JPS62168067A - 抵抗値測定方法 - Google Patents
抵抗値測定方法Info
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- JPS62168067A JPS62168067A JP899986A JP899986A JPS62168067A JP S62168067 A JPS62168067 A JP S62168067A JP 899986 A JP899986 A JP 899986A JP 899986 A JP899986 A JP 899986A JP S62168067 A JPS62168067 A JP S62168067A
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は抵抗回路網中の各抵抗の抵抗値を測定する方法
に関するものである。
に関するものである。
抵抗回路網中の各抵抗の抵抗値測定は、通常各抵抗を個
々に切り離して行われる。
々に切り離して行われる。
しかし、たとえばシリコン基板中に拡散技術によって抵
抗回路網が形成されているような１チ・ノブ抵抗回路網
の場合には、抵抗を個々に切り離すことができないため
、各抵抗の抵抗値を個々に測定することは極めて困難で
あった。
抗回路網が形成されているような１チ・ノブ抵抗回路網
の場合には、抵抗を個々に切り離すことができないため
、各抵抗の抵抗値を個々に測定することは極めて困難で
あった。
本発明の抵抗値測定方法は上記問題点に鑑みてなされた
ものであり、第１の端子と第３の端子との間に第１の抵
抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗と
が並列に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に
第２の端子が接続されている三端子抵抗回路網において
、第１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給
する第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、ついで第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流
を供給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を
測定し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧
値から第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出
するものである。また、第１の端子と第３の端子との間
に第１の抵抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第
３の抵抗および第４の抵抗からなる直列回路とが並列に
接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の端
子が接続され第３の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４
の端子が接続されている四端子抵抗回路網において、第
１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する
第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つ
いで第２の端子と第４の端子との間に第２の定電流を供
給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定
し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値か
ら第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出する
ものである。
ものであり、第１の端子と第３の端子との間に第１の抵
抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗と
が並列に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に
第２の端子が接続されている三端子抵抗回路網において
、第１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給
する第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、ついで第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流
を供給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を
測定し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧
値から第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出
するものである。また、第１の端子と第３の端子との間
に第１の抵抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第
３の抵抗および第４の抵抗からなる直列回路とが並列に
接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の端
子が接続され第３の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４
の端子が接続されている四端子抵抗回路網において、第
１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する
第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つ
いで第２の端子と第４の端子との間に第２の定電流を供
給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定
し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値か
ら第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出する
ものである。
定電流源の電流値および接続端子に応じた電圧が各端子
間に発生する。
間に発生する。
以下、実施例と共に本発明の詳細な説明する。
第９図は一般的な抵抗回路網を示す回路図であり、この
抵抗回路網は注目している抵抗以外を合成抵抗で表わす
ことにより、第１０図の回路図のような最小単位に置き
換えることができる。すなわち、注目している抵抗をＲ
ＬＲ２とし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲとし、
端子１と端子３との間に抵抗Ｒ１，ｌ！：Ｒ２からなる
直接回路と抵抗Ｒとが並列に接続され、抵抗Ｒ１とＲ２
の接続点に端子２が接続されている三端子回路網となっ
ている。
抵抗回路網は注目している抵抗以外を合成抵抗で表わす
ことにより、第１０図の回路図のような最小単位に置き
換えることができる。すなわち、注目している抵抗をＲ
ＬＲ２とし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲとし、
端子１と端子３との間に抵抗Ｒ１，ｌ！：Ｒ２からなる
直接回路と抵抗Ｒとが並列に接続され、抵抗Ｒ１とＲ２
の接続点に端子２が接続されている三端子回路網となっ
ている。
この三端子回路網において、まず、第１図に示すように
端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定電流
源５からは定電流■、が供給され、矢印Ａ、Ｂのように
回路網内を流れる。そして、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋ｚ）＋、端子２と端子３との
間に発生する電圧（ＶＺ：ｌ）ｌおよび端子１と端子３
との間に発生する電圧（■１３）ｌをそれぞれ測定する
。ついで、定電流源５を取り外し、第２図に示すように
端子２と端子３との間に定電流源６を接続する。定電流
源６からは定電流１□が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように
回路網内を流れる。そして、このときの端子２と端子３
との間に発生する電圧（ＶＺ３）２および端子１と端子
３との間に発生する電圧（Ｖ１３）２をそれぞれ測定す
る。なお、以後随時記載される「（Ｖａｂ）ｃＪの表示
はｃ（＝１ｏｒ２）回目における端子ａと端子すとの間
の電圧を示す。
端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定電流
源５からは定電流■、が供給され、矢印Ａ、Ｂのように
回路網内を流れる。そして、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋ｚ）＋、端子２と端子３との
間に発生する電圧（ＶＺ：ｌ）ｌおよび端子１と端子３
との間に発生する電圧（■１３）ｌをそれぞれ測定する
。ついで、定電流源５を取り外し、第２図に示すように
端子２と端子３との間に定電流源６を接続する。定電流
源６からは定電流１□が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように
回路網内を流れる。そして、このときの端子２と端子３
との間に発生する電圧（ＶＺ３）２および端子１と端子
３との間に発生する電圧（Ｖ１３）２をそれぞれ測定す
る。なお、以後随時記載される「（Ｖａｂ）ｃＪの表示
はｃ（＝１ｏｒ２）回目における端子ａと端子すとの間
の電圧を示す。
つぎに、定電流源５．６の電流値ＩＬＩ２および測定電
圧（Ｖ＋□Ｌ、（Ｖｚ＋）＋、（Ｖ＋ｚ）＋、（Ｖｚ：
＋）ｚ。
圧（Ｖ＋□Ｌ、（Ｖｚ＋）＋、（Ｖ＋ｚ）＋、（Ｖｚ：
＋）ｚ。
（ＶＩ３）２を、下記の（７）式および（８）式に代入
して抵抗値Ｒ，およびＲ２を算出する。
して抵抗値Ｒ，およびＲ２を算出する。
ここで、（７）式および（８）式の導入について説明す
る。
る。
まず、第１ステツプの測定から
が成り立つ。したがって、（１）式および（２）弐から
、 が成り立つ。
、 が成り立つ。
また、第２ス、テップの測定から
が成り立ち、（４）弐および（５）式から、Ｒ，Ｒ
が成り立つ。
（２） Ｘ （Ｖｌｚ）ｚ （５） Ｘ
（ＶＩ３Ｌより１＋ Ｘ （Ｖ＋＋）ｚ Ｉｚ
Ｘ （Ｖｌ：ＩＬ＝ ［（Ｖｌｚ）ｚＸ （Ｖ２
３Ｌ （Ｖｌ３）ＩＸ （Ｖｚｚ）ｚｌゆえに、 （３）式と（７）式より （Ｖ＋□）Ｉ （ＶＺ３Ｌ （Ｖｌｓ＞ｔ×（ＶＺ３）ｌ （Ｖｌｆｆ）ＩＸ
（ＶＺ３）２なお、本実施例では（Ｖｌ３）Ｉを実測
したが、（Ｖ ｌ：ｌ） Ｉ ＝ （Ｖ Ｉ□Ｌ＋ （
Ｖｚ＋）＋の関係から算出することができる。
（ＶＩ３Ｌより１＋ Ｘ （Ｖ＋＋）ｚ Ｉｚ
Ｘ （Ｖｌ：ＩＬ＝ ［（Ｖｌｚ）ｚＸ （Ｖ２
３Ｌ （Ｖｌ３）ＩＸ （Ｖｚｚ）ｚｌゆえに、 （３）式と（７）式より （Ｖ＋□）Ｉ （ＶＺ３Ｌ （Ｖｌｓ＞ｔ×（ＶＺ３）ｌ （Ｖｌｆｆ）ＩＸ
（ＶＺ３）２なお、本実施例では（Ｖｌ３）Ｉを実測
したが、（Ｖ ｌ：ｌ） Ｉ ＝ （Ｖ Ｉ□Ｌ＋ （
Ｖｚ＋）＋の関係から算出することができる。
また、（Ｖｌｚ）ｚの測定に代えて（Ｖｌｚ）ｚを測定
すれば、 （Ｖｌｚ）ｚ＝ （ＶＺ３）２ （Ｖｌ２）２の関係
から算出することができる。
すれば、 （Ｖｌｚ）ｚ＝ （ＶＺ３）２ （Ｖｌ２）２の関係
から算出することができる。
つぎに、第２の実施例を説明する。第９図の一般的な抵
抗回路網は第３図の回路図のようにも置き換えることが
できる。すなわち、注目している抵抗をＲ１，Ｒ２，Ｒ
３とし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲ４とし、端
子ｌと端子３との間に抵抗Ｒ１およびＲ２からなる直列
回路と抵抗Ｒ３および抵抗Ｒ４とからなる直列回路とが
並列に接続され、抵抗Ｒ，とＲ２の接続点に端子２が接
続され、抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４の接続点に端子４が接続さ
れている四端子抵抗回路網となっている。
抗回路網は第３図の回路図のようにも置き換えることが
できる。すなわち、注目している抵抗をＲ１，Ｒ２，Ｒ
３とし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲ４とし、端
子ｌと端子３との間に抵抗Ｒ１およびＲ２からなる直列
回路と抵抗Ｒ３および抵抗Ｒ４とからなる直列回路とが
並列に接続され、抵抗Ｒ，とＲ２の接続点に端子２が接
続され、抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４の接続点に端子４が接続さ
れている四端子抵抗回路網となっている。
この四端子抵抗回路網において、まず、第４図に示すよ
うに端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定
電流源５からは定電流Ｉ、が供給され、矢印Ａ、Ｂのよ
うに回路網内を流れるので、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋□）１、端子２と端子３との
間に発生する電圧（ＶＺ：ｌ）Ｉ、端子３と端子４との
間に発生する電圧（■１４Ｌおよび端子１と端子４との
間に発生する電圧（Ｖｌ４）ｌをそれぞれ測定する。つ
いで、定電流源５を取り外し、第５図に示すように端子
２と端子４との間に定電流源６を接続する。定電流源６
からは定電流■２が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように回路
網内を流れる。そして、このときの端子１と端子２の間
に発生する電圧（Ｖ＋□）２、端子２と端子３との間に
発生する電圧（Ｖｚ３）ｚ、端子３と端子４との間に発
生する電圧（Ｖ３４）！および端子１と端子４との間に
発生する電圧（Ｖｌ４）２をそれぞれ測定する。
うに端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定
電流源５からは定電流Ｉ、が供給され、矢印Ａ、Ｂのよ
うに回路網内を流れるので、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋□）１、端子２と端子３との
間に発生する電圧（ＶＺ：ｌ）Ｉ、端子３と端子４との
間に発生する電圧（■１４Ｌおよび端子１と端子４との
間に発生する電圧（Ｖｌ４）ｌをそれぞれ測定する。つ
いで、定電流源５を取り外し、第５図に示すように端子
２と端子４との間に定電流源６を接続する。定電流源６
からは定電流■２が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように回路
網内を流れる。そして、このときの端子１と端子２の間
に発生する電圧（Ｖ＋□）２、端子２と端子３との間に
発生する電圧（Ｖｚ３）ｚ、端子３と端子４との間に発
生する電圧（Ｖ３４）！および端子１と端子４との間に
発生する電圧（Ｖｌ４）２をそれぞれ測定する。
つぎに、定電流［５，６の電流値ＩＬＩ２および測定電
圧（Ｖ＋□）Ｉ、（ＶＺ３）ｌ、（Ｖ３４）Ｉ、（Ｖｌ
４）ｌ。
圧（Ｖ＋□）Ｉ、（ＶＺ３）ｌ、（Ｖ３４）Ｉ、（Ｖｌ
４）ｌ。
（Ｖｌ２）２．（ＶＺ３）２．（Ｖ：＋４）２．（Ｖｌ
４）Ｚを、下記の（１１）式ないしく１４）弐に代入し
て抵抗値Ｒ，〜Ｒ４を算出する。
４）Ｚを、下記の（１１）式ないしく１４）弐に代入し
て抵抗値Ｒ，〜Ｒ４を算出する。
導かれる。すなわち、まず、第１ステツプの測定ＲＩ
Ｒ４ Ｒ２Ｒ３ Ｒ２Ｒ４ が成り立つ。したがって、（１６）式および（１７）式
から、 が成り立ち、 （１５）式および（１７）式から、 が成り立つ。
Ｒ４ Ｒ２Ｒ３ Ｒ２Ｒ４ が成り立つ。したがって、（１６）式および（１７）式
から、 が成り立ち、 （１５）式および（１７）式から、 が成り立つ。
また、第２ステツプの測定から
が成り立つ。したがって、（２２）式および（２３）式
から、 が成り立ち、 （２１）式および（２３）式から、 が成り立つ。
から、 が成り立ち、 （２１）式および（２３）式から、 が成り立つ。
（１７）Ｘ （Ｖ：＋ａ）ｚ （２３）Ｘ （
Ｖ：１４ＬよりＩｔ Ｘ （ｖ＋４−）ｚ −Ｉｚ
Ｘ （Ｖ３４Ｌゆえに、 Ｉｔ Ｘ （Ｖ３４）２ −１２ Ｘ （Ｖ３４）１こ
れは、上述の（１１）式に他ならない。同様にして（１
２）弐〜（１４）式も導くことができる。
Ｖ：１４ＬよりＩｔ Ｘ （ｖ＋４−）ｚ −Ｉｚ
Ｘ （Ｖ３４Ｌゆえに、 Ｉｔ Ｘ （Ｖ３４）２ −１２ Ｘ （Ｖ３４）１こ
れは、上述の（１１）式に他ならない。同様にして（１
２）弐〜（１４）式も導くことができる。
なお、Ｒ２は（１９）式と（１１）式より、（Ｖ＋ｚＬ
（Ｖｚ＋Ｌ
と書ける。また、Ｒ４は（２０）式と（１３）式より、
（Ｖ１４Ｌ （Ｖ ３４） １ と書ける。したがって、（１２）式および（１４）式に
代えて（２７）式および（２８）式を用いれば、電圧（
ＶＺ３）！および電圧（ＶＩ４）２の測定を省略するこ
とができる。
（Ｖ１４Ｌ （Ｖ ３４） １ と書ける。したがって、（１２）式および（１４）式に
代えて（２７）式および（２８）式を用いれば、電圧（
ＶＺ３）！および電圧（ＶＩ４）２の測定を省略するこ
とができる。
なお、第３図に示す四端子抵抗回路網に対して第１の実
施例に示した三端子抵抗回路網における抵抗値測定方法
を定電流源の接続端子の組み合わせを替えて２回路通用
しても、Ｒ１−Ｒ４を測定することができる。すなわち
、定電流源５および６をそれぞれ第６図および第７図の
ように接続すれば、Ｒ３＋Ｒ４をＲとして（７）式およ
び（８）式からそれぞれ抵抗Ｒ２およびＲ１を算出する
ことができる。同様に、定電流源５および６をそれぞれ
第６図および第８図のように接続すれば、抵抗Ｒ３およ
びＲ４を算出することができる。
施例に示した三端子抵抗回路網における抵抗値測定方法
を定電流源の接続端子の組み合わせを替えて２回路通用
しても、Ｒ１−Ｒ４を測定することができる。すなわち
、定電流源５および６をそれぞれ第６図および第７図の
ように接続すれば、Ｒ３＋Ｒ４をＲとして（７）式およ
び（８）式からそれぞれ抵抗Ｒ２およびＲ１を算出する
ことができる。同様に、定電流源５および６をそれぞれ
第６図および第８図のように接続すれば、抵抗Ｒ３およ
びＲ４を算出することができる。
以上説明したように本発明によれば、被測定回路に対し
て電流値および接続端子を変えて定電流を２回供給し、
定電流供給時に各端子間に発生する電圧を測定するだけ
で、以後は演算により被測定回路の個々の抵抗の抵抗値
を算出することができる。したがって、抵抗を個々に切
り離すことができない１チツプ抵抗回路網のような場合
にも、各抵抗の抵抗値を容易に測定することができる。
て電流値および接続端子を変えて定電流を２回供給し、
定電流供給時に各端子間に発生する電圧を測定するだけ
で、以後は演算により被測定回路の個々の抵抗の抵抗値
を算出することができる。したがって、抵抗を個々に切
り離すことができない１チツプ抵抗回路網のような場合
にも、各抵抗の抵抗値を容易に測定することができる。
第１図および第２図はそれぞれ本発明の第１の実施例を
説明するための回路図、第３図、第４図および第５図は
それぞれ本発明の第２の実施例を説明するための回路図
、第６図、第７図および第８図はそれぞれ第３の実施例
を説明するための回路図、第９図は一般的な抵抗回路網
を示す回路図、第１０図は第１の実施例における三端子
回路網を示す回路図である。 １〜４・・・端子、５，６・・・定電流源、Ｒ１−Ｒ４
およびＲ・・・抵抗。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社 代 理 人 山川 政権（ばか２名） 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１０図 手続補正書（自発） １、事件の表示 昭和６１年 特 許 願第８９９９号 ２、発明の名称 抵抗値測定方法 ３、補正をする者 事件との関係 特 許 出願人名称（氏名）
（６６６）山武ハネウェル株式会社（２）図面のＷｃ
３図を別紙の通り補正する。 明 細 書 １、発明の名称 抵抗値測定方法 ２、特許請求の範囲 （１）第１の端子と第３の端子との間に第１の抵抗およ
び第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗とが並列
に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の
端子が接続されている三端子抵抗回路網において、第１
の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する第
１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つい
で第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流を供給
する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値から
第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出するこ
とを特徴とする抵抗値測定方法。 （２）第１の端子と第３の端子との間に第１の抵抗およ
び第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗および第
４の抵抗からなる直列回路とが並列に接続され第１の抵
抗と第２の抵抗との接続点に第２の端子が接続され第３
の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４の端子が接続され
ている四端子抵抗回路網において、第１の端子と第３の
端子との間に第１の定電流を供給する第１の定電流源を
接続して各端子間の電圧を測定し、ついで第２の端子と
第４の端子との間に第２の定電流を供給する第２の定電
流源を接続して各端子間の電圧を測定し、第１および第
２の定電流値および各端子間電圧値から第１および第２
の抵抗の抵抗値を演算により算出することを特徴とする
抵抗値測定方法。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は抵抗回路網中の各抵抗の抵抗値を測定する方法
に関するものである。 〔従来の技術〕 抵抗回路網中の各抵抗の抵抗値測定は、通常各抵抗を個
々に切り離して行われる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、たとえばシリコン基板中に拡散技術によって抵
抗回路網が形成されているような１チツプ抵抗回路網の
場合には、抵抗を個々に切り離すことができないため、
各抵抗の抵抗値を個々に測定することは極めて困難であ
った。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明の抵抗値測定方法は上記問題点に鑑みてなされた
ものであり、第１の端子と第３の端子との間に第１の抵
抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗と
が並列に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に
第２の端子が接続されている三端子抵抗回路網において
、第１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給
する第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、ついで第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流
を供給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を
測定し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧
値から第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出
するものである。また、第１の端子と第３の端子との間
に第１の抵抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第
３の抵抗および第４の抵抗からなる直列回路とが並列に
接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の端
子が接続され第３の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４
の端子が接続されている四端子抵抗回路網において、第
１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する
第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つ
いで第２の端子と第４の端子との間に第２の定電流を供
給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定
し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値か
ら第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出する
ものである。 〔作用〕 定電流源の電流値および接続端子に応じた電圧が各端子
間に発生する。 〔実施例〕 以下、実施例と共に本発明の詳細な説明する。 第９図は一般的な抵抗回路網を示す回路図であり、この
抵抗回路網は注目している抵抗以外を合成抵抗で表わす
ことにより、第１０図の回路図のような最小単位に置き
換えることができる。すなわち、注目している抵抗をＲ
１，Ｒｚとし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲとし
、端子１と端子３との間に抵抗Ｒ１とＲ２からなる直列
回路と抵抗Ｒとが並列に接続され、抵抗ＲＩとＲ２の接
続点に端子２が接続されている三端子回路網となってい
る。 この三端子回路網において、まず、第１図に示すように
端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定電流
源５からは定電流Ｉｔが供給され、矢印Ａ、Ｂのように
回路網内を流れる。そして、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋□）８、端子２と端子３との
間に発生する電圧（ＶＺ３）Ｉおよび端子１と端子３と
の間に発生する電圧（Ｖ＋ｆｆＬをそれぞれ測定する。 ついで、定電流源５を取り外し、第２図に示すように端
子２と端子３との間に定電流源６を接続する。定電流源
６からは定電流Ｉ２が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように回
路網内を流れる。そして、このときの端子２と端子３と
の間に発生する電圧（Ｖｚ＋）ｚおよび端子１と端子３
との間に発生する電圧（’ｌ／＋＋）ｚをそれぞれ測定
する。なお、以後随時記載される「（Ｖａｂ）ｃｌの表
示はｃ（−１ｏｒ２）回目の測定における端子すに対す
る端子ａの電位を示す。 つぎに、定電流源５，６の電流値１１＋Ｉ２および測定
電圧（Ｖ＋□Ｌ＋（Ｖｚ３）＋、（Ｖ＋ｚ）＋、（Ｖｚ
ｚ）ｚ＋（Ｖ＋ｓ）ｚを、下記の（７）式および（８）
式に代入して抵抗値Ｒ３およびＲ２を算出する。 ここで、（７）式および（８）式の導入について説明す
る。 まず、第１ステツプの測定から が成り立つ。したがって、（１）式および（２）式から
、 Ｒ，Ｒｚ が成り立つ。 また、第２ステツプの測定から が成り立ち、（４）式および（５）式から、Ｒ，Ｒ が成り立つ。 （２） ｘ （ＶＩ３）Ｚ −（５） ｘ
（Ｖ＋ｚＬより１＋ Ｘ （Ｖ１３）２ Ｉ２
Ｘ （ＶＩ３）Ｉゆえに、 （３）式と（７）式より （Ｖ＋ｚ）＋ （Ｖ ２３） １ （Ｖ＋１）ｉＸ （ＶＺ３）ｌ （Ｖ１３ＬＸ
（Ｖｚ＋）ｚなお、本実施例では（ＶＩ３Ｌを実測し
たが、（ｖ＋：ｔＬ＝ （Ｖ＋□）＋ ＋ （ＶＺ：Ｉ
Ｌの関係から算出することができる。 また、（ＶＩ３）Ｚの測定に代えて（Ｖｚ＋）ｚを測定
すれば、 （ＶＩ３）２＝ （ＶＺ３）２ （Ｖｚ＋）ｚの関係
から算出することができる。 つぎに、第２の実施例を説明する。第９図の一般的な抵
抗回路網は第３図の回路図のようにも置き換えることが
できる。すなわち、注目している抵抗をＲＬＲ２，Ｒ３
とし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲ４とし、端子
１と端子３との間に抵抗Ｒ１およびＲ２からなる直列回
路と抵抗Ｒ３および抵抗Ｒ４とからなる直列回路とが並
列に接続され、抵抗Ｒ１とＲ２の接続点に端子２が接続
され、抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４の接続点に端子４が接続され
ている四端子抵抗回路網となっている。 この四端子抵抗回路網において、まず、第４図に示すよ
うに端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定
電流源５からは定電流Ｉ、が供給され、矢印Ａ、Ｂのよ
うに回路網内を流れるので、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋□）い端子２と端子３との間
に発生する電圧（ＶＺ３）い端子４と端子３との間に発
生する電圧（Ｖ４：ＩＬおよび端子１と端子４との間に
発生する電圧（ＶＩ４）Ｉをそれぞれ測定する。ついで
、定電流源５を取り外し、第５図に示すように端子２と
端子４との間に定電流源６を接続する。定電流源６から
は定電流Ｉ２が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように回路網内
を流れる。そして、このときの端子２と端子１の間に発
生する電圧（Ｖ Ｚυ２、端子２と端子３との間に発生
する電圧（Ｖｚｚ）ｚ、端子３と端子４との間に発生す
る電圧（Ｖ：＋４）ｚ＃よび端子１と端子４との間に発
生する電圧（■＋ａ）ｚをそれぞれ測定する。 つぎに、定電流源５，６の電流値１ｔ、Ｉｚおよび測定
電圧（Ｖ ＋ｚ）、（Ｖｚｚ）、（Ｖ＜１Ｌ、（Ｖ＋＜
Ｌ。 （Ｖｚ＋）ｚ、（Ｖｚ＋）ｚ、（、Ｖ：＋４）ｚ、（Ｖ
＋ｎ）ｚを、下記の（１１）式ないしく１４）式に代入
して抵抗値Ｒ１〜Ｒ４を算出する。 導かれる。すなわち、まず、第１ステツプの測定Ｒ２Ｒ
４ が成り立つ。したがって、（１６）式および（１７）式
から、 が成り立ち、 （１５）式および（１７）式から、 が成り立つ。 また、第２ステツプの測定から が成り立つ。したがって、（２２）式および（２３）式
から、 Ｒ，Ｒ。 が成り立ち、 （２１）式および（２３）式から、 Ｒｚ Ｒ：１ が成り立つ。 （１７） Ｘ （Ｖ３４Ｌ （２３） Ｘ （
Ｖ４３ＬよりＩＩＸ （Ｖ３４）２ Ｉｔ Ｘ （
Ｖ４１）１＝ ［（ｖ＋□）＋ Ｘ （Ｖ：＋４）ｚ
（Ｖ２１）ＺＸ （Ｖ４：ｌ）ｌ］ゆえに、 これは、上述の（１１）式に他ならない。同様にして（
１２）弐〜（１４）式も導くことができる。 なお、Ｒ２は（１９）式と（１１）式より、（Ｖ＋ｚ）
＋ （Ｖ ｚｓ） ＋ と書ける。また、Ｒ４は（２０）式と（１３）式より、
（ＶＩ４Ｌ （Ｖ４３）＋ と書ける。したがって、（１２）式および（１４）式に
代えて（２７）式および（２８）式を用いれば、電圧（
Ｖｘ：＋）ｚおよび電圧（ＶＩ４）２の測定を省略する
ことができる。 なお、第３図に示す四端子抵抗回路網に対して第１の実
施例に示した三端子抵抗回路網における抵抗値測定方法
を定電流源の接続端子の組み合わせを替えて２回路適用
しても、Ｒ１−Ｒ４を測定することができる。すなわち
、定電流源５および６をそれぞれ第６図および第７図の
ように接続すれば、Ｒ８＋Ｒ４をＲとして（７）式およ
び（８）式からそれぞれ抵抗Ｒ２およびＲ，を算出する
ことができる。同様に、定電流源５および６をそれぞれ
第６図および第８図のように接続すれば、抵抗Ｒ３およ
びＲ４を算出することができる。 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明によれば、被測定回路に対し
て電流値および接続端子を変えて定電流を２回供給し、
定電流供給時に各端子間に発生する電圧を測定するだけ
で、以後は演算により被測定回路の個々の抵抗の抵抗値
を算出することができる。したがって、抵抗を個々に切
り離すことができない１チツプ抵抗回路網のような場合
にも、各抵抗の抵抗値を容易に測定することができる。 ４、図面の簡単な説明 第１図および第２図はそれぞれ本発明の第１の実施例を
説明するための回路図、第３図、第４図および第５図は
それぞれ本発明の第２の実施例を説明するための回路図
、第６図、第７図および第８図はそれぞれ第３の実施例
を説明するための回路図、第９図は一般的な抵抗回路網
を示す回路図、第１０図は第１の実施例における三端子
回路網を示す回路図である。 １〜４・・・端子、５．６・・・定電流源、Ｒ１−Ｒ４
およびＲ・・・抵抗。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社 代 理 人 山川 政権（ばか２名） 第３図
説明するための回路図、第３図、第４図および第５図は
それぞれ本発明の第２の実施例を説明するための回路図
、第６図、第７図および第８図はそれぞれ第３の実施例
を説明するための回路図、第９図は一般的な抵抗回路網
を示す回路図、第１０図は第１の実施例における三端子
回路網を示す回路図である。 １〜４・・・端子、５，６・・・定電流源、Ｒ１−Ｒ４
およびＲ・・・抵抗。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社 代 理 人 山川 政権（ばか２名） 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１０図 手続補正書（自発） １、事件の表示 昭和６１年 特 許 願第８９９９号 ２、発明の名称 抵抗値測定方法 ３、補正をする者 事件との関係 特 許 出願人名称（氏名）
（６６６）山武ハネウェル株式会社（２）図面のＷｃ
３図を別紙の通り補正する。 明 細 書 １、発明の名称 抵抗値測定方法 ２、特許請求の範囲 （１）第１の端子と第３の端子との間に第１の抵抗およ
び第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗とが並列
に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の
端子が接続されている三端子抵抗回路網において、第１
の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する第
１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つい
で第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流を供給
する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値から
第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出するこ
とを特徴とする抵抗値測定方法。 （２）第１の端子と第３の端子との間に第１の抵抗およ
び第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗および第
４の抵抗からなる直列回路とが並列に接続され第１の抵
抗と第２の抵抗との接続点に第２の端子が接続され第３
の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４の端子が接続され
ている四端子抵抗回路網において、第１の端子と第３の
端子との間に第１の定電流を供給する第１の定電流源を
接続して各端子間の電圧を測定し、ついで第２の端子と
第４の端子との間に第２の定電流を供給する第２の定電
流源を接続して各端子間の電圧を測定し、第１および第
２の定電流値および各端子間電圧値から第１および第２
の抵抗の抵抗値を演算により算出することを特徴とする
抵抗値測定方法。 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は抵抗回路網中の各抵抗の抵抗値を測定する方法
に関するものである。 〔従来の技術〕 抵抗回路網中の各抵抗の抵抗値測定は、通常各抵抗を個
々に切り離して行われる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、たとえばシリコン基板中に拡散技術によって抵
抗回路網が形成されているような１チツプ抵抗回路網の
場合には、抵抗を個々に切り離すことができないため、
各抵抗の抵抗値を個々に測定することは極めて困難であ
った。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明の抵抗値測定方法は上記問題点に鑑みてなされた
ものであり、第１の端子と第３の端子との間に第１の抵
抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗と
が並列に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に
第２の端子が接続されている三端子抵抗回路網において
、第１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給
する第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、ついで第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流
を供給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を
測定し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧
値から第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出
するものである。また、第１の端子と第３の端子との間
に第１の抵抗および第２の抵抗とからなる直列回路と第
３の抵抗および第４の抵抗からなる直列回路とが並列に
接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の端
子が接続され第３の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４
の端子が接続されている四端子抵抗回路網において、第
１の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する
第１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つ
いで第２の端子と第４の端子との間に第２の定電流を供
給する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定
し、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値か
ら第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出する
ものである。 〔作用〕 定電流源の電流値および接続端子に応じた電圧が各端子
間に発生する。 〔実施例〕 以下、実施例と共に本発明の詳細な説明する。 第９図は一般的な抵抗回路網を示す回路図であり、この
抵抗回路網は注目している抵抗以外を合成抵抗で表わす
ことにより、第１０図の回路図のような最小単位に置き
換えることができる。すなわち、注目している抵抗をＲ
１，Ｒｚとし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲとし
、端子１と端子３との間に抵抗Ｒ１とＲ２からなる直列
回路と抵抗Ｒとが並列に接続され、抵抗ＲＩとＲ２の接
続点に端子２が接続されている三端子回路網となってい
る。 この三端子回路網において、まず、第１図に示すように
端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定電流
源５からは定電流Ｉｔが供給され、矢印Ａ、Ｂのように
回路網内を流れる。そして、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋□）８、端子２と端子３との
間に発生する電圧（ＶＺ３）Ｉおよび端子１と端子３と
の間に発生する電圧（Ｖ＋ｆｆＬをそれぞれ測定する。 ついで、定電流源５を取り外し、第２図に示すように端
子２と端子３との間に定電流源６を接続する。定電流源
６からは定電流Ｉ２が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように回
路網内を流れる。そして、このときの端子２と端子３と
の間に発生する電圧（Ｖｚ＋）ｚおよび端子１と端子３
との間に発生する電圧（’ｌ／＋＋）ｚをそれぞれ測定
する。なお、以後随時記載される「（Ｖａｂ）ｃｌの表
示はｃ（−１ｏｒ２）回目の測定における端子すに対す
る端子ａの電位を示す。 つぎに、定電流源５，６の電流値１１＋Ｉ２および測定
電圧（Ｖ＋□Ｌ＋（Ｖｚ３）＋、（Ｖ＋ｚ）＋、（Ｖｚ
ｚ）ｚ＋（Ｖ＋ｓ）ｚを、下記の（７）式および（８）
式に代入して抵抗値Ｒ３およびＲ２を算出する。 ここで、（７）式および（８）式の導入について説明す
る。 まず、第１ステツプの測定から が成り立つ。したがって、（１）式および（２）式から
、 Ｒ，Ｒｚ が成り立つ。 また、第２ステツプの測定から が成り立ち、（４）式および（５）式から、Ｒ，Ｒ が成り立つ。 （２） ｘ （ＶＩ３）Ｚ −（５） ｘ
（Ｖ＋ｚＬより１＋ Ｘ （Ｖ１３）２ Ｉ２
Ｘ （ＶＩ３）Ｉゆえに、 （３）式と（７）式より （Ｖ＋ｚ）＋ （Ｖ ２３） １ （Ｖ＋１）ｉＸ （ＶＺ３）ｌ （Ｖ１３ＬＸ
（Ｖｚ＋）ｚなお、本実施例では（ＶＩ３Ｌを実測し
たが、（ｖ＋：ｔＬ＝ （Ｖ＋□）＋ ＋ （ＶＺ：Ｉ
Ｌの関係から算出することができる。 また、（ＶＩ３）Ｚの測定に代えて（Ｖｚ＋）ｚを測定
すれば、 （ＶＩ３）２＝ （ＶＺ３）２ （Ｖｚ＋）ｚの関係
から算出することができる。 つぎに、第２の実施例を説明する。第９図の一般的な抵
抗回路網は第３図の回路図のようにも置き換えることが
できる。すなわち、注目している抵抗をＲＬＲ２，Ｒ３
とし、それ以外の抵抗による合成抵抗をＲ４とし、端子
１と端子３との間に抵抗Ｒ１およびＲ２からなる直列回
路と抵抗Ｒ３および抵抗Ｒ４とからなる直列回路とが並
列に接続され、抵抗Ｒ１とＲ２の接続点に端子２が接続
され、抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４の接続点に端子４が接続され
ている四端子抵抗回路網となっている。 この四端子抵抗回路網において、まず、第４図に示すよ
うに端子１と端子３との間に定電流源５を接続する。定
電流源５からは定電流Ｉ、が供給され、矢印Ａ、Ｂのよ
うに回路網内を流れるので、このときの端子１と端子２
の間に発生する電圧（Ｖ＋□）い端子２と端子３との間
に発生する電圧（ＶＺ３）い端子４と端子３との間に発
生する電圧（Ｖ４：ＩＬおよび端子１と端子４との間に
発生する電圧（ＶＩ４）Ｉをそれぞれ測定する。ついで
、定電流源５を取り外し、第５図に示すように端子２と
端子４との間に定電流源６を接続する。定電流源６から
は定電流Ｉ２が供給され、矢印Ｃ，Ｄのように回路網内
を流れる。そして、このときの端子２と端子１の間に発
生する電圧（Ｖ Ｚυ２、端子２と端子３との間に発生
する電圧（Ｖｚｚ）ｚ、端子３と端子４との間に発生す
る電圧（Ｖ：＋４）ｚ＃よび端子１と端子４との間に発
生する電圧（■＋ａ）ｚをそれぞれ測定する。 つぎに、定電流源５，６の電流値１ｔ、Ｉｚおよび測定
電圧（Ｖ ＋ｚ）、（Ｖｚｚ）、（Ｖ＜１Ｌ、（Ｖ＋＜
Ｌ。 （Ｖｚ＋）ｚ、（Ｖｚ＋）ｚ、（、Ｖ：＋４）ｚ、（Ｖ
＋ｎ）ｚを、下記の（１１）式ないしく１４）式に代入
して抵抗値Ｒ１〜Ｒ４を算出する。 導かれる。すなわち、まず、第１ステツプの測定Ｒ２Ｒ
４ が成り立つ。したがって、（１６）式および（１７）式
から、 が成り立ち、 （１５）式および（１７）式から、 が成り立つ。 また、第２ステツプの測定から が成り立つ。したがって、（２２）式および（２３）式
から、 Ｒ，Ｒ。 が成り立ち、 （２１）式および（２３）式から、 Ｒｚ Ｒ：１ が成り立つ。 （１７） Ｘ （Ｖ３４Ｌ （２３） Ｘ （
Ｖ４３ＬよりＩＩＸ （Ｖ３４）２ Ｉｔ Ｘ （
Ｖ４１）１＝ ［（ｖ＋□）＋ Ｘ （Ｖ：＋４）ｚ
（Ｖ２１）ＺＸ （Ｖ４：ｌ）ｌ］ゆえに、 これは、上述の（１１）式に他ならない。同様にして（
１２）弐〜（１４）式も導くことができる。 なお、Ｒ２は（１９）式と（１１）式より、（Ｖ＋ｚ）
＋ （Ｖ ｚｓ） ＋ と書ける。また、Ｒ４は（２０）式と（１３）式より、
（ＶＩ４Ｌ （Ｖ４３）＋ と書ける。したがって、（１２）式および（１４）式に
代えて（２７）式および（２８）式を用いれば、電圧（
Ｖｘ：＋）ｚおよび電圧（ＶＩ４）２の測定を省略する
ことができる。 なお、第３図に示す四端子抵抗回路網に対して第１の実
施例に示した三端子抵抗回路網における抵抗値測定方法
を定電流源の接続端子の組み合わせを替えて２回路適用
しても、Ｒ１−Ｒ４を測定することができる。すなわち
、定電流源５および６をそれぞれ第６図および第７図の
ように接続すれば、Ｒ８＋Ｒ４をＲとして（７）式およ
び（８）式からそれぞれ抵抗Ｒ２およびＲ，を算出する
ことができる。同様に、定電流源５および６をそれぞれ
第６図および第８図のように接続すれば、抵抗Ｒ３およ
びＲ４を算出することができる。 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明によれば、被測定回路に対し
て電流値および接続端子を変えて定電流を２回供給し、
定電流供給時に各端子間に発生する電圧を測定するだけ
で、以後は演算により被測定回路の個々の抵抗の抵抗値
を算出することができる。したがって、抵抗を個々に切
り離すことができない１チツプ抵抗回路網のような場合
にも、各抵抗の抵抗値を容易に測定することができる。 ４、図面の簡単な説明 第１図および第２図はそれぞれ本発明の第１の実施例を
説明するための回路図、第３図、第４図および第５図は
それぞれ本発明の第２の実施例を説明するための回路図
、第６図、第７図および第８図はそれぞれ第３の実施例
を説明するための回路図、第９図は一般的な抵抗回路網
を示す回路図、第１０図は第１の実施例における三端子
回路網を示す回路図である。 １〜４・・・端子、５．６・・・定電流源、Ｒ１−Ｒ４
およびＲ・・・抵抗。 特許出願人 山武ハネウェル株式会社 代 理 人 山川 政権（ばか２名） 第３図
Claims (2)
- （１）第１の端子と第３の端子との間に第１の抵抗およ
び第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗とが並列
に接続され第１の抵抗と第２の抵抗との接続点に第２の
端子が接続されている三端子抵抗回路網において、第１
の端子と第３の端子との間に第１の定電流を供給する第
１の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し、つい
で第２の端子と第３の端子との間に第２の定電流を供給
する第２の定電流源を接続して各端子間の電圧を測定し
、第１および第２の定電流値および各端子間電圧値から
第１および第２の抵抗の抵抗値を演算により算出するこ
とを特徴とする抵抗値測定方法。 - （２）第１の端子と第３の端子との間に第１の抵抗およ
び第２の抵抗とからなる直列回路と第３の抵抗および第
４の抵抗からなる直列回路とが並列に接続され第１の抵
抗と第２の抵抗との接続点に第２の端子が接続され第３
の抵抗と第４の抵抗との接続点に第４の端子が接続され
ている四端子抵抗回路網において、第１の端子と第３の
端子との間に第１の定電流を供給する第１の定電流源を
接続して各端子間の電圧を測定し、ついで第２の端子と
第４の端子との間に第２の定電流を供給する第２の定電
流源を接続して各端子間の電圧を測定し、第１および第
２の定電流値および各端子間電圧値から第１および第２
の抵抗の抵抗値を演算により算出することを特徴とする
抵抗値測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP899986A JPS62168067A (ja) | 1986-01-21 | 1986-01-21 | 抵抗値測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP899986A JPS62168067A (ja) | 1986-01-21 | 1986-01-21 | 抵抗値測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62168067A true JPS62168067A (ja) | 1987-07-24 |
Family
ID=11708379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP899986A Pending JPS62168067A (ja) | 1986-01-21 | 1986-01-21 | 抵抗値測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62168067A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011151856A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置および測定方法 |
| EP2752672A1 (en) * | 2013-01-04 | 2014-07-09 | Linear Technology Corporation | Method and system for measuring the resistance of a resistive structure |
| WO2017140589A1 (de) * | 2016-02-18 | 2017-08-24 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum bestimmen eines kalibrierstrompulses |
| WO2017186410A1 (de) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum bestimmen eines laststroms und batteriesensor |
| US11899044B2 (en) | 2021-08-17 | 2024-02-13 | Denso Corporation | Current sensor |
-
1986
- 1986-01-21 JP JP899986A patent/JPS62168067A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011151856A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2011-12-08 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置および測定方法 |
| JPWO2011151856A1 (ja) * | 2010-05-31 | 2013-07-25 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置および測定方法 |
| EP2752672A1 (en) * | 2013-01-04 | 2014-07-09 | Linear Technology Corporation | Method and system for measuring the resistance of a resistive structure |
| CN103913639A (zh) * | 2013-01-04 | 2014-07-09 | 凌力尔特公司 | 测量阻性结构电阻的方法和*** |
| US8947101B2 (en) | 2013-01-04 | 2015-02-03 | Linear Technology Corporation | Method and system for measuring the resistance of a resistive structure |
| CN103913639B (zh) * | 2013-01-04 | 2018-05-18 | 凌力尔特公司 | 测量阻性结构电阻的方法和*** |
| WO2017140589A1 (de) * | 2016-02-18 | 2017-08-24 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum bestimmen eines kalibrierstrompulses |
| WO2017186410A1 (de) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum bestimmen eines laststroms und batteriesensor |
| CN109073683A (zh) * | 2016-04-25 | 2018-12-21 | 大陆汽车有限公司 | 用于确定负载电流的方法及电池传感器 |
| US10473724B2 (en) | 2016-04-25 | 2019-11-12 | Continental Automotive Gmbh | Method for determining a load current and battery sensor |
| US11899044B2 (en) | 2021-08-17 | 2024-02-13 | Denso Corporation | Current sensor |
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