JPS62152276U - - Google Patents

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JPS62152276U
JPS62152276U JP4051986U JP4051986U JPS62152276U JP S62152276 U JPS62152276 U JP S62152276U JP 4051986 U JP4051986 U JP 4051986U JP 4051986 U JP4051986 U JP 4051986U JP S62152276 U JPS62152276 U JP S62152276U
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supply terminal
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の実施例でＩＣ試験装置と被
試験集積回路の端子との間を接続するピンエレク
トロニクスの例を示す回路図、第２図は従来のＩ
Ｃ試験装置のピンエレクトロニクスの例を示す図
である。 １１：入出力端子、１２：接続線、１３：ＩＣ
試験装置、１４：入出力端、１５：リレー、１６
：終端抵抗器、１７：出力回路、１８：終端電圧
端子、１９：入力回路、２１：ダイオードブリツ
ジ、２２：スイツチング回路、２３：第１ダイオ
ード、２４：第２ダイオード、２５：陽極陰極接
続点、２６：第３ダイオード、２７：第４ダイオ
ード、２８：陽極陰極接続点、３１：コンデンサ
、３２：陽極接続点、３３：第１半導体スイツチ
、３４：第１電源端子、３５：第１トラスジスタ
、３６：第２トランジスタ、３７：エミツタの共
通接続点、３８：抵抗器、３９：抵抗器、４１：
抵抗器、４２：第５ダイオード、４３：第６ダイ
オード、４４：陰極接続点、４５：第２半導体ス
イツチ、４６：第２電源端子、４７：第３トラン
ジスタ、第４トランジスタ、４９：エミツタの共
通接続点、５１：抵抗器、５２：抵抗器、５３：
抵抗器、５４：第７ダイオード、５５：第８ダイ
オード、５６：陽極陰極接続点、５７：陽極陰極
接続点、５８：制御回路、５９：相補信号出力回
路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ダイオードブリツジの一陽極陰極接続点に接続
    され、そのダイオードブリツジの他の陽極陰極接
    続点は終端抵抗器を通して終端電圧端子に接続さ
    れ、上記ダイオードブリツジの陽極接続点は第１
    半導体スイツチを通じて第１電源端子に接続され
    、陰極接続点は第２半導体スイツチを通して第１
    電源端子の電源より低い電位の第２電源端子に接
    続され、上記第１、第２半導体スイツチに対して
    、同時にこれらを開閉制御する制御信号が与えら
    れるように構成されているＩＣ試験装置。
JP4051986U 1986-03-19 1986-03-19 Expired JPH0442781Y2 (ja)

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JP4051986U JPH0442781Y2 (ja) 1986-03-19 1986-03-19

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JPS62152276U true JPS62152276U (ja) 1987-09-26
JPH0442781Y2 JPH0442781Y2 (ja) 1992-10-09

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JP2012013446A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Advantest Corp ピンエレクトロニクス回路およびそれを用いた試験装置

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JPH0442781Y2 (ja) 1992-10-09

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