JPS6214051A - 管継手欠陥検出装置 - Google Patents
管継手欠陥検出装置Info
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- JPS6214051A JPS6214051A JP15223485A JP15223485A JPS6214051A JP S6214051 A JPS6214051 A JP S6214051A JP 15223485 A JP15223485 A JP 15223485A JP 15223485 A JP15223485 A JP 15223485A JP S6214051 A JPS6214051 A JP S6214051A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は金属構造物に発生した欠陥を検出する欠陥検出
技術に係り、特に、ガス配管や水道配管に使用される管
継手に生じた欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置に
関する。
技術に係り、特に、ガス配管や水道配管に使用される管
継手に生じた欠陥を検出するのに好適な欠陥検出装置に
関する。
従来の電気抵抗法あるいはポテンシャル法によるき裂検
出法としてはいわゆる4端子法と呼ばれるものがある。
出法としてはいわゆる4端子法と呼ばれるものがある。
それは一対の給電端子とその内側に一対の測定端子を一
列に配列したものを構造部材の表面を走査して、電位差
分布の変化から欠陥を検出するものである。欠陥の判定
は欠陥がないと思われる領域における電位差を基準電位
差とし、それよシも大きい電位差となったところに欠陥
があると判定するものである。従って、4端子法におい
ては欠陥の有無及び欠陥のある程度の深さは判定できる
けれども、端子を部材表面において走査しなければなら
ず、短時間で欠陥の有無を判定する、或いはオンライン
で欠陥を検出することはできないという欠点があった。
列に配列したものを構造部材の表面を走査して、電位差
分布の変化から欠陥を検出するものである。欠陥の判定
は欠陥がないと思われる領域における電位差を基準電位
差とし、それよシも大きい電位差となったところに欠陥
があると判定するものである。従って、4端子法におい
ては欠陥の有無及び欠陥のある程度の深さは判定できる
けれども、端子を部材表面において走査しなければなら
ず、短時間で欠陥の有無を判定する、或いはオンライン
で欠陥を検出することはできないという欠点があった。
本発明の目的は管継手に発生した欠陥を製造工程の中で
オンラインで短時間に且つ全自動で検出できる欠陥検出
装置を提供することにある。
オンラインで短時間に且つ全自動で検出できる欠陥検出
装置を提供することにある。
管継手に発生した欠陥ポテンシャル法によシ検出できる
かどうかを検討するために、実際の欠陥を模擬した試験
片を作成し、一対の給電端子と2組の測定端子を有する
端子基板を作成して、欠陥に直交する方向に直流電流を
印加し、2組の測定端子の中一方の測定端子の中央に欠
陥がくるように端子基板を配置して電位差を測定し、も
う一方の測定端子間の電位差を基準電位差として評価す
るマルチターミナル直流ポテンシャル法(板状部材の側
面に等間隔で配置した多数の測定端子の電位差を比較す
ることによって、発生した片側貫通き裂の長さと位置、
及びき裂が測定端子と同じ側におるか否かを判定する方
法)を変形した方法を用いて、欠陥に沿った電位差分布
を測定した。その結果、電位差比分布は欠陥形状と良く
対応したが、欠陥形状の影響を受けるため、欠陥深さと
電位差比の間に一価的な関係は得られなかったが、欠陥
の有無は十分な精度で判定でき、電位差比が1.04〜
1.05となる欠陥深さは約1.5肩であることが分か
った。しかしながら、欠陥発生位置は管継手を鋳型で作
成するときの湯道の付は根であることから、前述の2端
子マルチターミナルポテンシヤル法の測定端子基板の2
組の測定端子の中一方の測定端子の中央に欠陥がくるよ
うに管継手を設定すればよいが、管継手を設定するため
の機構が複雑となる難点がある。本発明は、2組の測定
端子の中一方の測定端子の中央に欠陥がくるように管継
手を設定できる場合に適用できる2端子マルチターミナ
ルポテンシヤル法もしくはそれが困難な場合に適用する
実用的なマルチターミナルポテンシャル法を用いる欠陥
検出装置である。
かどうかを検討するために、実際の欠陥を模擬した試験
片を作成し、一対の給電端子と2組の測定端子を有する
端子基板を作成して、欠陥に直交する方向に直流電流を
印加し、2組の測定端子の中一方の測定端子の中央に欠
陥がくるように端子基板を配置して電位差を測定し、も
う一方の測定端子間の電位差を基準電位差として評価す
るマルチターミナル直流ポテンシャル法(板状部材の側
面に等間隔で配置した多数の測定端子の電位差を比較す
ることによって、発生した片側貫通き裂の長さと位置、
及びき裂が測定端子と同じ側におるか否かを判定する方
法)を変形した方法を用いて、欠陥に沿った電位差分布
を測定した。その結果、電位差比分布は欠陥形状と良く
対応したが、欠陥形状の影響を受けるため、欠陥深さと
電位差比の間に一価的な関係は得られなかったが、欠陥
の有無は十分な精度で判定でき、電位差比が1.04〜
1.05となる欠陥深さは約1.5肩であることが分か
った。しかしながら、欠陥発生位置は管継手を鋳型で作
成するときの湯道の付は根であることから、前述の2端
子マルチターミナルポテンシヤル法の測定端子基板の2
組の測定端子の中一方の測定端子の中央に欠陥がくるよ
うに管継手を設定すればよいが、管継手を設定するため
の機構が複雑となる難点がある。本発明は、2組の測定
端子の中一方の測定端子の中央に欠陥がくるように管継
手を設定できる場合に適用できる2端子マルチターミナ
ルポテンシヤル法もしくはそれが困難な場合に適用する
実用的なマルチターミナルポテンシャル法を用いる欠陥
検出装置である。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を説明する。第1図は2組の測
定端子の中一方の測定端子の中央に欠陥がくるように管
継手を設定できる場合に適用できる2端子マルチターミ
ナルポテンシヤル法による管継手欠陥検出システムを示
す。1組の給電端子4.4”および2組の測定端子5.
5’、5“は不導体人の端子基板3に等間隔で配置し、
管継手1の外面に押し当てたとき端子の間隔が常に一定
になるように1測定端子基板には位置決め用の脚を両端
に設けた。電位差の測定は測定端子5.5’、 5“と
管継手lとの間に生じる熱起電力を相殺するために、電
流の極性を反転する方法を採用した。直流安定化電源6
から供給される電流はスイッチング装置7で一定時間毎
にその極性を反転されて給電端子4.4′を通じて管継
手1に供給される。2組の測定端子の電位差v、 、
V*はスキャナーを内蔵した微小電位差計8により測定
し、直流電流の極性を数回反転させたときの平均値を求
めた。測定端子基板3は2組の測定端子の中一方の測定
端子の中央に欠陥2がくるように管継手1を設定して、
電位差を測定し、欠陥のない端子間の電位差V。
定端子の中一方の測定端子の中央に欠陥がくるように管
継手を設定できる場合に適用できる2端子マルチターミ
ナルポテンシヤル法による管継手欠陥検出システムを示
す。1組の給電端子4.4”および2組の測定端子5.
5’、5“は不導体人の端子基板3に等間隔で配置し、
管継手1の外面に押し当てたとき端子の間隔が常に一定
になるように1測定端子基板には位置決め用の脚を両端
に設けた。電位差の測定は測定端子5.5’、 5“と
管継手lとの間に生じる熱起電力を相殺するために、電
流の極性を反転する方法を採用した。直流安定化電源6
から供給される電流はスイッチング装置7で一定時間毎
にその極性を反転されて給電端子4.4′を通じて管継
手1に供給される。2組の測定端子の電位差v、 、
V*はスキャナーを内蔵した微小電位差計8により測定
し、直流電流の極性を数回反転させたときの平均値を求
めた。測定端子基板3は2組の測定端子の中一方の測定
端子の中央に欠陥2がくるように管継手1を設定して、
電位差を測定し、欠陥のない端子間の電位差V。
に対する欠陥のある端子間の電位差■、の比、■、/■
1で欠陥を評価した。
1で欠陥を評価した。
第2図は管継手の欠陥を模擬したスリットを入れた試験
片における電位差比の分布を測定した結果である。縦軸
は欠陥のない端子間の電位差■1に対する欠陥のある端
子間の電位差V!の比、■。
片における電位差比の分布を測定した結果である。縦軸
は欠陥のない端子間の電位差■1に対する欠陥のある端
子間の電位差V!の比、■。
/V+で、横軸は端面からの距離t (ya )である
。
。
図中に欠陥の形状を示したが、欠陥の形状は管継手に発
生する欠陥を模擬して継手表面の軸方向に対して15度
傾いたものを作成した。欠陥の端面における深さはメネ
ジの先端から3.511Im、管継手の外表面からは約
25■である。電位差比L /V、は端面で約1.14
で、tの増大とともに直線的に減少する。電位差比V、
/V、はl−12−5m位でほぼ1.0となっており
、図中に示した模蒙欠陥の形状と良く対応していること
が分かる。
生する欠陥を模擬して継手表面の軸方向に対して15度
傾いたものを作成した。欠陥の端面における深さはメネ
ジの先端から3.511Im、管継手の外表面からは約
25■である。電位差比L /V、は端面で約1.14
で、tの増大とともに直線的に減少する。電位差比V、
/V、はl−12−5m位でほぼ1.0となっており
、図中に示した模蒙欠陥の形状と良く対応していること
が分かる。
第3図には同じく管継手表面の軸方向に対して15度傾
いた欠陥を有する試験片における電位差比分布を示す。
いた欠陥を有する試験片における電位差比分布を示す。
欠陥は端面において丁度外表面に貫通したような状態の
ものである。電位差比V。
ものである。電位差比V。
/V+は端面で約zOで、tの増大とともに直線的に減
少するが、t=15w付近から勾配は緩くなっている。
少するが、t=15w付近から勾配は緩くなっている。
この場合にも電位差比分布は欠陥形状と良く対応してい
る。
る。
第4図には第2図と第3図の結果を欠陥深さ中で整理し
た結果を示す。図で分かるように電位差比Vs/V+は
欠陥形状の影響を受ける。ただし、欠陥の浅いところで
は欠陥形状に依らず、はぼ同じ値となる傾向がある。電
位差比V */ V + が欠陥形状の影響を受けて
、それぞれ別の曲線となる理由は、第一に管継手の形状
が不規則であることに依る。すなわち、管継手の内面に
管用ネジが切っであるため、欠陥がネジ底より深くなれ
ば、欠陥面積が急速に増大するからである。第二に直流
ポテンシャル法で内面欠陥を測定する場合、ネジがない
均一な部材であっても、欠陥深さが板厚の20〜25俤
を超えると精度が出てくるようになると共に、電位差比
が急激に増大するからである。
た結果を示す。図で分かるように電位差比Vs/V+は
欠陥形状の影響を受ける。ただし、欠陥の浅いところで
は欠陥形状に依らず、はぼ同じ値となる傾向がある。電
位差比V */ V + が欠陥形状の影響を受けて
、それぞれ別の曲線となる理由は、第一に管継手の形状
が不規則であることに依る。すなわち、管継手の内面に
管用ネジが切っであるため、欠陥がネジ底より深くなれ
ば、欠陥面積が急速に増大するからである。第二に直流
ポテンシャル法で内面欠陥を測定する場合、ネジがない
均一な部材であっても、欠陥深さが板厚の20〜25俤
を超えると精度が出てくるようになると共に、電位差比
が急激に増大するからである。
第三には第1図に示したような給電端子及び測定端子の
配列を採用したことが考えられる。すなわち、基準とな
る電位差■、の測定端子を、欠陥をはさんで測る電位差
■3の測定端子のすぐそげに設けたため、欠陥が深くな
るにつれて欠陥の周辺は電流が流れなくなるため基準電
位差■1は欠陥がない場合よりも逆に小さくなる。その
結果、欠陥が深くなるにつれて電位差比は益々か増大し
、欠陥深さと電位差比は一対一には対応しなくなる。
配列を採用したことが考えられる。すなわち、基準とな
る電位差■、の測定端子を、欠陥をはさんで測る電位差
■3の測定端子のすぐそげに設けたため、欠陥が深くな
るにつれて欠陥の周辺は電流が流れなくなるため基準電
位差■1は欠陥がない場合よりも逆に小さくなる。その
結果、欠陥が深くなるにつれて電位差比は益々か増大し
、欠陥深さと電位差比は一対一には対応しなくなる。
いずれにせよ、欠陥深さが1.7期以下では電位差比右
/ V rは欠陥形状とは無関係に欠陥深さに比例する
。欠陥検出の限界値としてV*/V+=1.04を採れ
ば、第4図より検出限界は約1.5mである。
/ V rは欠陥形状とは無関係に欠陥深さに比例する
。欠陥検出の限界値としてV*/V+=1.04を採れ
ば、第4図より検出限界は約1.5mである。
これはねじ底から僅かに欠陥が伸びている程度であり、
欠陥検出としては十分である。
欠陥検出としては十分である。
第5図には他の実施例を示す。直流電源6から供給され
た電源はスイッチング装置7と、電源切り換えスイッチ
17を介して給電端子13.13’あるいは15.15
’に供給される。端子基板11には給電端子13.13
’と測定端子14.14’が被測定試料1と同心となる
ように放射状に取り付けである。端子基板12には給電
端子15.15’と測定端子16.16’が測定基板1
1と同じ端子間隔で放射状に取り付けておる。管継手1
の外面に押し当てたとき端子の間隔が常に一定になるよ
うに、測定基板11.12には位置決め用の脚を両端に
設けた。測定基板11と測定基板12は被測定試料1を
はさんで180°向い合う位置に、あるいは他の角度に
配置する。直流電源6から供給された電流はスイッチン
グ装置7により電流の極性を一定時間毎に反転させて給
電端子13.13’あるいは16.16’に供給される
が、極性の反転はマイクロコンピュータ10によりリレ
ー18を介して行われる。電流の極性を反転させて電位
差を測定するのは被測定試料1と測定端子14.14’
あるいは16.16’の材質が異なると熱起電力が生じ
、それが被測定試料1の電位差に重畳する丸め電位差そ
のものを測定することができないので、電流の極性を反
転させて測定された電位差の差の絶対値で被測定試料1
そのものの電位差を測るためである。従って、被測定資
料と同じ材質の金属で測定端子を作成できる場合にはス
イッチング装置7は必要ではない。基準電位差V、を測
定するだめの測定端子16.16’と欠陥のある箇所の
電位差V、を測定するための測定端子14.14’はそ
れぞれ別の端子基板11.12に取り付けであるため、
電流はマイクロコンピュータ10によりリレー19を介
して、電源切り換えスイッチ17によシ給電端子13.
13’あるいは15.15’に随時切!ll換えて供給
される。即ち、基準電位差v1を測定する場合には電源
切シ換えスイッチ170ルノイドを人にして電源を給電
端子15.15’に供給し、電位差■2を測定する場合
には電源切り換えスイッチ17のソレノイドを切にして
電流を給電端子13゜13’に供給する。第5図ではソ
レノイドは切の状態であるので、電流は給電端子13.
13’に供給されている。電位差V+ 、Vzはスキャ
ナーを内破した微小電位差計8で計測され、インターフ
ェース9を介してマイクロコンピュータ10に読み込ま
れ、電位差比Vt/Vtが計算され、もしそれが例えば
1.04よ)大きければ欠陥が大きいものとして被測定
試料1は廃葉する。電位差比V 2 / V +が1.
04より小さければ欠陥はない、あるいは十分に小さい
と判断され、製品として出荷される。
た電源はスイッチング装置7と、電源切り換えスイッチ
17を介して給電端子13.13’あるいは15.15
’に供給される。端子基板11には給電端子13.13
’と測定端子14.14’が被測定試料1と同心となる
ように放射状に取り付けである。端子基板12には給電
端子15.15’と測定端子16.16’が測定基板1
1と同じ端子間隔で放射状に取り付けておる。管継手1
の外面に押し当てたとき端子の間隔が常に一定になるよ
うに、測定基板11.12には位置決め用の脚を両端に
設けた。測定基板11と測定基板12は被測定試料1を
はさんで180°向い合う位置に、あるいは他の角度に
配置する。直流電源6から供給された電流はスイッチン
グ装置7により電流の極性を一定時間毎に反転させて給
電端子13.13’あるいは16.16’に供給される
が、極性の反転はマイクロコンピュータ10によりリレ
ー18を介して行われる。電流の極性を反転させて電位
差を測定するのは被測定試料1と測定端子14.14’
あるいは16.16’の材質が異なると熱起電力が生じ
、それが被測定試料1の電位差に重畳する丸め電位差そ
のものを測定することができないので、電流の極性を反
転させて測定された電位差の差の絶対値で被測定試料1
そのものの電位差を測るためである。従って、被測定資
料と同じ材質の金属で測定端子を作成できる場合にはス
イッチング装置7は必要ではない。基準電位差V、を測
定するだめの測定端子16.16’と欠陥のある箇所の
電位差V、を測定するための測定端子14.14’はそ
れぞれ別の端子基板11.12に取り付けであるため、
電流はマイクロコンピュータ10によりリレー19を介
して、電源切り換えスイッチ17によシ給電端子13.
13’あるいは15.15’に随時切!ll換えて供給
される。即ち、基準電位差v1を測定する場合には電源
切シ換えスイッチ170ルノイドを人にして電源を給電
端子15.15’に供給し、電位差■2を測定する場合
には電源切り換えスイッチ17のソレノイドを切にして
電流を給電端子13゜13’に供給する。第5図ではソ
レノイドは切の状態であるので、電流は給電端子13.
13’に供給されている。電位差V+ 、Vzはスキャ
ナーを内破した微小電位差計8で計測され、インターフ
ェース9を介してマイクロコンピュータ10に読み込ま
れ、電位差比Vt/Vtが計算され、もしそれが例えば
1.04よ)大きければ欠陥が大きいものとして被測定
試料1は廃葉する。電位差比V 2 / V +が1.
04より小さければ欠陥はない、あるいは十分に小さい
と判断され、製品として出荷される。
第6図には他の実施例を示す。これは基本的には第1図
の装置と測定方法は同じであるが、給電端子及び測定端
子の被測定試料への駆動を空気シリンダを用いて自動化
したものである。リング状の測定ヘッド21には被測定
試料1が互いの中心が一致するように位置決め用治具2
2.22’が固定しである。位置決め用治具22,22
’の反対側には空気シリンダ24で駆動される当て板2
3が設けてあり、被測定試料1を位置決め用治具22゜
22′に押し当てたとき被測定試料1の中心が測定ヘッ
ド21の中心と一致するように位置決め用治具22.2
2’は固定される。給電端子25.25’は180°向
い合う位置に設けられた空気シリンダ26.26’のア
クチュエータの先端にベークライトのような絶縁物を介
して取り付けられる。測定端子27.27’ 、27“
は端子間間隔が等しくなるようKして設けられた空気シ
リンダ28.28’。
の装置と測定方法は同じであるが、給電端子及び測定端
子の被測定試料への駆動を空気シリンダを用いて自動化
したものである。リング状の測定ヘッド21には被測定
試料1が互いの中心が一致するように位置決め用治具2
2.22’が固定しである。位置決め用治具22,22
’の反対側には空気シリンダ24で駆動される当て板2
3が設けてあり、被測定試料1を位置決め用治具22゜
22′に押し当てたとき被測定試料1の中心が測定ヘッ
ド21の中心と一致するように位置決め用治具22.2
2’は固定される。給電端子25.25’は180°向
い合う位置に設けられた空気シリンダ26.26’のア
クチュエータの先端にベークライトのような絶縁物を介
して取り付けられる。測定端子27.27’ 、27“
は端子間間隔が等しくなるようKして設けられた空気シ
リンダ28.28’。
28“のアクチュエータの先端にベークライトのような
絶縁物を介して取シ付けられる。空気シリンダ26.2
6’および28.28’ 、 28”は空気源30から
供給される圧縮空気によりマイクロコンピュータ10に
制御された電磁弁31あるいは32を介して駆動される
。次に、測定手順を示す。
絶縁物を介して取シ付けられる。空気シリンダ26.2
6’および28.28’ 、 28”は空気源30から
供給される圧縮空気によりマイクロコンピュータ10に
制御された電磁弁31あるいは32を介して駆動される
。次に、測定手順を示す。
被測定試料1を測定ヘッド21の中に挿入し、空気シリ
ンダ24に圧縮空気を供給して当て板23を駆動して被
測定試料1を位置決め治具22゜22′に押し付ける。
ンダ24に圧縮空気を供給して当て板23を駆動して被
測定試料1を位置決め治具22゜22′に押し付ける。
このとき被測定試料lは欠陥の発生予想位置が測定端子
27′と27#の中央に来るように設定する。空気シリ
ンダ26゜26′および28.28’ 、28’に圧縮
空気を供給して給電端子25.25’および測定端子2
7.27’ 、27“を被測定試料1に押し付ける。次
に電位差の測定である。直流安定化電源6から供給され
る電流はスイッチング装置7でその極性を一定時間毎に
反転され、給電端子25゜25′を介して被測定試料1
に流される。測定端子27と27′の間の基準電位差V
+ と測定端子27′と27″の間の電位差■、はスキ
ャナーを内蔵した微小電位差計8によシ測定され、イン
ター 7 x−ス9を介してマイクロコンピュータ1゜
に読み込まれる。マイクロコンピュータ1oでは直流電
流の極性を数回反転させたときの電位差の差の絶対値の
平均を求め、電位差比V t/ V tが許各位を超え
ているかどうかを判定し、超えている場合には廃棄する
。測定に当っての一連の動作は全テマイクロコンピュー
タ10によって制御され、電位差の演算も行われる。即
ち、電磁弁31により空気シリンダ24を駆動して被測
定試料1を設定し、電磁弁32により空気シリンダ26
.26’および28.28’ 、28“を駆動して給電
端子25.25’および測定端子27.27’ 、27
“を被測定試料1に押し付け、スイッチング装置7によ
る直流電流の極性の反転して電位差V1とV。
27′と27#の中央に来るように設定する。空気シリ
ンダ26゜26′および28.28’ 、28’に圧縮
空気を供給して給電端子25.25’および測定端子2
7.27’ 、27“を被測定試料1に押し付ける。次
に電位差の測定である。直流安定化電源6から供給され
る電流はスイッチング装置7でその極性を一定時間毎に
反転され、給電端子25゜25′を介して被測定試料1
に流される。測定端子27と27′の間の基準電位差V
+ と測定端子27′と27″の間の電位差■、はスキ
ャナーを内蔵した微小電位差計8によシ測定され、イン
ター 7 x−ス9を介してマイクロコンピュータ1゜
に読み込まれる。マイクロコンピュータ1oでは直流電
流の極性を数回反転させたときの電位差の差の絶対値の
平均を求め、電位差比V t/ V tが許各位を超え
ているかどうかを判定し、超えている場合には廃棄する
。測定に当っての一連の動作は全テマイクロコンピュー
タ10によって制御され、電位差の演算も行われる。即
ち、電磁弁31により空気シリンダ24を駆動して被測
定試料1を設定し、電磁弁32により空気シリンダ26
.26’および28.28’ 、28“を駆動して給電
端子25.25’および測定端子27.27’ 、27
“を被測定試料1に押し付け、スイッチング装置7によ
る直流電流の極性の反転して電位差V1とV。
を測定し、電位差比V 1 / V lを演算して、許
容値を超えているかどうかを判定するものである。
容値を超えているかどうかを判定するものである。
第7.8.9図に他の実施例を示す。これは欠陥の位置
が分からなくても欠陥の深さを検出できる装置である。
が分からなくても欠陥の深さを検出できる装置である。
第7図に装置の正面図を、第8図に電位差測定部の平面
図を、第9図に電位差測定の系統図を示す。給電端子と
測定端子を兼用する端子55は円筒形の被測定試料1の
外面において等間隔で配置されるように測定基板54.
54’54“、54’に取り付けられる。測定基板54
゜54’ 54’ 、54″′は被測定試料1を取り
囲むようにするため、全円周を対称に4分割しである。
図を、第9図に電位差測定の系統図を示す。給電端子と
測定端子を兼用する端子55は円筒形の被測定試料1の
外面において等間隔で配置されるように測定基板54.
54’54“、54’に取り付けられる。測定基板54
゜54’ 54’ 、54″′は被測定試料1を取り
囲むようにするため、全円周を対称に4分割しである。
従って端子55の数は4の倍数である。また、端子55
0間隔は測定精度上からは被測定試料1の肉厚程度が望
ましいが、寸法の制約もあり、肉厚の1〜1.5倍程度
とする。第2図では端子55は各測定基板に5個ずつ、
合計20個とした。測定基板の断面を第1図に示したが
、ドーナツ型の測定基板には端子を挿入するための穴が
被測定試料1の中心から放射状となるようにあけである
。穴の後方には同心円状の溝を設けてあり、溝の外側に
はゴム板57が取り付けである。端子55は針状で、そ
の先端は円錐形あるいは半球形にしてあり、測定基板の
穴に挿入されて、穴に沿って前後に動けるようにしであ
る。端子55の一端にはネジが切ってあり、圧着端子を
介してリード線66が繋いである。また、端子55の後
端はゴム板57に接しており、ゴム板57はバネの役目
を持たせている。即ち、端子55が被測定試料1に押し
付けられたとき端子55が均一な押し付は力で被測定試
料1に当るようにするためである。4個の測定基板54
.54’ 、54“、54“′はそれぞれ測定装置の上
部クロスヘッド51に90”間隔で取り付けられた空気
シリンダ56.56’ 、56“。
0間隔は測定精度上からは被測定試料1の肉厚程度が望
ましいが、寸法の制約もあり、肉厚の1〜1.5倍程度
とする。第2図では端子55は各測定基板に5個ずつ、
合計20個とした。測定基板の断面を第1図に示したが
、ドーナツ型の測定基板には端子を挿入するための穴が
被測定試料1の中心から放射状となるようにあけである
。穴の後方には同心円状の溝を設けてあり、溝の外側に
はゴム板57が取り付けである。端子55は針状で、そ
の先端は円錐形あるいは半球形にしてあり、測定基板の
穴に挿入されて、穴に沿って前後に動けるようにしであ
る。端子55の一端にはネジが切ってあり、圧着端子を
介してリード線66が繋いである。また、端子55の後
端はゴム板57に接しており、ゴム板57はバネの役目
を持たせている。即ち、端子55が被測定試料1に押し
付けられたとき端子55が均一な押し付は力で被測定試
料1に当るようにするためである。4個の測定基板54
.54’ 、54“、54“′はそれぞれ測定装置の上
部クロスヘッド51に90”間隔で取り付けられた空気
シリンダ56.56’ 、56“。
56″′のアクチュエータに取り付けられている。
空気シリンダ56.56’、56’、56”は回転しな
いタイプを採用して、測定基板54が回転しないように
するための案内を不要にした。空気シリンダ56.56
’、56″、56”は圧縮空気で駆動されるが、測定基
板54.54’、54“、54#を被測定試料1に押し
付けたとき、基板同士が同心円形状となるようにするた
め、空気シリンダの前進[111の空気入口には流量整
節可能な継手59を設けた。但し、安全策として上部ク
ロスヘッド51の中央に設けた不導体製の位置決め治具
70の直径は被測定試料1と等しくしておくと共に、測
定基板54の内面の上端、または下端の内径を被測定試
料1と等しくしておくことにより、測定基板54が空気
シリンダ56によって被測定試料1に押し付けられたと
き測定基板54の内面が位置決め治具70の外面に当る
ことによって自動的に同心円形状になるようにした。被
測定試料1の測定位置への設定は中央クロスヘッド52
の中央に取り付けた試料昇降用空気シリンダ62によっ
て行われる。試料昇降用空気シリンダ62のアクチュエ
ータの先端には試料置き台61が取り付けてあり、試料
をこれに載せて上昇させると、位置決め治具70の先端
の被測定試料1の内径に合わせて加工しである円錐台に
より自動的に測定装置の中央にくるようにしてあり、端
子55の当る位置も位置決め治具70の高さにより自動
的に設定される。
いタイプを採用して、測定基板54が回転しないように
するための案内を不要にした。空気シリンダ56.56
’、56″、56”は圧縮空気で駆動されるが、測定基
板54.54’、54“、54#を被測定試料1に押し
付けたとき、基板同士が同心円形状となるようにするた
め、空気シリンダの前進[111の空気入口には流量整
節可能な継手59を設けた。但し、安全策として上部ク
ロスヘッド51の中央に設けた不導体製の位置決め治具
70の直径は被測定試料1と等しくしておくと共に、測
定基板54の内面の上端、または下端の内径を被測定試
料1と等しくしておくことにより、測定基板54が空気
シリンダ56によって被測定試料1に押し付けられたと
き測定基板54の内面が位置決め治具70の外面に当る
ことによって自動的に同心円形状になるようにした。被
測定試料1の測定位置への設定は中央クロスヘッド52
の中央に取り付けた試料昇降用空気シリンダ62によっ
て行われる。試料昇降用空気シリンダ62のアクチュエ
ータの先端には試料置き台61が取り付けてあり、試料
をこれに載せて上昇させると、位置決め治具70の先端
の被測定試料1の内径に合わせて加工しである円錐台に
より自動的に測定装置の中央にくるようにしてあり、端
子55の当る位置も位置決め治具70の高さにより自動
的に設定される。
第9図の測定系統図により測定装置全体の構成と測定方
法を示す。被測定試料1が設定されると、被測定試料1
の廻りには端子55が等間隔で20個並ぶ。直流電源6
から供給された電流はスイッチング装置7と、電源切り
換えスイッチ17を介して端子に供給されるが、供給さ
れる端子は電源切り換えスイッチ17によって切り換え
られる。
法を示す。被測定試料1が設定されると、被測定試料1
の廻りには端子55が等間隔で20個並ぶ。直流電源6
から供給された電流はスイッチング装置7と、電源切り
換えスイッチ17を介して端子に供給されるが、供給さ
れる端子は電源切り換えスイッチ17によって切り換え
られる。
初めにリレー19を切の状態にして端子AとCから電流
を供給する。リレー18を介してスイッチング装置7を
一定時間間隔毎圧電流の極性を反転して、電位差■を測
定する。給電端子の付近では電位の低下が著しいので、
給電端子の両隣の端子間の電位差は測定しないこととす
る。従って、電位差V、からv9、およびVllからV
nをスキャナー71を介して微小電位差計72で測定す
る。このとき端子と被測定試料lとの間に熱起電力が生
じることがあるので、これを相殺するため正の電流を流
したときの電位差を■Jとし、負の電流を流したときの
電位差を■、−として、被測定試料1そのものの電位差
■は Vに(■♂−V、−) / 2 で求めることとする。次に、リレー19を人の状態にし
て端子BとDから電流を供給する。リレー18を介して
スイッチング装置7を一定時間間隔毎に電流の極性を反
転して、給電端子の両隣を除く電位差V1からV4.V
yからVram VllからVnを測定し、前述の方法
により被測定試料1そのものの電位差■を求める。但し
、Vl # V@ s Vs aVn+ V++、 V
+s+ Vrs 、 V+s以外の12点の電位差は2
回測定するので、その平均値を求める。次に、■、から
■1.の全電位差の平均値を求め、それをVmrとする
。それぞれの電位差とvlとの比により電位差比v/V
、+を求め、電位差比の最大値を求める。最大となった
電位差とその最大となった両隣の電位差を除く17点の
電位差の平均値を求め、それをvlとする。最大となっ
た電位差をVl、8、電位差が最大となった端子間の両
隣の電位差のうち、電位差の大きい方をV、や、として
、(V−−−+V−+r V−x ) / V−*
2>E 1.04より大きければ、欠陥有りと判断して
その試料は廃棄する。
を供給する。リレー18を介してスイッチング装置7を
一定時間間隔毎圧電流の極性を反転して、電位差■を測
定する。給電端子の付近では電位の低下が著しいので、
給電端子の両隣の端子間の電位差は測定しないこととす
る。従って、電位差V、からv9、およびVllからV
nをスキャナー71を介して微小電位差計72で測定す
る。このとき端子と被測定試料lとの間に熱起電力が生
じることがあるので、これを相殺するため正の電流を流
したときの電位差を■Jとし、負の電流を流したときの
電位差を■、−として、被測定試料1そのものの電位差
■は Vに(■♂−V、−) / 2 で求めることとする。次に、リレー19を人の状態にし
て端子BとDから電流を供給する。リレー18を介して
スイッチング装置7を一定時間間隔毎に電流の極性を反
転して、給電端子の両隣を除く電位差V1からV4.V
yからVram VllからVnを測定し、前述の方法
により被測定試料1そのものの電位差■を求める。但し
、Vl # V@ s Vs aVn+ V++、 V
+s+ Vrs 、 V+s以外の12点の電位差は2
回測定するので、その平均値を求める。次に、■、から
■1.の全電位差の平均値を求め、それをVmrとする
。それぞれの電位差とvlとの比により電位差比v/V
、+を求め、電位差比の最大値を求める。最大となった
電位差とその最大となった両隣の電位差を除く17点の
電位差の平均値を求め、それをvlとする。最大となっ
た電位差をVl、8、電位差が最大となった端子間の両
隣の電位差のうち、電位差の大きい方をV、や、として
、(V−−−+V−+r V−x ) / V−*
2>E 1.04より大きければ、欠陥有りと判断して
その試料は廃棄する。
被測定試料1を試料置き台61に載せた後の装置の一連
の動作の制御及び演算は全てマイクロコンピュータ10
によって行われる。即ち、試料昇降用空気シリンダ62
に圧縮空気を空気源30から電磁弁31を介して供給し
、被測定試料1を上部クロスヘッド51の中央に設けた
不導体製の位置決め治具70に押し当てる。次に、電磁
弁32を入にして圧縮空気シリンダ56.56’、56
“。
の動作の制御及び演算は全てマイクロコンピュータ10
によって行われる。即ち、試料昇降用空気シリンダ62
に圧縮空気を空気源30から電磁弁31を介して供給し
、被測定試料1を上部クロスヘッド51の中央に設けた
不導体製の位置決め治具70に押し当てる。次に、電磁
弁32を入にして圧縮空気シリンダ56.56’、56
“。
56′#に供給して4個の測定基板54.54’ 。
54’、54”を被測定試料1に押し付ける。リレー1
9は切のまま、リレー18を一定時間間隔で接断し、ス
イッチング装置7により直流電流の極性を反転させ、電
位差V3〜V、および■1.〜v1.を測定する。次に
、リレー19を人にしてリレー18を一定時間間隔で接
断し、スイッチング装置7により直流電流の極性を反転
させ、電位差■寡〜Va 、 Vt 〜V ra 、
Vll 〜Vl@を測定する。コ(7)とき正負の電流
を流したときの電位差の差の1/2を計算し、それを改
めて電位差とする。測定された電位差の比較演算を行い
、最大の電位差とその隣の電位差の和から基準電位差を
差し引き、それを基準電位差で割った値が許容値を超え
ていれば欠陥有りと判断するものである。
9は切のまま、リレー18を一定時間間隔で接断し、ス
イッチング装置7により直流電流の極性を反転させ、電
位差V3〜V、および■1.〜v1.を測定する。次に
、リレー19を人にしてリレー18を一定時間間隔で接
断し、スイッチング装置7により直流電流の極性を反転
させ、電位差■寡〜Va 、 Vt 〜V ra 、
Vll 〜Vl@を測定する。コ(7)とき正負の電流
を流したときの電位差の差の1/2を計算し、それを改
めて電位差とする。測定された電位差の比較演算を行い
、最大の電位差とその隣の電位差の和から基準電位差を
差し引き、それを基準電位差で割った値が許容値を超え
ていれば欠陥有りと判断するものである。
第1O図に他の実施例を示す。リング状の測定ヘッド2
1には空気シリンダ81〜96が等間隔で合計16個測
りである。各空気シリンダのアクチュエータの先端には
ベークライトのような絶縁物を介して端子55が取り付
けである。空気シリンダ81と89、あるいは85と9
3の端子には直流安定化電源6からスイッチング装置7
、極性切り換えスイッチ17を介して直流電流が供給さ
れる。図では省略しであるが、各端子からはリード線が
スキャナー71に接続してあり、ここで切り換えられて
微小電位差計72で各電位差が計測される。電位差はイ
ンターフェース9を介してマイクロコンピュータ10で
比較演算され、最大の電位差とその隣の電位差の和から
基準電位差を差し引き、それを基準電位差で割った値が
許容値を超えていれば欠陥有りと判断するものである。
1には空気シリンダ81〜96が等間隔で合計16個測
りである。各空気シリンダのアクチュエータの先端には
ベークライトのような絶縁物を介して端子55が取り付
けである。空気シリンダ81と89、あるいは85と9
3の端子には直流安定化電源6からスイッチング装置7
、極性切り換えスイッチ17を介して直流電流が供給さ
れる。図では省略しであるが、各端子からはリード線が
スキャナー71に接続してあり、ここで切り換えられて
微小電位差計72で各電位差が計測される。電位差はイ
ンターフェース9を介してマイクロコンピュータ10で
比較演算され、最大の電位差とその隣の電位差の和から
基準電位差を差し引き、それを基準電位差で割った値が
許容値を超えていれば欠陥有りと判断するものである。
図では被測定試料1の位置決め装置が省略しであるが、
例えば、第9図に示したようなものを第10図の空気シ
リンダの後方に設ければ良い。
例えば、第9図に示したようなものを第10図の空気シ
リンダの後方に設ければ良い。
第11図に本発明の他の実施例として検査装置として製
造工程に組み込んだ場合の平面図を、第12図に正面図
を示す。被測定試料lは搬入コンベア101に載せられ
て検査装置に搬入される。
造工程に組み込んだ場合の平面図を、第12図に正面図
を示す。被測定試料lは搬入コンベア101に載せられ
て検査装置に搬入される。
搬入コンベア101の後端にはストッパー102が設け
てあり、搬入された被測定試料1はここで滞留する。た
だし、搬入コンベア101のベルトはステンレス鋼製に
して被測定試料1がベルトの上を滑るようにする。また
ストッパー102の横には光電式の検出器103を設け
て、被測定試料1がストッパー102のところに来たの
を検知すると搬入コンベア101を停止させられるよう
にする。搬入ハンドリング104には伸縮及び掴みが可
能なハンド105、昇降用の空気ンリンダ106および
回転用のサーボモータ107を設ける。ストッパー10
2のところに来た被測定試料1は、搬入ハンドリング1
04のハンド105を伸長させ、フィンガを閉じて掴む
。昇降シリンダ106を上昇させて、ストッパー102
を回避シ、ハンド105を収縮させる。歯車を介して搬
入ハンドリング104の軸と連結されたサーボモータ1
07を駆動して搬入ハンドリング104を検出ヘッド1
00の方へ旋回させる。検出ヘッド100の中央に設け
た受は台108の真横で停止し、ハンド105を被測定
試料1が受は台108の真上に来るまで伸長させる。次
に、ハンド105を下降させて被測定試料1を受は台1
08に載せると、フィンガを開いてハンド105は収縮
させる。受は台108は昇降シリンダ109のアクチュ
エータの先端に取υ付けられておυ、昇降ノリンダ10
9を上昇させて被測定試料1を検出ヘッド100まで搬
入する。検出ヘッド100は第7図、第8図、及び第9
図に示したような装置、及び測定方法が最適である。被
測定試料1としてはここではガス配管に使用される管継
手を対象としている。従って、欠陥の発生する可能性は
管継手の両端にあることになるので、管継手の一端で電
位差分布を測定して欠陥がないと判断されたときは昇降
シリンダ109を下降させ、搬入ハンドリング104の
ハンド105を伸長してフィンガで掴み、搬入ハンドリ
ング104を上昇させた上でフィンガを回転させ、再び
受は台108に載せて電位差分布を測定する。電位差分
布測定が終った管継手1は搬出ハンドリング110のハ
ンド111のフィンガで掴み、欠陥がないと判断された
ものは合格品搬出コンベア114に載せられ、欠陥があ
ると判断されたものは不良品搬出コンベア115に載せ
られて搬出される。ここで、管継手lの両端の電位差分
布を測定するために管継手を掴み直して回転させていた
のでは測定時間がかかり過ぎることになる。そこで、昇
降シリンダ109はアクチュエータの位置検出機構付き
のものを使用して、管継手1の一端が検出ヘッド100
の測定基板54あるいは端子55に対して所定の位置に
きた時アクチュエータを停止して電位差分布を測定する
。もし欠陥があれば管継手1のもう一端は測定しないで
不良品搬出コンベア115へ搬出し、もし欠陥がなけれ
ば測定基板駆動用の空気シリンダ56を駆動して測定基
板54を後退させ、管継手1のもう一端を測定できるよ
うに昇降シリンダ109を上昇させて、再び電位差分布
を測定する。
てあり、搬入された被測定試料1はここで滞留する。た
だし、搬入コンベア101のベルトはステンレス鋼製に
して被測定試料1がベルトの上を滑るようにする。また
ストッパー102の横には光電式の検出器103を設け
て、被測定試料1がストッパー102のところに来たの
を検知すると搬入コンベア101を停止させられるよう
にする。搬入ハンドリング104には伸縮及び掴みが可
能なハンド105、昇降用の空気ンリンダ106および
回転用のサーボモータ107を設ける。ストッパー10
2のところに来た被測定試料1は、搬入ハンドリング1
04のハンド105を伸長させ、フィンガを閉じて掴む
。昇降シリンダ106を上昇させて、ストッパー102
を回避シ、ハンド105を収縮させる。歯車を介して搬
入ハンドリング104の軸と連結されたサーボモータ1
07を駆動して搬入ハンドリング104を検出ヘッド1
00の方へ旋回させる。検出ヘッド100の中央に設け
た受は台108の真横で停止し、ハンド105を被測定
試料1が受は台108の真上に来るまで伸長させる。次
に、ハンド105を下降させて被測定試料1を受は台1
08に載せると、フィンガを開いてハンド105は収縮
させる。受は台108は昇降シリンダ109のアクチュ
エータの先端に取υ付けられておυ、昇降ノリンダ10
9を上昇させて被測定試料1を検出ヘッド100まで搬
入する。検出ヘッド100は第7図、第8図、及び第9
図に示したような装置、及び測定方法が最適である。被
測定試料1としてはここではガス配管に使用される管継
手を対象としている。従って、欠陥の発生する可能性は
管継手の両端にあることになるので、管継手の一端で電
位差分布を測定して欠陥がないと判断されたときは昇降
シリンダ109を下降させ、搬入ハンドリング104の
ハンド105を伸長してフィンガで掴み、搬入ハンドリ
ング104を上昇させた上でフィンガを回転させ、再び
受は台108に載せて電位差分布を測定する。電位差分
布測定が終った管継手1は搬出ハンドリング110のハ
ンド111のフィンガで掴み、欠陥がないと判断された
ものは合格品搬出コンベア114に載せられ、欠陥があ
ると判断されたものは不良品搬出コンベア115に載せ
られて搬出される。ここで、管継手lの両端の電位差分
布を測定するために管継手を掴み直して回転させていた
のでは測定時間がかかり過ぎることになる。そこで、昇
降シリンダ109はアクチュエータの位置検出機構付き
のものを使用して、管継手1の一端が検出ヘッド100
の測定基板54あるいは端子55に対して所定の位置に
きた時アクチュエータを停止して電位差分布を測定する
。もし欠陥があれば管継手1のもう一端は測定しないで
不良品搬出コンベア115へ搬出し、もし欠陥がなけれ
ば測定基板駆動用の空気シリンダ56を駆動して測定基
板54を後退させ、管継手1のもう一端を測定できるよ
うに昇降シリンダ109を上昇させて、再び電位差分布
を測定する。
あるいは更に時間を短縮するために、測定基板54を管
継手1の両端を同時に測定できるように上下2箇所に設
ける、或いは測定基板54に管継手1の両端を同時に測
定できるように上下2箇所に端子55を設けても良い。
継手1の両端を同時に測定できるように上下2箇所に設
ける、或いは測定基板54に管継手1の両端を同時に測
定できるように上下2箇所に端子55を設けても良い。
本発明によれば電位差分布測定によりパイプ状の部材、
特にガス配管の継手に発生した有害な欠陥が全自動で判
別可能であるという効果がある。
特にガス配管の継手に発生した有害な欠陥が全自動で判
別可能であるという効果がある。
第1図から第11図は本発明欠陥検出装置の説明図で第
1図は測定端子を2組設けた管継手欠陥検出装置、第2
図から第4図は第1図の装置により測定された管継手の
欠陥周辺の電位差比分布を示す図、第5図は給電端子と
測定端子をそれぞれ1組方する測定基板を2組用いた管
継手欠陥検出装置の他の実施例、第6図は管継手の位置
決めと給電及び測定端子の設定を空気シリンダで自動化
した管継手欠陥検出装置の更に他の実施例、第7図は管
継手欠陥検出装置の更に他の実施例の正面図、第8図は
欠陥検出装置の電位差測定部の平面図、第9図は欠陥検
出装置の電位差測定および制御の系統図、第10図は管
継手の外周に沿って端子を等間隔で配置し、その駆動を
空気シリンダで自動化した管継手欠陥検出装置の更に他
の実施例、第11図及び第12図は管継手の欠陥検査を
全て自動化した管継手欠陥検出装置を示す図である。 1・・・被測定試料、2・・・欠陥、3・・・測定基板
、4・・・給電端子、5・・・測定端子、6・・・直流
安定化電源、7・・・スイッチング装置、8・・・微小
電位差計、9・・・インターフェース、10・・・マイ
クロコンピュータ、17・・・電源切り換えスイッチ、
18.19・・・リレー、22・・・位置決め用治具、
24,26.28・・・空気シリンダ、30・・・空気
源、31.32・・・電出弁、51・・・上部クロスヘ
ッド、52・・・中央クロスヘッド、53・・・下部ク
ロスヘッド、54・・・測定基板、55・・・端子、5
6・・・測定基板駆動用空気シリンダ、57・・・ゴム
L58・・・ナイロンホース、59・・・流量調節ノズ
ル、61・・・試料置き台、62・・・試料昇降用空気
シリンダ、66・・・リード線、70・・・位置決め治
具、71・・・スキャナー、72・・・微小電位差計、
81〜96・・・端子駆動用空気シリンダ、100・・
・検出ヘッド、101・・・搬入コンベア、102・・
・ストッパー、103・・・光電式検出器、104・・
・搬入ハンドリング、105・・・ハンド、106・・
・搬入ハンドリング昇降用空気シリンダ、107・・・
サーボモータ、108・・・試料受は台、109・・・
管継手昇降用空気シリンダ、110・・・搬出ハンドリ
ング、111・・・ハンド、112・・・搬出ハンドリ
ング昇降用空気シリンダ、113・・・サーボモータ、
114・・・合格品搬出コンベア、115・・・不良品
搬出コンベア
1図は測定端子を2組設けた管継手欠陥検出装置、第2
図から第4図は第1図の装置により測定された管継手の
欠陥周辺の電位差比分布を示す図、第5図は給電端子と
測定端子をそれぞれ1組方する測定基板を2組用いた管
継手欠陥検出装置の他の実施例、第6図は管継手の位置
決めと給電及び測定端子の設定を空気シリンダで自動化
した管継手欠陥検出装置の更に他の実施例、第7図は管
継手欠陥検出装置の更に他の実施例の正面図、第8図は
欠陥検出装置の電位差測定部の平面図、第9図は欠陥検
出装置の電位差測定および制御の系統図、第10図は管
継手の外周に沿って端子を等間隔で配置し、その駆動を
空気シリンダで自動化した管継手欠陥検出装置の更に他
の実施例、第11図及び第12図は管継手の欠陥検査を
全て自動化した管継手欠陥検出装置を示す図である。 1・・・被測定試料、2・・・欠陥、3・・・測定基板
、4・・・給電端子、5・・・測定端子、6・・・直流
安定化電源、7・・・スイッチング装置、8・・・微小
電位差計、9・・・インターフェース、10・・・マイ
クロコンピュータ、17・・・電源切り換えスイッチ、
18.19・・・リレー、22・・・位置決め用治具、
24,26.28・・・空気シリンダ、30・・・空気
源、31.32・・・電出弁、51・・・上部クロスヘ
ッド、52・・・中央クロスヘッド、53・・・下部ク
ロスヘッド、54・・・測定基板、55・・・端子、5
6・・・測定基板駆動用空気シリンダ、57・・・ゴム
L58・・・ナイロンホース、59・・・流量調節ノズ
ル、61・・・試料置き台、62・・・試料昇降用空気
シリンダ、66・・・リード線、70・・・位置決め治
具、71・・・スキャナー、72・・・微小電位差計、
81〜96・・・端子駆動用空気シリンダ、100・・
・検出ヘッド、101・・・搬入コンベア、102・・
・ストッパー、103・・・光電式検出器、104・・
・搬入ハンドリング、105・・・ハンド、106・・
・搬入ハンドリング昇降用空気シリンダ、107・・・
サーボモータ、108・・・試料受は台、109・・・
管継手昇降用空気シリンダ、110・・・搬出ハンドリ
ング、111・・・ハンド、112・・・搬出ハンドリ
ング昇降用空気シリンダ、113・・・サーボモータ、
114・・・合格品搬出コンベア、115・・・不良品
搬出コンベア
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、円筒表面に相互に離間して設けた1組の給電端子に
より直流電流を刷加し、該給電端子対の間に1組の測定
端子対を設けて電位差を測定することによつて円筒に生
じた欠陥の深さを検出する装置において、1組の給電端
子対と1組の測定端子対を取り付けた不導体製の基板を
2組設け、該2組の基板の中第1の基板の測定端子の中
央に欠陥が来るように配置し、第2の基板を第1の基板
から180度ずらして配置し、第2の基板の測定端子間
の電位差と第1の基板の測定端子間の電位差との比から
欠陥の深さを検出することを特徴とする欠陥検出装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、端子間
の電位差を比較して最大の電位差と該最大の電位差を除
いた電位差の平均値との比から欠陥深さを求めることを
特徴とする欠陥検出装置。 3、特許請求の範囲第2項記載の装置において、円周上
に等間隔で4の倍数の複数個の端子を配置し、第1に1
80度離れて向い合う2個の端子から直流電流を印加し
てその両隣にある端子間を除く端子間の電位差を測定し
、第2に前記180度離れて向い合う2個の端子からそ
れぞれ90度離れた2個の端子から直流電流を印加して
その両隣にある端子間を除く端子間の電位差を測定する
ことによつて全円周上の電位差を求め、それらの比較演
算から欠陥深さを検出することを特徴とする欠陥検出装
置。 4、特許請求の範囲第1項記載の装置において、給電端
子および測定端子の先端を円錐形状の鋭利なものとし、
その後方にフランジを設け、前記端子の一端にはネジ部
を設け、前記フランジとネジ部の間は真円度の高い円柱
とし、不導体製の基板は内周及び外周が被測定試料の円
筒と同心円形状として、円筒の中心から放射状となるよ
うに前記端子の円柱部分よりも僅かに大きい穴をあけ、
該穴に測定端子及び給電端子をフランジ部と基板との間
にコイルバネを入れて挿入して、前記端子を円筒の半径
方法に摺動可能とし、また基板の両端には脚部を設け、
該脚部の底面を円筒の外周と同じ曲率半径としたことを
特徴とする欠陥検出装置。 5、特許請求の範囲第4項記載の装置において、円筒周
辺に配置する複数の端子を90度毎に4分割して、内周
及び外周が被測定物の円筒と同心円形状とした不導体製
の4個の基板に取付け、端子の一端と基板との間にゴム
を設け、基板は空気または油圧作動のシリンダのアクチ
ュエータに取り付けて、円筒に対して半径方向から接近
可能とし、4個の基板を円筒に押し付けたとき4個の基
板が円板状となり、押し付けられた端子の間隔が円周方
向で全て等しくなるように端子を基板に取り付けたこと
を特徴とする欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15223485A JPS6214051A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 管継手欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15223485A JPS6214051A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 管継手欠陥検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6214051A true JPS6214051A (ja) | 1987-01-22 |
Family
ID=15536015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15223485A Pending JPS6214051A (ja) | 1985-07-12 | 1985-07-12 | 管継手欠陥検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6214051A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5486767A (en) * | 1994-03-03 | 1996-01-23 | General Electric Company | Method and system for detecting defects in pipes or other structures |
JP2007003436A (ja) * | 2005-06-27 | 2007-01-11 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | き裂深さ測定器用センサおよびき裂深さ測定器 |
JP2007057448A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Hitachi Ltd | 欠陥モニタリング装置 |
JP2011017575A (ja) * | 2009-07-08 | 2011-01-27 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 電位差法用端子固定具 |
JP2014126375A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Ntn Corp | 焼入れ品質検査装置 |
JP2023169936A (ja) * | 2022-05-18 | 2023-12-01 | 北海道電力株式会社 | 金属筒体の抵抗測定治具、抵抗測定システム、抵抗測定方法及び板厚評価方法 |
-
1985
- 1985-07-12 JP JP15223485A patent/JPS6214051A/ja active Pending
Cited By (6)
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---|---|---|---|---|
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