JPS62184367A - Detecting method for voltage fluctuation - Google Patents
Detecting method for voltage fluctuationInfo
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- JPS62184367A JPS62184367A JP2581786A JP2581786A JPS62184367A JP S62184367 A JPS62184367 A JP S62184367A JP 2581786 A JP2581786 A JP 2581786A JP 2581786 A JP2581786 A JP 2581786A JP S62184367 A JPS62184367 A JP S62184367A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電源等の入力電圧の変動を検出する方法に関
するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for detecting fluctuations in input voltage of a power source or the like.
従来1機器用電源等の入力電圧変動の検出回路としては
、入力電圧を全波整流したのち、ピーク値検出回路に人
力し、上記入力電圧の絶対値のピーク値により電源電圧
変動を検出する方法がとられていた。Conventionally, a method for detecting input voltage fluctuations in a power supply for one device, etc. is to perform full-wave rectification of the input voltage, then manually input it to a peak value detection circuit, and detect power supply voltage fluctuations based on the peak value of the absolute value of the input voltage. was taken.
しかしながら、以上のような従来の方法にあっては、入
力電圧に含まれる外来ノイズ等により。However, in the conventional method as described above, due to external noise contained in the input voltage.
前記ピーク値検出回路が、ピーク値以外の値を検出して
誤作動を生ずる可能性があった。There is a possibility that the peak value detection circuit detects a value other than the peak value and malfunctions.
本発明は、上述従来例の問題点にかんがみてなされたも
ので、入力電圧に含まれるノイズ部分の影響を少なくし
た、電圧変動検出回路の提供を目的としている。The present invention has been made in view of the problems of the prior art described above, and an object of the present invention is to provide a voltage fluctuation detection circuit in which the influence of noise included in the input voltage is reduced.
このため1本発明においては、入力電圧の整流回路の出
力を所定レベルで比較するコンパレータ回路を設け、前
記入力電圧の絶対値が所定値を超える区間時間を求める
ことにより、入力電圧変動を検出するようにしたもので
ある。For this reason, in the present invention, a comparator circuit is provided to compare the output of the input voltage rectifier circuit at a predetermined level, and input voltage fluctuations are detected by determining the interval time during which the absolute value of the input voltage exceeds a predetermined value. This is how it was done.
上記のような方法により、入力電圧変動を時間値に変換
したのち、この時間値の変化により゛電圧変動を検出す
るので、入力電圧に含まれる外部ノイス影響部分は、入
力電圧を所定レベルで比較するタイミングのみとなり、
外部ノイズの影響は確′率的に著しく減少する。After converting the input voltage fluctuation into a time value using the method described above, the voltage fluctuation is detected from the change in this time value, so the external noise influence part included in the input voltage can be detected by comparing the input voltage at a predetermined level. It is only the timing to do,
The influence of external noise is stochastically significantly reduced.
以下に本発明を実施例図面に基づいて説明する。第1図
に1本発明に係る電源電圧変動検出回路のブロック図を
、第2図に、本実施例各ブロックのタイミングチャート
を示す。The present invention will be explained below based on the drawings. FIG. 1 shows a block diagram of a power supply voltage fluctuation detection circuit according to the present invention, and FIG. 2 shows a timing chart of each block of this embodiment.
(構成)
本実施例回路の構成は、入力電圧を余波整流回路1によ
り整流したのち、コンパレーク2により所定レベルで比
較し、その出力をワンチ・ンプマイクロコンピュータ(
、CPtJ)’3に入力し前記コンパレータ出力のタイ
ミングを演算することにより、クロック回路4に基づい
て、入力電圧変動を時間値に変換したのち、この時間値
の変化により入力電圧変動を検出するよう構成したもの
である。(Configuration) The configuration of the circuit of this embodiment is that after the input voltage is rectified by the aftereffect rectifier circuit 1, it is compared at a predetermined level by the comparator 2, and the output is output from the one-chip microcomputer (
, CPtJ)' 3 and calculates the timing of the comparator output, the input voltage fluctuation is converted into a time value based on the clock circuit 4, and then the input voltage fluctuation is detected based on the change in this time value. It is composed of
(動作)
つぎに、第1.2図により動作を説明する。電源の人力
′電圧Aは、全波整流回路1により整流された絶対値B
に変換されたのち、コンパレータ2に入力する。コンパ
レータ2は、オーブンコレクタ出力形の比較器であり、
入力端子Bが所定レベルV refより大きい場合に、
出力段のトラン・7・スタがオンするため、ワンチップ
CPU3に人力されるコンパレータ出力電圧Cは、入力
電圧Bが所定レベル値Vrefより大きい場合、論理レ
ベルは゛°ロー°゛であり、所定レベル値V refよ
り小さい場合゛ハイ゛となる。ワンチップCPU3は、
内部にプログラム可能ROM (FROM)。(Operation) Next, the operation will be explained with reference to FIG. 1.2. The human power voltage A of the power supply is the absolute value B rectified by the full-wave rectifier circuit 1.
After being converted into , it is input to comparator 2. Comparator 2 is an oven collector output type comparator,
When the input terminal B is higher than the predetermined level V ref,
Since the transistor 7 in the output stage is turned on, the comparator output voltage C manually inputted to the one-chip CPU 3 has a logic level of ``low'' when the input voltage B is greater than the predetermined level value Vref, and the comparator output voltage C input to the one-chip CPU 3 is at the predetermined level. If it is smaller than the value V ref, it becomes "high". One-chip CPU3 is
Internal programmable ROM (FROM).
RAM、タイマ等を備えており、外部のクロック回路4
に基づいて動作する。第2図に示すように、コンパレー
タ2の出力”a圧Cのローレベル区間の時間tを計fl
lllすることにより、入力電圧B(すなわちAも同様
)のレベルの変動を検出し得る。Equipped with RAM, timer, etc., and external clock circuit 4
operate on the basis of As shown in Fig. 2, the time t of the low level section of the output "a" of the comparator 2 is
By doing so, fluctuations in the level of input voltage B (ie, A as well) can be detected.
第3図に、入力電圧変動時のコンパレータ出力波形図を
示す。B′はコンパレータ入力、C′はコンパレータ出
力波形である。図例の入力電圧B′においては、Vl
>V;! >Vi であるため、コンパレータ出力C′
の区間時間値は、1+>1、>11 となり、この時間
値の変化により検出した電圧変動値は、コンパレータ入
力電圧に含まれるノイズの影響を受けることが確率的に
極めて小さいものとなる。FIG. 3 shows a comparator output waveform diagram when the input voltage fluctuates. B' is the comparator input, and C' is the comparator output waveform. At the input voltage B' in the example shown, Vl
>V;! >Vi, the comparator output C'
The interval time value is 1+>1,>11, and the voltage fluctuation value detected by the change in time value is probability-wise extremely small to be affected by noise contained in the comparator input voltage.
以上、実施例に基づいて説明してきたように、本発明に
よれば、入力電圧変動を時間値に変換したのち、該時間
値の変化により前記入力電圧変動を検出するようにした
ため、入力電圧に含まれる外部ノイズの影響は、入力電
圧を所定レベルで比較するタイミング部分のみとなり、
入力電圧変動検出に対する上記外部ノイズの影響を、確
率的に茗しく減少することができる。As described above based on the embodiments, according to the present invention, input voltage fluctuations are converted into time values and then the input voltage fluctuations are detected based on changes in the time values. The influence of the external noise included is only at the timing part when comparing the input voltage at a predetermined level.
The influence of the external noise on input voltage fluctuation detection can be reduced probabilistically.
第1図は、本発明の電圧変動検出回路の一実施例のブロ
ック図、第2図は、同図各ブロックのタイミングチャー
ト、第3図は、入力電圧変動時のコンパレータ出力波形
図である。
l・・・・・・全波整流回路
2・・・・・・コンパレータ
3・・・・・・ワンチップマイクロコンピュータ4・・
・・・・クロック回路
A・・・・・・入力電圧FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the voltage fluctuation detection circuit of the present invention, FIG. 2 is a timing chart of each block in the same figure, and FIG. 3 is a comparator output waveform diagram when the input voltage fluctuates. l...Full-wave rectifier circuit 2...Comparator 3...One-chip microcomputer 4...
...Clock circuit A...Input voltage
Claims (1)
力を所定レベルで比較するコンパレータ回路とを備え、
前記入力電圧の絶対値が所定値を越える区間の時間を求
めることにより、該入力電圧の変動を検出することを特
徴とする電圧変動検出方法。comprising a rectifier circuit for rectifying the input voltage and a comparator circuit for comparing the output of the rectifier circuit at a predetermined level,
A voltage fluctuation detection method, characterized in that fluctuations in the input voltage are detected by determining the time period during which the absolute value of the input voltage exceeds a predetermined value.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2581786A JPS62184367A (en) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | Detecting method for voltage fluctuation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2581786A JPS62184367A (en) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | Detecting method for voltage fluctuation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62184367A true JPS62184367A (en) | 1987-08-12 |
Family
ID=12176417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2581786A Pending JPS62184367A (en) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | Detecting method for voltage fluctuation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62184367A (en) |
-
1986
- 1986-02-10 JP JP2581786A patent/JPS62184367A/en active Pending
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