、 (c) 、 (d)
はそれぞれ、白紙、黄銅、ステンレス、木材のビデオ波
形例を示す。
この際、固体撮像素子4の感度、光源lの出力は一定と
したので、第6図のビデオ信号の差異は被測定対象物の
表面性状のみに起因するものである。
スライスレベルとして、次の第1表に示す4種のものを
用いた。同表にビデオ信号に応じてスライスレベルをA
、B、0種に区分した結果を合わせて示す。
−以下余白 − 第1表 測定結果を下記の第2表に示す。スライスレベルはC征
のものを選択し、それが2uA以上ある場合は、スライ
スレベルの電圧が一番高いものを選ぶ様にした。この第
2表より本発明では被測定物体の表面性状によらず、そ
の変位を正確に測定できることが分かる。
第2表 なお、交点数算出手段7と選択手段8と結像代表点算出
手段9とは、マイクロコンピュータのソフトウェアで構
成してもよく、あるいは比較器やカウンター等により構
成してもよい。
〈発明の効果〉 本発明によれば、最適なスライスレベルを選択して、交
点情報を得、て結像代表点を算出しているので、被測定
物体の表面性状が変わり、その反射光量が変化しても、
これらの結像代表点を求める事ができ、被測定物体の表
面性状の影響を受けないで変位測定ができ、また、外乱
光等のノイズの影響を除去できる。従って、本発明によ
れば測定開始前のスライスレベル初期設定等の手動操作
が不要となり、また表面性状が連続変化する被測定物体
の変位測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第り図は本発明の構成を示すブロック図、第2゜3.4
.5図はビデオ信号の波形とスライスレベルとの関係を
示す図、第6図(a) 、 (b) 、 (c) 、 
(d)は実験例のビデオ信号とスライスレベルとの関係
を示す図、第す図は従来の変位測定装置を示す図、第8
図は固体撮像素子の結像スポットを示す図である。 !・・・光源、2・・・被測定物体、3・・・集光レン
ズ、4・・・固体撮像素子、5・・・クロックドライバ
ー、6・・・ビデオ信号作成器、7・・・交点数算出手
段、8・・・選択手段、9・・・結像代表点算出手段、
10・・・変位算出器。 特許出願人 川崎製鉄株式会社 外1名代 理 人 弁
理士 前出 葆 外2名第1図 2:禎須鵡イ本 4:「aべ〉トJ1楚k(象景予 5:クロックドライバー 7=交点卓算出手段 8二i才に手段 9:拮偉代覗点算出さ段 第2図 第3図 第4図 第7図 WcB図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源からの光を被測定物体(2)上に照射して反
    射点を形成し、この反射点からの反射光を集光して固体
    撮像素子(4)の所定のピッチで配列された画素上に反
    射光スポットを形成し、クロックドライバー(5)で固
    体撮像素子(4)を駆動して得られるビデオ信号に基づ
    いて、結像代表点を算出して被測定物体(2)の変位を
    測定する非接触変位測定装置において、 複数個のレベルの異なるスライスレベルとビデオ信号と
    を比較して、各スライスレベルでスライスレベルとビデ
    オ信号との交点数を算出する交点数算出手段(7)と、 上記交点数算出手段(7)で得た交点数に基づいて、交
    点数が2個であるスライスレベルを選択して、この交点
    数が2個となるスライスレベルとビデオ信号との交点情
    報を出力する選択手段(8)と、上記選択手段(8)か
    らの交点情報に基づいて結像代表点を算出する結像代表
    点算出手段(9)とを備えたことを特徴とする非接触変
    位測定装置。
JP3572386A 1986-02-19 1986-02-19 非接触変位測定装置 Pending JPS62192610A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3572386A JPS62192610A (ja) 1986-02-19 1986-02-19 非接触変位測定装置

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JP3572386A JPS62192610A (ja) 1986-02-19 1986-02-19 非接触変位測定装置

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JPS62192610A true JPS62192610A (ja) 1987-08-24

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ID=12449772

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JP3572386A Pending JPS62192610A (ja) 1986-02-19 1986-02-19 非接触変位測定装置

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JP (1) JPS62192610A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01184412A (ja) * 1988-01-19 1989-07-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 光学式位置検出方法
WO1990013001A1 (fr) * 1989-04-19 1990-11-01 Fanuc Ltd Capteur optique de distances

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01184412A (ja) * 1988-01-19 1989-07-24 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 光学式位置検出方法
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